CN110189789A - 一种硬盘转接卡的测试装置、方法及*** - Google Patents

Abstract

本发明涉及服务器测试技术领域，提供一种硬盘转接卡的测试装置、方法及***，该硬盘转接卡的测试装置包括分别对插在硬盘转接卡的输入端排线口和输出端排线口上的输入端对接插头和输出端对接插头；输入端对接插头的输入端通过线缆与测试仪连接，输出端对接插头的输出端通过线缆与测试仪连接，测试仪用于生成对硬盘转接卡进行测试的测试信号，并测试信号输送至硬盘转接卡，通过输出端对接插头获取测试结果信号，并分析保存测试结果信号，从而实现更加简单、方便、快速的进行硬盘转接卡测试，极大的节省了测试时间和成本；提高了测试效率，实现计算机硬盘转接卡大规模生产测试，避免了实插硬盘测试过程中产生的硬盘损耗。

Description

一种硬盘转接卡的测试装置、方法及***

技术领域

本发明属于服务器测试技术领域，尤其涉及一种硬盘转接卡的测试装置、方法及***。

背景技术

在当前服务器产品中，有部分硬盘背板因为设计或硬盘兼容性需求考量,需要对板载接口通过硬盘转接卡进行信号转接，以提高背板兼容性，降低重复开发带来的成本和浪费。

目前，在硬盘转接卡测试中，普遍使用的方法是实插硬盘测试，这种方法的局限性是测试时间较长且硬盘损耗成本较大。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明提供了一种硬盘转接卡的测试装置，旨在解决现有技术中硬盘转接卡的测试通过实插硬盘的发过誓实现，其测试时间交叉，且硬盘损耗成本较大的问题。

本发明所提供的技术方案是：一种硬盘转接卡的测试装置，包括输入端对接插头和输出端对接插头，所述输入端对接插头和输出端对接插头分别对插在硬盘转接卡的输入端排线口和输出端排线口上；

所述输入端对接插头的输入端通过线缆与测试仪连接，所述输出端对接插头的输出端通过线缆与所述测试仪连接，所述测试仪用于生成对所述硬盘转接卡进行测试的测试信号，并将生成的所述测试信号通过所述输入端对接插头输送至所述硬盘转接卡，同时通过所述输出端对接插头获取测试后的所述硬盘转接卡输出的测试结果信号，并分析保存所述测试结果信号。

作为一种改进的方案，所述输入端对接插头和输出端对接插头均分别包含电源排线口和信号线排线口，且所述电源排线口、信号线排线口均与所述输入端排线口、输出端排线口对应的针脚对插连接。

作为一种改进的方案，所述线缆包括信号线缆和电源线缆。

本发明的另一目的在于提供一种基于硬盘转接卡的测试装置的硬盘转接卡的测试方法，所述方法包括下述步骤：

在所述测试仪内调用或生成与当前待测的硬盘转接卡类型相匹配的测试信号数据；

将生成的或调用的所述测试信号数据通过线缆和输入端对接插头输送至硬盘转接卡，控制所述硬盘转接卡进行测试；

通过线缆和输出端对接插头从所述硬盘转接卡获取测试结果信息，并对获取到的所述测试结果信息分析、保存。

作为一种改进的方案，所述在所述测试仪内调用或生成与当前待测的硬盘转接卡类型相匹配的测试信号的步骤之前还包括下述步骤：

在所述测试仪内预先配置若干个测试信号数据，每一个测试信号数据对应一种硬盘转接卡类型，所述测试信号包含电源信号和测试实体数据；

保存配置生成的若干个测试信号数据，并生成查找对应关联关系表，所述查找对应关联关系表标识测试信号数据与硬盘转接卡类型的一一对应关系。

作为一种改进的方案，所述将生成的所述测试信号数据通过线缆和输入端对接插头输送至硬盘转接卡的步骤具体包括下述步骤：

对生成的或调用的所述测试信号数据进行分析，生成电源信号和测试实体信号；

将生成的所述电源信号通过电源线缆和所述输入端对接插头传送给所述硬盘转接卡，为所述硬盘转接卡供电；

将生成的所述测试实体信号通过信号线缆和所述输入端对接插头传送给所述硬盘转接卡，进行硬盘转接卡的实体功能测试。

本发明的另一目的在于提供一种硬盘转接卡的测试***，其特征在于，所述***包括：

测试数据获取模块，用于在所述测试仪内调用或生成与当前待测的硬盘转接卡类型相匹配的测试信号数据；

测试信号数据发送模块，用于将生成的或调用的所述测试信号数据通过线缆和输入端对接插头输送至硬盘转接卡，控制所述硬盘转接卡进行测试；

测试结果信息获取模块，用于通过线缆和输出端对接插头从所述硬盘转接卡获取测试结果信息；

结果信息分析保存模块，用于对获取到的所述测试结果信息分析、保存。

作为一种改进的方案，所述***还包括：

测试信号数据配置模块，用于在所述测试仪内预先配置若干个测试信号数据，每一个测试信号数据对应一种硬盘转接卡类型，所述测试信号包含电源信号和测试实体数据；

测试信号数据保存模块，用于保存配置生成的若干个测试信号数据；

关联关系生成模块，用于生成查找对应关联关系表，所述查找对应关联关系表标识测试信号数据与硬盘转接卡类型的一一对应关系。

作为一种改进的方案，所述测试信号数据发送模块具体包括：

测试信号数据分析模块，用于对生成的或调用的所述测试信号数据进行分析，生成电源信号和测试实体信号；

电源信号发送模块，用于将生成的所述电源信号通过电源线缆和所述输入端对接插头传送给所述硬盘转接卡，为所述硬盘转接卡供电；

测试实体信号发送模块，用于将生成的所述测试实体信号通过信号线缆和所述输入端对接插头传送给所述硬盘转接卡，进行硬盘转接卡的实体功能测试。

在本发明实施例中，硬盘转接卡的测试装置，包括输入端对接插头和输出端对接插头，所述输入端对接插头和输出端对接插头分别对插在硬盘转接卡的输入端排线口和输出端排线口上；所述输入端对接插头的输入端通过线缆与测试仪连接，所述输出端对接插头的输出端通过线缆与所述测试仪连接，所述测试仪用于生成对所述硬盘转接卡进行测试的测试信号，并将生成的所述测试信号通过所述输入端对接插头输送至所述硬盘转接卡，同时通过所述输出端对接插头获取测试后的所述硬盘转接卡输出的测试结果信号，并分析保存所述测试结果信号，从而实现更加简单、方便、快速的进行硬盘转接卡测试，极大的节省了测试时间和成本；提高了测试效率，实现计算机硬盘转接卡大规模生产测试，避免了实插硬盘测试过程中产生的硬盘损耗。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在所有附图中，类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。

图1是本发明提供的硬盘转接卡的测试装置的结构示意图；

图2是本发明提供的硬盘转接卡的测试方法的实现流程图；

图3是本发明提供的将生成的所述测试信号数据通过线缆和输入端对接插头输送至硬盘转接卡的实现流程图；

图4是本发明提供的硬盘转接卡的测试***的结构框图；

其中，1-输入端对接插头，2-输出端对接插头，3-测试仪，4-电源排线口，5-信号线排线口，6-信号线缆，7-电源线缆，8-测试数据获取模块，9-测试信号数据发送模块，10-测试结果信息获取模块，11-结果信息分析保存模块，12-测试信号数据配置模块，13-测试信号数据保存模块，14-关联关系生成模块，15-测试信号数据分析模块，16-电源信号发送模块，17-测试实体信号发送模块。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的、技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本发明的保护范围。

图1示出了本发明提供的硬盘转接卡的测试装置的结构示意图，为了便于说明，图中仅给出了与本发明实施例相关的部分。

硬盘转接卡的测试装置包括输入端对接插头1和输出端对接插头2，所述输入端对接插头1和输出端对接插头2分别对插在硬盘转接卡的输入端排线口和输出端排线口(图中未示出)上；

所述输入端对接插头1的输入端通过线缆与测试仪3连接，所述输出端对接插头2的输出端通过线缆与所述测试仪3连接，所述测试仪3用于生成对所述硬盘转接卡进行测试的测试信号，并将生成的所述测试信号通过所述输入端对接插头1输送至所述硬盘转接卡，同时通过所述输出端对接插头2获取测试后的所述硬盘转接卡输出的测试结果信号，并分析保存所述测试结果信号。

其中，输入端对接插头1和输出端对接插头2均分别包含电源排线口4和信号线排线口5，且所述电源排线口4、信号线排线口5均与所述输入端排线口、输出端排线口对应的针脚对插连接，该电源排线口4和信号线排线口5是为实现对硬盘转接卡提供电源信号和测试实体信息而设置的，在此不再赘述。

对应地，所述线缆包括信号线缆6和电源线缆7，从而实现电源信号和测试实体信号的分离，在此不再赘述。

在该实施例中，上述测试仪3的主要作用是控制硬盘转接卡的测试的整个过程，包括测试信号的生成、输出以及测试结果信息的获取分析和备份等工作。

图2示出了本发明提供的硬盘转接卡的测试方法的实现流程图，其具体包括下述步骤：

在步骤S101中，在所述测试仪3内调用或生成与当前待测的硬盘转接卡类型相匹配的测试信号数据。

在步骤S102中，将生成的或调用的所述测试信号数据通过线缆和输入端对接插头1输送至硬盘转接卡，控制所述硬盘转接卡进行测试。

在步骤S103中，通过线缆和输出端对接插头2从所述硬盘转接卡获取测试结果信息，并对获取到的所述测试结果信息分析、保存。

在该实施例中，所述在所述测试仪3内调用或生成与当前待测的硬盘转接卡类型相匹配的测试信号的步骤之前还包括下述步骤：

(1)在所述测试仪3内预先配置若干个测试信号数据，每一个测试信号数据对应一种硬盘转接卡类型，所述测试信号包含电源信号和测试实体数据；

(2)保存配置生成的若干个测试信号数据，并生成查找对应关联关系表，所述查找对应关联关系表标识测试信号数据与硬盘转接卡类型的一一对应关系。

在本发明实施例中，如图3所示，将生成的所述测试信号数据通过线缆和输入端对接插头1输送至硬盘转接卡的步骤具体包括下述步骤：

在步骤S201中，对生成的或调用的所述测试信号数据进行分析，生成电源信号和测试实体信号；

在步骤S202中，将生成的所述电源信号通过电源线缆7和所述输入端对接插头1传送给所述硬盘转接卡，为所述硬盘转接卡供电；

在步骤S203中，将生成的所述测试实体信号通过信号线缆6和所述输入端对接插头1传送给所述硬盘转接卡，进行硬盘转接卡的实体功能测试。

图4示出了本发明提供的硬盘转接卡的测试***的结构框图，为了便于说明，图中仅给出了与本发明实施例相关的部分。

硬盘转接卡的测试***包括：

测试数据获取模块8，用于在所述测试仪3内调用或生成与当前待测的硬盘转接卡类型相匹配的测试信号数据；

测试信号数据发送模块9，用于将生成的或调用的所述测试信号数据通过线缆和输入端对接插头1输送至硬盘转接卡，控制所述硬盘转接卡进行测试；

测试结果信息获取模块10，用于通过线缆和输出端对接插头2从所述硬盘转接卡获取测试结果信息；

结果信息分析保存模块11，用于对获取到的所述测试结果信息分析、保存。

其中，测试信号数据配置模块12，用于在所述测试仪3内预先配置若干个测试信号数据，每一个测试信号数据对应一种硬盘转接卡类型，所述测试信号包含电源信号和测试实体数据；

测试信号数据保存模块13，用于保存配置生成的若干个测试信号数据；

关联关系生成模块14，用于生成查找对应关联关系表，所述查找对应关联关系表标识测试信号数据与硬盘转接卡类型的一一对应关系。

在本发明实施例中，所述测试信号数据发送模块9具体包括：

测试信号数据分析模块15，用于对生成的或调用的所述测试信号数据进行分析，生成电源信号和测试实体信号；

电源信号发送模块16，用于将生成的所述电源信号通过电源线缆7和所述输入端对接插头1传送给所述硬盘转接卡，为所述硬盘转接卡供电；

测试实体信号发送模块17，用于将生成的所述测试实体信号通过信号线缆6和所述输入端对接插头1传送给所述硬盘转接卡，进行硬盘转接卡的实体功能测试。

其中，上述各个模块的功能如上述方法实施例所记载，在此不再赘述。

在本发明实施例中，在本发明实施例中，硬盘转接卡的测试装置，包括输入端对接插头1和输出端对接插头2，所述输入端对接插头1和输出端对接插头2分别对插在硬盘转接卡的输入端排线口和输出端排线口上；所述输入端对接插头1的输入端通过线缆与测试仪3连接，所述输出端对接插头2的输出端通过线缆与所述测试仪3连接，所述测试仪3用于生成对所述硬盘转接卡进行测试的测试信号，并将生成的所述测试信号通过所述输入端对接插头1输送至所述硬盘转接卡，同时通过所述输出端对接插头2获取测试后的所述硬盘转接卡输出的测试结果信号，并分析保存所述测试结果信号，从而实现更加简单、方便、快速的进行硬盘转接卡测试，极大的节省了测试时间和成本；提高了测试效率，实现计算机硬盘转接卡大规模生产测试，避免了实插硬盘测试过程中产生的硬盘损耗。

以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围，其均应涵盖在本发明的权利要求和说明书的范围当中。

Claims (9)

1.一种硬盘转接卡的测试装置，其特征在于，包括输入端对接插头和输出端对接插头，所述输入端对接插头和输出端对接插头分别对插在硬盘转接卡的输入端排线口和输出端排线口上；

所述输入端对接插头的输入端通过线缆与测试仪连接，所述输出端对接插头的输出端通过线缆与所述测试仪连接，所述测试仪用于生成对所述硬盘转接卡进行测试的测试信号，并将生成的所述测试信号通过所述输入端对接插头输送至所述硬盘转接卡，同时通过所述输出端对接插头获取测试后的所述硬盘转接卡输出的测试结果信号，并分析保存所述测试结果信号。

2.根据权利要求1所述的硬盘转接卡的测试装置，其特征在于，所述输入端对接插头和输出端对接插头均分别包含电源排线口和信号线排线口，且所述电源排线口、信号线排线口均与所述输入端排线口、输出端排线口对应的针脚对插连接。

3.根据权利要求2所述的硬盘转接卡的测试装置，其特征在于，所述线缆包括信号线缆和电源线缆。

4.一种基于权利要求1所述的硬盘转接卡的测试装置的硬盘转接卡的测试方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：

在所述测试仪内调用或生成与当前待测的硬盘转接卡类型相匹配的测试信号数据；

将生成的或调用的所述测试信号数据通过线缆和输入端对接插头输送至硬盘转接卡，控制所述硬盘转接卡进行测试；

通过线缆和输出端对接插头从所述硬盘转接卡获取测试结果信息，并对获取到的所述测试结果信息分析、保存。

5.根据权利要求4所述的硬盘转接卡的测试方法，其特征在于，所述在所述测试仪内调用或生成与当前待测的硬盘转接卡类型相匹配的测试信号的步骤之前还包括下述步骤：

在所述测试仪内预先配置若干个测试信号数据，每一个测试信号数据对应一种硬盘转接卡类型，所述测试信号包含电源信号和测试实体数据；

保存配置生成的若干个测试信号数据，并生成查找对应关联关系表，所述查找对应关联关系表标识测试信号数据与硬盘转接卡类型的一一对应关系。

6.根据权利要求5所述的硬盘转接卡的测试方法，其特征在于，所述将生成的所述测试信号数据通过线缆和输入端对接插头输送至硬盘转接卡的步骤具体包括下述步骤：

对生成的或调用的所述测试信号数据进行分析，生成电源信号和测试实体信号；

将生成的所述电源信号通过电源线缆和所述输入端对接插头传送给所述硬盘转接卡，为所述硬盘转接卡供电；

将生成的所述测试实体信号通过信号线缆和所述输入端对接插头传送给所述硬盘转接卡，进行硬盘转接卡的实体功能测试。

7.一种硬盘转接卡的测试***，其特征在于，所述***包括：

测试数据获取模块，用于在所述测试仪内调用或生成与当前待测的硬盘转接卡类型相匹配的测试信号数据；

测试信号数据发送模块，用于将生成的或调用的所述测试信号数据通过线缆和输入端对接插头输送至硬盘转接卡，控制所述硬盘转接卡进行测试；

测试结果信息获取模块，用于通过线缆和输出端对接插头从所述硬盘转接卡获取测试结果信息；

结果信息分析保存模块，用于对获取到的所述测试结果信息分析、保存。

8.根据权利要求7所述的硬盘转接卡的测试***，其特征在于，所述***还包括：

测试信号数据配置模块，用于在所述测试仪内预先配置若干个测试信号数据，每一个测试信号数据对应一种硬盘转接卡类型，所述测试信号包含电源信号和测试实体数据；

测试信号数据保存模块，用于保存配置生成的若干个测试信号数据；

关联关系生成模块，用于生成查找对应关联关系表，所述查找对应关联关系表标识测试信号数据与硬盘转接卡类型的一一对应关系。

9.根据权利要求8所述的硬盘转接卡的测试***，其特征在于，所述测试信号数据发送模块具体包括：

测试信号数据分析模块，用于对生成的或调用的所述测试信号数据进行分析，生成电源信号和测试实体信号；

电源信号发送模块，用于将生成的所述电源信号通过电源线缆和所述输入端对接插头传送给所述硬盘转接卡，为所述硬盘转接卡供电；

测试实体信号发送模块，用于将生成的所述测试实体信号通过信号线缆和所述输入端对接插头传送给所述硬盘转接卡，进行硬盘转接卡的实体功能测试。