CN109557447A - 一种电源管理类ic测试*** - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电源管理类IC测试***,其特征在于,包括:OS参数测试模块、输出电压测试模块、频率参数测试模块、接口通讯模块、显示模块、功能选择模块和CPU功能模块;所述接口通讯模块主要包括:TTL接口和RS232接口,TTL接口主要用来机械手或分选机进行通讯,实现批量生产过程中的好坏分类,RS232接口主要用于和PC机通讯,用来实现将测试过程中的相关数据上传到PC端接收;所述频率参数测试模块,就是测试电源管理芯片的实际工作频率及其他需要测试的频率;所述输出电压测试模块,主要用于测试电源管理芯片的输出端电压值。本发明与通用测试***相比,本测试***增添了频率测试模块和输出电压测试模块,少了需要等待的时间,提高测试的合格率。
Description
技术领域
本发明涉及电源管理类IC测试技术领域,尤其涉及一种电源管 理类IC测试***。
背景技术
电源管理芯片时电子设备***中的能量管理中心,担负着对芯片 或输出电源的分配、电压转换、检测和电池保护等职责,电源管理 芯片是电子***功耗表现的重要支撑,好的电源管理可以大大降低电 子设备的功耗,增加电池的续航能力,改善用户体验,电源管理类芯 片这里主要指锂电池的电源管理IC,在实际的IC测试生产过程中, 需要对其性能参数进行完整测试,以确定其好坏。
传统使用通用测试设备的测试方法通常采用机械手或分选机连 接对设备进行测试,这种测试方法测试时间长,测试的合格率低,生 产成本较高。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中对管理类IC测试时测试时 间长,测试的合格率低,生产成本较高的问题,而提出的一种电源管 理类IC测试***。
为了实现上述目的,本发明采用了如下技术方案:
一种电源管理类IC测试***,包括:OS参数测试模块、输出电 压测试模块、频率参数测试模块、接口通讯模块、显示模块、功能选 择模块和CPU功能模块;
所述显示模块,主要用于显示生产过程中的测试数据,显示内容 包含:生产测试的产品型号,实际的参数参数,分Bin情况,良品百 分比;
所述功能选择模块,主要用来实现实际测试生产过程中测试调试 及控制;
所述接口通讯模块主要包括:TTL接口和RS232接口,TTL接口 主要用来机械手或分选机进行通讯,实现批量生产过程中的好坏分 类,RS232接口主要用于和PC机通讯,用来实现将测试过程中的相 关数据上传到PC端接收;
所述OS参数测试模块,即测试IC管脚上的保护二极管是否完好;
所述频率参数测试模块,就是测试电源管理芯片的实际工作频率 及其他需要测试的频率;
所述输出电压测试模块,主要用于测试电源管理芯片的输出端电 压值;
所述CPU功能模块采用STM32作为微控制器,主要实现对整个系 统所有功能模块的控制,实现芯片测试功能。
优选的,输出电压测试模块中的芯片采用12V供电,输出电压可 直接给两节4.2V的锂电池串联充电,输出的电压在7.9--8.7V之间, 经衰减电路后,直接输入到STM32的ADC部分进行电压采集,最终转 换成实际芯片的输出电压值。
优选的,所述RS232接口主要用于和PC机通讯,用来实现将测 试过程中的相关数据上传到PC端接收,该接口模块主要用于实际的 测试参数项调试。
优选的,所述STM32微控制器的型号为STM32F103,STM32F103 采用QFP100进行封装。
优选的,所述功能选择模块包括5个功能按键:模式设置、START、 PAUSE、STOP、点测;模式设置:测试模式和调试模式两种模式切换; START:生产“开始”功能;PAUSE:生产“暂停”功能,再按一次可 恢复生产;STOP:生产“停止”功能;点测:对某一颗待测试芯片进行手动测试,有效一次,测试一遍,此过程机械手不会进行结果动作。
优选的,一种电源管理类IC测试***的测试方法包括以下步 骤:
6.1)首先进行***初始化,TTL接口、RS232接口、按键输入、 显示模块及其他所有相关电路参数的初始化;
6.2)判断是否开启RS232串口,若打开,则使用PC端接受数 据。否则进行下一步程序;
6.3)开始芯片各项参数的按顺序测试;
6.4)进行OS测试,测试完成后判断结果:如FAIL,则直接跳 到“测试完成”,进行下一颗测试;如PASS,则进行下一项参数测试;
6.5)进行频率测试,测试完成后判断结果:如FAIL,则直接 跳到“测试完成”,进行下一颗测试;如PASS,则进行下一项参数测 试;
6.6)进行输出电压测试,测试完成后判断结果:如FAIL,则 直接跳到“测试完成”,进行下一颗测试;如PASS,则进行下一项参 数测试;
6.7)待所有参数项测试完成后,说明该颗芯片为好品,则进行 下一颗测试,程序从第三步开始重复执行。
与现有技术相比,本发明提供了一种电源管理类IC测试***, 具备以下有益效果:
1、该一种电源管理类IC测试***,通过与通用测试***相比, 本测试***增添了频率测试模块和输出电压测试模块,输出电压测试 模块用于测试电源管理芯片的输出端电压值,频率参数测试模块就是 测试电源管理芯片的实际工作频率及其他需要测试的频率,原理为用 一段小的标准时间来量取大的待测时钟的周期,进而计算出频率,减 少了需要等待的时间,提高测试的合格率。
2、该一种电源管理类IC测试***,由各个模块组成,在一定程 度上降低了生产的成本。
该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以 实现。
附图说明
图1为本发明提出的一种电源管理类IC测试***的逻辑功能图;
图2为本发明提出的一种电源管理类IC测试***的测试方法流 程图;
图3为本发明提出的一种电源管理类IC测试***TLT接口的电 路图;
图4为本发明提出的一种电源管理类IC测试***频率参数测试 模块的部分电路图;
图5为本发明提出的一种电源管理类IC测试***输出电压测试 模块的电路图。
图中:1、CPU功能模块;2、OS参数测试模块;3、频率参数测 试模块;4、输出电压测试模块;5、显示模块;6、功能选择模块;7、 接口通讯模块。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方 案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部 分实施例,而不是全部的实施例。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、 “后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置 关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和 简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方 位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
实施例1:
参考图1-5,一种电源管理类IC测试***,包括:OS参数测 试模块2、输出电压测试模块4、频率参数测试模块3、接口通讯模 块7、显示模块5、功能选择模块6和CPU功能模块1;所述显示模 块5,主要用于显示生产过程中的测试数据,显示内容包含:生产测 试的产品型号,实际的参数参数,分Bin情况,良品百分比;所述功 能选择模块6,主要用来实现实际测试生产过程中测试调试及控制;
所述接口通讯模块7主要包括:TTL接口和RS232接口,TTL接 口主要用来机械手或分选机进行通讯,实现批量生产过程中的好坏分 类,RS232接口主要用于和PC机通讯,用来实现将测试过程中的相 关数据上传到PC端接收;TTL接口使用了光耦芯片对信号进行隔离, 以增强信号的抗干扰能力,提高通讯过程的稳定性,使用了两种光耦 芯片TLP281-1和TLP281-4实现信号隔离,使用LED灯对测试结果进 行指示,更加直观简明,具体测试原理电路图祥见图3;RS232接口 采用具有标准串行通讯协议的MAX3232芯片实现,收发器MAX3232配 备专有的低漏失电压发射器输出状态,通过双电荷泵,在3.0V至5.5V 供压下,表现出真正的RS-232协议器件性能,这些器件只需4个0.1 μF的外部小电容,用于电荷泵。在保持RS-232协议输出电平的前 提下,MAX3232可确保120kbps的数据传输速率,具体测试原理电路图祥见图4;
所述OS参数测试模块2,即测试IC管脚上的保护二极管是否完 好;
所述频率参数测试模块3,就是测试电源管理芯片的实际工作频 率及其他需要测试的频率;其工作原理为用一段小的标准时间来量取 大的待测时钟的周期,进而计算出频率,图5是频率测试的电路,比 较电平设置的是+0.75V(电阻分压获得),实际测量时用比较器 (LM339)将其整形成方波,再进行测量。其中的PD0--PD2是频率输 入端,在STM32内部用使用定时器中断来完成频率的测量,再计算转 化成实际需要的结果,采用该频率测试方法可测量700K以下的频率, 测试范围较大;
所述输出电压测试模块4,主要用于测试电源管理芯片的输出端 电压值;此芯片应用时采用12V供电,输出电压可直接给两节4.2V 的锂电池串联充电,故在测试时需模拟出实际应用条件。其电路如图 5所示,输出的电压在7.9--8.7V之间,经衰减电路后,直接输入到 STM32的ADC部分进行电压采集,最终转换成实际芯片的输出电压值;
所述CPU功能模块1采用STM32作为微控制器,主要实现对整个 ***所有功能模块的控制,实现芯片测试功能,本***采用STM32F103 型号,STM32F103具有以下特点,内核:ARM32位Cortex-M3CPU, 最高工作频率72MHz,1.25DMIPS/MHz,单周期乘法和硬件除法;时钟、复位和电源管理:2.0-3.6V的电源供电和I/O接口的驱动电压, 上电复位(POR)、掉电复位(PDR)和可编程的电压探测器(PVD), 4-16MHz的晶振,内嵌出厂前调校的8MHz RC振荡电路,内部40kHz 的RC振荡电路,用于CPU时钟的PLL,带校准用于RTC的32kHz的 晶振;低功耗:3种低功耗模式:休眠,停止,待机模式,为RTC和 备份寄存器供电的VBAT;最多高达112个的快速I/O端口,I/O端口 可以映射到16个外部中断向量,除了模拟输入,所有的都可以接受 5V以内的输入;使其在测试时测试的性能高,测试的成本低,功率 消耗较小。
实施例2:
通用电源管理类IC测试***包括:OS参数测试模块2、接口通 讯模块7、显示模块5、功能选择模块6和CPU功能模块1,所述显 示模块5,主要用于显示生产过程中的测试数据,显示内容包含:生 产测试的产品型号,实际的参数参数,分Bin情况,良品百分比;
所述功能选择模块6,主要用来实现实际测试生产过程中测试调 试及控制;
所述接口通讯模块7主要包括:TTL接口和RS232接口,TTL接 口主要用来机械手或分选机进行通讯,实现批量生产过程中的好坏分 类,RS232接口主要用于和PC机通讯,用来实现将测试过程中的相 关数据上传到PC端接收;
所述CPU功能模块1采用STM32作为微控制器,主要实现对整个 ***所有功能模块的控制,实现芯片测试功能,所述RS232接口主要 用于和PC机通讯,用来实现将测试过程中的相关数据上传到PC端接 收,该接口模块主要用于实际的测试参数项调试;
所述STM32微控制器的型号为STM32F103,STM32F103采用QFP100 进行封装;
所述功能选择模块6包括5个功能按键:模式设置、START、PAUSE、 STOP、点测;模式设置:测试模式和调试模式两种模式切换;START: 生产“开始”功能;PAUSE:生产“暂停”功能,再按一次可恢复生 产;STOP:生产“停止”功能;点测:对某一颗待测试芯片进行手动 测试,有效一次,测试一遍,此过程机械手不会进行结果动作;
通用电源管理类IC测试***的测试方法,步骤包括:
6.1)首先进行***初始化,TTL接口、RS232接口、按键输入、 显示模块5及其他所有相关电路参数的初始化;
6.2)判断是否开启RS232串口,若打开,则使用PC端接受数据。 否则进行下一步程序;
6.3)开始芯片各项参数的按顺序测试;
6.4)进行OS测试,测试完成后判断结果:如FAIL,则直接跳到 “测试完成”,进行下一颗测试;如PASS,则进行下一项参数测试;
6.5)待所有参数项测试完成后,说明该颗芯片为好品,则进行 下一颗测试,程序从第三步开始重复执行
实施例3:
本测试***电源管理类IC测试,包括:OS参数测试模块2、输 出电压测试模块4、频率参数测试模块3、接口通讯模块7、显示模 块5、功能选择模块6和CPU功能模块1;
所述显示模块5,主要用于显示生产过程中的测试数据,显示内 容包含:生产测试的产品型号,实际的参数参数,分Bin情况,良品 百分比;
所述功能选择模块6,主要用来实现实际测试生产过程中测试调 试及控制;
所述接口通讯模块7主要包括:TTL接口和RS232接口,TTL接 口主要用来机械手或分选机进行通讯,实现批量生产过程中的好坏分 类,RS232接口主要用于和PC机通讯,用来实现将测试过程中的相 关数据上传到PC端接收;所述OS参数测试模块2,即测试IC管脚 上的保护二极管是否完好;
所述频率参数测试模块3,就是测试电源管理芯片的实际工作频 率及其他需要测试的频率;所述输出电压测试模块4,主要用于测试 电源管理芯片的输出端电压值;
所述CPU功能模块1采用STM32作为微控制器,主要实现对整个 ***所有功能模块的控制,实现芯片测试功能;
输出电压测试模块4中的芯片采用12V供电,输出电压可直接给 两节4.2V的锂电池串联充电,输出的电压在7.9--8.7V之间,经衰 减电路后,直接输入到STM32的ADC部分进行电压采集,最终转换成 实际芯片的输出电压值。
所述RS232接口主要用于和PC机通讯,用来实现将测试过程中 的相关数据上传到PC端接收,该接口模块主要用于实际的测试参数 项调试。
所述STM32微控制器的型号为STM32F103,STM32F103采用QFP100 进行封装;所述功能选择模块6包括5个功能按键:模式设置、START、 PAUSE、STOP、点测;模式设置:测试模式和调试模式两种模式切换; START:生产“开始”功能;PAUSE:生产“暂停”功能,再按一次可 恢复生产;STOP:生产“停止”功能;点测:对某一颗待测试芯片进 行手动测试,有效一次,测试一遍,此过程机械手不会进行结果动作。
本测试***电源管理类IC测试方法,步骤包括:
6.1)首先进行***初始化,TTL接口、RS232接口、按键输入、 显示模块5及其他所有相关电路参数的初始化;
6.2)判断是否开启RS232串口,若打开,则使用PC端接受数据。 否则进行下一步程序;
6.3)开始芯片各项参数的按顺序测试;
6.4)进行0S测试,测试完成后判断结果:如FAIL,则直接跳到 “测试完成”,进行下一颗测试;如PASS,则进行下一项参数测试;
6.5)进行频率测试,测试完成后判断结果:如FAIL,则直接跳 到“测试完成”,进行下一颗测试;如PASS,则进行下一项参数测试;
6.6)进行输出电压测试,测试完成后判断结果:如FAIL,则直 接跳到“测试完成”,进行下一颗测试;如PASS,则进行下一项参数 测试;
6.7)待所有参数项测试完成后,说明该颗芯片为好品,则进行 下一颗测试,程序从第三步开始重复执行。
<u></u> | <u>本测试***</u> | <u>通用测试***</u> |
测试数量 | 2327 | 2327 |
<u>BIN1(Pass)</u> | <u>2121</u> | <u>2115</u> |
<u>BIN2(OS)</u> | <u>163</u> | <u>167</u> |
<u>BIN3(频率)</u> | <u>42</u> | <u>44</u> |
<u>BIN4(电压)</u> | <u>1</u> | <u>1</u> |
<u>合格率</u> | <u>91.15%</u> | <u>90.89%</u> |
<u>测试时间</u> | <u>2.5S</u> | <u>2.55S</u> |
与实施例2相比,在实施例3中增加了输出电压测试模块4、频 率参数测试模块3,输出电压测试模块4用于测试电源管理芯片的输 出端电压值,频率参数测试模块3就是测试电源管理芯片的实际工作 频率及其他需要测试的频率,原理为用一段小的标准时间来量取大的 待测时钟的周期,进而计算出频率,如上表可知在增加输出电压测试 模块4、频率参数测试模块3后,本测量***合格率比通用测试*** 的合格率高,且测试所用的时间少。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并 不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范 围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都 应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种电源管理类IC测试***,其特征在于,包括:OS参数测试模块、输出电压测试模块、频率参数测试模块、接口通讯模块、显示模块、功能选择模块和CPU功能模块;
所述显示模块,主要用于显示生产过程中的测试数据,显示内容包含:生产测试的产品型号,实际的参数参数,分Bin情况,良品百分比;
所述功能选择模块,主要用来实现实际测试生产过程中测试调试及控制;
所述接口通讯模块主要包括:TTL接口和RS232接口,TTL接口主要用来机械手或分选机进行通讯,实现批量生产过程中的好坏分类,RS232接口主要用于和PC机通讯,用来实现将测试过程中的相关数据上传到PC端接收;
所述OS参数测试模块,即测试IC管脚上的保护二极管是否完好;
所述频率参数测试模块,就是测试电源管理芯片的实际工作频率及其他需要测试的频率;
所述输出电压测试模块,主要用于测试电源管理芯片的输出端电压值;
所述CPU功能模块采用STM32作为微控制器,主要实现对整个***所有功能模块的控制,实现芯片测试功能。
2.根据权利要求1所述的一种电源管理类IC测试***,其特征在于,输出电压测试模块中的芯片采用12V供电,输出电压可直接给两节4.2V的锂电池串联充电,输出的电压在7.9--8.7V之间,经衰减电路后,直接输入到STM32的ADC部分进行电压采集,最终转换成实际芯片的输出电压值。
3.根据权利要求1所述的一种电源管理类IC测试***,其特征在于,所述RS232接口主要用于和PC机通讯,用来实现将测试过程中的相关数据上传到PC端接收,该接口模块主要用于实际的测试参数项调试。
4.根据权利要求1所述的一种电源管理类IC测试***,其特征在于,所述STM32微控制器的型号为STM32F103,STM32F103采用QFP100进行封装。
5.根据权利要求1所述的一种电源管理类IC测试***,其特征在于,所述功能选择模块包括5个功能按键:模式设置、START、PAUSE、STOP、点测;模式设置:测试模式和调试模式两种模式切换;START:生产“开始”功能;PAUSE:生产“暂停”功能,再按一次可恢复生产;STOP:生产“停止”功能;点测:对某一颗待测试芯片进行手动测试,有效一次,测试一遍,此过程机械手不会进行结果动作。
6.根据权利要求1—5任意所述的一种电源管理类IC测试***的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
6.1)首先进行***初始化,TTL接口、RS232接口、按键输入、显示模块及其他所有相关电路参数的初始化;
6.2)判断是否开启RS232串口,若打开,则使用PC端接受数据。否则进行下一步程序;
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6.4)进行OS测试,测试完成后判断结果:如FAIL,则直接跳到“测试完成”,进行下一颗测试;如PASS,则进行下一项参数测试;
6.5)进行频率测试,测试完成后判断结果:如FAIL,则直接跳到“测试完成”,进行下一颗测试;如PASS,则进行下一项参数测试;
6.6)进行输出电压测试,测试完成后判断结果:如FAIL,则直接跳到“测试完成”,进行下一颗测试;如PASS,则进行下一项参数测试;
6.7)待所有参数项测试完成后,说明该颗芯片为好品,则进行下一颗测试,程序从第三步开始重复执行。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20190402 |
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