CN110118926A - 基于电磁场效应的pcb篡改智能检测方法 - Google Patents

基于电磁场效应的pcb篡改智能检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN110118926A
CN110118926A CN201910446026.1A CN201910446026A CN110118926A CN 110118926 A CN110118926 A CN 110118926A CN 201910446026 A CN201910446026 A CN 201910446026A CN 110118926 A CN110118926 A CN 110118926A
Authority
CN
China
Prior art keywords
magnetic distribution
layer
training
distribution matrix
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201910446026.1A
Other languages
English (en)
Inventor
陈哲
张海龙
王坚
杨文秀
李桓
李玉柏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
University of Electronic Science and Technology of China
Original Assignee
University of Electronic Science and Technology of China
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by University of Electronic Science and Technology of China filed Critical University of Electronic Science and Technology of China
Priority to CN201910446026.1A priority Critical patent/CN110118926A/zh
Publication of CN110118926A publication Critical patent/CN110118926A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2803Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] by means of functional tests, e.g. logic-circuit-simulation or algorithms therefor
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06NCOMPUTING ARRANGEMENTS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
    • G06N3/00Computing arrangements based on biological models
    • G06N3/02Neural networks
    • G06N3/08Learning methods

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Data Mining & Analysis (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computational Linguistics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)

Abstract

本发明公开了一种基于电磁场效应的PCB篡改智能检测方法,其包括选取已知有无篡改的PCB板构成训练集;测量训练集中所有PCB板的电磁场分布得到电磁场分布矩阵M×N;对电磁场分布矩阵进行乱序和归一化处理后,提取数学特征;选取训练集中预设比例的样本作为训练样本训练BP有监督神经网络;将训练集中余下的电磁场分布矩阵作为验证样本输入初步训练的神经网络中,并输出验证正确率;判断验证正确率是否达到预设要求,若是,进入下一步骤,否则,令M=M+1,N=N+1,并返回电磁场分布矩阵采集步骤;获取待测试PCB板的测试电磁场分布矩阵,并依次进行归一化和数学特征提取;输入训练好的神经网络进行识别,并输出识别结果。

Description

基于电磁场效应的PCB篡改智能检测方法
技术领域
本发明涉及PCB硬件的检测技术,具体涉及一种基于电磁场效应的PCB篡改智能检测方法。
背景技术
PCB的物理篡改是指通过恶意的篡改PCB上的元器件以及过孔的大小、走线宽度等等,从而造成电路功能以及性能的改变、泄露电路信息或者造成电路故障等等,这对硬件构成了极大的安全隐患。然而,由于这种物理篡改体积小并且容易操作,这使得它非常难以检测。目前,学术界有很多检测芯片级的硬件木马的方法,包括侧通道分析、逻辑测试以及逆向工程等等。
对于芯片级的硬件木马主要是进行逻辑上的恶意篡改,检测较容易,但是对于PCB板级的硬件木马主要是进行一些物理上的恶意篡改,检测起来非常困难。
目前对于PCB板级的一些恶意篡改的检测方法大部分停留在木马造成的严重后果以及防御措施上。如:对人们日常用到的智能设备进行了安全性分析,对PCB上的硬件木马进行了详细的分类,对PCB上的硬件木马进行了初步分析等等,但是这些检测方法都难以实现板子上的硬件的恶意篡改的检测。
发明内容
针对现有技术中的上述不足,本发明提供的基于电磁场效应的PCB篡改智能检测方法能够以较高的概率检测出板子上电容和覆铜面积的恶意篡改。
为了达到上述发明目的,本发明采用的技术方案为:
提供一种基于电磁场效应的PCB篡改智能检测方法,其包括:
S1、选取多个有篡改的PCB板和无篡改的PCB板构成训练集;
S2、采用探针测量训练集中所有PCB板的电磁场分布,得到行数为M,列数为N的电磁场分布矩阵;
S3、对训练集中各电磁场分布矩阵加上标签,并依次进行乱序和归一化处理,之后提取每个电磁场分布矩阵的数学特征;
S4、选取训练集中预设比例的经过数学特征提取的电磁场分布矩阵作为训练样本对BP有监督神经网络进行训练,得到初步训练的神经网络;
S5、将训练集中余下的经过数学特征提取的电磁场分布矩阵作为验证样本输入初步训练的神经网络中,并输出篡改的验证正确率;
S6、判断验证正确率是否达到预设要求,若达到,则完成神经网络的训练,并进入步骤S7,否则,令M=M+1,N=N+1,并返回步骤S2;
S7、获取待测试PCB板的测试电磁场分布矩阵M×N,并对测试电磁场分布矩阵依次进行归一化处理和数学特征提取;以及
S8、采用训练好的神经网络对经过数学特征提取的测试电磁场分布矩阵进行识别,并输出是否篡改的识别结果,完成PCB篡改检测。
进一步地,所述提取每个电磁场分布矩阵的数学特征进一步包括:
S31、根据训练集中的电磁场分布矩阵求解协方差矩阵G:
其中,Di(i∈[1,2,...,K])为训练集中电磁场分布矩阵;K为训练集中的电磁场分布矩阵的数量;为所有电磁场分布矩阵Di的平均值;T为矩阵的转置;
S32、选取协方差矩阵G中最大的P个特征值对应的特征向量:
其中,为协方差矩阵G第a列的特征值,a∈(1,2,...,N),N为电磁场分布矩阵Di的列数,λ为常数,等于0.9或者0.95;
S33、根据选取出的P个特征向量对应的特征值大小对特征向量进行降序排序,生成最佳投影轴XO
其中,为排序后第k个特征向量,k∈(1,2,…,P);
S34、根据最佳投影XO计算训练集中每个PCB板的特征矩阵Fi
Fi=DiXO
S35、计算特征矩阵Fi中各列向量的二范数,得到每个训练PCB板的二范数矩阵Li
其中,为特征矩阵Li的第j列,Fi j为样本特征矩阵Fi的第j列,为Fi j的二范数。
进一步地,所述选取训练集中预设比例的经过数学特征提取的电磁场分布矩阵作为训练样本对BP有监督神经网络进行训练进一步包括:
S41、初始化BP有监督神经网络中的权重、偏置、学习率和训练次数;
S42、采用激励函数对输入节点进行运算,得到BP有监督神经网络隐含层的输出Hj
其中,i=1…n,j=1…l,n为输入层的节点个数,l为隐含层的节点个数;wij为输入层到隐含层的权重,aj为输入层到隐含层的偏置,xi为第i个节点的输入数据;g(.)为激励函数;
S43、根据隐含层的输出、隐含层到输出层的权重以及隐含层到输出层的偏置计算输出层的输出结果;
S44、根据输出层的输出结果与训练样本的期望输出计算误差值;
S45、采用梯度下降法更新隐含层到输出层的权值和输入层到隐含层的权值,其中隐含层到输出层的权值的更新公式为:
wjk=wjk+ηHjek
输入层到隐含层的权值的更新公式为:
其中,η为学习速率;ek=Yk-Ok;wjk为隐含层到输出层的权值;
S46、更新隐含层到输出层的偏置,之后再更新输入层到隐含层的偏置:
S47、判断BP有监督神经网络是否已完成训练:
当相邻两次误差之间的差值小于设定阈值或迭代次数等于预设次数时,得到初步训练的神经网络;
当相邻两次误差之间的差值及迭代次数均不满足条件时,返回步骤S42。
进一步地,所述输出层的输出结果Ok的计算公式为:
其中,Ok为输出结果;k=1…m,m为输出层的节点个数;bk为隐含层到输出层的偏置。
进一步地,所述误差值的计算公式为:
其中,E为误差值;Yk为期望输出。
本发明的有益效果为:本方案通过已训练的BP有监督神经网络对PCB上的各种物理篡改进行分类检测,能够实现PCB上覆铜面积的篡改及元器件电阻和电容的篡改,在进行识别过程中,对覆铜面积及元器件电容篡改具有较高的检测率。
附图说明
图1为基于电磁场效应的PCB篡改智能检测方法的流程图。
图2为实施例中低通滤波器原理图。
图3为图2中低通滤波器的PCB板图。
具体实施方式
下面对本发明的具体实施方式进行描述,以便于本技术领域的技术人员理解本发明,但应该清楚,本发明不限于具体实施方式的范围,对本技术领域的普通技术人员来讲,只要各种变化在所附的权利要求限定和确定的本发明的精神和范围内,这些变化是显而易见的,一切利用本发明构思的发明创造均在保护之列。
参考图1,图1示出了基于电磁场效应的PCB篡改智能检测方法的流程图,如图1所示,该方法S包括步骤S1至步骤S8。
在步骤S1中,选取多个有篡改的PCB板和无篡改的PCB板构成训练集;
在步骤S2中,采用探针测量训练集中所有PCB板的电磁场分布,得到行数为M,列数为N的电磁场分布矩阵;
在步骤S3中,对训练集中各电磁场分布矩阵加上标签,并依次进行乱序和归一化处理,之后提取每个电磁场分布矩阵的数学特征,得到电磁场值的二范数矩阵;
由于本方案是BP有监督神经网络,故需要对已知的有无篡改的板子的电磁场分布矩阵加上标签,其中,有篡改的为标签1,未篡改的为标签2;之后再对加上标签的电磁场分布矩阵进行乱序处理,以打乱重组便于后续的训练样本与验证样本的选择。进行归一化处理的目的是使得不同范围的数据能够放在一个参考系下进行比较,即为后面的分类算法作准备。
在本发明的一个实施例中,提取每个电磁场分布矩阵的数学特征包括:
S31、根据训练集中的电磁场分布矩阵求解协方差矩阵G:
其中,Di(i∈[1,2,...,K])为训练集中电磁场分布矩阵;K为训练集中的电磁场分布矩阵的数量;为所有电磁场分布矩阵Di的平均值;T为矩阵的转置;
S32、选取协方差矩阵G中最大的P个特征值对应的特征向量:
其中,为协方差矩阵G第a列的特征值,a∈(1,2,...,N),N为电磁场分布矩阵Di的列数,λ为常数,等于0.9或者0.95;
S33、根据选取出的P个特征向量对应的特征值大小对特征向量进行降序排序,生成最佳投影轴XO
其中,为排序后第k个特征向量,k∈(1,2,…,P);
S34、根据最佳投影XO计算训练集中每个PCB板的特征矩阵Fi
Fi=DiXO
S35、计算特征矩阵Fi中各列向量的二范数,得到每个训练PCB板的二范数矩阵Li
其中,为特征矩阵Li的第j列,Fi j为样本特征矩阵Fi的第j列,的二范数。
在步骤S4中,选取训练集中预设比例的经过数学特征(电磁场值的二范数矩阵)提取的电磁场分布矩阵作为训练样本对BP有监督神经网络进行训练,得到初步训练的神经网络;在训练过程中根据已知的标签类别,得到期望输出与实际输出之间的误差,根据误差不断调整BP有监督神经网络的权值和偏置,最后得到训练好的有监督神经网络。
在本发明的一个实施例中,选取训练集中预设比例的经过数学特征提取的电磁场分布矩阵作为训练样本对BP有监督神经网络进行训练进一步包括:
S41、初始化BP有监督神经网络中的权重、偏置、学习率和训练次数;
S42、采用激励函数对输入节点进行运算,得到BP有监督神经网络隐含层的输出Hj
其中,i=1…n,j=1…l,n为输入层的节点个数,l为隐含层的节点个数;wij为输入层到隐含层的权重,aj为输入层到隐含层的偏置,xi为第i个节点的输入数据;g(.)为激励函数;
S43、根据隐含层的输出、隐含层到输出层的权重以及隐含层到输出层的偏置计算输出层的输出结果Ok
其中,Ok为输出结果;k=1…m,m为输出层的节点个数;bk为隐含层到输出层的偏置。
S44、根据输出层的输出结果与训练样本的期望输出计算误差值:
其中,E为误差值;Yk为期望输出。
S45、采用梯度下降法更新隐含层到输出层的权值和输入层到隐含层的权值,其中隐含层到输出层的权值的更新公式为:
wjk=wjk+ηHjek
输入层到隐含层的权值的更新公式为:
其中,η为学习速率;ek=Yk-Ok;wjk为隐含层到输出层的权值;
S46、更新隐含层到输出层的偏置,之后再更新输入层到隐含层的偏置:
S47、判断BP有监督神经网络是否已完成训练:
当相邻两次误差之间的差值小于设定阈值或迭代次数等于预设次数时,得到初步训练的神经网络;
当相邻两次误差之间的差值及迭代次数均不满足条件时,返回步骤S42。
在步骤S5中,将训练集中余下的经过数学特征提取的电磁场分布矩阵作为验证样本输入初步训练的神经网络中,并输出篡改的验证正确率;具体地为:
将余下已经经过数学特征提取的电磁场分布矩阵输送给初步得到的神经网络,神经网络会分析出其是否属于篡改板,再根据已知的标签比对,进行是否验证正确的判断,得到篡改的验证正确率。
在步骤S6中,判断验证正确率是否达到预设要求,若达到,则完成神经网络的训练,并进入步骤S7,否则,令M=M+1,N=N+1,并返回步骤S2;
在步骤S7中,获取待测试PCB板的测试电磁场分布矩阵M×N,并对测试电磁场分布矩阵依次进行归一化处理和数学特征提取;本步骤中的测试电磁场分布矩阵的行数M和列数N都是更新后的最后取值。
在步骤S8中,采用训练好的神经网络对经过数学特征提取的测试电磁场分布矩阵进行识别,并输出是否篡改的识别结果,完成PCB篡改检测。
下面以一个具体的实例对本方案的检测效果进行说明:
本实例中利用MATLAB通过BP有监督神经网络对未进行篡改的板子以及已经进行了篡改的板子进行检测。
本实例中用到的电路原理图如图2所示,板图如图3所示,该电路的截止频率为2kHZ,电压增益为2的低通滤波器,对未进行篡改以及进行各种类型的篡改均进行了50组训练样本,30组测试样本。
本实例中对PCB板子中的各种参数添加了随机制造误差,误差添加的方式如表1所示。对PCB板子进行的不同物理篡改的篡改方式如表2所示,检测结果如表3所示。
表1双面板添加制造误差的方式
表2不同篡改类型的篡改方式
表3基于PCB电磁场效应的BP神经网络检测结果
从表3可以看出,本方案提供的方法能够对电路板上覆铜面积的篡改及元器件电阻和电容的篡改的识别,尤其是对其中的覆铜面积的篡改及电器件电容具有较高的检出率。

Claims (5)

1.基于电磁场效应的PCB篡改智能检测方法,其特征在于,包括:
S1、选取多个有篡改的PCB板和无篡改的PCB板构成训练集;
S2、采用探针测量训练集中所有PCB板的电磁场分布,得到行数为M,列数为N的电磁场分布矩阵;
S3、对训练集中各电磁场分布矩阵加上标签,并依次进行乱序和归一化处理,之后提取每个电磁场分布矩阵的数学特征;
S4、选取训练集中预设比例的经过数学特征提取的电磁场分布矩阵作为训练样本对BP有监督神经网络进行训练,得到初步训练的神经网络;
S5、将训练集中余下的经过数学特征提取的电磁场分布矩阵作为验证样本输入初步训练的神经网络中,并输出篡改的验证正确率;
S6、判断验证正确率是否达到预设要求,若达到,则完成神经网络的训练,并进入步骤S7,否则,令M=M+1,N=N+1,并返回步骤S2;
S7、获取待测试PCB板的测试电磁场分布矩阵M×N,并对测试电磁场分布矩阵依次进行归一化处理和数学特征提取;以及
S8、采用训练好的神经网络对经过数学特征提取的测试电磁场分布矩阵进行识别,并输出是否篡改的识别结果,完成PCB篡改检测。
2.根据权利要求1所述的基于电磁场效应的PCB篡改智能检测方法,其特征在于,所述提取每个电磁场分布矩阵的数学特征进一步包括:
S31、根据训练集中的电磁场分布矩阵求解协方差矩阵G:
其中,Di(i∈[1,2,...,K])为训练集中电磁场分布矩阵;K为训练集中的电磁场分布矩阵的数量;为所有电磁场分布矩阵Di的平均值;T为矩阵的转置;
S32、选取协方差矩阵G中最大的P个特征值对应的特征向量:
其中,为协方差矩阵G第a列的特征值,a∈(1,2,...,N),N为电磁场分布矩阵Di的列数,λ为常数,等于0.9或者0.95;
S33、根据选取出的P个特征向量对应的特征值大小对特征向量进行降序排序,生成最佳投影轴XO
其中,为排序后第k个特征向量,k∈(1,2,…,P);
S34、根据最佳投影XO计算训练集中每个PCB板的特征矩阵Fi
Fi=DiXO
S35、计算特征矩阵Fi中各列向量的二范数,得到每个训练PCB板的二范数矩阵Li
其中,为特征矩阵Li的第j列,Fi j为样本特征矩阵Fi的第j列,为Fi j的二范数。
3.根据权利要求1所述的基于电磁场效应的PCB篡改智能检测方法,其特征在于,所述选取训练集中预设比例的经过数学特征提取的电磁场分布矩阵作为训练样本对BP有监督神经网络进行训练进一步包括:
S41、初始化BP有监督神经网络中的权重、偏置、学习率和训练次数;
S42、采用激励函数对输入节点进行运算,得到BP有监督神经网络隐含层的输出Hj
其中,i=1…n,j=1…l,n为输入层的节点个数,l为隐含层的节点个数;wij为输入层到隐含层的权重,aj为输入层到隐含层的偏置,xi为第i个节点的输入数据;g(.)为激励函数;
S43、根据隐含层的输出、隐含层到输出层的权重以及隐含层到输出层的偏置计算输出层的输出结果;
S44、根据输出层的输出结果与训练样本的期望输出计算误差值;
S45、采用梯度下降法更新隐含层到输出层的权值和输入层到隐含层的权值,其中隐含层到输出层的权值的更新公式为:
wjk=wjk+ηHjek
输入层到隐含层的权值的更新公式为:
其中,η为学习速率;ek=Yk-Ok;wjk为隐含层到输出层的权值;
S46、更新隐含层到输出层的偏置,之后再更新输入层到隐含层的偏置:
S47、判断BP有监督神经网络是否已完成训练:
当相邻两次误差之间的差值小于设定阈值或迭代次数等于预设次数时,得到初步训练的神经网络;
当相邻两次误差之间的差值及迭代次数均不满足条件时,返回步骤S42。
4.根据权利要求3所述的基于电磁场效应的PCB篡改智能检测方法,其特征在于,所述输出层的输出结果Ok的计算公式为:
其中,Ok为输出结果;k=1…m,m为输出层的节点个数;bk为隐含层到输出层的偏置。
5.根据权利要求4所述的基于电磁场效应的PCB篡改智能检测方法,其特征在于,所述误差值的计算公式为:
其中,E为误差值;Yk为期望输出。
CN201910446026.1A 2019-05-27 2019-05-27 基于电磁场效应的pcb篡改智能检测方法 Pending CN110118926A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910446026.1A CN110118926A (zh) 2019-05-27 2019-05-27 基于电磁场效应的pcb篡改智能检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910446026.1A CN110118926A (zh) 2019-05-27 2019-05-27 基于电磁场效应的pcb篡改智能检测方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN110118926A true CN110118926A (zh) 2019-08-13

Family

ID=67523370

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910446026.1A Pending CN110118926A (zh) 2019-05-27 2019-05-27 基于电磁场效应的pcb篡改智能检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110118926A (zh)

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102831349A (zh) * 2012-08-23 2012-12-19 武汉大学 一种硬件木马检测的特征值处理方法
CN105378751A (zh) * 2013-07-11 2016-03-02 科瑞坡特拉股份公司 篡改响应传感器
CN106845286A (zh) * 2016-12-15 2017-06-13 北京邮电大学 硬件木马检测方法、装置及***
CN107194625A (zh) * 2017-07-25 2017-09-22 国家电网公司 基于神经网络的风电场弃风电量评估方法
CN108107349A (zh) * 2017-12-26 2018-06-01 上海华岭集成电路技术股份有限公司 一种晶圆和成品测试通用承载板
CN108107248A (zh) * 2017-12-12 2018-06-01 宁波三星医疗电气股份有限公司 一种基于神经网络的窃电识别方法
CN108718297A (zh) * 2018-04-27 2018-10-30 广州西麦科技股份有限公司 基于BP神经网络的DDoS攻击检测方法、装置、控制器及介质
US20180313877A1 (en) * 2017-04-26 2018-11-01 Nokomis, Inc. Electronics equipment testing apparatus and method utilizing unintended rf emission features
CN108828325A (zh) * 2018-04-23 2018-11-16 电子科技大学 基于fpga时钟树电磁辐射场的硬件木马探测方法
CN108847244A (zh) * 2018-08-22 2018-11-20 华东计算技术研究所(中国电子科技集团公司第三十二研究所) 基于mfcc和改进bp神经网络的声纹识别方法及***
CN109272502A (zh) * 2018-09-28 2019-01-25 电子科技大学 基于温度场效应的pcb硬件安全检测方法

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102831349A (zh) * 2012-08-23 2012-12-19 武汉大学 一种硬件木马检测的特征值处理方法
CN105378751A (zh) * 2013-07-11 2016-03-02 科瑞坡特拉股份公司 篡改响应传感器
CN106845286A (zh) * 2016-12-15 2017-06-13 北京邮电大学 硬件木马检测方法、装置及***
US20180313877A1 (en) * 2017-04-26 2018-11-01 Nokomis, Inc. Electronics equipment testing apparatus and method utilizing unintended rf emission features
CN107194625A (zh) * 2017-07-25 2017-09-22 国家电网公司 基于神经网络的风电场弃风电量评估方法
CN108107248A (zh) * 2017-12-12 2018-06-01 宁波三星医疗电气股份有限公司 一种基于神经网络的窃电识别方法
CN108107349A (zh) * 2017-12-26 2018-06-01 上海华岭集成电路技术股份有限公司 一种晶圆和成品测试通用承载板
CN108828325A (zh) * 2018-04-23 2018-11-16 电子科技大学 基于fpga时钟树电磁辐射场的硬件木马探测方法
CN108718297A (zh) * 2018-04-27 2018-10-30 广州西麦科技股份有限公司 基于BP神经网络的DDoS攻击检测方法、装置、控制器及介质
CN108847244A (zh) * 2018-08-22 2018-11-20 华东计算技术研究所(中国电子科技集团公司第三十二研究所) 基于mfcc和改进bp神经网络的声纹识别方法及***
CN109272502A (zh) * 2018-09-28 2019-01-25 电子科技大学 基于温度场效应的pcb硬件安全检测方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
HEJASE JA ET.AL: "A Neural Network Based Method for Predicting PCB Glass Weave Induced Skew", 《IEEE》 *
赵毅强 等: "基于自组织竞争神经网络的硬件木马检测方法", 《华中科技大学学报(自然科学版)》 *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108414923A (zh) 一种基于深度置信网络特征提取的模拟电路故障诊断方法
CN109116203A (zh) 基于卷积神经网络的电力设备局部放电故障诊断方法
CN109165510A (zh) 基于双通道卷积神经网络的Android恶意应用程序检测方法
CN109272502A (zh) 基于温度场效应的pcb硬件安全检测方法
CN110287983A (zh) 基于最大相关熵深度神经网络单分类器异常检测方法
CN109858509A (zh) 基于多层随机神经网络单分类器异常检测方法
CN109100627A (zh) 一种基于端到端模式的电力设备局部放电故障诊断方法
CN106443379A (zh) 变压器局部放电故障类型的识别方法和装置
CN110458195A (zh) 一种基于多判据融合的异常数据甄别方法
CN109002859B (zh) 基于主成分分析的传感器阵列特征选择和阵列优化方法
CN109766952A (zh) 基于偏最小二乘法和极限学习机的光伏阵列故障检测方法
Miyajima et al. Machine learning detection of Berezinskii-Kosterlitz-Thouless transitions in q-state clock models
CN104504373A (zh) 一种用于fmri数据的特征选择方法
CN110610212A (zh) 一种配电网的变压器的故障分类方法和故障分类装置
CN108564569B (zh) 一种基于多核分类学习的混凝土裂缝检测方法及装置
CN106529544A (zh) 一种基于无监督机器学***整度客评定方法及装置
CN108680595B (zh) 一种低场磁共振食用油种类检测方法
CN110118926A (zh) 基于电磁场效应的pcb篡改智能检测方法
CN116466408B (zh) 一种基于航磁数据的人工神经网络超基性岩识别方法
CN103824083B (zh) 基于叶片完备局部二值特征的Web在线物种识别方法
CN108776801A (zh) 一种基于欠定盲源分离的模拟电路早期故障特征提取方法
CN106951924A (zh) 基于AdaBoost算法的地震相干体图像断层自动识别方法及***
CN104980442B (zh) 一种基于元样本稀疏表示的网络入侵检测方法
CN113960152B (zh) 一种基于离子迁移谱的痕量***物识别方法及***
Pushpalatha et al. Offline signature verification based on contourlet transform and textural features using HMM

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20190813

RJ01 Rejection of invention patent application after publication