CN110081795A - 一种高精度光纤余长测量装置 - Google Patents

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金榕
孙福林
肖媛
高长华
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梁琦
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Abstract

本发明涉及光纤余长测量技术领域，涉及一种高精度光纤余长测量装置。通过集成切料组件和检测组件，可确保一次样品裁剪即满足标准样品长度要求，减少了光单元裁切和测量分别操作的时间，提高测量精度，同时为减少光单元及其内部光纤不同时测量的误差，采用切料台上的切料槽加切割部件来实现光单元(光纤)样品裁剪和测量一步完成，并满足样品裁切标准长度要求，同时使用测量卡尺测量光纤超出光单元样品的长度，这样大大降低了分别测量光单元和光纤的测量误差，缩短检测时间，提高余长测量的准确性和精确度。

Description

一种高精度光纤余长测量装置
技术领域
本发明涉及光纤余长测量技术领域，涉及一种高精度光纤余长测量装置。
背景技术
在光缆产品中，光纤余长一直是一个很重要的参数指标，直接影响到光缆产品生产加工中光纤的衰减性能以及光缆产品架设使用性能稳定性和寿命。因此在光缆产品加工时光纤余长加工控制的精准性能体现出生产工艺控制的能力。目前行业内光缆中光纤余长测量方式采用余长测量平台和钢直尺作为测量工具，目前使用钢直尺测量光纤长度不满足余长测量精度要求，同时余长测量平台无法对被测光缆产品或光单元进行校直、使用剪刀剪取被测光缆产品或光单元进度不足、光纤测量存在斜拉对不齐等因素，导致现有余长测量平台未通过MSA实验(有效分辨率NDC＝2、％公差Tolerance＝94.2)。如果光纤余长测量和控制不准确将对产品加工制造、架设安装和使用带来很大的负面影响，甚至会导致信息通信的突然中断。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种减少了光单元裁切和测量分别操作的时间，测量精度稿，大大降低了分别测量光单元和光纤的测量误差的高精度光纤余长测量装置。
为了解决上述技术问题，本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：
一种高精度光纤余长测量装置，包括机架，所述机架上设置有用于裁剪光纤的切料组件以及用于检测所述裁剪光纤的检测组件；
所述切料组件包括切料台以及两切割部件，所述切料台上设置有多个定位部件，所述切料台上设置有用于容置光单元的切料槽，两切割部件分别设置在所述切料槽两端；
所述检测组件包括检测架、所述检测架上设置有检测槽，所述检测槽一侧设置有测量卡尺，另一侧设有挡块。
优选的，所述定位部件包括支架，所述支架垂直设置在所述切料槽边缘，所述支架上设置有定位气缸，所述定位气缸活塞杆上设置有压块，所述压块与所述切料槽横截面相匹配，所述压块将光纤压紧在所述切料槽内。
优选的，所述切料槽横截面为V型结构，所述压块上设置有压紧部，所述压紧部上设置有弧形槽，所述弧形槽直径大于所述光纤直径。
优选的，所述切料槽的长度为3米。
优选的，所述切割部件包括切割支架以及切刀，所述切割支架与所述机架固定连接，所述切割支架上设置有切割动力部件，所述切割动力部件与所述切刀连接，所述切割动力部件带动所述切刀上下运动。
优选的，所述切割部件还包括支撑架，所述支撑架上设置有定位块，所述定位块上设置有用于穿设光纤的定位孔。
优选的，所述切割动力部件为气缸、液压缸或者直线电机。
优选的，所述切料台上设置有多个切料槽，所述切料槽为可校直定位被裁切光单元的V型槽，在所有的所述V型槽中，至少有两条所述V型槽的槽口宽度不相同。
优选的，所述检测槽与所述切料槽平行设置，所述检测槽内壁上设有刻度；所述测量卡尺包括支撑板，所述支撑板上设置有尺体，所述尺体上滑设有游标，所述游标上设置有挡板所述尺体和游标上设有读数。
本发明的有益效果：
通过集成切料组件和检测组件，可确保一次样品裁剪即满足标准样品长度要求，减少了光单元裁切和测量分别操作的时间，提高测量精度，同时为减少光单元及其内部光纤不同时测量的误差，采用切料台上的切料槽加切割部件来实现光单元(光纤)样品裁剪和测量一步完成，并满足样品裁切标准长度要求，同时使用测量卡尺测量光纤超出光单元样品的长度，这样大大降低了分别测量光单元和光纤的测量误差，缩短检测时间，提高余长测量的准确性和精确度。
附图说明
图1是本发明的一种高精度光纤余长测量装置结构示意图。
图2是本发明的俯视图。
图中标号说明：1、机架；2、切料台；21、切料槽；3、支架；31、定位气缸；32、压块；4、切割支架；41、切割动力部件；42、切刀；43、支撑架；44、定位块；5、检测槽；51、支撑板；52、尺体；53、游标；
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本发明并能予以实施，但所举实施例不作为对本发明的限定。
参照图1-2所示，一种高精度光纤余长测量装置，包括机架1，所述机架1上设置有用于裁剪光纤的切料组件以及用于检测所述裁剪光纤的检测组件；
所述切料组件包括切料台2以及两切割部件，所述切料台2上设置有多个定位部件，所述切料台2上设置有用于容置光单元的切料槽21，两切割部件分别设置在所述切料槽21两端；
所述检测组件包括检测架、所述检测架上设置有检测槽5，所述检测槽5一侧设置有测量卡尺，另一侧设有挡块。
通过集成切料组件和检测组件，可确保一次样品裁剪即满足标准样品长度要求，减少了光单元裁切和测量分别操作的时间，提高测量精度，同时为减少光单元及其内部光纤不同时测量的误差，采用切料台2上的切料槽21加切割部件来实现光单元(光纤)样品裁剪和测量一步完成，并满足样品裁切标准长度要求，同时使用测量卡尺测量光纤超出光单元样品的长度，这样大大降低了分别测量光单元和光纤的测量误差，缩短检测时间，提高余长测量的准确性和精确度。
所述定位部件包括支架3，所述支架3垂直设置在所述切料槽21边缘，所述支架3上设置有定位气缸31，所述定位气缸31活塞杆上设置有压块32，所述压块32与所述切料槽21横截面相匹配，所述压块32将光纤压紧在所述切料槽21内，确保了光单元裁剪和测量的准确性。
所述切料槽21横截面为V型结构，所述压块32上设置有压紧部，所述压紧部上设置有弧形槽，所述弧形槽直径大于所述光纤直径。
测量平台中用于容置光单元的切料槽21和光纤测量检测槽5的校直均采用V型槽，同时光单元的校直V型槽上增装压块32，确保光单元和光纤在测量时平直。
所述切料槽21的长度为3米，满足一次裁切光单元样品长度和精度需求，本实施例较优选的方案为所述切料槽21的长度为1米、2米、3米、4米、5米……n米，n为正整数，采用将光单元裁剪平台作为光纤长度测量的基准，只需测量出光纤样品超出光单元样品的长度即可得出光纤余长，从而大大降低了分别测量的误差，提高了测量***精准度。
光纤长度测量以切料槽21的长度为3米为基准，仅测量光纤超出光单元长度部分长度，降低了测量的难度和时间，同时在满足测量精度需求前提下，将被测光缆产品或光单元长度由传统的5米改为3米减少了物料消耗40％。
所述切割部件包括切割支架4以及切刀42，所述切割支架4与所述机架1固定连接，所述切割支架4上设置有切割动力部件41，所述切割动力部件41与所述切刀42连接，所述切割动力部件41带动所述切刀42上下运动。
所述切割部件还包括支撑架43，所述支撑架43上设置有定位块44，所述定位块44上设置有用于穿设光纤的定位孔。
所述切割动力部件41为气缸、液压缸或者直线电机。
所述切割动力部件41为快速切刀42，其采用SKD11钢能快速切断被测光单元，切口平齐度优良。
所述切料台2上设置有多个切料槽21，所述切料槽21为V型槽，在所有的所述V型槽中，至少有两条所述V型槽的槽口宽度不相同。
所述检测槽5与所述切料槽21平行设置，所述检测槽5内壁上设有刻度；所述测量卡尺包括支撑板51，所述支撑板51上设置有尺体52，所述尺体52上滑设有游标53，所述游标53上设置有挡板所述尺体52和游标53上设有读数
仅测量光纤长度超出光单元长度部分，多出部分次用游标53卡尺测量。在检测槽5一端处衔接游标53卡尺，以检测槽5端面为游标53卡尺的复位0点，测量光纤超出光单元长度部分，这样实现光单元和光纤长度测量为统一基准，避免多次测量的误差，既满足光纤长度测量精度要求，又便于余长测量操作。
以上所述实施例仅是为充分说明本发明而所举的较佳的实施例，本发明的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本发明基础上所作的等同替代或变换，均在本发明的保护范围之内。本发明的保护范围以权利要求书为准。

Claims (9)

1.一种高精度光纤余长测量装置，其特征在于，包括机架，所述机架上设置有用于裁剪光纤的切料组件以及用于检测所述裁剪光纤的检测组件；
所述切料组件包括切料台以及两切割部件，所述切料台上设置有多个定位部件，所述切料台上设置有用于容置光单元的切料槽，两切割部件分别设置在所述切料槽两端；
所述检测组件包括检测架、所述检测架上设置有检测槽，所述检测槽一侧设置有测量卡尺，另一侧设有挡块。
2.如权利要求1所述的高精度光纤余长测量装置，其特征在于，所述定位部件包括支架，所述支架垂直设置在所述切料槽边缘，所述支架上设置有定位气缸，所述定位气缸活塞杆上设置有压块，所述压块与所述切料槽横截面相匹配，所述压块将光纤压紧在所述切料槽内。
3.如权利要求2所述的高精度光纤余长测量装置，其特征在于，所述切料槽横截面为V型结构，所述压块上设置有压紧部，所述压紧部上设置有弧形槽，所述弧形槽直径大于所述光纤直径。
4.如权利要求1所述的高精度光纤余长测量装置，其特征在于，所述切料槽的长度为3米。
5.如权利要求1所述的高精度光纤余长测量装置，其特征在于，所述切割部件包括切割支架以及切刀，所述切割支架与所述机架固定连接，所述切割支架上设置有切割动力部件，所述切割动力部件与所述切刀连接，所述切割动力部件带动所述切刀上下运动。
6.如权利要求5所述的高精度光纤余长测量装置，其特征在于，所述切割部件还包括支撑架，所述支撑架上设置有定位块，所述定位块上设置有用于穿设光纤的定位孔。
7.如权利要求5所述的高精度光纤余长测量装置，其特征在于，所述切割动力部件为气缸、液压缸或者直线电机。
8.如权利要求1所述的高精度光纤余长测量装置，其特征在于，所述切料台上设置有多个切料槽，所述切料槽为可校直定位被裁切光单元的V型槽，在所有的所述V型槽中，至少有两条所述V型槽的槽口宽度不相同。
9.如权利要求1所述的高精度光纤余长测量装置，其特征在于，所述检测槽与所述切料槽平行设置，所述检测槽内壁上设有刻度；所述测量卡尺包括支撑板，所述支撑板上设置有尺体，所述尺体上滑设有游标，所述游标上设置有挡板所述尺体和游标上设有读数。
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