CN109696257B - 电磁加热烹饪器具及其测温方法和装置 - Google Patents

电磁加热烹饪器具及其测温方法和装置 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种电磁加热烹饪器具及其测温方法和装置，该电磁加热烹饪器具包括加热面板，加热面板上设有放置锅具的加热区域，对应加热区域设置多个测温元件，该方法包括以下步骤：每隔预设时间获取每个测温元件的温度采样值，以获取N组温度采样值；根据N组温度采样值获取锅具温度变化情况，并根据锅具温度变化情况判断锅具温度当前所处阶段；根据N组温度采样值计算多个温度方差，其中，每个温度方差对应一个测温元件；根据锅具温度当前所处阶段和多个温度方差获取最佳测温元件，并根据最佳测温元件的温度采样值获取锅具温度。由此，能够找到不同加热阶段的最佳测温元件，且以最佳测温元件的温度采样数据为基础，可精准和有效地获得锅具温度。

Description

电磁加热烹饪器具及其测温方法和装置
技术领域
本发明涉及家用电器技术领域，特别涉及一种电磁加热烹饪器具的测温方法、一种非临时性计算机可读存储介质、一种电磁加热烹饪器具的测温装置和一种具有该测温装置的电磁加热烹饪器具。
背景技术
现有电磁炉结构的测温方式一般是采用一个测温元件(例如，温度传感器)安装在线圈盘中心位置来测温，但这种测温方式具有一定局限性，锅具中心需与测温元件接触良好，如果锅具偏移、变形，就会造成测温不准。
因此行业内开发了多点测温设计，即在线圈盘上安装多个测温元件，解决上述问题，但是多个测温元件共同使用时，受环境、结构、装配影响，每个测温元件之间会有差异，无法确定哪一个测温元件最能真实反映锅具的温度，造成测温精度不准以及保护不及时的问题。
发明内容
本发明旨在至少在一定程度上解决上述技术中的技术问题之一。
为此，本发明的第一个目的在于提出一种电磁加热烹饪器具的测温方法，能够找到不同加热阶段的最佳测温元件，且以最佳测温元件的温度采样数据为基础，可精准和有效地获得锅具温度。
本发明的第二个目的在于提出一种非临时性计算机可读存储介质。
本发明的第三个目的在于提出一种电磁加热烹饪器具的测温装置。
本发明的第四个目的在于提出一种电磁加热烹饪器具。
为达到上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种电磁加热烹饪器具的测温方法，所述电磁加热烹饪器具包括加热面板，所述加热面板上设有放置锅具的加热区域，对应所述加热区域设置多个测温元件，所述测温方法包括以下步骤：每隔预设时间获取每个测温元件的温度采样值，以获取N组温度采样值，其中，每组温度采样值包括多个温度采样值，N为大于等2的整数；根据所述N组温度采样值获取锅具温度变化情况，并根据所述锅具温度变化情况判断锅具温度当前所处阶段；根据所述N组温度采样值计算多个温度方差，其中，每个温度方差对应一个测温元件；根据所述锅具温度当前所处阶段和所述多个温度方差获取最佳测温元件，并根据所述最佳测温元件的温度采样值获取所述锅具温度。
根据本发明实施例的电磁加热烹饪器具的测温方法，首先每隔预设时间获取每个测温元件的温度采样值，以获取N组温度采样值，并根据N组温度采样值获取锅具温度变化情况，以及根据锅具温度变化情况判断锅具温度当前所处阶段，然后根据N组温度采样值计算多个温度方差，最后根据锅具温度当前所处阶段和多个温度方差获取最佳测温元件，并根据最佳测温元件的温度采样值获取锅具温度。由此，能够找到不同加热阶段的最佳测温元件，且以最佳测温元件的温度采样数据为基础，可精准和有效地获得锅具温度。既有利于提高电磁加热烹饪器具对烹饪温度的控制，有提高了在异常状态下保护的及时率。
另外，根据本发明上述实施例提出的电磁加热烹饪器具的测温方法还可以具有如下附加的技术特征：
在本发明的一个实施例中，所述锅具温度当前所处阶段包括温度上升阶段和温度稳定阶段，其中，当所述锅具温度处于所述温度上升阶段时，获取所述多个温度方差中的最大温度方差，并将最大温度方差对应的测温元件作为所述最佳测温元件。
在本发明的一个实施例中，当所述锅具温度处于所述温度稳定阶段时，获取所述多个温度方差中的最小温度方差，并将最小温度方差对应的测温元件作为所述最佳测温元件。
在本发明的一个实施例中，根据以下公式计算每个温度方差：
S2＝∑(X–X’)2/(N-1)，
其中，S为温度方差，X为每个测温元件的温度采样值，X’为N个温度采样值的平均值。
在本发明的一个实施例中，所述多个测温元件以加热区域的圆心为轴心周向设置。
为达到上述目的，本发明第二方面实施例提出了一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现本发明第一方面实施例提出的电磁加热烹饪器具的测温方法。
根据本发明实施例的非临时性计算机可读存储介质，能够找到不同加热阶段的最佳测温元件，且以最佳测温元件的温度采样数据为基础，可精准和有效地获得锅具温度。既有利于提高电磁加热烹饪器具对烹饪温度的控制，有提高了在异常状态下保护的及时率。
为达到上述目的，本发明第三方面实施例提出了一种电磁加热烹饪器具的测温装置，所述电磁加热烹饪器具包括加热面板，所述加热面板上设有放置锅具的加热区域，对应所述加热区域设置多个测温元件，所述测温装置包括：温度获取模块，用于每隔预设时间获取每个测温元件的温度采样值，以获取N组温度采样值，并根据所述N组温度采样值获取锅具温度变化情况，其中，每组温度采样值包括多个温度采样值，N为大于等2的整数；判断模块，用于根据所述锅具温度变化情况判断锅具温度当前所处阶段；测温模块，用于根据所述N组温度采样值计算多个温度方差，并根据所述锅具温度当前所处阶段和所述多个温度方差获取最佳测温元件，以及根据所述最佳测温元件的温度采样值获取所述锅具温度，其中，每个温度方差对应一个测温元件。
根据本发明实施例的电磁加热烹饪器具的测温装置，通过温度获取模块每隔预设时间获取每个测温元件的温度采样值，以获取N组温度采样值，并根据N组温度采样值获取锅具温度变化情况，同时判断模块根据锅具温度变化情况判断锅具温度当前所处阶段，以使测温模块根据N组温度采样值计算多个温度方差，并根据锅具温度当前所处阶段和多个温度方差获取最佳测温元件，以及根据最佳测温元件的温度采样值获取锅具温度。由此，能够找到不同加热阶段的最佳测温元件，且以最佳测温元件的温度采样数据为基础，可精准和有效地获得锅具温度。既有利于提高电磁加热烹饪器具对烹饪温度的控制，有提高了在异常状态下保护的及时率。
另外，根据本发明上述实施例提出的电磁加热烹饪器具的测温装置还可以具有如下附加的技术特征：
在本发明的一个实施例中，所述锅具温度当前所处阶段包括温度上升阶段和温度稳定阶段，其中，当所述锅具温度处于所述温度上升阶段时，所述测温模块获取所述多个温度方差中的最大温度方差，并将最大温度方差对应的测温元件作为所述最佳测温元件。
在本发明的一个实施例中，当所述锅具温度处于所述温度稳定阶段时，所述测温模块获取所述多个温度方差中的最小温度方差，并将最小温度方差对应的测温元件作为所述最佳测温元件。
在本发明的一个实施例中，所述测温模块根据以下公式计算每个温度方差：
S2＝∑(X–X’)2/(N-1)，
其中，S为温度方差，X为每个测温元件的温度采样值，X’为N个温度采样值的平均值。
在本发明的一个实施例中，所述多个测温元件以加热区域的圆心为轴心周向设置。
为了实现上述目的，本发明第四方面实施例提出的一种电磁加热烹饪器具包括：本发明第三方面实施例的电磁加热烹饪器具的测温装置。
本发明实施例的电磁加热烹饪器具，通过上述电磁加热烹饪器具的测温装置，能够找到不同加热阶段的最佳测温元件，且以最佳测温元件的温度采样数据为基础，可精准和有效地获得锅具温度。既有利于提高电磁加热烹饪器具对烹饪温度的控制，有提高了在异常状态下保护的及时率。
本发明附加的方面的优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
图1是根据本发明实施例的电磁加热烹饪器具的测温方法的流程图；
图2是根据本发明一个实施例的时间-测温温度的曲线图；以及
图3是根据本发明实施例的电磁加热烹饪器具的测温装置的方框示意图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
下面结合附图来描述本发明实施例的电磁加热烹饪器具的测温方法、非临时性计算机可读存储介质、电磁加热烹饪器具的测温装置和具有该测温装置的电磁加热烹饪器具。
图1是根据本发明实施例的电磁加热烹饪器具的测温方法的流程图。
在本发明的实施例中，电磁加热烹饪器具包括加热面板，加热面板上设有放置锅具的加热区域，对应加热区域设置多个测温元件。其中，电磁加热烹饪器可为电磁炉、分体式电饭煲或分体式电压力锅等，测温元件可为温度传感器(例如，电阻式温度传感器或热电偶式温度传感器)。应说明的是，该实施例中所描述的加热区域可设有陶瓷板。
进一步而言，上述的多个测温元件能以加热区域的圆心为轴心周向设置。例如，以电磁加热烹饪器具为电磁炉为例，其中，可在电磁炉的线盘支架上设置三个(或多个)温度监测点，且在该温度监测点处安装测温元件(例如，温度传感器)，该温度检测点位置的分布可以呈现以线盘中心等角度圆环，即三个温度检测点两两间隔角度为120°，且该角度可以稍微变化一些。
需要说明的是，该实施例中所描述的每一个温度监测点都负责检测相对应的电磁炉的陶瓷板温度变化，从而采集数据更多，监控温度变化范围更广，能够提高了温度检测的准确性。
然而，上述的设置了多个温度监测点的电磁炉在实际使用中，受锅具的摆放位置，以及电磁炉整机风道等外部因素影响，多个温度监测点采集的温度信号存在一定的差异，可能会影响温度检测的准确性。
此时，电磁炉可执行本发明的测温方法，对所有的测温数据进行分析、处理，寻找出最能准确测量温度的测温元件，然后把该测温元件的采样数据交给电磁炉的MCU(MicroControl Unit，微控制单元)精准和有效地获得锅具的温度。
如图1所示，本发明实施例的电磁加热烹饪器具的测温方法，包括以下步骤：
S1，每隔预设时间获取每个测温元件的温度采样值，以获取N组温度采样值，其中，每组温度采样值包括多个温度采样值，N为大于等2的整数，预设时间可根据实际情况进行标定。
具体地，用户在使用上述的电磁加热烹饪器具进行烹饪的过程中，可先将该电磁加热烹饪器具通电，通电后该电磁加热烹饪器具进入待机状态。此时用户可将锅具放在该电磁加热烹饪器的加热面板上，且对应加热区域放置。然后用户可通过设置在该电磁加热烹饪器具上的人机交互界面选择烹饪功能以使该电磁加热烹饪器具工作以对该锅具进行加热控制。
该电磁加热烹饪器具在对锅具进行加热控制的过程中，可每隔预设时间获取上述的多个测温元件中每个测温元件的温度采样值，然后对采集到的温度采样值进行分组以获得多组温度采集值。
其中，该电磁加热烹饪器具可以测温元件为依据进行分组，例如，如果多个测温元件为三个(例如，分为测温元件T1，T2和T3)，且电磁加热烹饪器进行了五次温度采样，则可将采集到的温度采样值以测温元件为分组依据分为三组，且每组具有五个温度采样值。表1中示出了该实施例中五次采用后以测温元件为分组依据分为三组的温度采样值。
Figure BDA0001443800990000051
图1
S2，根据N组温度采样值获取锅具温度变化情况，并根据锅具温度变化情况判断锅具温度当前所处阶段。应说明的是，在电磁加热烹饪器具工作的过程中，如图2所示，锅具温度当前所处阶段可包括温度上升阶段t1和温度稳定阶段t2。
具体地，电磁加热烹饪器具在获取到N组温度采样值之后，可以采样时间为依据对该N组温度采样值进行分析，以得出锅具温度变化情况，然后根据该锅具温度变化情况判断该锅具当前所处的阶段(例如，温度上升阶段t1或温度稳定阶段t2)。
S3，根据N组温度采样值计算多个温度方差，其中，每个温度方差对应一个测温元件。
进一步地，可根据下述公式(1)计算每个温度方差：
S2＝∑(X–X’)2/(N-1) (1)
其中，S为温度方差，X为每个测温元件的温度采样值，X’为N个温度采样值的平均值。
S4，根据锅具温度当前所处阶段和多个温度方差获取最佳测温元件，并根据最佳测温元件的温度采样值获取锅具温度。
进一步而言，当锅具温度处于温度上升阶段时，获取多个温度方差中的最大温度方差，并将最大温度方差对应的测温元件作为最佳测温元件。当锅具温度处于温度稳定阶段时，获取多个温度方差中的最小温度方差，并将最小温度方差对应的测温元件作为最佳测温元件。
为了便于对本发明的描述，以多个测温元件的数量为三，且三个测温元件分别为第一测温元件、第二测温元件和第三测温元件为例来进行说明。其中，在电磁加热烹饪器具工作的过程中，如果锅具温度处于温度上升阶段，则说明锅具温度上升较快，应选择方差较大的测温元件作为主测温器件，以便电磁加热烹饪器具进行精准的温度控制。例如，若第一测温元件的温度方差为S1，第二测温元件的温度方差为S2，第一测温元件的温度方差为S3，且S1>S2>S3，则该电磁加热烹饪器具可选择第一测温元件作为主测温元件(即。最佳测温元件)，并根据第一测温元件的温度采样值获取锅具温度。
另外，如果锅具温度处于温度稳定阶段，则说明锅具温度变化较慢，应选择方差较小的测温元件作为主测温器件，以便电磁加热烹饪器具进行精准的温度控制。例如，若上述的温度方差S1>S2>S3,则该电磁加热烹饪器具可选择第三测温元件作为主测温元件(即。最佳测温元件)，并根据第三测温元件的温度采样值获取锅具温度。
综上，根据本发明实施例的电磁加热烹饪器具的测温方法，首先每隔预设时间获取每个测温元件的温度采样值，以获取N组温度采样值，并根据N组温度采样值获取锅具温度变化情况，以及根据锅具温度变化情况判断锅具温度当前所处阶段，然后根据N组温度采样值计算多个温度方差，最后根据锅具温度当前所处阶段和多个温度方差获取最佳测温元件，并根据最佳测温元件的温度采样值获取锅具温度。由此，能够找到不同加热阶段的最佳测温元件，且以最佳测温元件的温度采样数据为基础，可精准和有效地获得锅具温度。既有利于提高电磁加热烹饪器具对烹饪温度的控制，有提高了在异常状态下保护的及时率。
另外，本发明的实施例还提出了一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现本发明上述实施例提出的电磁加热烹饪器具的测温方法。
根据本发明实施例的非临时性计算机可读存储介质，能够找到不同加热阶段的最佳测温元件，且以最佳测温元件的温度采样数据为基础，可精准和有效地获得锅具温度。既有利于提高电磁加热烹饪器具对烹饪温度的控制，有提高了在异常状态下保护的及时率。
图3是根据本发明实施例的电磁加热烹饪器具的测温装置的方框示意图。
如图3所示，本发明实施例的电磁加热烹饪器具的测温装置包括：温度获取模块100、判断模块200和测温模块300。
其中，温度获取模块100用于每隔预设时间获取每个测温元件的温度采样值，以获取N组温度采样值，并根据N组温度采样值获取锅具温度变化情况，其中，每组温度采样值包括多个温度采样值，N为大于等2的整数。
判断模块200用于根据锅具温度变化情况判断锅具温度当前所处阶段。
测温模块300用于根据N组温度采样值计算多个温度方差，并根据锅具温度当前所处阶段和多个温度方差获取最佳测温元件，以及根据最佳测温元件的温度采样值获取锅具温度，其中，每个温度方差对应一个测温元件。
在本发明的一个实施例中，锅具温度当前所处阶段包括温度上升阶段和温度稳定阶段，其中，当锅具温度处于温度上升阶段时，测温模块300获取多个温度方差中的最大温度方差，并将最大温度方差对应的测温元件作为最佳测温元件。
在本发明的一个实施例中，当锅具温度处于温度稳定阶段时，测温模块300获取多个温度方差中的最小温度方差，并将最小温度方差对应的测温元件作为最佳测温元件。
在本发明的一个实施例中，测温模块300可根据以下公式计算每个温度方差：
S2＝∑(X–X’)2/(N-1)，
其中，S为温度方差，X为每个测温元件的温度采样值，X’为N个温度采样值的平均值。
在本发明的一个实施例中，多个测温元件以加热区域的圆心为轴心周向设置。
需要说明的是，本发明实施例的电磁加热烹饪器具的测温装置中未披露的细节，请参照本发明实施例的电磁加热烹饪器具的测温方法中所披露的细节，具体这里不再赘述。
综上，根据本发明实施例的电磁加热烹饪器具的测温装置，通过温度获取模块每隔预设时间获取每个测温元件的温度采样值，以获取N组温度采样值，并根据N组温度采样值获取锅具温度变化情况，同时判断模块根据锅具温度变化情况判断锅具温度当前所处阶段，以使测温模块根据N组温度采样值计算多个温度方差，并根据锅具温度当前所处阶段和多个温度方差获取最佳测温元件，以及根据最佳测温元件的温度采样值获取锅具温度。由此，能够找到不同加热阶段的最佳测温元件，且以最佳测温元件的温度采样数据为基础，可精准和有效地获得锅具温度。既有利于提高电磁加热烹饪器具对烹饪温度的控制，有提高了在异常状态下保护的及时率。
为了实现上述实施例，本发明还提出一种电磁加热烹饪器具，其包括上述电磁加热烹饪器具的测温装置。
本发明实施例的电磁加热烹饪器具，通过上述电磁加热烹饪器具的测温装置，能够找到不同加热阶段的最佳测温元件，且以最佳测温元件的温度采样数据为基础，可精准和有效地获得锅具温度。既有利于提高电磁加热烹饪器具对烹饪温度的控制，有提高了在异常状态下保护的及时率。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (12)

1.一种电磁加热烹饪器具的测温方法，其特征在于，所述电磁加热烹饪器具包括加热面板，所述加热面板上设有放置锅具的加热区域，对应所述加热区域设置多个测温元件，所述测温方法包括以下步骤：
每隔预设时间获取每个测温元件的温度采样值，以获取N组温度采样值，其中，每组温度采样值包括多个温度采样值，N为大于等于2的整数；
根据所述N组温度采样值获取锅具温度变化情况，并根据所述锅具温度变化情况判断锅具温度当前所处阶段；
根据所述N组温度采样值计算多个温度方差，其中，每个温度方差对应一个测温元件；
根据所述锅具温度当前所处阶段和所述多个温度方差获取最佳测温元件，并根据所述最佳测温元件的温度采样值获取所述锅具温度，以提高所述电磁加热烹饪器具对烹饪温度的控制和提高在异常状态下保护的及时率。
2.如权利要求1所述的电磁加热烹饪器具的测温方法，其特征在于，所述锅具温度当前所处阶段包括温度上升阶段和温度稳定阶段，其中，
当所述锅具温度处于所述温度上升阶段时，获取所述多个温度方差中的最大温度方差，并将最大温度方差对应的测温元件作为所述最佳测温元件。
3.如权利要求2所述的电磁加热烹饪器具的测温方法，其特征在于，当所述锅具温度处于所述温度稳定阶段时，获取所述多个温度方差中的最小温度方差，并将最小温度方差对应的测温元件作为所述最佳测温元件。
4.如权利要求1-3中任一项所述的电磁加热烹饪器具的测温方法，其特征在于，根据以下公式计算每个温度方差：
S2＝∑(X–X’)2/(N-1)，
其中，S为温度方差，X为每个测温元件的温度采样值，X’为N个温度采样值的平均值。
5.如权利要求1所述的电磁加热烹饪器具的测温方法，其特征在于，所述多个测温元件以加热区域的圆心为轴心周向设置。
6.一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-5中任一项所述的电磁加热烹饪器具的测温方法。
7.一种电磁加热烹饪器具的测温装置，其特征在于，所述电磁加热烹饪器具包括加热面板，所述加热面板上设有放置锅具的加热区域，对应所述加热区域设置多个测温元件，所述测温装置包括：
温度获取模块，用于每隔预设时间获取每个测温元件的温度采样值，以获取N组温度采样值，并根据所述N组温度采样值获取锅具温度变化情况，其中，每组温度采样值包括多个温度采样值，N为大于等于2的整数；
判断模块，用于根据所述锅具温度变化情况判断锅具温度当前所处阶段；
测温模块，用于根据所述N组温度采样值计算多个温度方差，并根据所述锅具温度当前所处阶段和所述多个温度方差获取最佳测温元件，以及根据所述最佳测温元件的温度采样值获取所述锅具温度，其中，每个温度方差对应一个测温元件。
8.如权利要求7所述的电磁加热烹饪器具的测温装置，其特征在于，所述锅具温度当前所处阶段包括温度上升阶段和温度稳定阶段，其中，
当所述锅具温度处于所述温度上升阶段时，所述测温模块获取所述多个温度方差中的最大温度方差，并将最大温度方差对应的测温元件作为所述最佳测温元件。
9.如权利要求8所述的电磁加热烹饪器具的测温装置，其特征在于，当所述锅具温度处于所述温度稳定阶段时，所述测温模块获取所述多个温度方差中的最小温度方差，并将最小温度方差对应的测温元件作为所述最佳测温元件。
10.如权利要求7-9中任一项所述的电磁加热烹饪器具的测温装置，其特征在于，所述测温模块根据以下公式计算每个温度方差：
S2＝∑(X–X’)2/(N-1)，
其中，S为温度方差，X为每个测温元件的温度采样值，X’为N个温度采样值的平均值。
11.如权利要求7所述的电磁加热烹饪器具的测温装置，其特征在于，所述多个测温元件以加热区域的圆心为轴心周向设置。
12.一种电磁加热烹饪器具，其特征在于，包括如权利要求7-11中任一项所述的电磁加热烹饪器具的测温装置。
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