CN109991521B - 发光二极管检测电路及装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种发光二极管检测电路及装置，其中发光二极管检测电路，采样电阻通过第一开关模块与电源连接，采样电阻通过第二开关模块接地，采样电阻与待测发光二极管的正极连接，第三开关模块连接电源，第三开关模块与待测发光二极管的负极连接，第四开关模块用于接地，第四开关模块与待测发光二极管的负极连接，第一比较器、第二比较器及第三比较器的第一输入端分别与采样电阻连接及第二输入端分别与基准电源连接，第一比较器的输出端、第二比较器的输出端及第三比较器的输出端与指示模块连接，通过给发光二极管正向通电和反向通电，比较器输出对应检测信号，实现发光二极管电气性能测试，适用于COB板载上LED晶片检测。

Description

发光二极管检测电路及装置

技术领域

本发明涉及二极管技术领域，特别是涉及发光二极管检测电路及装置。

背景技术

随着时代科技不断的发展，LED（Light-Emitting Diode，发光二极管）应用市场逐步成熟，其中COB（Chips on Board，板上芯片封装）光源是将LED芯片直接贴在高反光率的镜面金属基板上的高光效集成面光源技术，此技术剔除了支架概念，无电镀、无回流焊、无贴片工序，降低了生产成本、可以进行个性化设计以及COB的散热性能好，所以COB在照明上的应用也成为了一种潮流和趋势。

由于将LED晶片封装在COB单元板中时容易出现漏固晶、漏焊线及晶片漏电等问题，导致LED晶片出现反向漏电及短路等异常状况，因此，封装后的COB中的LED晶片需进行性能检测，目前，通常采用LED分光机或者采用LED自动点亮机对封装后的COB中LED晶片进行检测，但采用LED分光机无法对多颗LED晶片测试，采用LED自动点亮机设备成本高，受相机性能影响，容易出现漏测或者误判，且无法检测LED晶片是否存在漏电现象。

发明内容

基于此，有必要针对传统检测设备容易出现漏测或误判，且无法检测LED晶片漏电等问题，提供一种发光二极管检测电路及装置。

一种发光二极管检测电路，包括：第一开关模块、第二开关模块、第三开关模块、第四开关模块、第一比较器U1、第二比较器U2、第三比较器U3、采样电阻R1及至少一个指示模块；所述采样电阻R1的第一端用于通过所述第一开关模块与电源连接，所述采样电阻R1的第一端还用于通过所述第二开关模块接地，所述采样电阻R1的第二端用于与待测发光二极管的正极连接，所述第三开关模块的第一端用于连接电源，所述第三开关模块的第二端用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述第四开关模块的第一端用于接地，所述第四开关模块的第二端用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述采样电阻R1的第二端还分别与所述第一比较器U1的第一输入端、所述第二比较器U2的第一输入端及所述第三比较器U3的第一输入端连接，所述第一比较器U1的第二输入端用于与第一基准电源连接，所述第二比较器U2的第二输入端用于与第二基准电源连接，所述第三比较器U3的第二输入端用于与第三基准电源连接，所述第一比较器U1的输出端、第二比较器U2的输出端及第三比较器U3的输出端分别与所述至少一个指示模块连接。

在其中一个实施例中，所述第一开关模块的工作状态与所述第四开关模块的工作状态相同，所述第二开关模块的工作状态与所述第三开关模块的工作状态状态相同，且所述第一开关模块的工作状态与所述第二开关模块的工作状态相异。

在其中一个实施例中，所述采样电阻R1的第二端分别与所述第一比较器U1的正相输入端、所述第二比较器U2的反相输入端及所述第三比较器U3的正相输入端连接，所述第一比较器U1的反相输入端用于与所述第一基准电源连接，所述第二比较器U2的正相输入端用于与所述第二基准电源连接，所述第三比较器U3的反相输入端用于与所述第三基准电源连接。

在其中一个实施例中，所述的发光二极管检测电路还包括控制模块，所述控制模块分别与所述第一开关模块的控制端、所述第二开关模块的控制端、所述第三开关模块的控制端及所述第四开关模块的控制端连接。

在其中一个实施例中，所述第一开关模块、所述第二开关模块、所述第三开关模块及所述第四开关模块中至少一个为场效应管，所述场效应管的栅极与所述控制模块连接。

在其中一个实施例中，所述第一开关模块及所述第三开关模块均为PMOS管，所述第二开关模块及所述第四开关模块均为NMOS管。

在其中一个实施例中，所述的发光二极管检测电路还包括处理模块，所述第一比较器U1的输出端、第二比较器U2的输出端及第三比较器U3的输出端分别与所述处理模块的输入端连接，所述处理模块的输出端与所述指示模块连接。

在其中一个实施例中，所述指示模块包括显示屏，所述显示屏与所述处理模块的输出端连接。

在其中一个实施例中，所述第一比较器U1、第二比较器U2及第三比较器U3均为电压比较器。

一种发光二极管检测装置，包括两个探针、支撑架及上述任一实施例中所述的发光二极管检测电路，所述探针设置于所述支撑架上，所述采样电阻R1的第二端用于通过一所述探针与所述待测发光二极管的正极连接，所述第三开关模块的第二端用于通过另一所述探针与所述待测发光二极管的负极连接。

上述发光二极管检测电路，当第一开关模块及第四开关模块处于导通状态，第二开关模块及第三开关模块处于断开状态时，此时待测二极管处于正向导通状态，通过第一比较器及第二比较器输出的对应检测信号，以使指示模块发出对应的指示信号，可以实现发光二极管正常点亮状态及漏电状态的检测，当第一开关模块及第四开关模块处于断开状态，第二开关模块及第三开关模块处于导通状态时，此时二极管处于反向通电状态，通过第三比较器输出对应的检测信号，以使指示模块发出对应的指示信号，以检测发光二极管是否存在漏电现象，从而实现发光二极管的检查，此检测电路适用于COB板载上LED晶片的检测。

附图说明

图1为一个实施例中发光二极管检测电路的电路原理图；

图2为另一个实施例中发光二极管检测电路的电路原理图；

图3为一个实施例中发光二极管检测装置的电路原理图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施方式。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本发明的公开内容理解的更加透彻全面。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本发明。

例如，提供一种发光二极管检测电路，包括：第一开关模块、第二开关模块、第三开关模块、第四开关模块、第一比较器U1、第二比较器U2、第三比较器U3、采样电阻R1及至少一个指示模块；所述采样电阻R1的第一端用于通过所述第一开关模块与电源连接，所述采样电阻R1的第一端还用于通过所述第二开关模块接地，所述采样电阻R1的第二端用于与待测发光二极管的正极连接，所述第三开关模块的第一端用于连接电源，所述第三开关模块的第二端用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述第四开关模块的第一端用于接地，所述第四开关模块的第二端用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述采样电阻R1的第二端还分别与所述第一比较器U1的第一输入端、所述第二比较器U2的第一输入端及所述第三比较器U3的第一输入端连接，所述第一比较器U1的第二输入端用于与第一基准电源连接，所述第二比较器U2的第二输入端用于与第二基准电源连接，所述第三比较器U3的第二输入端用于与第三基准电源连接，所述第一比较器U1的输出端、第二比较器U2的输出端及第三比较器U3的输出端分别与所述至少一个指示模块连接。

上述发光二极管检测电路，当第一开关模块及第四开关模块处于导通状态，第二开关模块及第三开关模块处于断开状态时，此时待测二极管处于正向导通状态，通过第一比较器U1及第二比较器U2输出的对应检测信号，以使指示模块发出对应的指示信号，可以实现发光二极管正常点亮状态及漏电状态的检测，当第一开关模块及第四开关模块处于断开状态，第二开关模块及第三开关模块处于导通状态时，此时二极管处于反向通电状态，通过第三比较器U3输出对应的检测信号，以使指示模块发出对应的指示信号，以检测发光二极管是否存在漏电现象，从而实现发光二极管的检查，此检测电路适用于COB板载上LED晶片的检测。

在其中一个实施例中，请参阅图1，一种发光二极管检测电路10，包括：第一开关模块100、第二开关模块200、第三开关模块300、第四开关模块400、第一比较器U1、第二比较器U2、第三比较器U3、采样电阻R1及至少一个指示模块500；所述采样电阻R1的第一端用于通过所述第一开关模块100与电源连接，所述采样电阻R1的第一端还用于通过所述第二开关模块200接地，所述采样电阻R1的第二端用于与待测发光二极管的正极连接，所述第三开关模块300的第一端用于连接电源，所述第三开关模块300的第二端用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述第四开关模块400的第一端用于接地，所述第四开关模块400的第二端用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述采样电阻R1的第二端还分别与所述第一比较器U1的第一输入端、所述第二比较器U2的第一输入端及所述第三比较器U3的第一输入端连接，所述第一比较器U1的第二输入端用于与第一基准电源连接，所述第二比较器U2的第二输入端用于与第二基准电源连接，所述第三比较器U3的第二输入端用于与第三基准电源连接，所述第一比较器U1的输出端、第二比较器U2的输出端及第三比较器U3的输出端分别与所述至少一个指示模块500连接。

具体的，比较器具有正相输入端及反向输入端，所述比较器的第一输入端可以是正相输入端也可以是反相输入端，所述比较器的第二输入端可以是正相输入端也可以是反相输入端，值得一提的，当比较器的第一输入端为正相输入端时，同一比较器的第二输入端为反相输入端。例如，所述采样电阻R1的第二端分别与所述第一比较器U1的正相输入端、所述第二比较器U2的反相输入端及所述第三比较器U3的正相输入端连接，所述第一比较器U1的反相输入端用于与所述第一基准电源连接，所述第二比较器U2的正相输入端用于与所述第二基准电源连接，所述第三比较器U3的反相输入端用于与所述第三基准电源连接。又例如，所述采样电阻R1的第二端分别与所述第一比较器U1的反相输入端、所述第二比较器U2的正相输入端及所述第三比较器U3的正相输入端连接，所述第一比较器U1的正相输入端用于与所述第一基准电源连接，所述第二比较器U2的反相输入端用于与所述第二基准电源连接，所述第三比较器U3的反相输入端用于与所述第三基准电源连接。具体的，所述第一比较器U1、第二比较器U2及第三比较器U3的正相输入端及反向输入端的与采用电阻及基准电源的连接方式可以通过排列组合方式设置，本实施例中，不再一一列举。

在一个实施例中，所述采样电阻R1为可调电阻。

在一个实施例中，所述第一基准电源为1.5V直流电，所述第二基准电源为3.8V直流电，所述第三基准电源为10mV。

上述发光二极管检测电路，第一基准电压大于小于第二基准电压，用户在对发光二极管进行检测时，将第一开关模块及第四开关模块置于导通状态，第二开关模块及第三开关模块处于断开状态，此时待测二极管处于正向导通状态，通过第一比较器U1与第二比较器U2将采样电阻R1采集的电压与基准电压进行比较，当采样电压小于第一基准电压时，则发光二极管处于开路状态，当采样电压大于第一基准电压小于第二基准电压时，则发光二极管处于正常点亮状态，当采样电压大于第二基准电压时，则发光二极管处于短路状态，第一比较器U1及第二比较器U2输出对应的检测信号，以使指示模块发出对应的指示信号，实现发光二极管正常工作、断路及短路的检测；将第二开关模块及第三开关模块置于导通状态，第一开关模块及第四开关模块置于断开状态时，此时待测二极管处于反向通电状态，当采样电压大于第三基准电压时，则发光二极管存在漏电情况，第三比较器U3输出对应的检测信号，以使指示模块发出对应的指示信号，实现发光二极管的反向漏电检测，该检测电路适用于COB板载上LED晶片检测。

在一个实施例中，所述发光二极管检测电路包括第一指示模块、第二指示模块及第三指示模块，所述第一指示模块、第二指示模块及第三指示模块均为指示灯，所述第一比较器U1的输出端与所述第一指示模块连接，所述第二比较器U2的输出端与所述第二指示模块连接，所述第三比较器U3的输出端与所述第三指示模块连接。在一个实施例中，所述第一指示模块包括第一LED灯，所述第二指示模块包括第二LED灯，所述第三指示模块包括第三LED灯，所述第一LED灯的正极分别与第一比较器U1的输出端及电源连接，所述第一LED灯的负极用于接地，所述第二LED灯的正极分别与第二比较器U2的输出端及电源连接，所述第二LED灯的负极用于接地，所述第三LED灯的正极分别与第三比较器U3的输出端及电源连接，所述第三LED灯的负极用于接地，例如，所述采样电阻R1的第二端分别与所述第一比较器U1的正相输入端、所述第二比较器U2的反相输入端及所述第三比较器U3的正相输入端连接，所述第一比较器U1的反相输入端用于与所述第一基准电源连接，所述第二比较器U2的正相输入端用于与所述第二基准电源连接，所述第三比较器U3的反相输入端用于与所述第三基准电源连接，这样，当第一指示灯及第二指示灯均处与点亮状态时，则待测发光二极管处于正常点亮状态；当第一指示灯处于熄灭状态，第二指示灯处于点亮状态时，则待测发光二极管出现漏电现象；当第一指示灯处于点亮状，第二指示灯处于熄灭状态时，则待测发光二极管处于开路状态；当第三指示灯处于点亮状态时，则待测发光二极管处于漏电状，通过设置三个指示灯，用户可以根据指示灯亮灭情况判断发光二极管是否合格。

在一个实施例中，所述第一指示模块包括第一控制开关及第一LED灯，所述第二指示模块包括第二控制开关及第二LED灯，所述第三指示模块包括第三控制开关及第三LED灯，所述第一比较器的输出端与所述第一控制开关的控制端连接，所述第一控制开关的第一端用于连接电源，所述第一控制开关的第二端与所述第一LED灯的正极连接，所述第一LED灯的负极用于接地，所述第二比较器的输出端与所述第二控制开关的控制端连接，所述第二控制开关的第一端用于连接电源，所述第二控制开关的第二端与所述第二LED灯的正极连接，所述第二LED灯的负极用于接地，所述第三比较器的输出端与所述第三控制开关的控制端连接，所述第三控制开关的第一端用于连接电源，所述第三控制开关的第二端与所述第二LED灯的正极连接，所述第三LED灯的负极接地，通过设置这样的指示模块，比较器根据接收采样电压，使比较器发出对应检测信号以使LED灯发亮，从而便于用户查看检测结果。

在一个实施例中，所述指示模块包括与非门器及指示灯，所述第一比较器U1的输出端与所述与非门器的第一输入端连接，所述第二比较器U2的输出端与所述与非门器的第二输入端连接，所述与非门器的输出端与所述指示灯连接，所述第三比较器U3的输出端与所述指示灯连接，具体的，所述采样电阻R1的第二端分别与所述第一比较器U1的正相输入端、所述第二比较器U2的反相输入端及所述第三比较器U3的正相输入端连接，所述第一比较器U1的反相输入端用于与所述第一基准电源连接，所述第二比较器U2的正相输入端用于与所述第二基准电源连接，所述第三比较器U3的反相输入端用于与所述第三基准电源连接，检测时，当指示灯亮，则说明待测发光二极管处于短路、漏电或断开状态，指示灯灭，则说明待测发光二极管正常发亮，以便于用户查看检测结果。

在一个实施例中，所述指示模块为蜂鸣器。其反馈检测结果的原理与LED灯相同，本实施例中，不累赘描述。

为了使检测电路能正常工作，在其中一个实施例中，所述第一开关模块的工作状态与所述第四开关模块的工作状态相同，所述第二开关模块的工作状态与所述第三开关模块的工作状态状态相同，且所述第一开关模块的工作状态与所述第二开关模块的工作状态相异，所述第三开关模块的工作状态与所述第四开关模块的工作状态相异。所述开关模块的工作状态包括导通状态和断开状态，具体的，当第一开关模块处于断开状态时，第四开关模块处于断开状态，第二开关模块及第三开关模块处于导通状态；当第一开关模块处于导通状态时，第四开关模块处于导通状态，第二开关模块及第三开关模块处于断开状态，从而实现给待测发光二极管施加正向电压或者反向电压，使检测电路能正常工作。

为了便于指示模块根据接收的对应检测信号发出对应的指示信号，在其中一个实施例中，请参阅图1，所述采样电阻R1的第二端分别与所述第一比较器U1的正相输入端、所述第二比较器U2的反相输入端及所述第三比较器U3的正相输入端连接，所述第一比较器U1的反相输入端用于与所述第一基准电源连接，所述第二比较器U2的正相输入端用于与所述第二基准电源连接，所述第三比较器U3的反相输入端用于与所述第三基准电源连接。这样，当第一比较器U1及第二比较器U2输出高电平信号时，则发光二极管处于正常工作状态，当第一比较器U1输出高点平信号，第二比较器U2输出低电平信号时，则发光二极管处于断路状态；当第一比较器U1输出低电平信号，第二比较器U2输出高电平信号时，则发光二极管处于断路状态，当第三比较器U3输出高电平信号时，则发光二极管处于漏电状，以便于指示模块根据接收的对应检测信号发出对应的指示信号。

为了便于用户控制开关模块的导通或断开，在其中一个实施例中，请参阅图2，所述发光二极管检测电路10还包括控制模块620，所述控制模块620分别与所述第一开关模块100的控制端、所述第二开关模块200的控制端、所述第三开关模块300的控制端及所述第四开关模块400的控制端连接。通过设置控制模块，则用户可以通过操作控制模块，以实现开关模块工作状态的切换，便于用户控制开关模块的导通或断开。

为了便于用户控制开关模块工作状态的切换，在其中一个实施例中，所述第一开关模块、所述第二开关模块、所述第三开关模块及所述第四开关模块中至少一个为场效应管，所述场效应管的栅极与所述控制模块连接。在其中一个实施例中，请参阅图2，所述第一开关模块包括场效应管Q1，所述第二开关模块包括场效应管Q2、所述第三开关模块包括场效应管Q3，所述第四开关模块包括场效应管Q4，所述场效应管Q1的源极用于连接电源，所述场效应管Q1的漏极与所述采样电阻R1的第一端连接，所述场效应管Q1的栅极与所述控制模块连接，所述场效应管Q2的源极用于接地，所述场效应管Q2的漏极与所述采样电阻R1的第一端连接，所述场效应管Q2的栅极与所述控制模块连接，所述场效应管Q3的源极用于连接电源，所述场效应管Q3的漏极用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述场效应管Q3的栅极与所述控制模块连接，所述场效应管Q4的源极用于接地，所述场效应管Q4的漏极用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述场效应管Q4的栅极与所述微控制器电连接，具体的，通过将场效应管的栅极与所述控制模块连接，当控制模块分别向四个场效应管的栅极发出控制信号时，使得对应的场效应管的源极及漏极导通或截止，实现开关的作用，从而便于用户控制开关模块工作状态的切换。

在一个实施例中，控制模块具有四个控制信号输出端，四个控制信号输出端包括第一控制信号输出端、第二控制信号输出端、第三控制信号输出端和第四控制信号输出端，其中，第一控制信号输出端与场效应管Q1的栅极连接，第二控制信号输出端与场效应管Q2的栅极连接，第三控制信号输出端与场效应管Q3的栅极连接，第四控制信号输出端与场效应管Q4的栅极连接，这样，当第一控制信号输出端和第四控制信号输出端输出高电平信号，第二控制信号输出端和第三控制信号输出端输出低电平信号时，场效应管Q1和场效应管Q4导通，场效应管Q2和场效应管Q3截止；当第一控制信号输出端和第四控制信号输出端输出低电平信号，第二控制信号输出端和第三控制信号输出端输出高电平信号时，场效应管Q1和场效应管Q4截止，场效应管Q2和场效应管Q3导通，从而实现了控制模块分别对四个场效应管的控制。

在一个实施例中，控制模块具有两个控制信号输出端，两个个控制信号输出端包括第一控制信号输出端和第二控制信号输出端，其中，第一控制信号输出端和第二控制信号输出端输出的电平信号相异，第一控制信号输出端分别与场效应管Q1的栅极以及场效应管Q4的栅极连接，第二控制信号输出端分别与场效应管Q2的栅极以及场效应管Q3的栅极连接，当第一控制信号输出端输出高电平信号，第二控制信号输出端输出低电平信号时，场效应管Q1以及场效应管Q4导通，场效应管Q2以及场效应管Q3截止；当第一控制信号输出端输出低电平信号，第二控制信号输出端输出高电平信号时，场效应管Q1以及场效应管Q4截止，场效应管Q2以及场效应管Q3导通，这样，由于一控制信号输出端和第二控制信号输出端输出的电平信号相异，控制模块仅需设置两个控制信号输出端，即可实现对四个场效应管的工作状态的控制，使得场效应管Q1和场效应管Q4的工作状态相同，场效应管Q2和场效应管Q3的工作状态相同，且场效应管Q1和场效应管Q的工作状态相异。

在一个实施例中，所述第一开关模块、所述第二开关模块、所述第三开关模块及所述第四开关模块中至少一个为MOS（metal-oxide-semiconductor，金属-氧化物-半导体场效应晶体管）管，所述MOS管的栅极与所述控制模块连接。

为了进一步便于用户控制开关模块工作状态的切换，在其中一个实施例中，所述第一开关模块及所述第三开关模块均为PMOS（positive channel Metal OxideSemiconductor，P沟道金属氧化物半导体场效应晶体管）管，所述第二开关模块及所述第四开关模块均为NMOS（N-Metal-Oxide-Semiconductor，N型金属-氧化物-半导体）管。由于第一开关模块及第三开关模块与电源连接，PMOS管适用于控制与电源之间的导通，第二开关模块及第四开关模块与地连接，NMOS管适用于控制与地之间的导通，因此，通过将第一开关模块及第三开关模块设置为PMOS管，第二开关模块及第四开关模块设置成NMOS管，可以进一步便于用户控制开关模块工作状态的切换。

在一个实施例中，所述第一开关模块、第二开关模块、第三开关模块及第四开关模块均为三极管。

为了便于用户查看检测结果，在其中一个实施例中，请参阅图2，所述的发光二极管检测电路10还包括处理模块610，所述第一比较器U1的输出端、第二比较器U2的输出端及第三比较器U3的输出端分别与所述处理模块610的输入端连接，所述处理模块610的输出端与所述指示模块500连接。在其中一个实施例中，所述指示模块包括显示屏，所述显示屏与所述处理模块的输出端连接。通过显示屏能够显示处理模块输出的结果。

为了节省成本，并且减小电路体积，在一个实施例中，还包括微控制单元，所述处理模块及控制模块集成于所述微控制单元内。值得一提的，处理模块及控制模块可以属于为同一元器件，也可以是不同元器件，具体的，处理模块及控制模块集成于一微控制单元内，该微控制单元为单片机。通过设置处理模块，将第一比较器U1、第二比较器U2及第三比较器U3的检测信号更好的发送至指示模块，进一步，处理模块将对应的检测信号发送至显示屏，以使显示屏显示对应检测结果，从而便于用户查看检测结果，且通过将处理模块及控制模块集成于所述为控制单元，可以节省成本，并且减小电路体积。

在其中一个实施例中，所述第一比较器U1、第二比较器U2及第三比较器U3均为电压比较器。具体的，电压比较器的工作原理是当正相输入端接收的电压信号大于反相输入端接收的电压信号时，电压比较器的输出端高电平信号，通过将第一比较器U1、第二比较器U2及第三比较器U3均设置为电压比较器，通过接收采样电阻R1的检测信号，从而发出对应的检查信号，实现发光二极管的电气性能检测。

在其中一个实施例中，请参阅图3，一种发光二极管检测装置20，包括两个探针710、支撑架700及上述任一实施例中所述的发光二极管检测电路，所述探针710设置于所述支撑架700上，所述采样电阻R1的第二端用于通过一所述探针与所述待测发光二极管的正极连接，所述第三开关模块300的第二端用于通过另一所述探针与所述待测发光二极管的负极连接。具体的，所述待测发光二极管设置于所述COB单元板800上。

上述发光二极管检测装置，当第一开关模块及第四开关模块处于导通状态，第二开关模块及第三开关模块处于断开状态时，此时待测二极管处于正向导通状态，通过第一比较器U1及第二比较器U2输出的对应检测信号，以使指示模块发出对应的指示信号，可以实现发光二极管正常点亮状态及漏电状态的检测，当第一开关模块及第四开关模块处于断开状态，第二开关模块及第三开关模块处于导通状态时，此时二极管处于反向通电状态，通过第三比较器U3输出对应的检测信号，以使指示模块发出对应的指示信号，以检测发光二极管是否存在漏电现象，从而实现发光二极管的检查，此检测装置适用于COB板载上LED晶片的检测，此外，该检测装置检测完一个待测发光二极管后，可以对一下个待测发光二极管进行检测，从而实现可以检测多个发光二极管的电气性能。

在一个实施例中，所述发光二极管检测装置还包括串口，所述指示模块为计算机，所述处理模块通过所述串口与所述计算机连接，处理模块将对应的检测信号发送至计算机，将检测结果通过计算机显示，从而便于检测员查看检测结果。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种发光二极管检测电路，其特征在于，包括：第一开关模块、第二开关模块、第三开关模块、第四开关模块、第一比较器U1、第二比较器U2、第三比较器U3、采样电阻R1及至少一个指示模块；

所述采样电阻R1的第一端用于通过所述第一开关模块与电源连接，所述采样电阻R1的第一端还用于通过所述第二开关模块接地，所述采样电阻R1的第二端用于与待测发光二极管的正极连接，所述第三开关模块的第一端用于连接电源，所述第三开关模块的第二端用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述第四开关模块的第一端用于接地，所述第四开关模块的第二端用于与所述待测发光二极管的负极连接，所述采样电阻R1的第二端还分别与所述第一比较器U1的第一输入端、所述第二比较器U2的第一输入端及所述第三比较器U3的第一输入端连接，所述第一比较器U1的第二输入端用于与第一基准电源连接，所述第二比较器U2的第二输入端用于与第二基准电源连接，所述第三比较器U3的第二输入端用于与第三基准电源连接，所述第一比较器U1的输出端、第二比较器U2的输出端及第三比较器U3的输出端分别与所述至少一个指示模块连接。

2.根据权利要求1所述的发光二极管检测电路，其特征在于，所述第一开关模块的工作状态与所述第四开关模块的工作状态相同，所述第二开关模块的工作状态与所述第三开关模块的工作状态状态相同，且所述第一开关模块的工作状态与所述第二开关模块的工作状态相异。

3.根据权利要求1所述的发光二极管检测电路，其特征在于，所述采样电阻R1的第二端分别与所述第一比较器U1的正相输入端、所述第二比较器U2的反相输入端及所述第三比较器U3的正相输入端连接，所述第一比较器U1的反相输入端用于与所述第一基准电源连接，所述第二比较器U2的正相输入端用于与所述第二基准电源连接，所述第三比较器U3的反相输入端用于与所述第三基准电源连接。

4.根据权利要求1-3任一项中所述的发光二极管检测电路，其特征在于，还包括控制模块，所述控制模块分别与所述第一开关模块的控制端、所述第二开关模块的控制端、所述第三开关模块的控制端及所述第四开关模块的控制端连接。

5.根据权利要求4所述的发光二极管检测电路，其特征在于，所述第一开关模块、所述第二开关模块、所述第三开关模块及所述第四开关模块中至少一个为场效应管，所述场效应管的栅极与所述控制模块连接。

6.根据权利要求5所述的发光二极管检测电路，其特征在于，所述第一开关模块及所述第三开关模块均为PMOS管，所述第二开关模块及所述第四开关模块均为NMOS管。

7.根据权利要求1所述的发光二极管检测电路，其特征在于，还包括处理模块，所述第一比较器U1的输出端、第二比较器U2的输出端及第三比较器U3的输出端分别与所述处理模块的输入端连接，所述处理模块的输出端与所述指示模块连接。

8.根据权利要求7所述的发光二极管检测电路，其特征在于，所述指示模块包括显示屏，所述显示屏与所述处理模块的输出端连接。

9.根据权利要求1所述的发光二极管检测电路，其特征在于，所述第一比较器U1、第二比较器U2及第三比较器U3均为电压比较器。

10.一种发光二极管检测装置，其特征在于，包括两个探针、支撑架及如权利要求1至9任一项中所述的发光二极管检测电路，所述探针设置于所述支撑架上，所述采样电阻R1的第二端用于通过一所述探针与所述待测发光二极管的正极连接，所述第三开关模块的第二端用于通过另一所述探针与所述待测发光二极管的负极连接。

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