CN110109004B - 一种多触点定位测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种多触点定位测试装置，该装置包括多触点信号采集结构和MT光纤对接结构，所述多触点信号采集结构包括测试板、固定在所述测试板上的信号采集器及封装模块，所述MT光纤对接结构包括固定底座、安装在所述固定底座上的MT固定滑块及MT测试光纤接头。本发明通过信号采集器及弹性电流针对测试信号进行采集，使得电流针与封装模块的焊盘良好接触，保证了信号传输的稳定性；同时利用可调节的MT固定滑块对MIT接头进行固定，大大提供了测试效率，降低了生产成本。
Description
技术领域
本发明属于光通讯模块测试技术领域，具体涉及一种多触点定位测试装置。
背景技术
随着互联网大数据时代的到来，以及光通讯技术的快速发展，光模块作为信息光电子技术领域核心的光电子器件，是构建高速信息网络的基础；近年来国家十分重视该行业的发展，无论是国防科工还是民用通讯对具有低功耗、保密性高以及耐高低温耐候性的性能优异的光通讯模块需求量成倍数增加，应用环境及市场在不断的扩大。
然而由于PLCC此类封装模块有别于常规可插拔式的模块，需要PLCC模块触点直接SMT或者焊接到服务器母板，由于触点多且是焊盘形式，表层镀金质地软易刮伤，在生产测试过程中容易造成信号不稳定等问题，一直以来存在测试效率低、一致性差、产品直通率低等问题，严重影响了生产效率及成本。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种多触点定位测试装置，旨在解决既有方法在测试环节中出现的不能稳定加电通讯、MT光纤对接接触不良、产品通讯触点刮伤等技术问题。
为实现上述目的，本发明提供一种多触点定位测试装置，包括多触点信号采集结构和MT光纤对接结构；
所述多触点信号采集结构包括测试板、固定在所述测试板上的信号采集器及封装模块，所述信号采集器中部设置有信号采集槽，所述信号采集槽底部设置有电流针，所述封装模块安装在所述信号采集槽内且所述封装模块的焊盘分别与所述电流针一一对应接触连接；
所述MT光纤对接结构包括固定底座、安装在所述固定底座上的MT固定滑块及MT测试光纤接头，所述MT固定滑块底部与所述固定底座上设置的滑槽滑动连接，所述述MT固定滑块顶部设置有定位槽，所述MT测试光纤接头与所述封装模块的MIT接头对接且对接头安装在所述定位槽内。
优选地，所述信号采集器一侧设置有弹性压盖，所述弹性压盖通过卡扣与所述信号采集器另一侧扣合连接。
优选地，所述弹性压盖中部还设置有封装模块压块，所述封装模块压块与所述封装模块弹性接触。
优选地，所述信号采集槽底部四周分别设置有弹性电流针，每个弹性电流针的下端与测试板设置的各个焊盘一一对应连接，每个弹性电流针的上端与封装模块的各个触点一一对应连接。
优选地，所述固定底座上设置有倒T型滑槽，所述MT固定滑块底部设置有与所述倒T型滑槽匹配的倒T型滑块，所述MT固定滑块的倒T型滑块与所述固定底座的倒T型滑槽滑动连接。
优选地，所述固定底座的倒T型滑槽两侧壁分别设置有定位孔及与所述定位孔匹配的滑块定位螺丝，所述滑块定位螺丝穿过所述定位孔固定所述MT固定滑块。
优选地，所述滑块定位螺丝套接有定位弹簧，所述滑块定位螺丝通过所述定位弹簧与所述MT固定滑块弹性接触。
优选地，所述MT固定滑块顶部设置有三轨滑槽及与所述三轨滑槽匹配的MT接头压块，所述三轨滑槽两侧的滑槽均为三角形滑槽，所述MT接头压块两侧设置有三角形滑块，所述MT接头压块通过所述三角形滑块与所述MT固定滑块的三角形滑槽滑动连接，所述三轨滑槽中间的滑槽为条形滑槽，所述条形滑槽前端设置有所述定位槽。
本发明的有益效果是：本发明通过信号采集器及弹性电流针对测试信号进行采集，使得电流针与封装模块的焊盘良好接触，保证了信号传输的稳定性；同时利用可调节的MT固定滑块对MIT接头进行固定，大大提供了测试效率，降低了生产成本。
附图说明
图1是本发明的多触点定位测试装置结构示意图；
图2是本发明的多触点定位测试装置剖面示意图；
图3是本发明的封装模块与电流针的放大示意图；
图4是本发明的MT光纤对接结构示意图；
图5是本发明的MT测试光纤接头与MIT接头对接示意图；
图6是本发明的MT固定滑块的安装示意图；
图7是本发明的MT接头压块的安装示意图。
其中附图标记为：1、固定底座，2、MT固定滑块，3、MT接头压块，4、测试板，5、信号采集器，6、封装模块，7、电流针，8、滑块定位螺丝，9、MT测试光纤接头，10、定位弹簧。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
如图1所示，是本发明的多触点定位测试装置结构示意图；一种多触点定位测试装置，包括多触点信号采集结构和MT光纤对接结构；
所述多触点信号采集结构包括测试板4、固定在所述测试板1上的信号采集器5及封装模块6，所述信号采集器5中部设置有信号采集槽，所述信号采集槽底部设置有电流针，所述封装模块6安装在所述信号采集槽内且所述封装模块6的焊盘分别与所述电流针7一一对应接触连接；
所述MT光纤对接结构包括固定底座1、安装在所述固定底座1上的MT固定滑块2及MT测试光纤接头9，所述MT固定滑块2底部与所述固定底座1上设置的滑槽滑动连接，所述述MT固定滑块2顶部设置有定位槽，所述MT测试光纤接头9与所述封装模块6的MIT接头对接且对接头安装在所述定位槽内。
在本发明的一个可选实施例中，上述多触点信号采集结构主要用于采集测试数据，同时保证测试过程中的信号通信稳定；多触点信号采集结构具体包括测试板4、信号采集器5及封装模块6。
上述测试板4采用PCB板，其通过支撑柱呈一定高度固定安装在固定底座1上方，支撑柱具体设置为4个，使得测试板能够稳定牢固的固定在固定底座1上；
上述信号采集器5采用方形框体结构，其一侧边框设置有测试通孔，该测试通孔用于封装模块6的MIT接头穿过并与MT测试光纤接头9对接；信号采集器5的其它三个边框通过固定螺丝固定在测试板4上。
信号采集器5中部为信号采集槽，该信号采集槽底部即测试板4上设置有电流针，具体为在信号采集槽底部四周分别设置有54PIN弹性电流针，电流针表层镀金6～8μ”，弹性疲劳极限10万次；每个弹性电流针的下端与测试板4设置的各个焊盘一一对应连接，每个弹性电流针的上端与封装模块6的各个触点一一对应连接，从而将得到的电信号稳定地传输到PCB测试板4上，有效解决了产品焊盘的压伤，信号的不稳定性等问题。
信号采集器5一侧设置有弹性压盖，弹性压盖的一侧通过压缩弹簧与信号采集器5的一个侧壁连接，弹性压盖的另一侧设置有卡扣，其通过卡扣与信号采集器5另一侧壁扣合连接；弹性压盖中部还设置有封装模块压块，封装模块压块与封装模块6顶部弹性接触，通过弹性压盖及封装模块压块可以将封装模块6压紧在信号采集槽内，保证电流针7与封装模块6的焊盘良好接触，进一步保证信号传输稳定性。
在本发明的一个可选实施例中，上述MT光纤对接结构用于保证封装模块6的MIT接头与MT测试光纤接头9稳定对接和快换，其具体包括固定底座1、MT固定滑块2和MT测试光纤接头9。
上述固定底座1的中线上设置有凸起的倒T型滑槽，上述MT固定滑块2底部设置有与倒T型滑槽匹配的倒T型滑块，MT固定滑块2的倒T型滑块在固定底座1的倒T型滑槽内滑动，使得MT固定滑块2能够在固定底座1上自由滑动，从而调整MT固定滑块2与信号采集器5之间的距离，进而可以根据封装模块6的MT光纤长度调节MT固定滑块2的位置，达到测试不同MT光纤长度产品的目的。
上述固定底座1上凸起的倒T型滑槽的两个侧壁分别设置有定位孔及与所述定位孔匹配的滑块定位螺丝8，定位孔和滑块定位螺丝8均设置为4个，即在倒T型滑槽的两个侧壁分别设置两组定位孔和滑块定位螺丝8，滑块定位螺丝8穿过定位孔固定MT固定滑块2；滑块定位螺丝8上套接有定位弹簧10，滑块定位螺丝8通过定位弹簧10与MT固定滑块2弹性接触，通过滑块定位螺丝8微调MT固定滑块2的前后及左右位置，从而将对接完成的两个MT接头精确放入MT固定滑块2的定位槽内。
上述MT固定滑块2顶部设置有三轨滑槽及与三轨滑槽匹配的MT接头压块3，三轨滑槽两侧的滑槽均为三角形滑槽，MT接头压块3两侧设置有三角形滑块，MT接头压块3通过三角形滑块与MT固定滑块2的三角形滑槽滑动连接，MT接头压块3可在MT固定滑块2内自由滑动，三轨滑槽中间的滑槽为条形滑槽，条形滑槽前端设置有定位槽。本发明利用MT接头压块3滑动至MT接头位置，从而可以保证MT接头不会从上端脱出。
本发明可以应用于PLCC以及相类似方式封装的通讯模块的触点定位测试，有效地解决了PLCC此种封装模块在测试环节中出现的不能稳定加电通讯、MT光纤对接接触不良、产品通讯触点刮伤等不良问题，提高了测试的可靠性和效率，间接降低制造成本。
本领域的普通技术人员将会意识到，这里所述的实施例是为了帮助读者理解本发明的原理，应被理解为本发明的保护范围并不局限于这样的特别陈述和实施例。本领域的普通技术人员可以根据本发明公开的这些技术启示做出各种不脱离本发明实质的其它各种具体变形和组合，这些变形和组合仍然在本发明的保护范围内。
Claims (1)
1.一种多触点定位测试装置，其特征在于，包括多触点信号采集结构和MT光纤对接结构；
所述多触点信号采集结构包括测试板(4)、固定在所述测试板(4)上的信号采集器(5)及封装模块(6)，所述信号采集器(5)中部设置有信号采集槽，所述信号采集槽底部设置有电流针(7)，所述封装模块(6)安装在所述信号采集槽内且所述封装模块(6)的焊盘分别与所述电流针(7)一一对应接触连接；
所述MT光纤对接结构包括固定底座(1)、安装在所述固定底座(1)上的MT固定滑块(2)及MT测试光纤接头(9)，所述MT固定滑块(2)底部与所述固定底座(1)上设置的滑槽滑动连接，所述MT固定滑块(2)顶部设置有定位槽，所述MT测试光纤接头(9)与所述封装模块(6)的MIT接头对接且对接头安装在所述定位槽内；
所述信号采集器(5)一侧设置有弹性压盖，所述弹性压盖通过卡扣与所述信号采集器(5)另一侧扣合连接；所述弹性压盖中部还设置有封装模块压块，所述封装模块压块与所述封装模块(6)弹性接触；
所述信号采集槽底部四周分别设置有弹性电流针，每个弹性电流针的下端与测试板(4)设置的各个焊盘一一对应连接，每个弹性电流针的上端与封装模块(6)的各个触点一一对应连接；
所述固定底座(1)上设置有倒T型滑槽，所述MT固定滑块(2)底部设置有与所述倒T型滑槽匹配的倒T型滑块，所述MT固定滑块(2)的倒T型滑块与所述固定底座(1)的倒T型滑槽滑动连接；
所述固定底座(1)的倒T型滑槽两侧壁分别设置有定位孔及与所述定位孔匹配的滑块定位螺丝(8)，所述滑块定位螺丝(8)穿过所述定位孔固定所述MT固定滑块(2)；
所述滑块定位螺丝(8)套接有定位弹簧(10)，所述滑块定位螺丝(8)通过所述定位弹簧(10)与所述MT固定滑块(2)弹性接触；
所述MT固定滑块(2)顶部设置有三轨滑槽及与所述三轨滑槽匹配的MT接头压块(3)，所述三轨滑槽两侧的滑槽均为三角形滑槽，所述MT接头压块(3)两侧设置有三角形滑块，所述MT接头压块(3)通过所述三角形滑块与所述MT固定滑块(2)的三角形滑槽滑动连接，所述三轨滑槽中间的滑槽为条形滑槽，所述条形滑槽前端设置有所述定位槽。
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