CN109926952A - 固定装置及光器件检测设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种固定装置和光器件检测设备，其中，固定装置包括固定基体、高度调节组件和水平调节组件，所述固定基体用于安装光纤法兰盘，所述光纤法兰盘用于安装光纤，所述高度调节组件和所述水平调节组件设置在所述固定基体上；所述高度调节组件上设有用于安装所述半导体激光器的安装孔；所述高度调节组件设于所述水平调节组件上，所述水平调节组件用于调整所述高度调节组件的水平方向，以调整所述安装孔的水平方向；所述高度调节组件用于调整所述安装孔的高度方向，以使所述半导体激光器与固定于所述光纤法兰盘的光纤对准。本发明技术方案提高检测效率和提升检测结果的准确率。

Description

固定装置及光器件检测设备

技术领域

本发明涉及光器件检测设备技术领域，特别涉及一种固定装置及光器件 检测设备。

背景技术

在检查TO(Transistor Outline)同轴封装的半导体激光器的光谱时，目前 主要是人工手持着半导体激光器，半导体激光器与光纤端面进行同轴耦合， 半导体激光器发出的激光在光纤内传输，光纤将激光传输至光谱测试仪，以 便测试半导体激光器的发光光谱；但人工手持半导体激光器不容易与光纤端 面对准，进而导致检测效率低下和检测结果不准确。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种固定装置及发光器件检测设备，旨在提高 检测效率和提升检测结果的准确率。

为实现上述目的，本发明提出的一种固定装置包括固定基体、高度调节 组件和水平调节组件，所述固定基体用于安装光纤法兰盘，所述光纤法兰盘 用于安装光纤，所述高度调节组件和所述水平调节组件设置在所述固定基体 上；所述高度调节组件上设有用于安装所述半导体激光器的安装孔；所述高 度调节组件设于所述水平调节组件上，所述水平调节组件用于调整所述高度 调节组件的水平方向，以调整所述安装孔的水平方向；所述高度调节组件用 于调整所述安装孔的高度方向，以使所述半导体激光器与固定于所述光纤法 兰盘的光纤对准。

优选地，所述水平调节组件包括水平调节移动块、水平调节弹簧和水平 调节丝杆，所述水平调节移动块的一侧面上设有第一安装沉孔，所述水平调 节弹簧穿设在所述第一安装沉孔中，且所述水平调节弹簧抵接在所述水平调 节移动块与所述固定基体之间；所述水平调节丝杆穿过所述固定基体与所述 水平调节移动块接触连接。

优选地，所述高度调节组件包括高度调节移动块、高度调节连接柱、高 度调节弹簧和高度调节丝杆，所述高度调节移动块上设有所述安装孔和所述 第一穿孔，且所述安装孔的延伸方向呈水平设置，所述第一穿孔的延伸方向 呈竖直设置；所述高度调节连接柱穿设在所述第一穿孔中，所述高度调节连 接柱与所述水平调节移动块连接，所述高度调节弹簧套设在所述高度调节连 接柱上，且所述高度调节弹簧抵接在所述高度调节移动块和所述水平调节移 动块之间，所述高度调节丝杆穿过所述固定基体与所述高度调节移动块接触 连接。

优选地，所述水平调节移动块朝向所述高度调节弹簧的一面设有第二安 装沉孔，所述高度调节连接柱装设于所述第二安装沉孔。

优选地，所述固定基体上设有高度调节孔，所述高度调节丝杆螺纹连接 于所述高度调节孔中，且所述高度调节丝杆与所述高度调节移动块连接；

和/或，所述固定基体上还设有水平调节孔，所述水平调节丝杆螺纹连接 于所述水平调节孔中，且所述水平调节丝杆与所述水平调节移动块连接。

优选地，所述固定基体包括底座和与所述底座装配连接的上压件，所述 底座和所述上压件装配形成有调节腔。

优选地，所述底座上设有水平调节导向槽，所述水平调节组件上设有与 所述水平调节导向槽对应设置的导向块；所述导向块装设于所述水平调节导 向槽中，以使所述水平调节组件活动限位于所述底座上。

优选地，所述底座上还设有光纤法兰盘导向槽，在所述光纤法兰盘沿所 述光纤法兰盘导向槽装设于所述底座后，以使所述半导体激光器与固定于所 述光纤法兰盘的光纤对准。

优选地，所述上压件在朝向所述光纤法兰盘的一面设有两个相间设置的 定位柱，在所述光纤法兰盘沿所述光纤法兰盘导向槽装设于所述底座后，所 述光纤法兰盘与所述定位柱抵接。

本发明还提出一种光器件检测设备，包括如上所述的固定装置。

本发明技术方案通过将所述高度调节组件和所述水平调节组件设置在所 述固定基体上，所述光纤法兰盘装设在所述固定基体上；所述高度调节组件 上设有用于安装所述半导体激光器的安装孔，所述高度调节组件设于所述水 平调节组件上；在所述高度调节组件和所述水平调节组件移动后，以使所述 半导体激光器移动与所述光纤法兰盘的光纤对准。如此，半导体激光器与装 设在固定基体上的光纤法兰盘对准位置，此时***光纤法兰盘后的光纤可将 半导体激光器发出的光束均能传导至光谱测试仪中，进而提升半导体激光器 的光谱方面的检测结果正确率。同时，利用高度调节组件和水平调节组件来 调整半导体激光器的位置，只要调节一次，同尺寸的半导体激光器都可以应 用，直接提升了半导体激光器的检测效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实 施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面 描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲， 在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的 附图。

图1为本发明固定装置一实施例的第一视角的结构示意图；

图2为本发明固定装置一实施例的第二视角的结构示意图；

图3为本发明固定装置的底座的结构示意图；

图4为本发明固定装置的高度调节移动块的结构示意图；

图5为图4的仰视图；

图6为本发明固定装置的水平调节移动块的结构示意图；

图7为本发明固定装置的第三视角的结构示意图。

附图标号说明：

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步 说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行 清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例， 而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有 作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、 后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位 置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应 地随之改变。

另外，在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而 不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数 量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一 个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以 本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无 法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范 围之内。

本发明提出一种固定装置。

在本发明实施例中，参照图1至图7，该固定装置包括固定基体10、高 度调节组件20和水平调节组件30，所述固定基体10用于安装光纤法兰盘， 所述光纤法兰盘用于安装光纤，所述高度调节组件20和所述水平调节组件30 设置在所述固定基体10上；所述高度调节组件20上设有用于安装所述半导 体激光器的安装孔20a；所述高度调节组件20设于所述水平调节组件30上， 所述水平调节组件30用于调整所述高度调节组件20的水平方向，以调整所 述安装孔20a的水平方向；所述高度调节组件20用于调整所述安装孔20a的 高度方向，以使所述半导体激光器2与固定于所述光纤法兰盘1的光纤对准。

在本实施例中，在进行半导体激光器2的位置调节之前，需要先将半导 体激光器2安装在安装孔20a中，并将光纤预先固定在光纤法兰盘1上，然 后再将光纤法兰盘1固定在固定基体10上，如此当半导体激光器2安装在安 装孔20a后，即可将光纤装设入固定基体10上，再通过调节高度调节组件20 调节移动，以带动位于高度调节组件20上的半导体激光器2改变在上下方向 的位移；完成半导体激光器2的高度位置调节后，再通过调节水平调节组件 30调节移动，以带动与水平调节组件30连接的高度调节组件20改变在水平 方向的位移，使得半导体激光器2完成水平方向位移的改变。完成以上的调 节后，半导体激光器2与装设在固定基体10上的光纤法兰盘1中***的光纤 的端面对准位置，半导体激光器2发出的光束均能直接传导至光纤中，通过 光纤将光束传导至光谱测试仪中，以测试半导体激光器2的发光光谱方面的 数据，进而提升半导体激光器2的光谱方面的检测结果正确率。检测完毕后， 可直接快速取下光纤法兰盘1，即无需拆除/***光纤，然后再取下检测完毕 的半导体激光器2，即可再安装同型号的半导体激光器2和光纤法兰盘1，如 此就无需再次***光纤了，进一步加快检测效率。同时，利用高度调节组件 20和水平调节组件30来调整半导体激光器2的位置，只要调节一次，同型号 的半导体激光器2都可以应用，直接提升了半导体激光器2的检测效率。

本发明技术方案将所述高度调节组件20和所述水平调节组件30设置在 所述固定基体10上，所述光纤法兰盘1装设在所述固定基体10上；所述高 度调节组件20上设有用于安装所述半导体激光器2的安装孔20a，所述高度 调节组件20设于所述水平调节组件30上；在所述高度调节组件20和所述水 平调节组件30移动后，以使所述半导体激光器2移动与所述光纤法兰盘1的 光纤对准。如此，半导体激光器2与装设在固定基体10上的光纤法兰盘1中 ***的光纤的端面对准位置，此时***光纤法兰盘1后的光纤可将半导体激 光器2发出的光束均能直接传导至光谱测试仪中，进而提升半导体激光器2 的光谱方面的检测结果正确率。同时，利用高度调节组件20和水平调节组件 30来调整半导体激光器2的位置，只要调节一次，同型号的半导体激光器2 都可以应用，直接提升了半导体激光器2的检测效率。

进一步地，参照图1至图6，所述水平调节组件30包括水平调节移动块 31、水平调节弹簧32和水平调节丝杆33，所述水平调节移动块31的一侧面 上设有第一安装沉孔，所述水平调节弹簧32穿设在所述第一安装沉孔中，且 所述水平调节弹簧32抵接在所述水平调节移动块31与所述固定基体10之间； 所述水平调节丝杆33穿过所述固定基体10与所述水平调节移动块31接触连 接。

在本实施例中，水平调节弹簧32穿设在第一安装沉孔中，且水平调节弹 簧32抵接在水平调节移动块31与固定基体10之间，当水平调节丝杆33往 正方向或反方向旋转，水平调节丝杆33推动水平调节移动块31前进或后退， 如此设置，位于固定基体10外面的水平调节丝杆33容易被使用者接触进行 调节，同时也能驱动水平调节移动块31移动，进而完成半导体激光器2在水 平方向上的位置调节。

进一步地，参照图1至图6，所述高度调节组件20包括高度调节移动块 21、高度调节连接柱22、高度调节弹簧23和高度调节丝杆24，所述高度调 节移动块21上设有所述安装孔20a和所述第一穿孔210，且所述安装孔20a 的延伸方向呈水平设置，所述第一穿孔210的延伸方向呈竖直设置；所述高 度调节连接柱22穿设在所述第一穿孔210中，所述高度调节连接柱22与所 述水平调节移动块21连接，所述高度调节弹簧23套设在所述高度调节连接柱22上，且所述高度调节弹簧23抵接在所述高度调节移动块21和所述水平 调节移动块31之间，所述高度调节丝杆24穿过所述固定基体10与所述高度 调节移动块21接触连接。

在本实施例中，高度调节弹簧23套设在高度调节连接柱22，当高度调节 丝杆24往正方向或反方向旋转，高度调节弹簧23被拉伸或者压缩；高度调 节丝杆24推动高度调节移动块21沿着高度调节连接柱22上升或下降，如此 设置，位于固定基体10外面的水平调节丝杆33容易被使用者接触进行调节， 同时也能驱动高度调节移动块21移动，进而完成半导体激光器2在上下方向 上的位置调节。同时，半导体激光器2在完成上下方向的调节后可直接进行 水平方向的调节，加快调整速度。高度调节弹簧23一方面可让全部结束测试 后带动高度调节移动块21复位，另一方面在测试过程中可对已调节的高度调 节移动块21起到反方向支撑作用，以保证高度调节移动块21能准确定位在 某一位置。

进一步地，参照图1至图6，所述水平调节移动块31朝向所述高度调节 弹簧23的一面设有第二安装沉孔310，所述高度调节连接柱22装设于所述第 二安装沉孔310。

在本实施例中，通过将高度调节弹簧23套设于所述高度调节连接柱22； 高度调节弹簧23的一端装设在第二安装沉孔310，高度调节弹簧23的另一端 抵接高度调节移动块21，如此设置，能避免高度调节弹簧23在调节过程中偏 移到其他位置。

优选地，参照图1至图6，所述固定基体10上设有高度调节孔10a，所 述高度调节丝杆24螺纹连接于所述高度调节孔10a中，且所述高度调节丝杆 24与所述高度调节移动块21连接；

和/或，所述固定基体10上还设有水平调节孔10b，所述水平调节丝杆33 螺纹连接于所述水平调节孔10b中，且所述水平调节丝杆33与所述水平调节 移动块31连接。

在本实施例中，通过设置在固定基体10上的高度调节孔10a和水平调节 孔10b，可让高度调节丝杆24和水平调节丝杆33旋入或旋出所述固定基体 10，以使所述高度调节丝杆24可推动高度调节移动块21和水平调节移动块 31，实现半导体激光器2的高度位置和水平位置的调节。

进一步地，参照图1至图6，所述固定基体10包括底座12和与所述底座12装配连接的上压件11，所述底座12和所述上压件11装配形成有调节腔10c。 在本实施例中，为了方便更换高度调节组件20和水平调节组件30，将固定基 体10分设为上压件11和底座12。在上压件11的顶面设置高度调节孔10a， 可供高度调节丝杆24穿过与高度调节移动块21连接；在底座12的侧面设置 水平调节孔10b，可供水平调节丝杆33穿过与水平调节移动块31连接。

进一步地，参照图1至图6，所述底座12上设有水平调节导向槽120， 所述水平调节组件30上设有与所述水平调节导向槽120对应设置的导向块 34；所述导向块34装设于所述水平调节导向槽120中，以使所述水平调节组 件30活动限位于所述底座12上。

在本实施例中，水平调节组件30上的导向块34可直接沿着水平调节导 向槽120来回移动，进一步防止水平调节组件30在移动过程中偏移，加快半 导体激光器2的检测效率。

进一步地，参照图1至图7，所述底座12上还设有光纤法兰盘1导向槽 121，在所述光纤法兰盘1沿所述光纤法兰盘1导向槽121装设于所述底座12 后，所述光纤法兰盘1与所述半导体激光器2接触连接。在本实施例中，光 纤法兰盘1包覆所述高度调节移动块21，使得光纤法兰盘1中间的光纤端面 与半导体激光器2接触，进而让半导体激光器2的光束均能传递至光纤法兰 盘1中的光纤中。通过将光纤法兰盘1装设在光纤法兰盘1导向槽121中，可将光纤法兰盘1稳定地固定在底座12上，可保证光纤法兰盘1拆下后再装 入均能保持在同一位置，进而保证光纤法兰盘1中***的光纤处于同一位置， 方便半导体激光器2与其对准。

进一步地，参照图1和图2，所述上压件11在朝向所述光纤法兰盘1的 一面设有两个相间设置的定位柱110，在所述光纤法兰盘1沿所述光纤法兰盘 导向槽121装设于所述底座12后，所述光纤法兰盘1与所述定位柱110抵接。 如此设置，两个相间设置的定位柱110与光纤法兰盘导向槽121形成用于限 定光纤法兰盘1的安装位，进一步加强光纤法兰盘1在底座12上的稳固性。 两个定位柱110用于压紧和引导光纤法兰盘1装设在底座12上的位置，使得 光纤法兰盘1每次***的角度和位置保持一致。进一步地，参照图1、图7， 所述光纤法兰盘1中由安装空腔，且该安装空腔中设有光纤插孔1a，所述光 纤插孔1a与半导体激光器2的发光端适配插接；当所述光纤法兰盘1***所 述光纤法兰盘导向槽后，所述半导体激光器2的发光端插设于所述光纤插孔 1a中，使得半导体激光器2刚好与光纤法兰盘1中的光纤对准。当完成位置 调节和完成光谱测试后，直接拆下光纤法兰盘1和半导体激光器2，再将同型 号的另一半导体激光器2装设在安装孔20a中，就无需调整半导体激光器2 的位置，即可保证光纤法兰盘1上的光纤与半导体激光器2对准。进一步地， 半导体激光器上设有透镜，因此半导体激光器发出的光束会汇聚在一个焦点， 然后再通过光纤传输至光谱测试仪。因此光纤端面和激光器之间有一定的距 离。光纤***的深浅可根据半导体激光器的光束焦距来调节。

进一步地，参照图1，所述定位柱110与所述光纤法兰盘1抵接的一端上 设有弹球，在所述光纤法兰盘1沿所述光纤法兰盘导向槽121装设于所述底 座12后，所述光纤法兰盘1与所述弹球抵接。如此设置，利用弹球与光纤法 兰盘1抵接一方面能提升光纤法兰盘1装设在底座12上的稳定性，另一方面 可以减少光纤法兰盘1的磨损。

本发明还提出一种光器件检测设备，该光器件检测设备包括所述固定装 置，该固定装置的具体结构参照上述实施例，由于本光器件检测设备采用了 上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带 来的所有有益效果，在此不再一一赘述。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围， 凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构 变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范 围内。

Claims (10)

1.一种固定装置，其特征在于，包括固定基体、高度调节组件和水平调节组件，所述固定基体用于安装光纤法兰盘，所述光纤法兰盘用于安装光纤，所述高度调节组件和所述水平调节组件设置在所述固定基体上；所述高度调节组件上设有用于安装所述半导体激光器的安装孔；所述高度调节组件设于所述水平调节组件上，所述水平调节组件用于调整所述高度调节组件的水平方向，以调整所述安装孔的水平方向；所述高度调节组件用于调整所述安装孔的高度方向，以使所述半导体激光器与固定于所述光纤法兰盘的光纤对准。

2.如权利要求1所述的固定装置，其特征在于，所述水平调节组件包括水平调节移动块、水平调节弹簧和水平调节丝杆，所述水平调节移动块的一侧面上设有第一安装沉孔，所述水平调节弹簧穿设在所述第一安装沉孔中，且所述水平调节弹簧抵接在所述水平调节移动块与所述固定基体之间；所述水平调节丝杆穿过所述固定基体与所述水平调节移动块接触连接。

3.如权利要求2所述的固定装置，其特征在于，所述高度调节组件包括高度调节移动块、高度调节连接柱、高度调节弹簧和高度调节丝杆，所述高度调节移动块上设有所述安装孔和所述第一穿孔，且所述安装孔的延伸方向呈水平设置，所述第一穿孔的延伸方向呈竖直设置；所述高度调节连接柱穿设在所述第一穿孔中，所述高度调节连接柱与所述水平调节移动块连接，所述高度调节弹簧套设在所述高度调节连接柱上，且所述高度调节弹簧抵接在所述高度调节移动块和所述水平调节移动块之间，所述高度调节丝杆穿过所述固定基体与所述高度调节移动块接触连接。

4.如权利要求3所述的固定装置，其特征在于，所述水平调节移动块朝向所述高度调节弹簧的一面设有第二安装沉孔，所述高度调节连接柱装设于所述第二安装沉孔。

5.如权利要求3所述的固定装置，其特征在于，所述固定基体上设有高度调节孔，所述高度调节丝杆螺纹连接于所述高度调节孔中，且所述高度调节丝杆与所述高度调节移动块连接；

和/或，所述固定基体上还设有水平调节孔，所述水平调节丝杆螺纹连接于所述水平调节孔中，且所述水平调节丝杆与所述水平调节移动块连接。

6.如权利要求1所述的固定装置，其特征在于，所述固定基体包括底座和与所述底座装配连接的上压件，所述底座和所述上压件装配形成有调节腔。

7.如权利要求6所述的固定装置，其特征在于，所述底座上设有水平调节导向槽，所述水平调节组件上设有与所述水平调节导向槽对应设置的导向块；所述导向块装设于所述水平调节导向槽中，以使所述水平调节组件活动限位于所述底座上。

8.如权利要求6所述的固定装置，其特征在于，所述底座上还设有光纤法兰盘导向槽，在所述光纤法兰盘沿所述光纤法兰盘导向槽装设于所述底座后，以使所述半导体激光器与固定于所述光纤法兰盘的光纤对准。

9.如权利要求8所述的固定装置，其特征在于，所述上压件在朝向所述光纤法兰盘的一面设有两个相间设置的定位柱，在所述光纤法兰盘沿所述光纤法兰盘导向槽装设于所述底座后，所述光纤法兰盘与所述定位柱抵接。

10.一种光器件检测设备，其特征在于，包括如权利要求1至9任意一项所述的固定装置。