CN109540208A - 一种基于光电效应的电路板过孔质量的检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种基于光电效应的电路板过孔质量的检测装置，基于光电效应原理，通过检测棒下端的光电传感器以及工作台上的光源的设置，检测时能够比较光电传感器检测光源经过标准电路板中标准孔后光照强度和待测电路板中待测孔后光照强度的差异来判断过孔的质量，如：孔的位置、孔径和孔的堵塞状况等，若光电传感器检测光源经过待测孔后光照强度与经过标准孔后光照强度的偏差值不在检验标准范围内时，则电路板视为不合格产品；若光电传感器检测光源经过待测孔后光照强度与经过标准孔后光照强度的偏差值在检验标准范围内时，则电路板视为合格产品。本发明适用范围广能检测不同规格、不同孔径的电路板，具有检测效率高、检测时间短和成本低的优点。

Description

一种基于光电效应的电路板过孔质量的检测装置
技术领域
本发明涉及电路板检测技术领域，尤其涉及一种基于光电效应的电路板过孔质量的检测装置。
背景技术
在电路板制作过程中造成孔的质量问题是比较常见的缺陷，如少钻、未钻透、堵孔等，目前对于占有一定比例的未钻透、少钻或者堵孔等缺陷的同一批次产品时，现有的技术是采用目视照孔方式进行检验，而在大批量检验工件的过程中，这种检验方式检验时间长、检验效率低，且极易漏检，另外，也有采用测试探针是否能穿过孔的方法测试孔径是否合格，但是只能测试同一种规格、同一位置孔径的印刷板，否则要根据不同孔的位置重新制作测试板，这种检验方式成本高，检验效率低。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于，提供一种成本低、检验效率高、检验时间短和适用范围广的基于光电效应的电路板过孔质量的检测装置。
为了解决上述技术问题，本发明提供的一种基于光电效应的电路板过孔质量的检测装置，其包括工作台、检测棒、升降杆、连接块、纵向滑轨、横向滑轨和立柱，所述工作台上设有用于固定电路板的夹具，所述立柱的底部固设于所述工作台的一侧，所述纵向滑轨固设在所述立柱的顶部，所述横向滑轨垂直地设置在所述纵向滑轨上，所述横向滑轨能在所述纵向滑轨的长度方向上前后移动，所述连接块设置于在所述横向滑轨上，所述连接块能在所述横向滑轨的长度方向上左右移动，所述升降杆的上端与所述连接块连接，所述升降杆的下端与所述检测棒的上端连接，所述升降杆能驱动所述检测棒上下移动，所述工作台上设有光源，所述光源的光照范围覆盖于整个电路板的底面，所述检测棒设有用于检测光源经过各个待测孔后光照强度的光电传感器。
作为优选的，所述光电传感器的采集端通过光纤引至所述检测棒的下端。
作为优选的，所述纵向滑轨上设有第一驱动机构，所述第一驱动机构的动力输出端与所述横向滑轨连接并能驱动所述横向滑轨在所述纵向滑轨的长度方向上前后移动。
作为优选的，所述横向滑轨上设有第二驱动机构，所述横向滑轨上设有第二驱动机构，所述第二驱动机构的动力输出端与所述连接块连接并能驱动所述连接块在所述横向滑轨的长度方向上左右移动。
作为优选的，所述第一驱动机构为电动推杆。
作为优选的，所述第二驱动机构为电动推杆。
作为优选的，所述升降杆为电动推杆。
作为优选的，所述检测棒与升降杆之间设有弹簧。
作为优选的，所述检测棒的检测头为锥形。
作为优选的，所述检测棒的检测头长度方向上设有直径刻度。
实施本发明的一种基于光电效应的电路板过孔质量的检测装置，与现有技术相比较，具有如下有益效果：
本发明基于光电效应原理，通过检测棒下端的光电传感器以及工作台上的光源的设置，检测时能够比较光电传感器检测光源经过标准电路板中标准孔后光照强度和待测电路板中待测孔后光照强度的差异来判断过孔的质量，如：孔的位置、孔径和孔的堵塞状况等，若光电传感器检测光源经过待测孔后光照强度与经过标准孔后光照强度的偏差值不在检验标准范围内时，则电路板视为不合格产品；若光电传感器检测光源经过待测孔后光照强度与经过标准孔后光照强度的偏差值在检验标准范围内时，则电路板视为合格产品；可见，本发明适用范围广能检测不同规格、不同孔径的电路板，具有检测效率高、检测时间短和成本低的优点。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例的附图作简单地介绍。
图1是本发明提供的一种基于光电效应的电路板过孔质量的检测装置的结构示意图；
图2是本发明提供的一种基于光电效应的电路板过孔质量的检测装置的***示意图；
图中标记：1为工作台，2为检测棒，3为升降杆，4为连接块，5为纵向滑轨，6为横向滑轨，7为立柱，81为标准电路板，82为待检测电路板，9为夹具，10为电机编码，11为光电传感器，12为数据采集模块，13为数据储存模块，14为数据对比模块，15为数据输出模块。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
如图1和图2所示，本发明的一实施例，一种基于光电效应的电路板过孔质量的检测装置，包括工作台1、检测棒2、升降杆3、连接块4、纵向滑轨5、横向滑轨6和立柱7，所述工作台1上设有用于固定电路板的夹具9，所述立柱7的底部固设于所述工作台1的一侧，所述纵向滑轨5固设在所述立柱7的顶部，所述横向滑轨6垂直地设置在所述纵向滑轨5上，所述横向滑轨6能在所述纵向滑轨5的长度方向上前后移动，所述连接块4设置于在所述横向滑轨6上，所述连接块4能在所述横向滑轨6的长度方向上左右移动，所述升降杆3的上端与所述连接块4连接，所述升降杆3的下端与所述检测棒2的上端连接，所述升降杆3能驱动所述检测棒2上下移动，所述工作台1上设有光源，所述光源的光照范围覆盖于整个电路板的底面，所述检测棒2设有用于检测光源经过各个待测孔后光照强度的光电传感器11。
示例性的，所述光电传感器11的采集端通过光纤引至所述检测棒2的下端，可通过调节光纤的粗细来适用于孔径不同尺寸的电路板的过孔检测。
示例性的，所述纵向滑轨5上设有第一驱动机构，所述第一驱动机构的动力输出端与所述横向滑轨6连接并能驱动所述横向滑轨6在所述纵向滑轨5的长度方向上前后移动，所述第一驱动机构优选为电动推杆，实现自动化控制，检测结果准确。
示例性的，所述横向滑轨6上设有第二驱动机构，所述第二驱动机构的动力输出端与所述连接块4连接并能驱动所述连接块4在所述横向滑轨6的长度方向上左右移动，所述第二驱动机构优选为电动推杆，实现自动化控制，检测结果准确。
示例性的，所述升降杆3为电动推杆，实现自动化控制，检测结果准确。
示例性的，所述检测棒2与升降杆3之间设有弹簧，该弹簧起缓冲作用，有效防止检测棒2与电路板之间发生刚性碰撞而造成电路板损坏。
示例性的，所述检测棒2的检测头为锥形，能适用于打通不同孔径的堵孔。
示例性的，所述检测棒2的检测头长度方向上设有直径刻度，可观察过孔直径大小，从而判断过孔直径尺寸是否合格。
实施本发明的一种基于光电效应电路板过孔质量的检测装置，其检测过程如下：
S1：将标准电路板81放入工作台1中，通过第一驱动机构和第二驱动机构将检测棒2依次移动到与标准电路板81中各个标准孔相对的位置，通过数据采集模块12采集第一驱动机构的电机编码10和第二驱动机构的电机编码10器将各个位置的标准坐标数据发送至数据储存模块13中；同时，采集模块采集光电传感器11检测光源经过各个标准孔后的光照强度，并转化为电信号发送至数据储存模块13中；
S2：将待检测电路板82放入工作台1中，升降杆3、纵向滑轨5和横向滑轨6相互配合根据步骤S1得到的标准坐标数据将检测棒2移动到与该标准坐标数据所对应的位置，通过数据采集模块12采集光电传感器11检测光源经过待检测电路板82中待测孔后的光照强度，并转化为电信号发送至数据储存模块13中，由数据对比模块14算出待检测电路板82中待测孔的光照强度是否与标准电路板81中标准孔的光照强度的偏差值；
当待检测电路板82中待测孔的光照强度与标准电路板81中标准孔的光照强度的偏差值不在检验标准范围内时，下降检测棒2使其端部***待测孔中；
若检测棒2的端部不能***待测孔中，则待检测电路板82过孔的位置不对，待检测电路板82视为不合格产品；
若检测棒2的端部能***待测孔中，检测棒2复位，当光电传感器11检测到待检测电路板82中待测孔的光照强度与标准电路板81中标准孔的光照强度的偏差值仍然不在检验标准范围内时，则待检测电路板82过孔的直径尺寸不对，待检测电路板82视为不合格产品；
若检测棒2的端部能***待测孔中，检测棒2复位，当光电传感器11检测到待检测电路板82中待测孔的光照强度与标准电路板81中标准孔的光照强度的偏差值不在检验标准范围内时，则该待测孔视为合格；
S3：重复步骤S2对其它待测孔进行检测，完成待检测电路板82中所有待测孔的检测；
S4：若待检测电路板82为合格产品，通过数据对比模块14向数据输出模块15发送所述待检测电路板82通过检验信息；若待检测电路板82为不合格产品，通过数据对比模块14向数据输出模块15发送所述待检测电路板822通过未检验信息。
还需要说明的是，本发明基于光电效应原理，通过检测棒下端的光电传感器以及工作台上的光源的设置，检测时能够比较光电传感器检测光源经过标准电路板中标准孔后光照强度和待测电路板中待测孔后光照强度的差异来判断过孔的质量，如：孔的位置、孔径和孔的堵塞状况等，若光电传感器检测光源经过待测孔后光照强度与经过标准孔后光照强度的偏差值不在检验标准范围内时，则电路板视为不合格产品；若光电传感器检测光源经过待测孔后光照强度与经过标准孔后光照强度的偏差值在检验标准范围内时，则电路板视为合格产品；由此，本发明适用范围广能检测不同规格、不同孔径的电路板，具有检测效率高、检测时间短和成本低的优点。
以上所揭露的仅为本发明的较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明申请专利范围所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。

Claims (10)

1.一种基于光电效应的电路板过孔质量的检测装置，其特征在于，包括工作台、检测棒、升降杆、连接块、纵向滑轨、横向滑轨和立柱，所述工作台上设有用于固定电路板的夹具，所述立柱的底部固设于所述工作台的一侧，所述纵向滑轨固设在所述立柱的顶部，所述横向滑轨垂直地设置在所述纵向滑轨上，所述横向滑轨能在所述纵向滑轨的长度方向上前后移动，所述连接块设置于在所述横向滑轨上，所述连接块能在所述横向滑轨的长度方向上左右移动，所述升降杆的上端与所述连接块连接，所述升降杆的下端与所述检测棒的上端连接，所述升降杆能驱动所述检测棒上下移动，所述工作台上设有光源，所述光源的光照范围覆盖于整个电路板的底面，所述检测棒设有用于检测光源经过各个待测孔后光照强度的光电传感器。
2.如权利要求1所述的基于光电效应的电路板过孔质量的检测装置，其特征在于，所述光电传感器的采集端通过光纤引至所述检测棒的下端。
3.如权利要求1所述的基于光电效应的电路板过孔质量的检测装置，其特征在于，所述纵向滑轨上设有第一驱动机构，所述第一驱动机构的动力输出端与所述横向滑轨连接并能驱动所述横向滑轨在所述纵向滑轨的长度方向上前后移动。
4.如权利要求1所述的基于光电效应的电路板过孔质量的检测装置，其特征在于，所述横向滑轨上设有第二驱动机构，所述第二驱动机构的动力输出端与所述连接块连接并能驱动所述连接块在所述横向滑轨的长度方向上左右移动。
5.如权利要求3所述的电路板检测孔的方法，其特征在于，所述第一驱动机构为电动推杆。
6.如权利要求4所述的电路板检测孔的方法，其特征在于，所述第二驱动机构为电动推杆。
7.如权利要求1所述的电路板检测孔的方法，其特征在于，所述升降杆为电动推杆。
8.如权利要求1所述的电路板检测孔的方法，其特征在于，所述检测棒与升降杆之间设有弹簧。
9.如权利要求1所述的电路板检测孔的方法，其特征在于，所述检测棒的检测头为锥形。
10.如权利要求9所述的电路板检测孔的方法，其特征在于，所述检测棒的检测头长度方向上设有直径刻度。
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