CN109709471A - 一种测试治具、指纹模组的测试方法及装置 - Google Patents
一种测试治具、指纹模组的测试方法及装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN109709471A CN109709471A CN201910040536.9A CN201910040536A CN109709471A CN 109709471 A CN109709471 A CN 109709471A CN 201910040536 A CN201910040536 A CN 201910040536A CN 109709471 A CN109709471 A CN 109709471A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- mould group
- test
- fingerprint mould
- computer
- test fixture
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 374
- 238000010998 test method Methods 0.000 title claims abstract description 16
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 claims abstract description 84
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 49
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 37
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims description 13
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 12
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 14
- 230000008569 process Effects 0.000 description 26
- 230000006870 function Effects 0.000 description 17
- 230000009191 jumping Effects 0.000 description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 9
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 3
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000001387 multinomial test Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- GOLXNESZZPUPJE-UHFFFAOYSA-N spiromesifen Chemical compound CC1=CC(C)=CC(C)=C1C(C(O1)=O)=C(OC(=O)CC(C)(C)C)C11CCCC1 GOLXNESZZPUPJE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Image Input (AREA)
Abstract
本发明公开了一种测试治具，用于对指纹模组进行测试，包括：电路板；微控制器，设置在电路板上；电流测试模块，设置在电路板上，且与微控制器连接；烧录电路，设置在电路板上，且与微控制器连接；模组端口，设置在电路板上，且与电流测试模块、以及烧录电路连接，模组端口用于连接指纹模组；其中，微控制器用于：控制电流测试模块对指纹模组进行功能测试，待功能测试通过后，控制烧录电路对指纹模组进行数据烧录。本发明实现了提高指纹模组测试效率，降低人力资源投入，降低测试成本的技术效果。同时，本发明还公开了一种指纹模组的测试方法及装置、计算机、计算机可读存储介质、测试***。
Description
技术领域
本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种测试治具、指纹模组的测试方法及装置。
背景技术
现如今，智能手机普遍配备有指纹模组，用于实现指纹解锁或指纹支付等功能，不仅安全而且方便。
指纹模组在出厂前，需要经过多项测试。但是，目前的测试流程比较复杂，步骤繁多，导致测试效率低下。因此，如何提高指纹模组的测试效率已经成为现在亟待解决的问题。
发明内容
本申请实施例通过提供一种测试治具、指纹模组的测试方法及装置，解决了现有技术中在对指纹模组进行测试时，存在测试效率低的技术问题，实现了提高指纹模组测试效率的技术效果。
第一方面，本申请通过本申请的一实施例提供如下技术方案：
一种测试治具，用于对指纹模组进行测试，包括：
电路板；
微控制器，设置在所述电路板上；
电流测试模块，设置在所述电路板上，且与所述微控制器连接；
烧录电路，设置在所述电路板上，且与所述微控制器连接；
模组端口，设置在所述电路板上，且与所述电流测试模块、以及所述烧录电路连接，所述模组端口用于连接所述指纹模组；
其中，所述微控制器用于：控制所述电流测试模块对所述指纹模组进行功能测试，待所述功能测试通过后，控制所述烧录电路对所述指纹模组进行数据烧录。
优选地，所述测试治具还包括：
通信端口，设置在所述电路板上，用于连接计算机；
通信模块，设置在所述电路板上，所述通信模块与所述通信端口、以及所述微控制器连接，所述通信模块用于在所述微控制器的控制下基于串行外设接口SPI协议与所述计算机进行通信。
优选地，所述微控制器还用于：
在所述计算机与所述通信端口连接时，向所述计算机发送端口配置信息。
优选地，所述微控制器还用于：
在通过所述通信模块接收到所述计算机发来的测试指令时，控制所述电流测试模块对所述指纹模组进行功能测试，以及在通过所述通信模块接收到所述计算机发来的烧录指令时，控制所述烧录电路对所述指纹模组进行数据烧录。
优选地，所述微控制器还用于：
在通过所述通信模块接收到所述计算机发来的上电指令时，控制所述电流测试模块对所述指纹模组进行供电，以及在通过所述通信模块接收到所述计算机发来的下电指令时，控制所述电流测试模块停止对所述指纹模组进行供电。
优选地，所述测试治具还包括：
电流测试端口，设置在所述电路板上，且与所述微控制器连接，所述电流测试端口用于连接所述计算机；
所述微控制器，还用于：在对所述指纹模组进行功能测试时，将所述指纹模组反馈的电流信号通过所述电流测试端口发送给所述计算机，所述指纹模组反馈的电流信号由所述电流测试模块采集并发送给所述微控制器。
优选地，所述电流测试模块用于产生多路测试电流。
第二方面，基于同一发明构思，本申请通过本申请的一实施例提供如下技术方案：
一种指纹模组的测试方法，应用于计算机中，所述计算机与测试治具连接，所述测试治具与待测试的指纹模组连接，所述方法包括：
通过所述测试治具对所述指纹模组进行功能测试；
判断所述功能测试是否通过；
若所述功能测试通过，则通过所述测试治具对所述指纹模组进行数据烧录。
优选地，所述通过所述测试治具对所述指纹模组进行功能测试之前，还包括：
基于所述测试治具的标识信息，对所述测试治具的通信端口和电流测试端口进行配置。
优选地，所述通过所述测试治具对所述指纹模组进行功能测试，包括：
在所述功能测试开始前，向所述测试治具发送上电指令，以控制所述测试治具向所述指纹模组供电；
在所述功能测试结束后，向所述测试治具发送下电指令，以控制所述测试治具停止向所述指纹模组供电。
优选地，所述功能测试，包括以下选测试项目中的一种或多种：
工作电流测试；
睡眠电流测试；
深度睡眠电流测试。
优选地，所述判断所述功能测试是否通过之后，还包括：
若所述功能测试未通过，则输出第一提示信息，所述第一提示信息用于表示所述功能测试未通过。
优选地，对所述指纹模组烧录的数据，包括以下数据中的一种或多种：
所述指纹模组的ID号；
所述指纹模组的灵敏度换算数值；
所述指纹模组的板材版本；
所述指纹模组的测试时间；
机种名称。
优选地，所述通过所述测试治具对所述指纹模组进行数据烧录之后，还包括：
若烧录失败，则输出第二提示信息，所述第二提示信息用于表示烧录失败。
优选地，所述通过所述测试治具对所述指纹模组进行数据烧录之后，还包括：
若烧录成功，则自检烧录的数据是否正确；
若正确，则输出第三提示信息，所述第三提示信息用于表示所述指纹模组为良品；
若不正确，则输出第四提示信息，所述第四提示信息用于表示烧录自检出现异常。
优选地，所述通过所述测试治具对所述指纹模组进行功能测试之前，还包括：
判断所述指纹模组是否出现跳站的情况；
若是，则输出第五提示信息，并将所述第五提示信息发送给生产流程管控***MES。
第三方面，基于同一发明构思，本申请通过本申请的一实施例提供如下技术方案：
一种指纹模组的测试装置，应用于计算机中，所述计算机与测试治具连接，所述测试治具与待测试的指纹模组连接，所述指纹模组的测试装置，包括：
测试单元，用于通过所述测试治具对所述指纹模组进行功能测试；
第一判断单元，用于判断所述功能测试是否通过；
烧录单元，用于若所述功能测试通过，则通过所述测试治具对所述指纹模组进行数据烧录。
第四方面，基于同一发明构思，本申请通过本申请的一实施例提供如下技术方案：
一种计算机，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述第二方面中的任一方法步骤。
第五方面，基于同一发明构思，本申请通过本申请的一实施例提供如下技术方案：
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述第二方面中的任一方法步骤。
第六方面，基于同一发明构思，本申请通过本申请的一实施例提供如下技术方案：
一种测试***，用于对指纹模组进行测试，包括：
测试治具；
计算机，与所述测试治具连接。
本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
1、在本申请实施例中，公开了一种测试治具，用于对指纹模组进行测试，包括：电路板；微控制器，设置在所述电路板上；电流测试模块，设置在所述电路板上，且与所述微控制器连接；烧录电路，设置在所述电路板上，且与所述微控制器连接；模组端口，设置在所述电路板上，且与所述电流测试模块、以及所述烧录电路连接，所述模组端口用于连接所述指纹模组；其中，所述微控制器用于：控制所述电流测试模块对所述指纹模组进行功能测试，待所述功能测试通过后，控制所述烧录电路对所述指纹模组进行数据烧录。由于在测试治具中同时集成了电流测试模块和烧录电路，可以在一道测试工序中同时对指纹模组进行功能测试以及数据烧录，减少了测试工序，所以，有效解决了现有技术中在对指纹模组进行测试时，存在测试效率低的技术问题，实现了提高指纹模组测试效率，降低人力资源投入，降低测试成本的技术效果。
2、在本申请实施例中，测试治具中的电流测试模块可以产生多路测试电流，从而对指纹模组进行多项功能测试，测试内容丰富，从而可以获得更全面的测试结果。
3、在本申请实施例中，测试治具支持自动上下电，这样有利于产品(即：指纹模组)的ESD(Electro-Static Discharge，静电释放)或EOS(Electrical Overstress；过电应力)保护。
4、在本申请实施例中，在将测试治具和计算机连接后，测试治具中的MCU会向计算机发送端测试治具的标识信息，以使得计算机基于该标识信息获得与该测试治具对应的配置信息，并自动进行端口配置，从而免去人工配置的环节，进一步提高了指纹模组的测试效率。
5、在本申请实施例中，公开了一种指纹模组的测试方法，应用于计算机中，所述计算机与测试治具连接，所述测试治具与待测试的指纹模组连接，所述方法包括：通过所述测试治具对所述指纹模组进行功能测试；判断所述功能测试是否通过；若所述功能测试通过，则通过所述测试治具对所述指纹模组进行数据烧录。如此，可以在一道测试工序中同时对指纹模组进行功能测试和数据烧录，减少了测试工序，所以，有效解决了现有技术中在对指纹模组进行测试时，存在测试效率低的技术问题，实现了提高指纹模组测试效率，降低人力资源投入，降低测试成本的技术效果。
6、在本申请实施例中，由于减少了测试工序，所以避免了由于工序多造成产品外观不良的情况的发生，提高了产品的外观品质。
7、在本申请实施例中，在确认指纹模组通过功能测试后，再对指纹模组进行数据烧录，可以有效地防呆，避免不良的产品直接烧录而流入市场，降低了漏失风险。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例中一种测试治具的结构图；
图2为本申请实施例中一种测试***的结构图；
图3为本申请实施例中一种指纹模组的测试方法的流程图；
图4为本申请实施例中一种指纹模组的测试装置的结构图。
具体实施方式
本申请实施例通过提供一种测试治具、指纹模组的测试方法及装置，解决了现有技术中在对指纹模组进行测试时，存在测试效率低的技术问题，实现了提高指纹模组测试效率的技术效果。
本申请实施例的技术方案为解决上述技术问题，总体思路如下：
一种测试治具，用于对指纹模组进行测试，包括：电路板；微控制器，设置在所述电路板上；电流测试模块，设置在所述电路板上，且与所述微控制器连接；烧录电路，设置在所述电路板上，且与所述微控制器连接；模组端口，设置在所述电路板上，且与所述电流测试模块、以及所述烧录电路连接，所述模组端口用于连接所述指纹模组；其中，所述微控制器用于：控制所述电流测试模块对所述指纹模组进行功能测试，待所述功能测试通过后，控制所述烧录电路对所述指纹模组进行数据烧录。由于在测试治具中同时集成了电流测试模块和烧录电路，可以在一道测试工序中同时对指纹模组进行功能测试以及数据烧录，减少了测试工序，所以，有效解决了现有技术中在对指纹模组进行测试时，存在测试效率低的技术问题，实现了提高指纹模组测试效率，降低人力资源投入，降低测试成本的技术效果。
为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
首先说明，本文中出现的术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
实施例一
如图1所示，本实施例提供了一种测试治具，用于对指纹模组进行测试，所述测试治具包括：
电路板；
MCU(Microcontroller Unit，微控制器)，设置在电路板上；
电流测试模块，设置在电路板上，且与MCU连接；
烧录电路，设置在电路板上，且与MCU连接；
模组端口，设置在电路板上，且与电流测试模块、以及烧录电路连接，模组端口用于连接待测试的指纹模组；
其中，MCU起到主控作用，可用于：控制电流测试模块对指纹模组进行功能测试，待功能测试通过后，控制烧录电路对指纹模组进行数据烧录。
在具体实施过程中，电路板可以为4层的PCB(Printed Circuit Board，印刷电路板)板，有利于对线路布局进行优化设计，从而降低功耗，提高电路抗干扰能力。
作为一种可选的实施例，所述测试治具，还包括：
夹具，与模组端口连接，夹具用于固定指纹模组。
在具体实施过程中，模组端口具体为USB端口，其可以通过USB数据线与夹具连接，在夹具内设置有测试探针，用于与指纹模组电性连接。
在具体实施过程中，电流测试模块可以产生多路测试电流，并通过模组端口向指纹模组输出多路测试电流，从而对指纹模组进行多项功能测试，例如，①工作电流测试(Stable Current Test)、②睡眠电流测试(Sleep Current Test)、③深度睡眠电流测试(Deep Sleep Current Test)、等等。
具体来讲，在电流测试模块中设计了多路电流IC(Integrated Circuit，集成电路)，其可以在MCU的控制下调整工作模式，从而输出不同的测试电流，进而实现输出多路测试电流的效果。
在本实施例中，电流测试模块可以产生多路测试电流，从而对指纹模组进行多项功能测试，测试内容丰富，从而可以获得更全面的测试结果。
作为一种可选的实施例，所述测试治具，还包括：
通信端口，设置在电路板上，用于连接计算机；
通信模块，设置在电路板上，与通信端口、以及MCU连接；通信模块用于：在MCU的控制下基于SPI(Serial Peripheral Interface，串行外设接口)协议与计算机进行通信。
在具体实施过程中，通信端口具体为USB端口，通信端口用于连接计算机，其中，所述“计算机”可以指：笔记本电脑、台式机电脑、一体机电脑、平板电脑、掌上电脑、等设备。
在具体实施过程中，通信模块可以基于SPI(Serial Peripheral Interface，串行外设接口)协议与计算机进行通信，例如，接收计算机发送的测试指令，或接收计算机发送的烧录数据、烧录指令，等等。其中，所述烧录数据包括：①指纹模组的ID号、②指纹模组的灵敏度换算数值、③指纹模组的板材版本信息、④指纹模组的测试时间、⑤机种名称(即：指纹项目名称)、等等。
此时，MCU还用于：在通过通信模块接收到计算机发来的测试指令时，控制电流测试模块对指纹模组进行功能测试，以及在通过通信模块接收到计算机发来的待烧录数据以及烧录指令时，控制烧录电路将待烧录数据烧录到指纹模组中。
作为一种可选的实施例，MCU还用于：
在通过通信模块接收到计算机发来的上电指令时，控制电流测试模块对指纹模组进行供电，以及在通过通信模块接收到计算机发来的下电指令时，控制电流测试模块停止对指纹模组进行供电。
在具体实施过程中，在计算机中的功能测试程序运行时，计算机会向测试治具发送上电指令，从而使得夹具内的测试探针上电，其中，测试探针与待测试的指纹模组连接，也就实现了向指纹模组供电；待功能测试结束后，计算机向测试治具发送下电指令，从而使得测试探针掉电，也就实现停止向指纹模组供电。
在本实施例中，由于测试治具支持自动上下电，如此，在指纹模组不进行功能测试的时候，指纹模组不带电，避免了生产操作人员的误操作导致指纹模组发生短路的可能性，有利于产品(即：指纹模组)的ESD(Electro-Static Discharge，静电释放)或EOS(Electrical Overstress；过电应力)保护。
作为一种可选的实施例，测试治具还包括：
电流测试端口，设置在电路板上，且与MCU连接，电流测试端口用于连接计算机，电流测试端口用于向计算机传输指纹模组反馈回来的电流信号；
此时，MCU，还用于：在对指纹模组进行功能测试时，将指纹模组反馈的电流信号通过电流测试端口发送给计算机，指纹模组反馈的电流信号由电流测试模块采集并发送给MCU。
在具体实施过程中，在电流测试模块通过模组端口向指纹模组输出测试电流后，电流测试模块还可以通过模组端口接收到指纹模组反馈回来的电流信号，这些信号可以经过电流测试模块到达MCU，再由MCU通过电流测试端口传输给计算机，从而使得计算机根据指纹模组反馈回来的电流信号，获得相应的电流值(例如：工作时的电流值、睡眠时的电流值、深度睡眠时的电流值)，并将其与标准情况下的电流值范围进行比较，从而判断各项功能测试是否通过。
在具体实施过程中，电流测试端口具体为USB端口。并且，电流测试端口和通信端口设置在电路板的同一侧，且电流测试端口和通信端口的朝向相同，这样可以方便电流测试端口和通信端口与计算机连接。
作为一种可选的实施例，MCU还用于：
在计算机与通信端口连接后，向计算机发送测试治具的标识信息，以使得计算机基于该标识信息获取测试治具的端口配置信息，并基于端口配置信息对测试治具进行端口配置。
在具体实施过程中，在使用测试治具之前，需要先将计算机与测试治具的通信端口、电流测试端口连接(例如：用两根USB数据线连接)，然后MCU会通过测试治具的通信端口向计算机发送测试治具的标识信息(例如：ID号、名称信息、等等)，在计算机中预先存储有每个测试治具的标识信息与端口配置信息的对应关系，计算机可以基于接收到的测试治具的标识信息找到该测试治具的端口配置信息，并基于该端口配置信息对测试治具的通信端口和电流测试端口进行自动配置，从而免去人工配置的环节，进一步提高了指纹模组的测试效率。
上述本申请实施例中的技术方案，至少具有如下的技术效果或优点：
1、在本申请实施例中，公开了一种测试治具，用于对指纹模组进行测试，包括：电路板；微控制器，设置在所述电路板上；电流测试模块，设置在所述电路板上，且与所述微控制器连接；烧录电路，设置在所述电路板上，且与所述微控制器连接；模组端口，设置在所述电路板上，且与所述电流测试模块、以及所述烧录电路连接，所述模组端口用于连接所述指纹模组；其中，所述微控制器用于：控制所述电流测试模块对所述指纹模组进行功能测试，待所述功能测试通过后，控制所述烧录电路对所述指纹模组进行数据烧录。由于在测试治具中同时集成了电流测试模块和烧录电路，可以在一道测试工序中同时对指纹模组进行功能测试以及数据烧录，减少了测试工序，所以，有效解决了现有技术中在对指纹模组进行测试时，存在测试效率低的技术问题，实现了提高指纹模组测试效率，降低人力资源投入，降低测试成本的技术效果。
2、在本申请实施例中，测试治具中的电流测试模块可以产生多路测试电流，从而对指纹模组进行多项功能测试，测试内容丰富，从而可以获得更全面的测试结果。
3、在本申请实施例中，测试治具支持自动上下电，这样有利于产品(即：指纹模组)的ESD(Electro-Static Discharge，静电释放)或EOS(Electrical Overstress；过电应力)保护。
4、在本申请实施例中，在将测试治具和计算机连接后，测试治具中的MCU会向计算机发送端测试治具的标识信息，以使得计算机基于该标识信息获得与该测试治具对应的配置信息，并自动进行端口配置，从而免去人工配置的环节，进一步提高了指纹模组的测试效率。
实施例二
基于同一发明构思，如图2所示，本实施例提供了一种测试***，用于对指纹模组进行测试，所述测试***包括：
测试治具(具体请参见实施例一)；
计算机(具体请参见后面的实施例五)，与测试治具连接。
在具体实施过程中，计算机通过两根USB数据线分别与测试治具的通信端口、以及电流测试端口连接。
在具体实施过程中，所述计算机可以指：笔记本电脑、台式机电脑、一体机电脑、平板电脑、掌上电脑、等电子设备。
实施例三
基于同一发明构思，本实施例提供了一种指纹模组的测试方法，应用于计算机中，所述计算机与测试治具连接(例如：通过两根USB数据线将计算机分别与测试治具的通信端口、以及电流测试端口连接)，所述测试治具与待测试的指纹模组连接(例如：将待测试的指纹模组安装在测试治具的夹具上)。
具体来讲，如图3所示，所述指纹模组的测试方法，包括：
步骤S301：通过测试治具对指纹模组进行功能测试。
作为一种可选的实施例，在步骤S301之前，还包括：
判断指纹模组是否出现跳站；若指纹模组出现跳站，则输出第五提示信息，并将第四提示信息发送给MES(Manufacture Execution System，生产流程管控***)。
在具体实施过程中，指纹模组的测试需要严格遵照既定的测试程序，禁止出现跳站(即：跳过某个测试站的测试)的情况，在MES中记录有每个指纹模组已经测试过的项目、以及当前需要测试的项目。在指纹模组到达任一测试站时，该测试站对应的计算机都需要与MES进行验证，验证每个指纹模组是否出现了跳站，若出现跳站，则输出一提示信息(即：第五提示信息)，以提醒相关技术人员该指纹模组出现跳站，相关技术人员即可及时采取措施。并且，计算机还需将此情况上报MES。
作为一种可选的实施例，在确定待测试的指纹模组未出现跳站时，即可基于测试治具的标识信息，对测试治具的通信端口和电流测试端口进行配置。
在具体实施过程中，可实现多个测试治具同时测试工作，在每个测试治具的MCU中预先存储有每个测试治具的标识信息(例如：ID号、名称信息、等等)，在将测试治具通过USB数据线与计算机连接时，MCU会将该标识信息发给计算机。在计算机中预先存储有每个测试治具的标识信息与端口配置信息的对应关系，计算机可以基于接收到的测试治具的标识信息找到该测试治具的端口配置信息，并基于该端口配置信息对测试治具的通信端口和电流测试端口进行自动配置。其中，所述配置信息包括但不限于：COM(Cluster CommunicationPort，串行通讯端口)信息。其中，对测试治具的通信端口和电流测试端口进行配置，其目的是使计算机可以与测试治具正常进行通信。
在本实施例中，计算机可以自动抓取配置信息，并对通信端口和电流测试端进行自动配置，免去人工配置的环节，进一步提高了指纹模组的测试效率。
进一步，在完成对测试治具的通信端口和电流测试端口的配置之后，即可执行步骤S301，即：通过测试治具对指纹模组进行功能测试。
作为一种可选的实施例，步骤S101，包括：
在功能测试开始前，向测试治具发送上电指令，以控制测试治具向指纹模组供电；在功能测试结束后，向测试治具发送下电指令，以控制测试治具停止向指纹模组供电。
在具体实施过程中，在计算机中的功能测试程序运行时，计算机会向试治具发送上电指令，从而使得测试治具的测试探针上电，其中，测试探针与待测试的指纹模组连接，也就实现了向指纹模组供电；待功能测试结束后，计算机向测试治具发送下电指令，从而使得测试探针掉电，也就实现停止向指纹模组供电。
在本实施例中，计算机中的功能测试程序具有自动上下电的功能，可以控制测试治具自动上下电，如此，在指纹模组不进行功能测试的时候，指纹模组不带电，避免了生产操作人员的误操作导致指纹模组发生短路，有利于产品的ESD(Electro-StaticDischarge，静电释放)或EOS(Electrical Overstress；过电应力)保护。
作为一种可选的实施例，所述功能测试，包括以下选测试项目中的一种或多种：
①工作电流测试(Stable Current Test)；
②睡眠电流测试(Sleep Current Test)；
③深度睡眠电流测试(Deep Sleep Current Test)。
在具体实施过程中，计算机可以发出测试指令，以控制测试治具对待测试的指纹模组进行上述测试项目。在测试过程中，计算机可以通过测试治具的电流测试端口接收到指纹模组的测试结果(例如：工作电流值、或睡眠电流值、或深度睡眠电流值、等等)。并且，计算机还可以输出测试结果(例如：在显示器上输出测试结果中的电流值)。
步骤S302：判断功能测试是否通过。
在具体实施过程中，计算机可以将测试结果中的电流值与标准电流值区间进行比较，若测试结果中的电流值落入标准电流值区间内，则确认该项功能测试通过，否则，则认为该项功能测试未通过。
在步骤S302中，只有当所有测试项目全部通过时，才视为功能测试通过，若有一项测试未通过，都视为功能测试未通过。
作为一种可选的实施例，在步骤S302之后，还包括：
若功能测试未通过，则输出第一提示信息，第一提示信息用于表示功能测试未通过。
举例来讲，若工作电流测试未通过，计算机则输出提示信息“工作电流测试失败”；若睡眠电流测试未通过，计算机则输出提示信息“睡眠电流测试失败”；以告知生产操作员人员。生产操作人员即可将未通过功能测试的指纹模组(即：不良品)挑出来，放在不良区域，从而防止不良品流出工厂。
步骤S303：若功能测试通过，则通过测试治具对指纹模组进行数据烧录。
在具体实施过程中，在功能测试中的所有测试项目全部通过时，计算机则可以输出相关提示信息(例如：“功能测试通过”信息)，并对该指纹模组进行数据烧录。
在具体实施过程中，对指纹模组烧录的数据包括以下数据中的一种或多种：①指纹模组的ID号、②指纹模组的灵敏度换算数值、③指纹模组的板材版本信息、④指纹模组的测试时间、⑤机种名称(即：指纹项目名称)。
在本实施例中，在一个测试工序中同时完成“功能测试”和“数据烧录”，减少了测试工序，不但节约了人力成本，而且还提高了测试效率。同时，又避免了由于工序多造成产品外观不良的情况的发生，提高了产品的外观品质。
并且，在确认指纹模组通过功能测试后，再对指纹模组进行数据烧录，可以有效地防呆，避免不良的产品直接烧录而流入市场，降低了漏失风险。
作为一种可选的实施例，在步骤S303之后，还包括：
若烧录失败，则输出第二提示信息，第二提示信息用于表示烧录失败。
作为一种可选的实施例，在步骤S303之后，还包括：
若烧录成功，则自检烧录的数据是否正确；若正确，则输出第三提示信息，第三提示信息用于表示指纹模组为良品；若不正确，则输出第四提示信息，第四提示信息用于表示烧录自检出现异常。
在本实施例中，由于设置有烧录自检环节，可以保证烧录数据的准确性。
上述本申请实施例中的技术方案，至少具有如下的技术效果或优点：
1、在本申请实施例中，公开了一种指纹模组的测试方法，应用于计算机中，所述计算机与测试治具连接，所述测试治具与待测试的指纹模组连接，所述方法包括：通过所述测试治具对所述指纹模组进行功能测试；判断功能测试是否通过；若所述功能测试通过，则通过所述测试治具对所述指纹模组进行数据烧录。如此，可以在一道测试工序中同时对指纹模组进行功能测试和数据烧录，减少了测试工序，所以，有效解决了现有技术中在对指纹模组进行测试时，存在测试效率低的技术问题，实现了提高指纹模组测试效率，降低人力资源投入，降低测试成本的技术效果。
2、在本申请实施例中，由于减少了测试工序，所以避免了由于工序多造成产品外观不良的情况的发生，提高了产品的外观品质。
3、在本申请实施例中，在确认指纹模组通过功能测试后，再对指纹模组进行数据烧录，可以有效地防呆，避免不良的产品直接烧录而流入市场，降低了漏失风险。
4、在本申请实施例中，计算机可以自动抓取配置信息，并对通信端口和电流测试端进行自动配置，免去人工配置的环节，进一步提高了指纹模组的测试效率。
5、在本申请实施例中，计算机中可以控制测试治具自动上下电，这样有利于产品的ESD(Electro-Static Discharge，静电释放)或EOS(Electrical Overstress；过电应力)保护。
实施例四
基于同一发明构思，本实施例提供了一种指纹模组的测试装置，应用于计算机中，所述计算机与上述实施例一中的测试治具连接，所述测试治具与待测试的指纹模组连接。如图4所示，所述指纹模组的测试装置，包括：
测试单元401，用于通过所述测试治具对所述指纹模组进行功能测试；
第一判断单元402，用于判断所述功能测试是否通过；
烧录单元403，用于若所述功能测试通过，则通过所述测试治具对所述指纹模组进行数据烧录。
作为一种可选的实施例，所述指纹模组的测试装置，还包括：
配置单元，用于在所述通过所述测试治具对所述指纹模组进行功能测试之前，基于所述测试治具的标识信息，对所述测试治具的通信端口和电流测试端口进行配置。
作为一种可选的实施例，测试单元401，具体用于：
在所述功能测试开始前，向所述测试治具发送上电指令，以控制所述测试治具向所述指纹模组供电；在所述功能测试结束后，向所述测试治具发送下电指令，以控制所述测试治具停止向所述指纹模组供电。
作为一种可选的实施例，所述功能测试，包括以下选测试项目中的一种或多种：
工作电流测试；
睡眠电流测试；
深度睡眠电流测试。
作为一种可选的实施例，所述指纹模组的测试装置，还包括：
第一输出单元，用于在所述判断所述功能测试是否通过之后，若所述功能测试未通过，则输出第一提示信息，所述第一提示信息用于表示所述功能测试未通过。
作为一种可选的实施例，对所述指纹模组烧录的数据，包括以下数据中的一种或多种：
所述指纹模组的ID号；
所述指纹模组的灵敏度换算数值；
所述指纹模组的板材版本；
所述指纹模组的测试时间；
机种名称。
作为一种可选的实施例，所述指纹模组的测试装置，还包括：
第二输出单元，用于在所述通过所述测试治具对所述指纹模组进行数据烧录之后，若烧录失败，则输出第二提示信息，所述第二提示信息用于表示烧录失败。
作为一种可选的实施例，所述指纹模组的测试装置，还包括：
自检单元，用于在所述通过所述测试治具对所述指纹模组进行数据烧录之后，若烧录成功，则自检烧录的数据是否正确；
第三输出单元，用于若正确，则输出第三提示信息，所述第三提示信息用于表示所述指纹模组为良品；
第四输出单元，用于若不正确，则输出第四提示信息，所述第四提示信息用于表示烧录自检出现异常。
作为一种可选的实施例，所述指纹模组的测试装置，还包括：
第二判断单元，用于所述通过所述测试治具对所述指纹模组进行功能测试之前，判断所述指纹模组是否出现跳站；
第五输出单元，用于若所述指纹模组出现跳站，则输出第五提示信息；
发送单元，用于将所述第五提示信息发送给生产流程管控***MES。
由于本实施例所介绍的指纹模组的测试装置为实施本申请实施例三中指纹模组的测试方法所采用的装置，故而基于本申请实施例三中所介绍的指纹模组的测试方法，本领域所属技术人员能够了解本实施例的指纹模组的测试装置的具体实施方式以及其各种变化形式，所以在此对于该指纹模组的测试装置如何实现本申请实施例中的方法不再详细介绍。只要本领域所属技术人员实施本申请实施例中指纹模组的测试方法所采用的装置，都属于本申请所欲保护的范围。
实施例五
基于同一发明构思，本实施例提供了一种计算机，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤：
通过所述测试治具对所述指纹模组进行功能测试；判断功能测试是否通过；若所述功能测试通过，则通过所述测试治具对所述指纹模组进行数据烧录。。
在具体实施过程中，处理器执行计算机程序时，可以实现实施例三中的任一实施方式。
实施例六
基于同一发明构思，本实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现以下步骤：
通过所述测试治具对所述指纹模组进行功能测试；判断功能测试是否通过；若所述功能测试通过，则通过所述测试治具对所述指纹模组进行数据烧录。
在具体实施过程中，计算机程序被处理器执行时，可以实现实施例三中的任一实施方式。
本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、***、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(***)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.一种测试治具，用于对指纹模组进行测试，其特征在于，包括：
电路板；
微控制器，设置在所述电路板上；
电流测试模块，设置在所述电路板上，且与所述微控制器连接；
烧录电路，设置在所述电路板上，且与所述微控制器连接；
模组端口，设置在所述电路板上，且与所述电流测试模块、以及所述烧录电路连接，所述模组端口用于连接所述指纹模组；
其中，所述微控制器用于：控制所述电流测试模块对所述指纹模组进行功能测试，待所述功能测试通过后，控制所述烧录电路对所述指纹模组进行数据烧录。
2.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具还包括：
通信端口，设置在所述电路板上，用于连接计算机；
通信模块，设置在所述电路板上，所述通信模块与所述通信端口、以及所述微控制器连接，所述通信模块用于在所述微控制器的控制下基于串行外设接口SPI协议与所述计算机进行通信。
3.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述微控制器还用于：
在所述计算机与所述通信端口连接后，向所述计算机发送所述测试治具的标识信息，以使得所述计算机基于所述标识信息获取所述测试治具的端口配置信息，并基于所述端口配置信息对所述测试治具进行端口配置。
4.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述微控制器还用于：
在通过所述通信模块接收到所述计算机发来的测试指令时，控制所述电流测试模块对所述指纹模组进行功能测试，以及在通过所述通信模块接收到所述计算机发来的烧录指令时，控制所述烧录电路对所述指纹模组进行数据烧录。
5.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述微控制器还用于：
在通过所述通信模块接收到所述计算机发来的上电指令时，控制所述电流测试模块对所述指纹模组进行供电，以及在通过所述通信模块接收到所述计算机发来的下电指令时，控制所述电流测试模块停止对所述指纹模组进行供电。
6.一种指纹模组的测试方法，应用于计算机中，其特征在于，所述计算机与权利要求1～5任一所述的测试治具连接，所述测试治具与待测试的指纹模组连接，所述方法包括：
通过所述测试治具对所述指纹模组进行功能测试；
判断所述功能测试是否通过；
若所述功能测试通过，则通过所述测试治具对所述指纹模组进行数据烧录。
7.一种指纹模组的测试装置，应用于计算机中，其特征在于，所述计算机与权利要求1～5任一所述的测试治具连接，所述测试治具与待测试的指纹模组连接，所述指纹模组的测试装置，包括：
测试单元，用于通过所述测试治具对所述指纹模组进行功能测试；
第一判断单元，用于判断所述功能测试是否通过；
烧录单元，用于若所述功能测试通过，则通过所述测试治具对所述指纹模组进行数据烧录。
8.一种计算机，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求6所述的方法步骤。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求6所述的方法步骤。
10.一种测试***，用于对指纹模组进行测试，其特征在于，包括：
如权利要求1～5任一权项所述的测试治具；
如权利要求8所述的计算机，与所述测试治具连接。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910040536.9A CN109709471A (zh) | 2019-01-16 | 2019-01-16 | 一种测试治具、指纹模组的测试方法及装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910040536.9A CN109709471A (zh) | 2019-01-16 | 2019-01-16 | 一种测试治具、指纹模组的测试方法及装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN109709471A true CN109709471A (zh) | 2019-05-03 |
Family
ID=66261530
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201910040536.9A Pending CN109709471A (zh) | 2019-01-16 | 2019-01-16 | 一种测试治具、指纹模组的测试方法及装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN109709471A (zh) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110519779A (zh) * | 2019-08-26 | 2019-11-29 | Oppo（重庆）智能科技有限公司 | 移动终端测试方法、装置、***和存储介质 |
| CN114113973A (zh) * | 2021-09-23 | 2022-03-01 | 深圳市云伽智能技术有限公司 | 电路板测试方法、装置、计算机设备及其存储介质 |
| CN114153664A (zh) * | 2021-11-03 | 2022-03-08 | 深圳市魔力信息技术有限公司 | 一种指纹模组自动测试***及方法 |
| CN114968883A (zh) * | 2022-05-06 | 2022-08-30 | 炬星科技（深圳）有限公司 | 自动化测试装置、方法、设备及计算机可读存储介质 |
Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102568580A (zh) * | 2010-12-14 | 2012-07-11 | 无锡华润矽科微电子有限公司 | 带芯片测试功能的烧录机及其烧录方法 |
| CN106845420A (zh) * | 2017-01-22 | 2017-06-13 | 努比亚技术有限公司 | 检测方法和检测装置 |
| CN107153814A (zh) * | 2017-04-11 | 2017-09-12 | 深圳市度信科技有限公司 | 一种指纹模组数据采集装置 |
| CN107273830A (zh) * | 2017-06-05 | 2017-10-20 | 深圳天珑无线科技有限公司 | 一种指纹模组的测试方法及*** |
| CN107466369A (zh) * | 2017-06-15 | 2017-12-12 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 指纹芯片检测方法、装置及*** |
| CN108226742A (zh) * | 2016-12-15 | 2018-06-29 | 深圳市蓝希领地科技有限公司 | 电路板检测方法及装置 |
| CN108255278A (zh) * | 2017-12-11 | 2018-07-06 | 维沃移动通信有限公司 | Otp存储单元的上电方法和装置 |
| CN109062584A (zh) * | 2018-07-26 | 2018-12-21 | 广州华望汽车电子有限公司 | 一种同时烧录多个芯片的装置、方法、***和存储介质 |
| CN209606571U (zh) * | 2019-01-16 | 2019-11-08 | 昆山丘钛微电子科技有限公司 | 一种测试治具及测试*** |
-
2019
- 2019-01-16 CN CN201910040536.9A patent/CN109709471A/zh active Pending
Patent Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102568580A (zh) * | 2010-12-14 | 2012-07-11 | 无锡华润矽科微电子有限公司 | 带芯片测试功能的烧录机及其烧录方法 |
| CN108226742A (zh) * | 2016-12-15 | 2018-06-29 | 深圳市蓝希领地科技有限公司 | 电路板检测方法及装置 |
| CN106845420A (zh) * | 2017-01-22 | 2017-06-13 | 努比亚技术有限公司 | 检测方法和检测装置 |
| CN107153814A (zh) * | 2017-04-11 | 2017-09-12 | 深圳市度信科技有限公司 | 一种指纹模组数据采集装置 |
| CN107273830A (zh) * | 2017-06-05 | 2017-10-20 | 深圳天珑无线科技有限公司 | 一种指纹模组的测试方法及*** |
| CN107466369A (zh) * | 2017-06-15 | 2017-12-12 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 指纹芯片检测方法、装置及*** |
| CN108255278A (zh) * | 2017-12-11 | 2018-07-06 | 维沃移动通信有限公司 | Otp存储单元的上电方法和装置 |
| CN109062584A (zh) * | 2018-07-26 | 2018-12-21 | 广州华望汽车电子有限公司 | 一种同时烧录多个芯片的装置、方法、***和存储介质 |
| CN209606571U (zh) * | 2019-01-16 | 2019-11-08 | 昆山丘钛微电子科技有限公司 | 一种测试治具及测试*** |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110519779A (zh) * | 2019-08-26 | 2019-11-29 | Oppo（重庆）智能科技有限公司 | 移动终端测试方法、装置、***和存储介质 |
| CN110519779B (zh) * | 2019-08-26 | 2022-05-13 | Oppo（重庆）智能科技有限公司 | 移动终端测试方法、装置、***和存储介质 |
| CN114113973A (zh) * | 2021-09-23 | 2022-03-01 | 深圳市云伽智能技术有限公司 | 电路板测试方法、装置、计算机设备及其存储介质 |
| CN114153664A (zh) * | 2021-11-03 | 2022-03-08 | 深圳市魔力信息技术有限公司 | 一种指纹模组自动测试***及方法 |
| CN114968883A (zh) * | 2022-05-06 | 2022-08-30 | 炬星科技（深圳）有限公司 | 自动化测试装置、方法、设备及计算机可读存储介质 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN109709471A (zh) | 一种测试治具、指纹模组的测试方法及装置 | |
| CN112653738B (zh) | 一种物联网网络调试***和调试方法 | |
| CN102331569B (zh) | 一种用于检测电能表的智能互动式检测装置 | |
| CN101750578A (zh) | 一种集成电路板级自动测试*** | |
| CN100485632C (zh) | Usb装置测试模块、usb装置及其测试方法 | |
| CN104122507A (zh) | 一种小功率电源模块可程控在线检测*** | |
| CN108920373A (zh) | 嵌入式软件调试***及其方法 | |
| CN103760486B (zh) | 电路板上特殊芯片的功能测试装置及测试方法 | |
| CN102541705B (zh) | 计算机的测试方法和工装板 | |
| CN203673060U (zh) | 一种通用型载波模块检测工装 | |
| CN110988662B (zh) | 一种基于fpga原型验证开发板的信号调试***及方法 | |
| CN211148838U (zh) | 一种空调内机测试装置 | |
| CN210839614U (zh) | 支持多种类型电表模块通信规约检测的手持终端 | |
| CN207732510U (zh) | 一种基于掉电检测的柔直通信防错*** | |
| CN208110030U (zh) | 一种电表通信模块的通信测试板 | |
| CN209606571U (zh) | 一种测试治具及测试*** | |
| CN106501705A (zh) | 牵引综自***保护cpu板自动检测***及其检测方法 | |
| CN108538132A (zh) | 一种物联网嵌入式单片机远程综合实验实训平台 | |
| CN106406154B (zh) | 侦错***及其控制方法 | |
| CN114859769A (zh) | 一种基于rtos的电子产品批量测试方法 | |
| CN203465844U (zh) | 老化测试器 | |
| CN202994990U (zh) | 一种pxi总线继电器类产品加电应力的老炼装置 | |
| CN103559064B (zh) | 一种单盘扣板程序批量下载设备及方法 | |
| CN110943890A (zh) | 一种多接口类型和时序数字设备的自动化测试装置 | |
| CN206524184U (zh) | 一种集成电路存储器的测试设备 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| TA01 | Transfer of patent application right | ||
| TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20201208 Address after: 3 / F, factory building No.1, No.3, Taihong Road, high tech Zone, Kunshan City, Suzhou City, Jiangsu Province Applicant after: Kunshanqiu titanium biometric technology Co., Ltd Address before: 215300 No. 3 Rainbow Road, Kunshan hi tech Industrial Development Zone, Jiangsu, Suzhou Applicant before: KUNSHAN Q TECHNOLOGY Co.,Ltd. |