CN110018180A - 用于光学连接器的检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种用于光学套管的检测装置，所述检测装置包括一个或多个反射器。每个反射器具有配合表面和相对于所述配合表面以倾斜角度设置的反射镜。当所述光学套管设置在光学连接器的外壳内时，每个反射器被配置为与所述光学套管配合。当所述反射器的所述配合表面与所述光学套管的所述配合表面配合接触时，所述反射镜被定位成提供所述光学套管的配合表面的至少一部分的反射视图。

Description

用于光学连接器的检测装置

背景技术

光学连接器可用于多种应用的光学通信，包括：电信网络、局域网、 数据中心链接以及计算机设备中的内部链接。扩展光束可用于这些应用的 连接器中，以提供对尘埃和其他形式的污染较不敏感的光学连接，并且使 得可放宽对准容差。如果在连接点处存在扩展光束，那么光学连接器一般 被认为是扩束连接器。通常，扩展光束是直径大于相关光学波导的芯(通 常为光纤，例如用于多模式通信***的多模式光纤)的光束。扩展光束通 常是通过来自光源或光纤的光束发散而获得的。在许多情况下，发散光束 由光学元件诸如透镜或反射镜处理成近似准直的扩展光束。扩展光束然后 经由另一个透镜或反射镜使光束聚焦来接收。

发明内容

一些实施方案涉及一种用于光学套管的检测装置。该检测装置包括一 个或多个反射器。每个反射器具有配合表面和相对于该配合表面以倾斜角 度设置的反射镜。当光学套管设置在光学连接器的外壳内时，反射器被配 置为与光学套管配合。当反射器的配合表面与光学套管的配合表面配合接 触时，反射镜被定位成提供光学套管的配合表面的至少一部分的反射视 图。

在一些实施方案中，检测***包括如上所述的检测装置和成像***， 该成像***被配置为对由每个配合反射器的反射镜提供的反射视图成像。

一种检测光学套管的方法包括将设置在光学连接器的外壳内的一个或 多个光学套管分别与检测装置的一个或多个反射器配合。每个反射器包括 配合表面和相对于该配合表面以倾斜角度设置的反射镜。光学套管与反射 器的配合使反射器的配合表面接触光学套管的配合表面。该配合使光学套 管围绕垂直于光学连接器的配合轴线的侧向轴线旋转。从反射器的反射镜 反射光。该反射光提供光学套管的配合表面的至少一部分的反射视图。

附图说明

图1是示出根据一些实施方案的光学线缆子组件和检测装置的侧视图 的示意图；

图2是根据一些实施方案的检测工具的透视图；

图3是能够被图2的检测工具检测的光学套管的透视图；

图4提供了根据一些实施方案的检测装置的透视图；

图5是示出套管的光学窗口的反射视图的照片；

图6和图7示出了根据一些实施方案的检测装置***光学连接器的外 壳中并与光学套管配合的不同视图；

图8是根据一些实施方案的包括多个反射器的检测装置的侧视图；

图9示出了从观察光学连接器的外壳的角度***光学连接器的图8的 检测装置的视图；

图10至图12是根据一些实施方案的包含检测装置的检测***的概念 图；并且

图13是示出根据一些实施方案的用于检测光学连接器的光学套管的方 法的流程图。

图未必按照比例绘制。图中使用的相似数字指代相似的部件。然而， 应当理解，在给定图中使用数字指代部件不旨在限制另一图中用相同数字 标记的部件。

具体实施方式

光学套管具有光学窗口(输出表面)，其允许信号光在光学套管和配 合光学套管之间传递。本文讨论的扩束光学套管具有设置在套管的配合表 面上的光学窗口。经过使用和环境暴露，套管的光学窗口可能被划痕损坏 以及/或者可能聚集尘埃粒子。当光学窗口被刮擦以及/或者被尘埃遮挡时， 光学连接器的性能会降低。另外，光学套管可对设置在配合表面上的尘埃 粒子使光学套管倾斜0.1度的角度时发生的角度误差敏感。例如，本公开的 光学连接器的套管之间的平坦界面可为约3mm长。如果单个50μm直径的 尘埃粒子被捕获在两个配合的光耦合单元之间的界面中，则尘埃粒子将产 生1度或更大的角度误差，从而降低光传输效率。

本文描述的实施方案涉及一种用于包括光学套管的光学连接器的检测 装置。该检测装置允许光学连接器的最终用户检测套管的损坏和/或套管上 是否存在尘埃。

图1是示出根据一些实施方案的光学线缆子组件160和检测装置100 的侧视图的示意图。光学线缆子组件包括光学套管150和附接到光学套管 150的至少一个光学波导170。检测装置100包括一个或多个反射器110。 每个反射器110包括配合表面112，该配合表面被配置为与套管150的配合 表面152配合。反射器110包括反射镜113，该反射镜相对于反射器110的 配合表面112以倾斜角度设置。在一些具体实施中，包括反射镜113的反 射器110可以是模制制品。反射镜113能够被涂覆或未涂覆。反射镜113 可以是全内反射(TIR)反射器。在各种具体实施中，反射镜113可包括金 属涂层，例如Al涂层、干涉涂层、裂开表面和/或抛光表面。反射镜113可 具有弯曲表面。例如，反射镜的曲率能够略微放大或减小图像。反射镜的 曲率可被有意设计用于与特定成像***一起使用。在一些实施方案中，反 射镜113和配合表面之间的倾斜角度在约30度至约150度的范围内。例 如，倾斜角度可以是约30度、45度、60度、90度、120度、135度或150 度。

任选地，反射器110包括突片115，该突片从反射器110延伸并且有助 于将反射器110相对于光学套管150定位，以提供光学窗口和/或套管配合 表面的反射视图。

当反射器110和光学套管150配合时，反射器110的配合表面112与 光学套管150的配合表面152接触。光学波导170中的弯曲部170a提供配 合弹簧力，该配合弹簧力将光学套管150保持在与反射器110的配合布置 中。反射器110的反射镜113被定位成提供光学套管150的配合表面152的 至少一部分的反射视图。在一些实施方案中，由反射镜113提供的反射视 图包括设置在光学套管150的配合表面152中的光学窗口153的反射视 图。在一些实施方案中，由反射镜113提供的反射视图包括光学窗口153 的反射视图和光学套管150的配合表面152靠近光学窗口153的区域。

反射器110包括与反射镜113间隔开的观察表面114。观察表面114被 配置为透射由反射镜113例如朝向显微镜反射的光(图1中未示出)。反 射器110可包括在反射镜113和观察表面114之间延伸的透明延伸部分111。在一些实施方案中，观察表面114可被配置为折射由反射镜113反射 的光。当检测装置与显微镜一起使用时，光的折射可能是有用的，如下文 更详细讨论的。例如，观察表面114可以成角度，例如相对于反射器110 的配合表面112以倾斜角度设置，使得能够沿着包含光学线缆组件160的 连接器外壳的配合轴线199观察光学套管150的配合表面152的图像。在 一些实施方案中，观察表面114与反射器110的配合表面112之间的倾斜 角度可在例如约45度至约135度的范围内。

图2是根据一些实施方案的检测装置200的透视图。图3是能够被检 测装置200检测的光学套管250的透视图。检测装置200包括反射器210和 反射镜213，该反射器包括在反射器210上的配合表面212，该反射镜相对 于配合表面212以倾斜角度设置。图2中所示的反射器110不包括观察表 面。反射器210具有从反射镜延伸的开口211。

如图2所示，反射器210包括从反射器210延伸的突片215。突片215 被配置为便于检测装置200的***、移除和定位。如图2所示，突片215 可包括突片延伸部216，该突片延伸部在反射镜213的任一侧上从反射器 210延伸。突片215还可包括附接到突片延伸部216的突片端部217。

如图2和图3中所示，反射器210可包括一个或多个对准特征结构， 诸如突出部218，该突出部被配置为由光学套管250的狭槽259接收。反射 器210还可包括狭槽(图2中未示出)，该狭槽被配置为接收光学套管250 的突出部258。

反射器210可包括分别设置在反射器的左侧和右侧的左臂和右臂 221。左臂和右臂限制光学套管250沿垂直于反射器210和套管250的配合 轴线的侧向轴线的移动。臂221可包括止动特征结构221a，该止动特征结 构被配置为限制反射器210沿配合轴线的移动。

图4提供了根据一些实施方案的检测装置400的透视图。如图4所 示，检测装置400包括反射器410，该反射器包括配合表面412，该配合表 面被配置为与光学套管的配合表面配合(图4中未示出)。反射器410包 括反射镜413，该反射镜相对于反射器410的配合表面412以倾斜角度设 置。任选地，反射器410包括突片415，该突片从反射器410延伸并且有助于将反射器410相对于光学套管定位，以提供光学窗口和/或套管配合表面 的反射视图。

当反射器410和光学套管配合时，反射器410的反射镜413被定位成 提供光学套管的配合表面的至少一部分的反射视图。由反射镜413提供的 反射视图可以是光学套管的光学窗口的反射视图，或者可以是光学窗口和 光学套管配合表面的周围部分的反射视图。

反射器410包括与反射镜413间隔开的观察表面414。观察表面414被 配置为透射由反射镜413反射的光。在许多实施方案中，检测装置与显微 镜一起使用，如下所述。穿过观察表面414的光由显微镜接收。如图4所 示，反射器410可包括在反射镜413和观察表面414之间延伸的延伸部分 411。在一些实施方案中，观察表面414和包括延伸部分411的反射器410 都可透光。观察表面414和反射器410可由相同的透光材料制成。在一些 实施方案中，观察表面414被配置为折射由反射镜413反射的光。例如， 观察表面414可以成角度，例如相对于反射器410的配合表面412以倾斜 角度设置，使得能够沿着连接器的配合轴线观察光学套管的配合表面的图 像。

图4示出了从反射器410延伸的突片415。突片415被配置为便于检测 装置400的***、移除和定位。突片415可包括突片延伸部416，该突片延 伸部在观察表面414的任一侧上从反射器410延伸。突片415还可包括附 接到突片延伸部416的突片端部(未示出)。

如图4所示，反射器410可包括一个或多个对准特征结构，诸如突出 部418，该突出部被配置为由光学套管的接收器接收。反射器410还可包括 接收器(图4中未示出)，该接收器被配置为接收光学套管的突出部。

反射器410可包括分别设置在反射器410的相对侧向侧的臂421。图4 中示出了一个臂421。当反射器410与光学套管配合时，臂421限制光学套 管沿垂直于反射器410和套管的配合轴线499的侧向轴线498的移动。臂 421可包括止动特征结构421a，该止动特征结构被配置为限制反射器410 沿配合轴线499的移动。

图5是示出套管的光学窗口的反射视图的照片。如图5所示，尘埃粒 子可能聚集在套管的光学窗口上，从而降低光学连接器的性能。

图6和图7示出了***光学连接器660的外壳661中并与光学套管650 配合的检测装置600。例如，在一些实施方案中，检测装置600可具有图4 中描绘的装置400的一般配置。图6中示出了从外壳661延伸的检测装置600，其中突片端部617在检测装置600的后部可见。还可见的是从检测装 置的反射器延伸的突片延伸部616。

图7示出了从观察外壳661的角度看的连接器660的视图。检测装置 600的观察表面614在图7中可见。

在一些实施方案中，检测装置包括多个反射器，每个反射器被配置为 与对应的光学套管配合并且用于检测光学套管。图8是包括多个反射器810 的检测装置800的侧视图。在一些实施方案中，每个反射器810可具有图4 中所示的反射器410的一般配置。每个反射器810包括突片815，该突片包 括突片延伸部816，该突片延伸部从反射器810向外从连接器外壳861延 伸。在图8所示的实施方案中，所有突片延伸部通过共同的突片端部817 连接。

图9示出了从观察光学连接器的外壳861的角度***光学连接器的检 测装置800的视图；每个反射器810被配置为与对应的光学套管850配 合，使得能够检测光学套管的光学窗口的反射视图。图9示出了检测装置 的观察表面814。该观察表面被配置为透射由检测装置的反射器的反射镜反 射的光。

图10至图12是根据各种实施方案的检测***1060、1160、1260的概 念图。图10示出了检测***1060，其中检测装置1000包括反射器1010， 该反射器被配置为与光学套管1050配合。反射器1010包括反射镜1013， 该反射镜相对于反射器的配合表面1012以倾斜角度设置。当反射器1010 的配合表面1012与光学套管1050的配合表面1052接触时，反射镜1013可 被定位成提供光学套管1050的输出表面的反射视图。检测***1060包括 成像***1070，诸如显微镜，其被布置用于对反射镜1013的反射视图成 像。例如，成像***1070可被布置用于向检测装置1000提供源光并且接 收由反射器1010的反射镜1013反射的光。

图11和图12是检测***1160、1260的概念图，所述检测***包括检 测装置1110、1210，所述检测装置包括多个反射器1010，所述多个反射器 基本上类似于图10中所示的反射器。检测装置1110、1210的每个反射器 1010具有配合表面1012，该配合表面被配置为与光学套管1050的配合表 面1052滑动接合。

如图11中所示，在一些具体实施中，成像***1170被布置用于同时 接收由多个反射器1010的反射镜1013反射的光，如图11中所示。另选 地，如图12所示，成像***1270可被配置为及时地顺序扫描由多个反射 器1010的反射镜1013反射的光。例如，可通过自动或手动移动显微镜 1270来实现扫描，使得显微镜1270顺序地接收来自反射器1010的每个反 射镜1013的反射光。另选地，扫描可通过反射镜阵列实现，该反射镜阵列 以时间顺序将来自显微镜的源光引导至每个反射器以及/或者将来自每个反 射器的反射光以时间顺序引导至显微镜。

图13是示出用于检测光学连接器的光学套管的方法的流程图。该方法 包括将设置在光学连接器的外壳内的一个或多个光学套管与包括一个或多 个反射器的检测装置配合1310。每个光学套管附接到至少一个光学波导。 每个反射器包括配合表面和相对于该配合表面以倾斜角度设置的反射镜。 每个光学套管与反射器的配合使反射器的配合表面接触光学套管的配合表 面。光学套管与反射器的配合使光学套管围绕垂直于光学连接器的配合轴 线的侧向轴线旋转。由光学波导提供的弹簧力保持套管和反射器之间的配 合接触。源光由反射镜反射1320，反射光提供光学套管的配合表面的反射 视图。可在成像***中接收1330由反射镜反射的光，以便能够向用户显示 图像。检测过程允许用户观察1340光学窗口的图像以及/或者光学套管的配 合表面的周围区域是否存在尘埃、划痕和/或其他退化迹象。

本公开所述的项目包括：

项目1.一种检测装置，包括：

一个或多个反射器，每个反射器包括：

所述反射器上的配合表面；以及

相对于所述配合表面以倾斜角度设置的反射镜，其中所述反射器 被配置为与设置在光学连接器的外壳内的光学套管配合，使得所述反 射器的所述配合表面与所述光学套管的配合表面接触，并且所述反射 镜被定位成提供所述光学套管的配合表面的至少一部分的反射视图。

项目2.根据项目1所述的装置，其中所述反射视图包括设置在所述光 学套管的所述配合表面中的光学窗口的反射视图。

项目3.根据项目1至2中任一项所述的装置，其中所述反射器包括与 所述反射镜间隔开的观察表面，所述观察表面被配置为透射由所述反射镜 反射的光。

项目4.根据项目3所述的装置，其中在所述反射镜和所述观察表面之 间，所述反射器包括对由所述反射镜反射的光基本透明的材料。

项目5.根据项目3所述的装置，其中所述观察表面被配置为折射由所 述反射镜反射的光。

项目6.根据项目3所述的装置，其中所述观察表面成角度，使得能够 沿着所述光学连接器外壳的配合轴线观察所述配合表面的图像。

项目7.根据项目3所述的装置，其中所述观察表面相对于所述配合表 面以倾斜角度设置，使得所述观察表面折射由所述反射镜改变方向的光。

项目8.根据项目1至7中任一项所述的装置，还包括从所述反射器延 伸并且被配置为便于将所述检测装置***所述光学连接器以及将所述检测 装置从所述光学连接器移除的突片。

项目9.根据项目8所述的装置，其中所述突片包括分别在所述观察表 面的任一侧上延伸的第一突片延伸部和第二突片延伸部。

项目10.根据项目8所述的装置，其中所述突片包括分别在所述反射镜 的任一侧上延伸的第一突片延伸部和第二突片延伸部。

项目11.根据项目8所述的装置，其中所述突片包括：

从所述反射器延伸的突片延伸部；以及

附接到所述突片延伸部的突片端部。

项目12.根据项目1至11中任一项所述的装置，其中所述反射器包括 至少一个第一对准特征结构，所述至少一个第一对准特征结构被配置为与 所述光学套管的第二互补对准特征结构接合。

项目13.根据项目12所述的装置，其中：

所述第一对准特征结构包括突出部；并且

所述第二互补对准特征结构包括接收器。

项目14.根据项目12所述的装置，其中：

所述第一对准特征结构包括接收器；并且

所述第二互补对准特征结构包括突出部。

项目15.根据项目1至14中任一项所述的装置，其中所述反射器包括 一个或多个止动特征结构，所述一个或多个止动特征结构被配置为限制所 述反射器沿配合轴线的移动。

项目16.根据项目1至15中任一项所述的装置，其中所述反射器包括 分别设置在所述反射器的左侧和右侧的左臂和右臂，其中所述左臂和所述 右臂被配置为限制所述光学套管沿侧向轴线的移动，所述侧向轴线垂直于 所述反射器和所述光学套管的配合轴线。

项目17.根据项目1至16中任一项所述的装置，其中所述反射器的移 动沿垂直于所述配合反射器和所述光学套管的配合轴线的侧向轴线被所述 光学套管的臂限制。

项目18.根据项目17所述的装置，其中所述臂包括止动特征结构，所 述止动特征结构被配置为限制所述反射器沿所述配合轴线的移动。

项目19.根据项目1至18中任一项所述的装置，其中所述装置包括多 个反射器，每个反射器被配置为与设置在所述光学连接器的所述外壳内的 不同光学套管配合。

项目20.根据项目1至19中任一项所述的装置，其中所述反射镜是全 内反射(TIR)反射镜。

项目21.根据项目1至20中任一项所述的装置，其中所述反射镜包括 下列中的至少一者：

金属涂层；

铝涂层；

干涉涂层；

抛光表面；

裂开表面；

弯曲表面；以及

未涂覆表面。

项目22.根据项目1至21中任一项所述的装置，其中所述反射镜和所 述配合表面之间的所述倾斜角度在约30度至约60度的范围内。

项目23.根据项目1至21中任一项所述的装置，其中所述反射镜和所 述配合表面之间的所述倾斜角度为约45度。

项目24.根据项目1至23中任一项所述的装置，其中所述光学套管附 接到光学线缆，并且所述光学线缆中的弯曲部提供配合弹簧力，所述配合 弹簧力将所述光学套管保持在与所述配合反射器的配合布置中。

项目25.一种检测***，包括：

检测装置，所述检测装置包括一个或多个反射器，每个反射器包 括：

所述反射器上的配合表面；以及

相对于所述配合表面以倾斜角度设置的反射镜，其中所述配合反 射器被配置为与设置在光学连接器的外壳内的光学套管配合，使得所 述配合反射器的所述配合表面与所述光学套管的配合表面接触，并且

所述反射镜被定位成提供所述光学套管的输出表面的反射视图；以及 成像***，所述成像***被配置为对由每个配合反射器的所述反 射镜提供的所述反射视图成像。

项目26.根据项目25所述的检测***，其中所述成像***被配置为同 时接收由多个反射器的所述反射镜反射的光。

项目27.根据项目25所述的检测***，其中所述成像***被配置为顺 序地接收由所述多个反射器的反射镜反射的光。

项目28.一种检测光学套管的方法，包括：

将设置在光学连接器的外壳内的一个或多个光学套管分别与检测 装置的一个或多个反射器配合，每个反射器包括配合表面和相对于配 合表面以倾斜角度设置的反射镜，所述光学套管与反射器的所述配合 使所述反射器的所述配合表面接触所述光学套管的配合表面并使所述 光学套管围绕垂直于所述光学连接器的配合轴线的侧向轴线旋转；以 及

反射来自所述反射器的所述反射镜的光，所述反射光提供所述光 学套管的所述配合表面的至少一部分的反射视图。

项目29.根据项目28所述的方法，还包括在成像***中接收所述反射 光。

项目30.根据项目28至29中任一项所述的方法，其中在所述成像*** 中接收所述反射光包括同时接收来自多个反射器的多个反射镜的反射光。

项目31.根据项目28至29中任一项所述的方法，其中接收所述反射光 包括在时间上顺序地接收来自多个反射器的多个反射镜中的每个反射镜的 反射光。

项目32.根据项目28至31中任一项所述的方法，还包括显示由所述成 像***接收的图像。

除非另外指明，否则本说明书和权利要求书中所使用的表达特征尺 寸、量和物理特性的所有数在所有情况下均应理解成由术语“约”修饰。 因此，除非有相反的说明，否则在上述说明书和所附权利要求书中列出的 数值参数均为近似值，这些近似值可根据本领域的技术人员利用本文所公 开的教导内容来寻求获得的期望特性而变化。由端点表述的数值范围的使 用包括该范围内的所有数字(例如，1至5包括1、1.5、2、2.75、3、 3.80、4和5)以及该范围内的任何范围。

上述实施方案的各种变型和更改对于本领域中的技术人员都是显而易 见的，并且应当理解，本公开不局限于本文所阐述的例示性实施方案。除 非另外指明，否则读者应该假设一个公开的实施方案的特征也可应用于所 有其它公开的实施方案。应该理解，所有本文引用的美国专利、专利申 请、专利申请公开及其他专利和非专利文档都以其不与上述公开抵触的程 度通过引用的方式并入。

Claims (32)

1.一种检测装置，包括：

一个或多个反射器，每个反射器包括：

配合表面；以及

相对于所述配合表面以倾斜角度设置的反射镜，其中所述反射器被配置为与设置在光学连接器的外壳内的光学套管配合，使得所述反射器的所述配合表面与所述光学套管的配合表面接触，并且所述反射镜被定位成提供所述光学套管的配合表面的至少一部分的反射视图。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述反射视图包括设置在所述光学套管的所述配合表面中的光学窗口的反射视图。

3.根据权利要求1所述的装置，其中所述反射器包括与所述反射镜间隔开的观察表面，所述观察表面被配置为透射由所述反射镜反射的光。

4.根据权利要求3所述的装置，其中在所述反射镜和所述观察表面之间，所述反射器包括对由所述反射镜反射的光基本透明的材料。

5.根据权利要求3所述的装置，其中所述观察表面被配置为折射由所述反射镜反射的光。

6.根据权利要求3所述的装置，其中所述观察表面成角度，使得能够沿着所述光学连接器外壳的配合轴线观察所述配合表面的图像。

7.根据权利要求3所述的装置，其中所述观察表面相对于所述配合表面以倾斜角度设置，使得所述观察表面折射由所述反射镜改变方向的光。

8.根据权利要求1所述的装置，还包括从所述反射器延伸并且被配置为便于将所述检测装置***所述光学连接器以及将所述检测装置从所述光学连接器移除的突片。

9.根据权利要求8所述的装置，其中所述突片包括分别在所述观察表面的任一侧上延伸的第一突片延伸部和第二突片延伸部。

10.根据权利要求8所述的装置，其中所述突片包括分别在所述反射镜的任一侧上延伸的第一突片延伸部和第二突片延伸部。

11.根据权利要求8所述的装置，其中所述突片包括：

从所述反射器延伸的突片延伸部；以及

附接到所述突片延伸部的突片端部。

12.根据权利要求1所述的装置，其中所述反射器包括至少一个第一对准特征结构，所述至少一个第一对准特征结构被配置为与所述光学套管的第二互补对准特征结构接合。

13.根据权利要求12所述的装置，其中：

所述第一对准特征结构包括突出部；并且

所述第二互补对准特征结构包括接收器。

14.根据权利要求12所述的装置，其中：

所述第一对准特征结构包括接收器；并且

所述第二互补对准特征结构包括突出部。

15.根据权利要求1所述的装置，其中所述反射器包括一个或多个止动特征结构，所述一个或多个止动特征结构被配置为限制所述反射器沿配合轴线的移动。

16.根据权利要求1所述的装置，其中所述反射器包括分别设置在所述反射器的左侧和右侧的左臂和右臂，其中所述左臂和所述右臂被配置为限制所述光学套管沿侧向轴线的移动，所述侧向轴线垂直于所述反射器和所述光学套管的配合轴线。

17.根据权利要求1所述的装置，其中所述反射器的移动沿垂直于所述配合反射器和所述光学套管的配合轴线的侧向轴线被所述光学套管的臂限制。

18.根据权利要求1所述的装置，其中所述臂包括止动特征结构，所述止动特征结构被配置为限制所述反射器沿所述配合轴线的移动。

19.根据权利要求1所述的装置，其中所述装置包括多个反射器，每个反射器被配置为与设置在所述光学连接器的所述外壳内的不同光学套管配合。

20.根据权利要求1所述的装置，其中所述反射镜是全内反射(TIR)反射镜。

21.根据权利要求1所述的装置，其中所述反射镜包括下列中的至少一者：

金属涂层；

铝涂层；

干涉涂层；

抛光表面；

裂开表面(cleaved surface)；

弯曲表面；以及

未涂覆表面。

22.根据权利要求1所述的装置，其中所述反射镜和所述配合表面之间的所述倾斜角度在约30度至约60度的范围内。

23.根据权利要求1所述的装置，其中所述反射镜和所述配合表面之间的所述倾斜角度为约45度。

24.根据权利要求1所述的装置，其中所述光学套管附接到光学线缆，并且所述光学线缆中的弯曲部提供配合弹簧力，所述配合弹簧力将所述光学套管保持在与所述配合反射器的配合布置中。

25.一种检测***，包括：

检测装置，所述检测装置包括一个或多个反射器，每个反射器包括：

配合表面；以及

相对于所述配合表面以倾斜角度设置的反射镜，其中所述配合反射器被配置为与设置在光学连接器的外壳内的光学套管配合，使得所述配合反射器的所述配合表面与所述光学套管的配合表面接触，并且所述反射镜被定位成提供所述光学套管的输出表面的反射视图；以及

成像***，所述成像***被配置为对由每个配合反射器的所述反射镜提供的所述反射视图成像。

26.根据权利要求25所述的检测***，其中所述成像***被配置为同时接收由多个反射器的所述反射镜反射的光。

27.根据权利要求25所述的检测***，其中所述成像***被配置为顺序地接收由所述多个反射器的反射镜反射的光。

28.一种检测光学套管的方法，包括：

将设置在光学连接器的外壳内的一个或多个光学套管分别与检测装置的一个或多个反射器配合，每个反射器包括配合表面和相对于所述配合表面以倾斜角度设置的反射镜，所述光学套管与反射器的所述配合使所述反射器的所述配合表面接触所述光学套管的配合表面并使所述光学套管围绕垂直于所述光学连接器的配合轴线的侧向轴线旋转；以及

用所述反射器的所述反射镜对光进行反射，所述反射光提供所述光学套管的所述配合表面的至少一部分的反射视图。

29.根据权利要求28所述的方法，还包括在成像***中接收所述反射光。

30.根据权利要求29所述的方法，其中在所述成像***中接收所述反射光包括同时接收来自多个反射器的多个反射镜的反射光。

31.根据权利要求29所述的方法，其中接收所述反射光包括在时间上顺序地接收来自多个反射器的多个反射镜中的每个反射镜的反射光。

32.根据权利要求29所述的方法，还包括显示由所述成像***接收的图像。