CN109932622A - Type-c连接器的耐高压测试装置 - Google Patents

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张荣斌
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Abstract

本发明揭示一种Type‑c连接器的耐高压测试装置，包括：测试用连接器，其包括本体和与所述本体一侧连接的type‑c公头，所述本体另一侧具有若干个测试引脚，所述type‑c公头***一type‑c连接器的端口，所述type‑c公头具有与所述type‑c连接器的端子对应连接的若干个公头引脚，所述测试引脚与所述公头引脚一一对应连接；高压测试仪，具有两个测试夹子，各测试夹子分别选择一个所述测试引脚夹住。由于是采用测试用连接器，避免直接用测试夹子夹持Type‑c连接器的端子，造成对端子的伤害；通过测试引脚进行夹持测试，由于测试引脚间具有更大的间距，方便夹持操作，测试更加安全可靠。

Description

Type-c连接器的耐高压测试装置
【技术领域】
本发明涉及测试装置，具体涉及一种Type-c连接器的耐高压测试装置。
【背景技术】
Type-c连接器(USB3.1接口)因其方便插拔，可快速充电等特点，越来越广泛应用于手机等电子产品中。
在对Type-c连接器零件样品承认时，需要使用高压测试仪对Type-c连接器相邻的端子(pin)及间距最小的金属或导体进行高压下漏电流(Hi-pot&leakage current)的可靠性测试。产品由于类别的塑胶绝缘性能差，制作时水分较高未退火制造等，又或产品受潮，塑胶材已老化等因素可能会导致零件高压下漏电流测试NG(不通过)；或者在高温湿度等可靠性试验后，产品绝缘性差而会导致零件高压下漏电流测试NG(不通过)。
Hi-pot&leakage current用于连接器测试的规格通常为高压250VDC-300V直流电下，端子间的漏电流小于1mA，在高压500V直流电下，电阻测试大于10M欧。(因是安规方面的测试，所以产品可靠性测试的加速因子较高)而对于较高电流的接口和端子，其高压及漏电流测试规格会更高，而Type-C连接器是目前较高电流接口，产品设计为5A电流(20V-100W)，因此会遵从或提高上述规格。
目前的测试方式，是采用两个测试夹子去夹住Type-c连接器的相邻端子，所述测试夹子另一端连接高压测试仪，测试需要进行尽可能多组的验证，这样会多次用测试夹子去夹住Type-c连接器的相邻端子。对于间距较大的端子测试相对容易操作，而对于间距微小的端子，无疑操作起来麻烦且危险，Type-c连接器相邻的端子中心线的距离为0.4毫米，端子空白间距最小距离约0.15毫米。
可见，现有技术对Type-c连接器的耐高温测试，由于需要用测试夹子去夹住端子，端子间距较小，因此操作起来麻烦且危险。
有鉴于此，实有必要提供一种Type-c连接器的耐高压测试装置，以解决上述问题。
【发明内容】
因此，本发明的目的是提供一种Type-c连接器的耐高压测试装置，解决现有技术操作麻烦且危险的问题。
为了达到上述目的，本发明的Type-c连接器的耐高压测试装置，包括：
测试用连接器，其包括本体和与所述本体一侧连接的type-c公头，所述本体另一侧具有若干个测试引脚，所述type-c公头***一type-c连接器的端口，所述type-c公头具有与所述type-c连接器的端子对应连接的若干个公头引脚，所述测试引脚与所述公头引脚一一对应连接；
高压测试仪，具有两个测试夹子，各测试夹子分别选择一个所述测试引脚夹住。
可选的，相邻的所述测试引脚间的距离皆大于1毫米。
可选的，所述测试引脚的个数为12个。
可选的，所述测试用连接器的本体基本呈长方体。
可选的，所述高压测试仪具有漏电流测试功能。
相较于现有技术，本发明的Type-c连接器的耐高压测试装置，由于是采用测试用连接器，将其type-c公头***Type-c连接器的端口，从而避免直接用测试夹子夹持Type-c连接器的端子，造成对端子的伤害；通过测试引脚进行夹持测试，由于测试引脚间具有更大的间距，方便夹持操作，测试更加安全可靠。
【附图说明】
图1绘示为本发明的Type-c连接器的耐高压测试装置一较佳实施例结构示意图。
图2绘示为本发明的Type-c连接器的耐高压测试装置一较佳实施例分解结构示意图。
图3绘示为本发明的Type-c连接器的耐高压测试装置一较佳实施例测试示意图。
图4绘示为本发明的Type-c连接器的耐高压测试装置一较佳实施例原理示意图。
【具体实施方式】
请结合参阅图2、图3、图3，图1绘示为本发明的Type-c连接器的耐高压测试装置一较佳实施例结构示意图、图2绘示为本发明的Type-c连接器的耐高压测试装置一较佳实施例分解结构示意图、图3绘示为本发明的Type-c连接器的耐高压测试装置一较佳实施例测试示意图、图4绘示为本发明的Type-c连接器的耐高压测试装置一较佳实施例原理示意图。
为了达到上述目的，本发明的Type-c连接器的耐高压测试装置，包括：
测试用连接器，其包括本体10和与所述本体10一侧连接的type-c公头11，所述本体10另一侧具有若干个测试引脚12，所述type-c公头11***一type-c连接器20的端口，所述type-c公头11具有与所述type-c连接器20的端子21对应连接的若干个公头引脚13，所述测试引脚12与所述公头引脚13一一对应连接；
高压测试仪30，具有两个测试夹子31，各测试夹子31分别选择一个所述测试引脚12夹住。
其中，相邻的所述测试引脚12间的距离皆大于1毫米，具有较大的间距可以方便测试连接。
其中，所述测试引脚12的个数为12个，对应type-c连接器20的标准(一次可以测试用连接器内一侧的端子21)。
其中，所述测试用连接器的本体10基本呈长方体。
其中，所述高压测试仪30具有漏电流测试功能。
相较于现有技术，本发明的Type-c连接器的耐高压测试装置，由于是采用测试用连接器，将其type-c公头11***Type-c连接器20的端口，从而避免直接用测试夹子31夹持Type-c连接器20的端子21，造成对端子21的伤害；通过测试引脚12进行夹持测试，由于测试引脚12间具有更大的间距，方便夹持操作，测试更加安全可靠。
需指出的是，本发明不限于上述实施方式，任何熟悉本专业的技术人员基于本发明技术方案对上述实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，都落入本发明的保护范围内。

Claims (5)

1.一种Type-c连接器的耐高压测试装置，其特征在于，包括：
测试用连接器，其包括本体和与所述本体一侧连接的type-c公头，所述本体另一侧具有若干个测试引脚，所述type-c公头***一type-c连接器的端口，所述type-c公头具有与所述type-c连接器的端子对应连接的若干个公头引脚，所述测试引脚与所述公头引脚一一对应连接；
高压测试仪，具有两个测试夹子，各测试夹子分别选择一个所述测试引脚夹住。
2.如权利要求1所述的Type-c连接器的耐高压测试装置，其特征在于，相邻的所述测试引脚间的距离皆大于1毫米。
3.如权利要求1所述的Type-c连接器的耐高压测试装置，其特征在于，所述测试引脚的个数为12个。
4.如权利要求1所述的Type-c连接器的耐高压测试装置，其特征在于，所述测试用连接器的本体基本呈长方体。
5.如权利要求1所述的Type-c连接器的耐高压测试装置，其特征在于，所述高压测试仪具有漏电流测试功能。
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