CN109783286A - 机内测试方法、测试装置、及终端设备和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请适用于机内测试技术领域,提供了机内测试方法、测试装置、终端设备及存储介质,包括:检测设备的运行状态;根据所检测到的运行状态反馈的信号、与设备预设的特征参量进行对比分析判断是否正常;当判断为故障时,输出预设的故障模式,对所述故障模式进行故障隔离;当判断正常时将顺序执行下一个设备运行状态的检测。本申请了采用了机内测试,不需要使用外接设备,通过机内处理器运行上述测试方法,使得在***开发时并行开发***测试性设计,有利于降低成本;缩短开发周期;提高整机性能;有效***的可靠性。
Description
技术领域
本申请属于测试技术领域,尤其涉及一种机内测试方法、测试装置、及终端设备和存储介质。
背景技术
光电跟踪设备主要由跟踪转台,伺服控制***,可见成像***,红外成像***,测角***,主控***,定时定位设备,定向设备,配电管理***等组成。随着车载光电跟踪设备性能的提升和复杂性的提高,迫切需要在***设计的同时并行开展***测试性设计,从而提高车载光电跟踪设备的故障诊断和隔离水平。
但是,目前采用的***性测试都是采用外部设备测试***进行测试,上述技术方案存在成本高,研制周期长,可靠性低等技术问题。
发明内容
有鉴于此,本申请实施例提供了能有效降低光电跟踪设备测试成本、缩短研制周期、提高可靠性的机内测试方法、测试装置、及终端设备和存储介质。
本申请实施例的第一方面提供了一种机内测试方法,包括:
检测设备的运行状态;根据所检测到的运行状态反馈的信号、与设备预设的特征参量进行对比分析判断是否正常;
当判断为故障时,输出预设的故障模式,对所述故障模式进行故障隔离,使设备恢复正常运行;当判断正常时将顺序执行下一个设备运行状态的检测。
优选地,所述检测设备的运行状态之前,还包括设定检测顺序和检测点。
优选地,所述检测设备的运行状态之前,还包括:指根据设备的技术性能参数对设备预定义其正常运行状态的特征参量。
优选地,所述根据所检测到的运行状态反馈的信号、与设备预设特征参量和设备预设故障模式进行比对分析判断是否正常之前,还包括:根据运行状态反馈信号与预设特征参量对应预设故障模式。
优选地,所述故障隔离是通过对设备进行维修或对设备进行置换消除故障。
本申请实施例的第二方面提供了一种机内测试装置,包括:
控制模块、测试模块、比较模块;
所述控制模块与测试模块连接;所述测试模块与比较模块连接;
所述控制模块用于调用所述测试模块并向所述测试模块发出测试指令;
所述测试模块用于对设备发送测试信号、接受设备根据所述测试信号反馈的反馈信号,并输出反馈信号;
所述比较模块用于接受测试模块输出的反馈信号,将所述反馈信号与预设的特征参量进行比较判断,并向控制模块输出比较判断结果。
优选地,当所述比较判断结果为故障时,所述控制模块输出预设的故障模式,将所述故障模式进行隔离处理;当所述比较判断结果为正常,所述控制模块将继续调用测试模块,所述测试模块对设备顺序进行测试。
本申请实施例的第三方面提供了一种终端设备,包括:
包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面提供的方法的步骤。
本申请实施例的第四方面提供了一种存储介质,包括:所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面提供的方法的步骤。
本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是:
通过在***开发的过程中,并行开发***测试性设计,有利于降低后期各设备连接接口协调工作,整体提升设备的性能,缩短设备研制开发周期。通过机内测试方法设计,有效提高了设备故障诊断、排出效率,同时不需要使用外部测试设备***,有效降低了测试的生产成本。同时,不需要使用外接设备,通过机内处理器运行上述测试方法,有效提高了***的可靠性。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的机内测试实现流程示意图;
图2是本申请实施例提供的光电经纬仪伺服控制***示例图;
图3是本申请实施例提供的机内测试装置示意图;
图4是本申请实施例提供的光电经纬仪伺服控制***测试点设置示例图;
图5是本申请实施例提供的具体测试流程示意图;
图6是本申请实施例提供终端设备的示意图。
具体实施方式
以下描述中,为了说明而不是为了限定,提出了诸如特定***结构、技术之类的具体细节,以便透彻理解本申请实施例。然而,本领域的技术人员应当清楚,在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中,省略对众所周知的***、装置、电路以及方法的详细说明,以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
为了说明本申请所述的技术方案,下面通过具体实施例来进行说明。本实施例中以机内测试方法在终端设备光电经纬仪中的应用为例进行介绍。如附图1所示,在实施S11检测设备的运行状态时以附图2所示的终端设备光电经纬仪伺服控制***为例,该***包括主控计算机17、伺服控制板11、5V电源模块12、12V电源模块16、48V电源模块15、方位功率级的方位电机13、俯仰功率级的俯仰电机14。主控计算机17与私服控制板11通信连接;伺服控制板11与5V电源模块12电性连接,伺服控制板11分别与方位功率级的方位电机13、俯仰功率级的俯仰电机14电控连接;12V电源模块16分别与方位功率级的方位电机13、俯仰功率级的俯仰电机14电性连接;48V电源模块15分别与方位功率级的方位电机13、俯仰功率级的俯仰电机14电性连接。光电经纬仪终端设备的主控计算机向5V电源12、伺服控制板11、方位功率级13、俯仰功率级14、48V功率级电源15、12V电源16发送检测信号。光电经纬仪的5V电源12、伺服控制板11、方位功率级13、俯仰功率级14、48V功率级电源15、12V电源16针对上述检测信号反馈一个运行状态的信号。
S12与设备预设的特征参量进行对比分析判断是否正常:通过S11测试接收到的光电经纬仪的5V电源12、伺服控制板11、方位功率级13、俯仰功率级14、48V功率级电源15、12V电源16反馈的运行状态信号,与上述各设备预设的正常运行的特征参量进行对比分析,判断是否为正常运行。当判断为正常运行时,再测试下一个设备的运行状态。当判断为没有正常运行,将输出预设的故障模式。
S13输出预设的故障模式,对所述故障模式进行故障隔离:根据S12的比较分析判断5V电源12、伺服控制板11、方位功率级13、俯仰功率级14、48V功率级电源15、12V电源16为非正常运行时,输出与预设的特征参数相对应的预设的故障模式,并针对相应的故障模式采取故障隔离。
上述技术方案,通过终端设备光电经纬仪的程序运行实施上述步骤和方法,能有效实现对光电经纬仪的上述设备伺服控制板11、5V电源模块12、12V电源模块16、48V电源模块15、方位功率级的方位电机13、俯仰功率级的俯仰电机14进行测试、对比分析判断、并实施故障隔离。不需要采用外部设备对光电经纬仪进行测试,通知也不需要设定外部测试时需要使用到的通信结构协调等工作,有效降低了光电经纬仪研制成本,缩短了研制开发周期。通过设备自身进行测试判断,也有效提高了设备的产品性能。同时,不用接触外部设备,减少了测试设备使用数量,也有助于提高光电经纬仪的可靠性。
在检测设备的运行状态之前,还包括设定检测顺序和检测点。本申请具体实施中检测顺序和检测点的设置如附图4所示,预设了T1、T2、T3、T4、T5、T6、T7、T8等8个测试点。T1用于测试5V电源12是否正常工作;T2用于测试伺服控制板11的DSP芯片是否工作;T3用于测试方位及俯仰PWM信号是否正常,具体操作分别通过电平信号测试方位调宽波PWM1,方波信号测试方位调宽波PWM2,均通过回绕法输入到DSP,并根据附图1的方法进行测试;通过电平信号测试俯仰调宽波PWM1,俯仰信号测试俯仰调宽波PWM2,均通过回绕法输入到DSP,并根据附图1的方法进行测试。T4用于测试方位功率级13,通过电平信号对方位功率级13的进行测试。T5用于测试俯仰功率14的测试。T6通过电平信用于测试12V电源16,并根据附图1的方法进行测试。T7用于根据电平信号,对48V电源15进行测试。T8用于通过RS422对伺服控制板11的串口通讯芯片进行测试。
根据设备的技术性能参数对设备预定义其正常运行状态的特征参量,以及对应特征参量设置故障模式。具体实施对每个设备进行分析,以及预定测试的特征参量,以及特征参量相对应的预定义故障模式。具体如表1所示:
表-1光电经纬仪伺服控制***特征参量和故障模式
当有故障模式输出判断为故障时,将实施故障隔离,通过对设备进行维修或对设备进行置换消除故障。
本发明还提供了一种机内测试装置,如附图3所述,包括控制模块1、测试模块2、比较模块3。控制模块1与测试模块2连接;测试模块2与比较模块3连接。控制模块1用于调用测试模块2并向测试模块2发出测试指令;测试模块2用于对设备发送测试信号、接受设备根据所述测试信号反馈的反馈信号,并输出反馈信号。结合本申请前述内容,测试模块2向伺服控制板11、5V电源模块12、12V电源模块16、48V电源模块15、方位功率级的方位电机13、俯仰功率级的俯仰电机14等设备发送测试信号,并接受上述设备的反馈信息,并将上述设备的反馈信息发送给比较模块,比较模块3接受测试模块2输出的反馈信号,将反馈信号与预设的特征参量进行比较判断,并向控制模块1输出比较判断结果。当比较判断结果为故障时,比较模块3向控制模块1输出预设的故障模式,并实施隔离处理;当比较判断结果为正常时,控制模块1将继续调用测试模块2,测试模块1对设备顺序进行测试,具体测试过程如附图5所示。
图6是本申请一实施例提供终端设备的示意图。如图6所示,该实施例终端设备6包括:处理器60、存储器61以及存储在所述存储器61中并可在所述处理器60上运行的计算机程序62,例如机内测试方法程序。所述处理器60执行所述计算机程序62时实现上述各个机内测试方法实施例中的步骤,例如图1所示的步骤S11至S13。或者,所述处理器60执行所述计算机程序62时实现上述各装置实施例中各模块/单元的功能,例如图3所示控制模块1、测试模块2、比较模块3的功能。
示例性的,所述计算机程序62可以被分割成一个或多个模块/单元,所述一个或者多个模块/单元被存储在所述存储器61中,并由所述处理器60执行,以完成本申请。所述一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段,该指令段用于描述所述计算机程序62在所述终端设备6中的执行过程。例如,所述计算机程序62可以被分割成控制模块1、测试模块2、比较模块3,各模块具体功能如下:
控制模块1用于调用测试模块2并向测试模块2发出测试指令;
测试模块2用于对设备发送测试信号、接受设备根据所述测试信号反馈的反馈信号,并输出反馈信号。
比较模块3接受测试模块2输出的反馈信号,将反馈信号与预设的特征参量进行比较判断,并向控制模块1输出比较判断结果。
所述测试装置/终端设备6可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。所述测试装置/终端设备可包括,但不仅限于,处理器60、存储器61。本领域技术人员可以理解,图6仅仅是测试装置/终端设备6的示例,并不构成对测试装置/终端设备6的限定,可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件,例如所述测试装置/终端设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
所称处理器60可以是中央处理单元(Central Processing Unit,CPU),还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器61可以是所述测试装置/终端设备6的内部存储单元,例如测试装置/终端设备6的硬盘或内存。所述存储器61也可以是所述测试装置/终端设备6的外部存储设备,例如所述测试装置/终端设备6上配备的插接式硬盘,智能存储卡(Smart Media Card,SMC),安全数字(Secure Digital,SD)卡,闪存卡(Flash Card)等。进一步地,所述存储器61还可以既包括所述测试装置/终端设备6的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器61用于存储所述计算机程序以及所述测试装置/终端设备所需的其他程序和数据。所述存储器61还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为了描述的方便和简洁,仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成,即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中,上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。另外,各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分,并不用于限制本申请的保护范围。上述***中单元、模块的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述或记载的部分,可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
在本申请所提供的实施例中,应该理解到,所揭露的装置/终端设备和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置/终端设备实施例仅仅是示意性的,例如,所述模块或单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通讯连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本申请实现上述实施例方法中的全部或部分流程,也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中,该计算机程序在被处理器执行时,可实现上述各个方法实施例的步骤。。其中,所述计算机程序包括计算机程序代码,所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括:能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是,所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减,例如在某些司法管辖区,根据立法和专利实践,计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。
以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围,均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种机内测试方法,其特征在于:包括:检测设备的运行状态;根据所检测到的运行状态反馈的信号、与设备预设的特征参量进行对比分析判断是否正常;
当判断为故障时,输出预设的故障模式,对所述故障模式进行故障隔离;当判断正常时将顺序执行下一个设备运行状态的检测。
2.如权利要求1所述的机内测试方法,其特征在于:所述检测设备的运行状态之前,还包括设定检测顺序和检测点。
3.如权利要求1所述的机内测试方法,其特征在于:所述检测设备的运行状态之前,还包括:指根据设备的技术性能参数对设备预定义其正常运行状态的特征参量。
4.如权利要求1所述的机内测试方法,其特征在于:所述根据所检测到的运行状态反馈的信号、与设备预设特征参量进行比对分析判断是否正常之前,还包括:根据运行状态反馈信号与预设特征参量对应预设故障模式。
5.如权利要求1所述的机内测试方法,其特征在于:所述故障隔离是通过对设备进行维修或对设备进行置换消除故障。
6.一种机内测试装置,其特征在于:包括:控制模块、测试模块、比较模块;
所述控制模块与测试模块连接;所述测试模块与比较模块连接;
所述控制模块用于调用所述测试模块并向所述测试模块发出测试指令;
所述测试模块用于对设备发送测试信号、接受设备根据所述测试信号反馈的反馈信号,并输出反馈信号;
所述比较模块用于接受测试模块输出的反馈信号,将所述反馈信号与预设的特征参量进行比较判断,并向控制模块输出比较判断结果。
7.如权利要求6所示的机内测试装置,其特征在于:当所述比较判断结果为故障时,所述控制模块输出预设的故障模式,将所述故障模式进行隔离处理;当所述比较判断结果为正常,所述控制模块将继续调用测试模块,所述测试模块对设备顺序进行测试。
8.一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于:所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5任一项所述方法的步骤。
9.一种存储介质,所述存储介质存储有计算机程序,其特征在于:所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述方法的步骤。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN110208828A (zh) * | 2019-06-10 | 2019-09-06 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种光电测量设备分配方法、***及相关装置 |
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CN113721596A (zh) * | 2021-09-09 | 2021-11-30 | 北京中丽制机电气有限公司 | 一种卷绕机控制***故障判断方法及*** |
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