CN109671082B - 一种密封圈检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种密封圈检测方法，通过接收密封圈的灰度图像；对所述灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，其中，内圆周长小于外圆周长；获取边沿点之间的距离；根据所述边沿点之间的距离，获取内圆周长像素值和外圆周长像素值，以便获得所述内圆周长和所述外圆周长；根据所述内圆周长和所述外圆周长，确定所述密封圈的内径和截面直径。本申请在接收密封圈灰度图像后，分别对内圆和外圆进行边沿查找，得到边沿点间的距离，从而分别得到内圆和外圆的周长像素值，进一步得到内圆和外圆的周长，最终得到密封圈的内径和截面直径，有效提升测量密封圈尺寸的效率。本申请还提供一种具有上述优点的密封圈检测装置、设备及计算机可读存储介质。

Description

一种密封圈检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质

技术领域

本申请涉及密封圈检测技术领域，特别是涉及一种密封圈检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

密封性能是评价一种设备的重要指标，密封性能的优劣直接影响设备整体的性能的优劣。O型密封圈是一种在密封件中应用较为广泛、结构较为简单、成本低廉、密封性能良好的密封圈，其应用涉及到石油化工、航空航天、能源等诸多领域。对密封圈进行检测主要从两个方面主要涉及两个方面，一是对密封圈的内径和截面直径进行检测，一个是对密封圈的外观进行检测，例如有无毛边破损。

现有测量方式用人工通止规进行测量，对O形密封圈内径、截面直径进行测量，该种方法存在测量效率低的问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种密封圈检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，以提高测量密封圈尺寸的效率。

为解决上述技术问题，本申请提供一种密封圈检测方法，包括：

接收密封圈的灰度图像；

对所述灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，其中，内圆周长小于外圆周长；

获取边沿点之间的距离；

根据所述边沿点之间的距离，获取内圆周长像素值和外圆周长像素值，以便获得所述内圆周长和所述外圆周长；

根据所述内圆周长和所述外圆周长，确定所述密封圈的内径和截面直径。

可选的，在所述对所述灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，其中，内圆周长小于外圆周长之前还包括：

对所述灰度图像进行灰度截取。

可选的，在所述对所述灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，其中，内圆周长小于外圆周长之后，还包括：

分别获取相邻的所述边沿点距所述密封圈的圆心的距离；

当距离差值超过第一阈值时，确定所述密封圈存在毛边。

可选的，所述灰度图像在所述密封圈背面的光源开启下采集得到，其中，所述背面与所述密封圈被采集面相背。

可选的，在所述接收密封圈的灰度图像之后还包括：

对所述灰度图像中密封圈表面进行所述边沿查找，以获取位于所述密封圈表面的所有灰度变化点；

获取每个所述灰度变化点的灰度差，以得到所有的所述灰度变化点的灰度差之和；

当所述灰度差之和超过第二阈值时，确定所述密封圈存在破损。

可选的，所述灰度图像在所述密封圈正面的光源开启下采集得到，其中，所述正面为所述密封圈被采集面。

可选的，在所述当所述灰度差之和超过第二阈值时，确定所述密封圈存在破损之后还包括：

将检测结果保存至数据库中，以便查询所述检测结果。

本申请还提供一种密封圈检测装置，包括：

接收模块，用于接收密封圈的灰度图像；

边沿查找模块，用于对所述灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，其中，内圆周长小于外圆周长；

第一获取模块，用于获取边沿点之间的距离；

第二获取模块，用于根据所述边沿点之间的距离，获取内圆周长像素值和外圆周长像素值，以便获得所述内圆周长和所述外圆周长；

确定模块，用于根据所述内圆周长和所述外圆周长，确定所述密封圈的内径和截面直径。

本申请还提供一种密封圈检测设备，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现上述任一种所述密封圈检测方法的步骤。

本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一种所述密封圈检测方法的步骤。

本申请还提供一种密封圈检测***，包括上述密封圈检测设备和图像采集设备。

可选的，还包括：照明设备。

可选的，还包括：自动传送设备。

本申请所提供的密封圈检测方法，通过接收密封圈的灰度图像；对所述灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，其中，内圆周长小于外圆周长；获取边沿点之间的距离；根据所述边沿点之间的距离，获取内圆周长像素值和外圆周长像素值，以便获得所述内圆周长和所述外圆周长；根据所述内圆周长和所述外圆周长，确定所述密封圈的内径和截面直径。本申请在接收密封圈灰度图像后，分别对内圆和外圆进行边沿查找，得到边沿点间的距离，从而分别得到内圆和外圆的周长像素值，进一步得到内圆和外圆的周长，最终得到密封圈的内径和截面直径，有效提升测量密封圈尺寸的效率。此外，本申请还提供一种具有上述优点的密封圈检测装置、设备及计算机可读存储介质。

附图说明

为了更清楚的说明本申请实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例所提供的密封圈检测方法的一种流程图；

图2为本申请实施例所提供的密封圈检测方法的另一种流程图；

图3为本申请实施例所提供的密封圈检测方法的另一种流程图；

图4为本申请实施例提供的密封圈检测装置的结构框图；

图5为本申请实施例所提供的密封圈检测设备结构框图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是本发明还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

正如背景技术部分所述，现有技术中对密封圈的内径、截面直径进行测量时，为人工通止规进行测量，测量效率低。

有鉴于此，本申请提供一种密封圈检测方法，请参考图1，图1为本申请实施例所提供的密封圈检测方法的一种流程图，该方法包括：

步骤S101：接收密封圈的灰度图像。

需要说明的是，本实施例中对采集灰度图像的具体方式不做限定，视情况而定。例如，灰度图像可以为由图像采集设备(如相机)直接采集得到，或者由图像采集设备采集密封圈的彩色图像，再经过灰度转化后得到，只要保证接收到的为灰度图像即可。进一步地，在对密封圈进行图像采集时，图像采集设备为密封圈的正上方，以保证灰度图像中的密封圈任何一部分与实体密封圈的比例相等。

还需要说明的是，本实施中对密封圈采集灰度图像和彩色图像时，密封圈所处的光强度不做具体限定。例如，密封圈处在自然光环境下，或者在密封圈背面光源开启下采集。

步骤S102：对所述灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，其中，内圆周长小于外圆周长。

具体的，对灰度图相中密封圈的内圆和外圆分别进行边沿查找，即分别在内圆和外圆提取边沿点。需要指出的是，本实施例中对边沿点的数量不做限定。边沿查找已被技术人员所熟知，此处不再详细赘述。

步骤S103：获取边沿点之间的距离。

具体的，分别获取从内圆提取的边沿点之间的距离和从外圆提取的边沿点之间的距离。

步骤S104：根据所述边沿点之间的距离，获取内圆周长像素值和外圆周长像素值，以便获得所述内圆周长和所述外圆周长。

需要指出的是，在对密封圈的内径和截面直径进行测量前，已经对某一长度的标准工件进行测量，根据标准工件实际长度与标准工件的像素值比值作为系数。

需要说明的是，本实施例中对获取内圆周长像素值和外圆周长像素值的方法不进行具体限定，可视情况而定。例如，可以选择Canny边缘检测算法，或者Sobel算子，或者Robert算子，等等。具体计算原理已为本领域技术人员所熟知，此处不再详细赘述。

具体的，分别根据内圆边沿点之间的距离和外圆边沿点之间的距离得到内圆周长像素值和外圆周长像素值，再分别将内圆周长像素值和外圆周长像素值乘以系数后，得到内圆周长和外圆周长。

步骤S105：根据所述内圆周长和所述外圆周长，确定所述密封圈的内径和截面直径。

具体的，根据内圆周长和外圆周长，经过圆的周长公式计算，得到内圆半径和外圆半径，从而确定出密封圈的内径和截面直径。

本申请所提供的密封圈检测方法，通过接收密封圈的灰度图像；对所述灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，其中，内圆周长小于外圆周长；获取边沿点之间的距离；根据所述边沿点之间的距离，获取内圆周长像素值和外圆周长像素值，以便获得所述内圆周长和所述外圆周长；根据所述内圆周长和所述外圆周长，确定所述密封圈的内径和截面直径。本申请通过在接收到的密封圈灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，即提取边沿点，然后获取边沿点之间的距离，再根据边沿点之间的距离，获取内圆周长像素值和外圆周长像素值，从而获得所述内圆周长和所述外圆周长，根据内圆周长和外圆周长，便可以得到密封圈的内径和截面直径，可以有效提升测量密封圈尺寸效率。

在上述实施例的基础上，在本申请的一个实施例中，在所述对所述灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，其中，内圆周长小于外圆周长之前还包括：

对所述灰度图像进行灰度截取。

本实施例所提供的密封圈检测方法，对所述灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找之前，对灰度图像进行灰度截取，使边沿查找过程中提取边沿点的准确性提高，从而使得密封圈的内径和截面直径的检测数据的准确性提高。

请参考图2，图2为本申请实施例所提供的密封圈检测方法的另一种流程图。

步骤S201：接收密封圈的灰度图像。

步骤S202：对所述灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，其中，内圆周长小于外圆周长。

步骤S203：分别获取相邻的所述边沿点距所述密封圈的圆心的距离；当距离差值超过第一阈值时，确定所述密封圈存在毛边。

具体的，根据边沿查找中提取的边沿点，将各点拟合为圆，得到密封圈的圆心，在内圆提取的边沿点中，获取相邻的边沿点距密封圈的圆心的距离，当距离差值超过第一阈值时，确定密封圈的内圆存在毛边，在外圆提取的边沿点中，获取相邻的边沿点距密封圈的圆心的距离，当距离差值超过第一阈值时，确定密封圈的外圆存在毛边。

需要指出的是，本实施例中对相邻的边沿点的数量不做具体限定，可以自行选择，例如，两个，或者三个，或者四个等。

优选的，选择相邻边沿点的数量为两个，对密封圈是否存在毛边的确定结果更加精确。

需要说明的是，本实施例中对第一阈值不做具体限定，视情况而定。

步骤S204：获取边沿点之间的距离。

步骤S205：根据所述边沿点之间的距离，获取内圆周长像素值和外圆周长像素值，以便获得所述内圆周长和所述外圆周长。

步骤S206：根据所述内圆周长和所述外圆周长，确定所述密封圈的内径和截面直径。

本实施例所提供的密封圈检测方法，在确定密封圈进行内径和截面直径的基础上，还可以对密封圈是否存在毛边进行确定，增加对密封圈的检测类别。

在上述任一实施例的基础上，在本申请的一个实施例中，所述灰度图像在所述密封圈背面的光源开启下采集得到，其中，所述背面与所述密封圈被采集面相背。

在密封圈背面的光源开启下，直接采集灰度图像或者采集彩色图像后转换成灰度图像，即接收到的灰度图像是在密封圈背面的光源开启下采集得到。

相较于人工通止规测量，由于密封圈具有弹性且易变形，人工测量结果不精确，并且，对于同一密封圈，人工通止规测量结果的一致性也较差，而本实施例中，密封圈背面的光源开启，可以增加密封圈灰度图像中密封圈轮廓的清晰度，使边沿查找过程更加准确，从而提高密封圈内径和截面直径数据的准确性，同时提升测量结果的一致性。

请参考图3，图3为本申请实施例所提供的密封圈检测方法的另一种流程图。

步骤S301：接收密封圈的灰度图像。

步骤S302：对所述灰度图像中密封圈表面进行所述边沿查找，以获取位于所述密封圈表面的所有灰度变化点。

当密封圈表面某一位置存在破损时，破损处的灰度值高于表面正常，未发生破损处，灰度变化点即为破损处。

步骤S303：获取每个所述灰度变化点的灰度差，以得到所有的所述灰度变化点的灰度差之和。

具体的，灰度差为灰度变化点的灰度值与密封圈正常灰度值之差。

步骤S304：当所述灰度差之和超过第二阈值时，确定所述密封圈存在破损。

需要说明的是，本实施例中对第二阈值不做具体限定，视情况而定。

步骤S305：对所述灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，其中，内圆周长小于外圆周长。

步骤S306：获取边沿点之间的距离。

步骤S307：根据所述边沿点之间的距离，获取内圆周长像素值和外圆周长像素值，以便获得所述内圆周长和所述外圆周长。

步骤S308：根据所述内圆周长和所述外圆周长，确定所述密封圈的内径和截面直径。

需要指出的是，对密封圈的正反两个表面均进行破损检测，检测方法相同。

本实施例所提供的密封圈检测方法，在对密封圈进行尺寸测量的同时，还可以对密封圈的破损情况进行检测，当密封圈表面存在破损时，破损部位的灰度值会高于未破损区域，通过对密封圈的表面部分进行边沿查找，得到灰度发生变化的点，从而得到灰度变化点与未破损区域灰度值的灰度差，将得到的所有灰度变化点的灰度差求和，得到灰度差之和，当灰度差之和和超过第二阈值时，便可以确定密封圈表面存在破损。

在上述实施例的基础上，在本申请的一个实施例中，所述灰度图像在所述密封圈正面的光源开启下采集得到，其中，所述正面为所述密封圈被采集面。

在密封圈正面的光源开启下，直接采集灰度图像或者采集彩色图像后转换成灰度图像，即接收到的灰度图像是在密封圈正面的光源开启下采集得到。

本实施例中，密封圈正面的光源开启，可以增强密封圈各部分之间的差别，使边沿查找获取灰度变化点的更加准确，从而提高对密封圈破损情况判断的准确性。

在上述实施例的基础上，在本申请的一个实施例中，在所述当所述灰度差之和超过第二阈值时，确定所述密封圈存在破损之后还包括：

将检测结果保存至数据库中，以便查询所述检测结果。

下面对本申请实施例提供的密封圈检测装置进行介绍，下文描述的密封圈检测装置与上文描述的密封圈检测方法可相互对应参照。

图4为本申请实施例提供的密封圈检测装置的结构框图，参照图4密封圈检测装置可以包括：

接收模块100，用于接收密封圈的灰度图像；

边沿查找模块200，用于对所述灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，其中，内圆周长小于外圆周长；

第一获取模块300，用于获取边沿点之间的距离；

第二获取模块400，用于根据所述边沿点之间的距离，获取内圆周长像素值和外圆周长像素值，以便获得所述内圆周长和所述外圆周长；

确定模块500，用于根据所述内圆周长和所述外圆周长，确定所述密封圈的内径和截面直径。

本实施例的密封圈检测装置用于实现前述的密封圈检测方法，因此密封圈检测装置中的具体实施方式可见前文中的密封圈检测方法的实施例部分，例如，接收模块100，边沿查找模块200，第一获取模块300，第二获取模块400，确定模块500，分别用于实现上述密封圈检测方法中步骤S101，S102，S103，S104和S105，所以，其具体实施方式可以参照相应的各个部分实施例的描述，在此不再赘述。

本申请所提供的密封圈检测装置，通过在接收到的密封圈灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，即提取边沿点，然后获取边沿点之间的距离，再根据边沿点之间的距离，获取内圆周长像素值和外圆周长像素值，从而获得所述内圆周长和所述外圆周长，根据内圆周长和外圆周长，便可以得到密封圈的内径和截面直径，可以有效提升测量密封圈尺寸效率。

下面对本申请实施例提供的密封圈检测设备进行介绍，下文描述的密封圈检测设备与上文描述的密封圈检测方法可相互对应参照。

本申请还提供一种密封圈检测设备，请参考图5，图5为本申请实施例所提供的密封圈检测设备结构框图，包括：

存储器11，用于存储计算机程序；

处理器12，用于执行所述计算机程序时实现上述任一种所述密封圈检测方法的步骤。

本申请所提供的密封圈检测设备，通过在接收到的密封圈灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，即提取边沿点，然后获取边沿点之间的距离，再根据边沿点之间的距离，获取内圆周长像素值和外圆周长像素值，从而获得所述内圆周长和所述外圆周长，根据内圆周长和外圆周长，便可以得到密封圈的内径和截面直径，可以有效提升测量密封圈尺寸效率。

下面对本申请实施例提供的计算机可读存储介质进行介绍，下文描述的计算机可读存储介质与上文描述的密封圈检测方法可相互对应参照。

本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一种所述密封圈检测方法的步骤。

本申请所提供的计算机可读存储介质，通过在接收到的密封圈灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，即提取边沿点，然后获取边沿点之间的距离，再根据边沿点之间的距离，获取内圆周长像素值和外圆周长像素值，从而获得所述内圆周长和所述外圆周长，根据内圆周长和外圆周长，便可以得到密封圈的内径和截面直径，可以有效提升测量密封圈尺寸效率。

本申请还提供一种密封圈检测***，包括上述密封圈检测设备和图像采集设备。

本申请所提供的密封圈检测***，通过在接收到的密封圈灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，即提取边沿点，然后获取边沿点之间的距离，再根据边沿点之间的距离，获取内圆周长像素值和外圆周长像素值，从而获得所述内圆周长和所述外圆周长，根据内圆周长和外圆周长，便可以得到密封圈的内径和截面直径，可以有效提升测量密封圈尺寸效率。

可选的，在本申请的一个实施例中，密封圈检测***还包括照明设备，为密封圈提供正面光源和背面光源。

可选的，在本申请的一个实施例中，密封圈检测***还包括自动传送设备，将密封圈传送到采集图像的位置，取代手动传送，提升效率。

下面以一具体情况，对本申请中密封圈检测方法进行进一步阐述。

自动传送设备将密封圈送到图像采集位置，在密封圈的背面开启照明设备，即为密封圈提供背面光源，图像采集设备直接采集到密封圈的第一灰度图像，然后关闭光源设备，在密封圈的正面面开启照明设备，即为密封圈提供正面光源，将第二灰度图像发送至密封圈检测设备。

密封圈检测设备接收到第一灰度图像后，先对第一灰度图像进行灰度截取，然后对第一灰度图像中密封圈的内圆和外圆分别进行边沿查找，即提取内圆和外圆的边沿点，一方面，分别获取内圆和外圆边沿点之间的距离，得到内圆周长像素值和外圆周长像素值，再将内圆周长像素值和外圆周长像素值乘以系数后，得到密封圈实际的内圆周长和外圆周长，再根据圆的周长公式，得到内圆半径和外圆半径，内圆半径即密封圈的内径，内圆半径和外圆半径的差值即为密封圈的截面直径；另一方面，将边沿点拟合为圆后，得到密封圈的圆心，然后在内圆提取的边沿点中，依次获取相邻两个边沿点距圆心的距离，当距离差超过第一阈值时，确定密封圈内圆存在毛边，在外圆提取的边沿点中，依次获取相邻两个边沿点距圆心的距离，当距离差超过第一阈值时，确定密封圈外圆存在毛边。

密封圈检测设备接收到第二灰度图像后，对第二灰度图像中密封圈表面部分进行边沿查找，得到密封圈表面灰度发生变化的灰度变化点，进而得到每个灰度变化点的灰度差，将所有灰度变化点的灰度差求和，得到灰度差之和，当灰度差之和超过第二阈值时，便可以确定密封圈表面存在破损。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。

以上对本申请所提供的密封圈检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以对本申请进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。

Claims (9)

1.一种密封圈检测方法，其特征在于，包括：

接收密封圈的灰度图像；

对所述灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，其中，内圆周长小于外圆周长；

获取边沿点之间的距离；

根据所述边沿点之间的距离，获取内圆周长像素值和外圆周长像素值，以便获得所述内圆周长和所述外圆周长；

根据所述内圆周长和所述外圆周长，确定所述密封圈的内径和截面直径；

在所述接收密封圈的灰度图像之后还包括：

对所述灰度图像中密封圈表面进行所述边沿查找，以获取位于所述密封圈表面的所有灰度变化点；

获取每个所述灰度变化点的灰度差，以得到所有的所述灰度变化点的灰度差之和；

当所述灰度差之和超过第二阈值时，确定所述密封圈存在破损。

2.如权利要求1所述的密封圈检测方法，其特征在于，在所述对所述灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，其中，内圆周长小于外圆周长之前还包括：

对所述灰度图像进行灰度截取。

3.如权利要求2所述的密封圈检测方法，其特征在于，在所述对所述灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，其中，内圆周长小于外圆周长之后，还包括：

分别获取相邻的所述边沿点距所述密封圈的圆心的距离；

当距离差值超过第一阈值时，确定所述密封圈存在毛边。

4.如权利要求1至3任一项所述的密封圈检测方法，其特征在于，当确定所述密封圈的内径和截面直径、确定所述密封圈是否存在毛边时，所述灰度图像在所述密封圈背面的光源开启下采集得到，其中，所述背面与所述密封圈被采集面相背。

5.如权利要求1所述的密封圈检测方法，其特征在于，当确定所述密封圈是否存在破损时，所述灰度图像在所述密封圈正面的光源开启下采集得到，其中，所述正面为所述密封圈被采集面。

6.如权利要求5所述的密封圈检测方法，其特征在于，在所述当所述灰度差之和超过第二阈值时，确定所述密封圈存在破损之后还包括：

将检测结果保存至数据库中，以便查询所述检测结果。

7.一种用于实现如权利要求1所述的密封圈检测方法的密封圈检测装置，其特征在于，包括：

接收模块，用于接收密封圈的灰度图像；

边沿查找模块，用于对所述灰度图像中的内圆和外圆分别进行边沿查找，其中，内圆周长小于外圆周长；

第一获取模块，用于获取边沿点之间的距离；

第二获取模块，用于根据所述边沿点之间的距离，获取内圆周长像素值和外圆周长像素值，以便获得所述内圆周长和所述外圆周长；

确定模块，用于根据所述内圆周长和所述外圆周长，确定所述密封圈的内径和截面直径。

8.一种密封圈检测设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述密封圈检测方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述密封圈检测方法的步骤。

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