CN109496270B - 处理装置 - Google Patents

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Abstract

处理装置(100)在内部具有模拟电路，该处理装置具有：设置方向检测部(102)，其对处理装置(100)所设置的姿态进行检测；通电时间测量部(101)，其对向处理装置(100)的通电时间进行测量；以及控制部(104)，其基于设置方向检测部(102)中的检测结果和通电时间测量部(101)中的测量结果，对模拟电路中的处理结果进行校正。由此，处理装置(100)能够缩短模拟电路的稳定动作待机时间。

Description

处理装置
技术领域
本发明涉及能够对模拟电路中的处理结果的变动进行校正的处理装置。
背景技术
无线仪器或者工业用的分散型控制***中的作为控制装置的远程单元这样的仪器，基于仪器的特性，有时以各种方向及角度被进行设置。在专利文献1中公开了下述仪器，即，在框体的内部配置有需要温度补偿的电路和发热量多的发热部。专利文献1的仪器不具有强制性地使仪器的内部的空气进行循环的功能，因此根据仪器的姿态，仪器的内部的热的对流改变，对仪器的内部温度的分布及仪器的内部温度的变化产生影响。因此，专利文献1的仪器从倾斜传感器取得仪器的设置角度的信息，根据与设置角度相对应的校正表格的信息和从温度传感器取得的温度信息，在需要温度补偿的电路中测定出预想的温度。
另一方面，在以温度测定电路为代表的模拟电路中，有时根据温度而电气特性变化，因此会对处理的精度造成影响。因此，具有模拟电路的大多数的仪器，为了满足产品规格，设置有在仪器的内部中的电子部件的发热饱和后直至模拟电路的电气特性稳定为止的待机时间，即，直至模拟电路能够正确地动作为止的稳定动作待机时间。设置有模拟电路的稳定动作待机时间的仪器，直至稳定动作待机时间经过为止无法保证既定的产品规格的精度，因此直至稳定动作待机时间经过为止仪器整体成为空闲状态，在仪器启动后直至运转开始为止需要待机。
专利文献1：日本特开2012－233835号公报
发明内容
在上述的专利文献1的技术中，无法缩短模拟电路的稳定动作待机时间，存在下述问题，即，在仪器启动后直至运转开始为止需要以分钟为单位而待机。
本发明就是鉴于上述情况而提出的，其目的在于得到具有模拟电路，能够缩短模拟电路的稳定动作待机时间的处理装置。
为了解决上述的课题并达到目的，本发明所涉及的处理装置在内部具有模拟电路，该处理装置具有：设置方向检测部，其对处理装置所设置的姿态进行检测；通电时间测量部，其对向处理装置的通电时间进行测量；以及控制部，其基于设置方向检测部中的检测结果和通电时间测量部中的测量结果，对模拟电路中的处理结果进行校正。
发明的效果
本发明所涉及的处理装置具有下述效果，即，得到具有模拟电路，能够缩短模拟电路的稳定动作待机时间的处理装置。
附图说明
图1是表示具有本发明的实施方式1所涉及的处理装置的温度测定***的结构的图。
图2是表示本发明的实施方式1所涉及的处理电路的硬件结构的一个例子的图。
图3是对本发明的实施方式1所涉及的处理装置中的测定对象物的温度测定方法的顺序进行说明的流程图。
图4是表示本发明的实施方式1中的处理装置的设置方向的一个例子的示意图。
图5是表示本发明的实施方式1中的处理装置的设置方向的一个例子的示意图。
图6是表示本发明的实施方式1中的处理装置的设置方向的一个例子的示意图。
图7是表示本发明的实施方式1中的处理装置的设置方向的一个例子的示意图。
图8是表示本发明的实施方式1中的处理装置的设置方向的一个例子的示意图。
图9是表示本发明的实施方式1中的处理装置的设置方向的一个例子的示意图。
图10是表示在本发明的实施方式1所涉及的处理装置的存储部中存储的校正式表格的一个例子的图。
图11是表示在本发明的实施方式1所涉及的处理装置中，在某设置方向和某周围温度的条件下实测出的、输入至热电偶输入部的输入电压和通过A/D变换部进行A/D变换后的A/D变换值的关系的一个例子的特性图。
图12是表示在本发明的实施方式1所涉及的处理装置中，在某设置方向、某周围温度和某热电偶电压的条件下实测出的、通电时间和A/D变换值的实测值的关系的一个例子的特性图。
图13是表示具有本发明的实施方式2所涉及的处理装置的温度测定***的结构的图。
图14是对本发明的实施方式2所涉及的处理装置中的测定对象物的温度测定方法的顺序进行说明的流程图。
具体实施方式
下面，基于附图，对本发明的实施方式所涉及的处理装置详细地进行说明。此外，本发明不受本实施方式限定。
实施方式1.
在本实施方式1中，说明具有实施方式1所涉及的处理装置100的温度测定***20对温度测定对象物的温度进行测定的情况。图1是表示具有本发明的实施方式1所涉及的处理装置100的温度测定***20的结构的图。
温度测定***20具有：热电偶200，其对测定对象物300的温度进行检测，该测定对象物300是被实施温度测定的任意的温度测定对象物；以及处理装置100，其对由热电偶200进行热电变换而检测出的检测值进行校正，对测定对象物300的温度进行计算。由上述的处理装置100和热电偶200构成本实施方式1所涉及的温度测定***20。此外，处理装置100能够构成为具有无线通信功能的远程单元即无线仪器10。此外，无线仪器10具有用于实现无线通信功能的多个电路，但在这里省略说明。因此，在该情况下，在功能上能够认为无线仪器10和处理装置100是相同的。
处理装置100具有：通电时间测量部101，其对从外部电源500向处理装置100的通电时间进行测量；以及设置方向检测部102，其对处理装置100所设置的设置方向进行检测。设置方向是表示诸如处理装置100朝向哪个方向进行设置的处理装置100的姿态的信息。另外，处理装置100具有：控制部104，其进行与输入的测定对象物300的温度相对应的数字值的校正及冷接点补偿，对测定对象物300的温度进行计算；以及存储部103，其对校正式表格进行存储，该校正式表格储存有在控制部104对与测定对象物300的温度相对应的数字值进行校正而计算时所使用的校正式。另外，处理装置100在内部具有：模拟数字(Analog/Digital：A/D)变换部105，其将输入的模拟值变换为数字值；温度传感器106，其对处理装置100的周围温度进行测定；热电偶输入部107，其被输入由热电偶200进行热电变换后的热电动势的电压信号；以及电源部400，其向处理装置100内的各部分供给电源。
通电时间测量部101对在处理装置100的电源接通后从外部电源500向处理装置100通电的通电时间进行测量而发送至控制部104。通电时间测量部101可以在从控制部104被请求发送时对通电时间进行发送。在处理装置100中，从外部电源500向电源部400供给电源，电源部400向处理装置100内的各部分供给电源。
通电时间测量部101能够将对向处理装置100的通电进行检测的电压计和能够对电压计检测出向处理装置100的通电的时间进行测量的时间测量器进行组合而构成，另外也可以使用通常的通电时间测量用计时器。时间测量器使用在微型计算机中内置的计时器功能或者计时器装置这样的装置。在本实施方式1中，在通电时间测量部101中使用通电时间测量用计时器。
设置方向检测部102通过控制部104的控制而启动，以既定的周期对处理装置100所设置的设置方向进行检测而发送至控制部104。设置方向检测部102可以在从控制部104被请求发送时对设置方向进行发送。在设置方向检测部102中，使用能够对处理装置100所设置的设置方向进行检测的传感器。关于在设置方向检测部102中能够使用的传感器，举出加速度传感器、陀螺仪传感器及倾斜传感器。
存储部103存储有校正式表格，该校正式表格储存有根据预先测定出的实测值而求出的校正式，使用诸如闪存存储器或者EEPROM(Electrically Erasable ProgrammableRead－Only Memory)(注册商标)这样的非易失性存储器。
控制部104基于通电时间测量部101中的测量结果和设置方向检测部102中的检测结果，对热电偶输入部107中的处理结果的A/D变换值进行校正。热电偶输入部107中的处理结果是通过热电偶输入部107对在热电偶200的2个金属线201和金属线202之间产生的电压即热电动势进行检测而得到的热电偶检测电压。控制部104基于处理装置100的设置方向的信息和处理装置100的周围温度的信息，从存储部103的校正式表格对适当的校正式进行选择。而且，控制部104使用选择出的校正式，对从热电偶输入部107发送而由控制部104接收到的、在A/D变换部105中进行A/D变换后的热电偶检测电压的A/D变换值即A/D变换值ad进行校正。A/D变换值ad是与测定对象物300的温度相对应的数字值。
另外，控制部104对A/D变换值ad进行冷接点补偿。即，控制部104使用将由温度传感器106检测出的冷接点补偿温度变换为电压而再次在A/D变换部105中进行A/D变换后的值，对A/D变换值ad进行冷接点补偿。
另外，控制部104进行处理装置100整体的控制。如果处理装置100的电源接通，则控制部104进行使通电时间测量部101、设置方向检测部102、温度传感器106和热电偶输入部107启动的控制。
控制部104例如作为图2所示的硬件结构的处理电路而实现。图2是表示本发明的实施方式1所涉及的处理电路的硬件结构的一个例子的图。在控制部104作为图2所示的硬件结构的处理电路而实现的情况下，控制部104是例如由图2所示的处理器601执行在存储器602中存储的程序而实现的。另外，多个处理器及多个存储器可以协同而实现控制部104的功能。另外，也可以将控制部104的功能中的一部分作为电子电路进行安装，将其他部分使用处理器601及存储器602而实现。另外，存储部103能够使用存储器602而实现。
A/D变换部105将由热电偶输入部107检测出的测定对象物300的温度测定值即某热电偶检测电压变换为数字值而发送至控制部104。另外，A/D变换部105将从温度传感器106输入的处理装置100的周围温度被变换为电压值得到的温度测定值变换为数字值而发送至控制部104。
温度传感器106是使用诸如热敏电阻、测温电阻体这样的根据温度而电阻变化的元件构成的。温度传感器106在处理装置100中至少设置有1个，以既定的周期对处理装置100的周围温度进行测定，将测定出的温度变换为电压值而发送至A/D变换部105。作为在由控制部104对温度测定对象物的温度进行校正而计算时所使用的校正用的温度，温度传感器106对处理装置100的周围温度、和在热电偶输入部107中连接有热电偶200的端子部200a的温度即端子部201a及端子部202a的温度进行检测，将测定出的温度变换为电压值而发送至A/D变换部105。即，温度传感器106兼用作端子部200a的冷接点补偿用的温度传感器即用于对由热电偶200得到的热电动势进行补偿的温度传感器、和用于得到处理装置100的周围温度的周围温度测定用的温度传感器，冷接点补偿温度和处理装置100的周围温度使用相同的温度。由此，能够减少温度传感器106的数量，能够实现低成本化。由温度传感器进行检测的检测值是模拟值。
但是，温度传感器106是否能够兼用作周围温度测定用的温度传感器和端子部201a及端子部202a的冷接点补偿用的温度传感器，需要鉴于上述的处理装置100的周围温度和端子部200a的温度的相关关系的精度即同一性的精度、及A/D变换部105中的A/D变换速度这样的各条件而进行研究。可以将周围温度测定用的温度传感器和端子部200a的冷接点补偿用的温度传感器独立地设置。
温度传感器106对处理装置100的形状、在处理装置100内配置的基板的结构及在处理装置100内配置的电路的配置这样的各条件进行考虑，决定配置位置和个数，以使得能够高精度地对处理装置100的周围温度进行检测。此外，在配置有多个温度传感器106的情况下，在控制部104中，使用从多个温度传感器106取得的检测值的平均值。
热电偶输入部107是在仪器内设置的模拟电路，以既定的周期对在热电偶200中热电变换后的热电动势进行检测，将检测出的电压值发送至A/D变换部105。
热电偶200具有2个金属线201和金属线202。热电偶200的金属线201的一端和金属线202的一端被连接，金属线201的另一端与热电偶输入部107的端子部201a连接，金属线202的另一端与热电偶输入部107的端子部202a连接。在热电偶200中热电变换后的热电动势是端子部201a和端子部202a之间的电压。
接下来，对温度测定***20所涉及的测定对象物300的温度测定方法进行说明。图3是对本发明的实施方式1所涉及的处理装置100中的测定对象物300的温度测定方法的顺序进行说明的流程图。在图3中，示出在不具有本实施方式所涉及的处理装置100的情况下发生的、在直至相当于热电偶输入部107的稳定动作待机时间的时间经过为止的期间，对由进行测定对象物300的温度测定时的热电偶输入部107检测出的测定对象物300的温度测定值的误差进行校正、对测定对象物300的温度进行计算的顺序。热电偶输入部107的稳定动作待机时间，是作为模拟电路的热电偶输入部107的与温度有关的电气特性稳定为止的待机时间，即，直至热电偶输入部107能够正确地动作为止的待机时间。下面，有时将相当于热电偶输入部107的稳定动作待机时间的时间称为待机相当时间。
图4至图9是表示本发明的实施方式1中的处理装置100的设置方向的一个例子的示意图。另外，在对由热电偶输入部107检测出的测定对象物300的温度测定值的误差进行校正的情况下，处理装置100取得的信息是处理装置100的设置方向dir、处理装置100的周围温度T、向处理装置100的通电时间t和A/D变换值ad。
首先，在步骤S110中，控制部104将通电时间测量部101的通电时间测量用计时器初始化而将计数值设为0，使通电时间测量用计时器启动而开始向处理装置100的通电时间的测量。在这里，通电时间测量用计时器对以分钟为单位的时间进行更新，对将待机相当时间设为30分钟的情况进行说明。
接下来，在步骤S120中，控制部104从设置方向检测部102读出而取得与如图4至图9所示定义出的处理装置100的设置方向相对应的对应索引。在本实施方式1中，如图4所示，将处理装置100的基准位置100a配置于左侧，且处理装置100的上表面100b朝向下侧而设置有处理装置100的情况下的处理装置100的设置方向dir设为设置方向1。与设置方向1相对应的对应索引即设置方向dir设为“1”。
另外，如图5所示，将以处理装置100的基准位置100a配置于右侧，且处理装置100的上表面100b朝向近端侧的姿态设置有处理装置100的情况下的处理装置100的设置方向dir设为设置方向2。将与设置方向2相对应的对应索引即设置方向dir设为“2”。
另外，如图6所示，将以处理装置100的基准位置100a配置于左侧，且处理装置100的上表面100b朝向近端侧的姿态而设置有处理装置100的情况下的处理装置100的设置方向dir设为设置方向3。将与设置方向3相对应的对应索引即设置方向dir设为“3”。
另外，如图7所示，将以处理装置100的基准位置100a配置于右侧，且处理装置100的上表面100b朝向上侧的姿态而设置有处理装置100的情况下的处理装置100的设置方向dir设为设置方向4。将与设置方向4相对应的对应索引即设置方向dir设为“4”。
另外，如图8所示，将以处理装置100的基准位置100a配置于下侧，且处理装置100的上表面100b朝向近端侧的姿态而设置有处理装置100的情况下的处理装置100的设置方向dir设为设置方向5。将与设置方向5相对应的对应索引即设置方向dir设为“5”。
另外，如图9所示，将以处理装置100的基准位置100a配置于上侧，且处理装置100的上表面100b朝向近端侧的姿态而设置有处理装置100的情况下的处理装置100的设置方向dir设为设置方向6。将与设置方向6相对应的对应索引即设置方向dir设为“6”。
接下来，步骤S130中，控制部104取得与由温度传感器106得到的处理装置100的周围温度相对应的对应索引即周围温度T。处理装置100的周围温度由温度传感器106进行测定，变换为表示测定出的温度的电压值而发送至A/D变换部105。A/D变换部105将从温度传感器106接收到的电压值变换为数字值后的A/D变换值D104发送至控制部104。
控制部104基于A/D变换值D104，取得与处理装置100的周围温度相对应的对应索引即周围温度T。A/D变换值D104是从温度传感器106发送而由控制部104接收到的、将处理装置100的周围温度的电压变换值在A/D变换部105中进行A/D变换后的A/D变换值。控制部104预先保持有表示A/D变换值D104和周围温度T的关系的关系信息。周围温度T例如针对处理装置100的周围温度为0℃、25℃及55℃这3点温度的情况进行了分配。
例如在与0℃至100℃相对应而由热电动势特性示出一阶曲线的特性的热电偶200进行检测的热电偶检测电压为0mV至40mV的模拟值的情况下，将与在A/D变换部105中进行A/D变换后的0mV至40mV的模拟值相对应的数字值设为0～16000。在处理装置100的周围温度为“0℃”的情况下，A/D变换值D104为“0”，对应索引即周围温度T为“0”。在处理装置100的周围温度为“25℃”的情况下，A/D变换值D104为“4000”，对应索引即周围温度T为“1”。在处理装置100的周围温度为“55℃”的情况下，A/D变换值D104为“8800”，对应索引即周围温度T为“2”。
控制部104从上述的关系信息，对与从A/D变换部105接收到的A/D变换值D104相应的周围温度T进行选择，由此取得与处理装置100的周围温度相对应的对应索引即周围温度T。此外，从A/D变换部105接收到的A/D变换值D104并非一定与关系信息一致。在该情况下，对在关系信息中保持的A/D变换值D104中的、与从A/D变换部105接收到的A/D变换值D104接近的A/D变换值所对应的周围温度T进行选择。
接下来，在步骤S140中，控制部104从在存储部103中存储的校正式表格读出校正式。图10是表示在本发明的实施方式1所涉及的处理装置100的存储部103中存储的校正式表格的一个例子的图。校正式表格如图10所示，将设置方向dir和周围温度T作为参数使用并进行了分类。图10所示的校正式表格是将处理装置100的周围温度分类为0℃、25℃及55℃这3点温度而创建出的。控制部104参照在步骤S120和步骤S130中得到的设置方向dir和周围温度T，从校正式表格读出适当的校正式。
在校正式表格中，关于设置方向dir为“1”至“6”的各条件，分配有与周围温度T为“0”至“2”的各条件相对应的校正式AD[dir][T][t][ad]。在这里，校正式AD[dir][T][t][ad]是设置方向dir、周围温度T、通电时间t及A/D变换值ad的函数。而且，通过向校正式AD[dir][T][t][ad]的[dir]、[T]、[t]及[ad]中代入数值，从而能够对校正值进行计算。
通过考虑处理装置100的设置方向而对校正值进行计算，从而即使在通电中仪器的设置方向或者设置角度发生变化而仪器内部的温度分布改变的情况下，也能够将温度分布的变化反映于校正值。通过考虑处理装置100的周围温度而对校正值进行计算，从而即使在通电中仪器内的温度发生变化的情况下，也能够将仪器内的温度的变化反映于校正值。
通过考虑通电时间而对校正值进行计算，从而能够将由通电引起的仪器内的温度的变化反映于校正值。通过考虑A/D变换值ad而对校正值进行计算，从而能够将由A/D变换值ad的大小引起的A/D变换值ad的误差的大小反映于校正值。
校正式AD[dir][T][t][ad]是基于在与上述的设置方向dir和周围温度T相对应的条件下实测出的实测值而预先创建的，存储于控制部104所具有的存储器或者存储部103。
图11是表示在本发明的实施方式1所涉及的处理装置100中，在某设置方向和某周围温度的条件下实测出的、输入至热电偶输入部107的输入电压和通过A/D变换部105进行A/D变换后的A/D变换值ad的关系的一个例子的特性图。输入电压是由热电偶200产生的电压，且是通过由热电偶200生成的热电动势的电压信号进行检测的电压。在图11中，示出通电开始1分钟后、通电开始15分钟后和与热电偶输入部107的稳定动作待机时间相对应的时间经过后。
从图11确认到，在通电开始1分钟后及通电开始15分钟后，从与热电偶输入部107的稳定动作待机时间相对应的时间经过后的稳定的状态的实测值产生了误差。这表示，由于模拟电路即热电偶输入部107的电气特性根据温度而变化，直至待机相当时间经过为止，在实际的输入电压相同的情况下，在由热电偶输入部107检测而进行A/D变换后的A/D变换值ad中也会产生误差。而且，在校正式表格中储存的校正式是为了基于在图11中示出一个例子的实测值，对上述的误差进行校正而创建的。
图12是表示在本发明的实施方式1所涉及的处理装置100中，在某设置方向dir、某周围温度T和某热电偶电压的条件下实测出的通电时间t和A/D变换值ad的实测值的关系的一个例子的特性图。在图12中，示出从通电开始至待机相当时间经过后为止。图12所示的通电时间和A/D变换值ad的实测值是为了创建在存储部103中存储的校正式表格而进行实测的。
从图12确认到，在没有针对A/D变换值ad进行校正的情况下，从待机相当时间经过后的稳定的状态的实测值产生了误差。这表示，由于模拟电路即热电偶输入部107的电气特性根据温度而变化，直至待机相当时间经过为止，在实际的热电偶电压相同的情况下，在由热电偶输入部107检测而进行A/D变换后的A/D变换值ad中也会产生误差。在本实施方式1中，在对该误差进行校正而待机相当时间经过前，也以与待机相当时间经过后相同的精度，高精度地对与热电偶200连接的温度测定对象物即测定对象物300的温度进行测定。
此外，控制部104在步骤S120和步骤S130中取得的设置方向dir和周围温度T，并非一定与在校正式表格中存储的校正式一致。在该情况下，控制部104能够将对能够从校正式表格得到的校正值进行修正后的值用作校正值。
在得到的设置方向dir为设置方向1，且得到的周围温度为30℃的情况下，控制部104能够参考实际测定结果，根据设置方向dir为设置方向1且周围温度为25℃的情况下的校正值和设置方向dir为设置方向1且周围温度为55℃的校正值而以插补方式求出。或者，控制部104也可以使用与得到的周围温度为30℃接近的温度即25℃的情况下的校正值。
接下来，在步骤S150中，控制部104将温度测定周期用计时器初始化而使其启动。
接下来，在步骤S160中，控制部104从A/D变换部105取得A/D变换值ad。
接下来，在步骤S170中，控制部104从通电时间测量部101读出而取得通电时间t。
接下来，在步骤S180中，控制部104从设置方向检测部102读出而取得设置方向dir。
接下来，在步骤S190中，控制部104从温度传感器106读出而取得周围温度。即，控制部104从A/D变换部105读出而取得A/D变换值D104。而且，控制部104基于预先存储的表示A/D变换值D104和周围温度T的关系的关系信息和A/D变换值D104而取得周围温度T。
接下来，在步骤S200中，控制部104基于在步骤S180及步骤S190中取得的设置方向dir和周围温度T，从在存储部103中存储的校正式表格中将适当的校正式读出，对在步骤S140中读出的校正式进行更新。此外，在步骤S140中读出的校正式对于在步骤S180及步骤S190中取得的设置方向dir和周围温度T而言是适当的校正式的情况下，不需要校正式的更新。
接下来，在步骤S210中，控制部104将在从步骤S160至步骤S190中读出的A/D变换值ad、通电时间t、设置方向dir及周围温度T代入至校正式，对校正值进行计算。而且，控制部104将计算出的校正值与在步骤S160中取得的A/D变换值ad相加，对A/D变换值ad进行校正。
接下来，在步骤S220中，控制部104从温度传感器106取得端子部200a的冷接点补偿用的冷接点补偿温度，即端子部200a的温度。在这里，在本实施方式1中，温度传感器106兼用作端子部200a的冷接点补偿用的温度传感器和用于得到处理装置100的周围温度的温度传感器，冷接点补偿温度和处理装置100的周围温度使用相同的温度。因此，控制部104能够将在步骤S190中取得的A/D变换值D104用作冷接点补偿温度。因此，控制部104使在步骤S210中校正后的A/D变换值ad进一步与A/D变换值D104相加，对校正后A/D变换值adc进行计算。由此，得到与作为温度测定对象物的测定对象物300的温度相对应的数字值。该数字值可以以数字值的状态在处理装置100中的未图示的其他功能部中使用，另外也可以根据需要而变换为温度。
另外，在端子部200a的冷接点补偿用的温度传感器和用于得到处理装置100的周围温度的温度传感器独立地设置的情况下，通过端子部200a的冷接点补偿用的温度传感器检测出的冷接点补偿温度变换为电压值，在A/D变换部105中变换为数字值而在控制部104中使用。
接下来，在步骤S230中，控制部104取得温度测定周期用的时间，对作为温度测定周期的1秒是否经过进行判定。在这里，温度测定周期用计时器设为包含于控制部104的功能，但也可以将温度测定周期用计时器与控制部104彼此独立地设置。
在作为温度测定周期的1秒没有经过的情况下，即在步骤S230中为No的情况下，控制部104返回至步骤S230。
另一方面，在作为温度测定周期的1秒经过的情况下，即在步骤S230中为Yes的情况下，在步骤S240中控制部104取得通电时间测量用计时器的时间，对作为待机相当时间的30分钟是否经过进行判定。
在作为待机相当时间的30分钟没有经过的情况下，即在步骤S240中为No的情况下，控制部104返回至步骤S150，执行接下来的温度测定周期的处理。而且，从步骤S150至步骤S240为止的处理设为温度测定周期的1个周期。
另一方面，在作为待机相当时间的30分钟经过的情况下，即在步骤S240中为Yes的情况下，控制部104将一系列的温度测定***20所涉及的测定对象物300的温度测定处理结束。
如上所述，本实施方式1所涉及的处理装置100对应于向处理装置100的通电时间的经过而不断变化，将由模拟电路即热电偶输入部107的温度引起的处理结果的变动针对处理装置100的每个设置方向及处理装置100的每个周围温度而预先实际测定，将基于实际测定出的实测值而创建的校正式作为校正式表格进行保管。
而且，处理装置100基于处理装置100的设置方向的信息和处理装置100的周围温度的信息，从校正式表格对适当的校正式进行选择。另外，处理装置100在选择出的校正式中代入设置方向dir、周围温度T、通电时间t及A/D变换值ad，对校正值进行计算，将计算出的校正值与A/D变换值ad相加，对A/D变换值ad进行校正。
由此，处理装置100对应于向处理装置100的通电时间的经过而不断变化，能够对由模拟电路即热电偶输入部107的温度引起的处理结果的变动针对每个设置方向dir、每个周围温度T、及每个通电时间t进行校正。因此，本实施方式1所涉及的处理装置100得到能够对模拟电路即热电偶输入部107的由温度引起的处理结果的变动进行校正的处理装置。
由此，在本实施方式1所涉及的处理装置100中，能够缩短热电偶输入部107的稳定动作待机时间，能够使由热电偶200生成而输入至热电偶输入部107的热电动势的电压信号的测定精度提高，能够使测定对象物300的温度测定精度提高。即，在本实施方式1所涉及的处理装置100中，在待机相当时间完成前，也能够以与待机相当时间经过后相同的精度，高精度地对与热电偶200连接的温度测定对象物即测定对象物300的温度进行测定。由此，处理装置100能够缩短模拟电路即热电偶输入部107的稳定动作待机时间，能够从启动起以短时间进行满足处理装置100的产品规格的动作。此外，在处理装置100中，在除了模拟电路即热电偶输入部107以外的结构部中，不需要以分钟为单位的空闲时间。
另外，在检查装置或者内置于机器人臂的可动部的仪器搭载有处理装置100，在通电中仪器的设置方向或者设置角度发生变化而仪器内部的温度分布改变的情况下，仪器也能够缩短热电偶输入部107的稳定动作待机时间，能够从启动起以短时间进行满足产品规格的动作。此外，上述中示出了从外部电源500向电源部400供给电源的情况，但也能够构成处理装置100对电池进行搭载而从电池向电源部400供给电源的方式的便携式热电偶温度计。
实施方式2.
在本实施方式2中，对无线仪器在待机相当时间经过前或者待机相当时间经过后被断开电源，然后以短时间将电源再次接通的情况下的、由热电偶输入部107检测出的测定对象物300的温度测定值的误差的校正进行说明。图13是表示具有本发明的实施方式2所涉及的处理装置120的温度测定***40的结构的图。本实施方式2所涉及的处理装置120与实施方式1所涉及的处理装置100的不同点在于，处理装置120具有用于与时刻管理仪器700进行通信的通信部108。因此，本实施方式2所涉及的处理装置120具有基本上与实施方式1所涉及的处理装置100相同的结构及功能。而且，由处理装置120和热电偶200构成本实施方式2所涉及的温度测定***40。此外，处理装置120能够作为具有无线通信功能的远程单元即无线仪器30而构成。此外，无线仪器30具有用于实现无线通信功能的多个电路，但在这里省略说明。因此，在该情况下，能够在功能方面认为无线仪器30和处理装置120是相同的。
时刻管理仪器700对处理装置120用作当前时刻的基准时刻的信息即基准时刻信息进行管理。时刻管理仪器700具有：时刻管理通信部701，其用于与处理装置120进行通信；时刻信息管理部702，其对处理装置120用作当前时刻的基准时刻的信息即基准时刻信息进行管理；以及时刻管理控制部703，其对时刻管理通信部701和时刻信息管理部702进行控制。
处理装置120的通信部108通过通信线800而与时刻管理仪器700的时刻管理通信部701连接，经由通信线800与时刻管理通信部701进行通信。时刻管理仪器700的时刻管理通信部701如果能够向处理装置120的通信部108发送时刻信息，则时刻管理通信部701和通信部108的通信方式是任意的，且在进行无线通信的情况下不需要通信线800。
图14是对本发明的实施方式2所涉及的处理装置120中的测定对象物300的温度测定方法的顺序进行说明的流程图。在图14所示的流程图中，示出设想向处理装置120的以短时间的电源的再次接通，即在处理装置120的电源断开后以短时间的电源的接通，对在直至处理装置120的待机相当时间经过为止的期间进行测定对象物300的温度测定时的由热电偶输入部107检测出的测定对象物300的温度测定值的误差进行校正、对测定对象物300的温度进行计算的顺序。此外，在图14所示的流程图中，关于与图3所示的流程图相同的工序标注有相同的步骤编号。
在对由热电偶输入部107检测出的测定对象物300的温度测定值的误差进行校正的情况下，处理装置120取得的信息是处理装置120的设置方向dir、处理装置120的周围温度T、向处理装置120的通电时间t、A/D变换值ad、当前时刻P1、上一次电源断开时刻P2和上一次通电时间t1。即，在处理装置120的控制部104取得的信息中，在实施方式1的处理装置100的控制部104取得的信息的基础上，追加有当前时刻P1、上一次电源断开时刻P2和上一次通电时间t1。上一次电源断开时刻P2是上一次将处理装置120的电源断开的时刻。上一次通电时间t1是从上一次将处理装置120的电源接通至断开为止的向处理装置120的通电时间。
首先，在步骤S110中，控制部104与图3所示的流程图的步骤S110的情况同样地将通电时间测量部101的通电时间测量用计时器初始化而将计数值设为0，使通电时间测量用计时器启动而开始向处理装置120的通电时间的测量。在这里，通电时间测量用计时器对以分钟为单位的时间进行更新，对将处理装置120的待机相当时间设为30分钟的情况进行说明。
接下来，在步骤S310中，控制部104开始与时刻管理仪器700进行通信，经由时刻管理控制部703、时刻管理通信部701、通信线800及通信部108，从时刻管理仪器700的时刻信息管理部702取得作为当前时刻信息的当前时刻P1。另外，控制部104从通电时间测量部101读出而取得通电时间t。而且，控制部104通过从取得的当前时刻P1减去通电时间t，从而对通电开始时刻P3进行计算。另一方面，时刻管理仪器700在该步骤中，在处理装置120通信开始时，或者在通信刚开始后，时刻管理控制部703从时刻信息管理部702将作为当前时刻信息的当前时刻P1读出，经由时刻管理通信部701发送至处理装置120的控制部104。
接下来，在步骤S320中，控制部104从存储部103读出而取得上一次电源断开时刻P2和上一次通电时间t1。上一次电源断开时刻P2和上一次通电时间t1在上一次将处理装置120的电源断开时，由控制部104存储于存储部103。因此，控制部104具有作为取得上一次通电时间t1的上一次通电时间取得部的功能。此外，也可以与控制部104彼此独立地设置上一次通电时间取得部。
接下来，在步骤S330中，控制部104通过从通电开始时刻P3减去上一次电源断开时刻P2，从而对从上一次电源断开时刻P2至通电开始时刻P3为止的无通电时间p进行计算。即，控制部104具有作为取得无通电时间p的无通电时间取得部的功能。此外，也可以与控制部104彼此独立地设置无通电时间取得部。
接下来，在步骤S340中，控制部104对通电时间t进行校正。在无通电时间p小于作为待机相当时间的30分钟的情况下，控制部104在校正式t[p][t1]中将无通电时间p及上一次通电时间t1代入，对通电时间校正值进行计算，使通电时间t与通电时间校正值相加，对通电时间t进行校正。通电时间校正值是通过无通电时间p及上一次通电时间t1得到的用于对热电偶200中的测定对象物300的温度测定值的误差进行校正的校正值。
校正式t[p][t1]是通过实际测定而预先取得无通电时间p及上一次通电时间t1和热电偶输入部107的误差的关系性，基于实测值而创建的，存储于存储部103。校正式t[p][t1]中的[p]是无通电时间p，[t1]是上一次通电时间t1。控制部104在校正式t[p][t1]中将无通电时间p及上一次通电时间t1代入，对通电时间校正值进行计算，使通电时间t与通电时间校正值相加。另一方面，在无通电时间p大于或等于作为待机相当时间的30分钟的情况下，不需要通电时间t的校正。
处理装置120在待机相当时间经过前或者待机相当时间经过后被断开电源，以短时间将电源再次接通的情况下，由于前一次的驱动所产生的残留热，在电源再次接通后所需的待机相当时间被缩短，有时无法对在实施方式1所示的处理中由热电偶输入部107检测出的测定对象物300的温度测定值的误差正确地进行校正。因此，在处理装置120电源被断开后有可能以短时间在处理装置120将电源再次接通的情况下，控制部104与对处理装置120用作当前时刻的基准时刻信息进行管理的时刻管理仪器700进行通信而取得当前时刻信息，基于上一次电源断开前的通电时间和无通电时间，对代入至校正式AD[dir][T][t][ad]的通电时间进行校正。由此，能够考虑到处理装置120中的前一次的驱动所产生的残留热的影响而对由热电偶输入部107检测出的测定对象物300的温度测定值的误差进行校正。
在步骤S120及其以后，与图3所示的流程图的步骤S120及其以后的处理相同。在该情况下，在步骤S210中，使用在步骤S340中校正后的通电时间t。但是，控制部104为了在通电时间测量部101中对处理装置120的电源断开进行检测而实施下述处理，即，对向处理装置120内或者处理装置120内的特定的功能部的电源供给状态进行监视，在特定的功能部中检测到电源断开的情况下使当前时刻P1和通电时间t存储于存储部103。向特定的功能部的电源供给状态的监视可以通过控制部104以外的专用的电源监视功能部进行。
在该情况下，专用的电源监视功能部及控制部104设为在处理装置120中最后被断开电源的结构。控制部104将向特定的功能部的电源供给状态的监视处理，或者接收来自电源监视功能部的表示检测到特定的功能部的电源断开的情况的电源断开检测信号设为优先级高的中断条件，在图14所示的流程图的各步骤执行前对向特定的功能部的电源供给状态的监视处理或者电源断开检测信号定期地进行确认，由此对处理装置120的电源断开进行检测，实施使当前时刻和通电时间存储于存储部103的处理。
如上所述，本实施方式2所涉及的处理装置120具有实施方式1所涉及的处理装置100所具有的效果。另外，处理装置120在处理装置120在待机相当时间经过前或者待机相当时间经过后被断开电源，以短时间将电源再次接通的情况下，考虑到由处理装置120中的前一次的驱动所产生的残留热的影响，能够对由热电偶输入部107检测出的测定对象物300的温度测定值的由热电偶输入部107的温度引起的误差进行校正。因此，本实施方式2所涉及的处理装置得到在以短时间进行处理装置120的电源的断开及接通的情况下，也能够对模拟电路即热电偶输入部107的由温度引起的处理结果的变动进行校正的处理装置120。
由此，在本实施方式2所涉及的处理装置120中，与实施方式1所涉及的处理装置100同样地，在以短时间进行处理装置120的电源的断开及接通的情况下，也能够缩短热电偶输入部107的稳定动作待机时间，能够使由热电偶200生成而输入至热电偶输入部107的热电动势的电压信号的测定精度提高，能够使测定对象物300的温度测定精度提高。即，在本实施方式2所涉及的处理装置120中，在以短时间进行处理装置120的电源的断开及接通的情况下，在待机相当时间经过前，也能够以与待机相当时间经过后相同的精度，高精度地对与热电偶200连接的温度测定对象物即测定对象物300的温度进行测定。由此，处理装置120能够缩短模拟电路即热电偶输入部107的稳定动作待机时间，能够从启动起以短时间进行满足处理装置120的产品规格的动作。此外，在处理装置120中，在除了模拟电路即热电偶输入部107以外的结构部中，不需要以分钟为单位的空闲时间。
以上的实施方式所示的结构，表示本发明的内容的一个例子，也能够与其他公知技术进行组合，在不脱离本发明的主旨的范围，也能够对结构的一部分进行省略、变更。
标号的说明
10、30无线仪器，20、40温度测定***，100、120处理装置，100a基准位置，100b上表面，101通电时间测量部，102设置方向检测部，103存储部，104控制部，105模拟数字变换部，106温度传感器，107热电偶输入部，108通信部，200热电偶，200a端子部，201、202金属线，201a、202a端子部，300测定对象物，400电源部，500外部电源，601处理器，602存储器，700时刻管理仪器，701时刻管理通信部，702时刻信息管理部，703时刻管理控制部，800通信线，p无通电时间，P1当前时刻，P2上一次电源断开时刻，P3通电开始时刻，t通电时间，t1上一次通电时间。

Claims (5)

1.一种处理装置，其在内部具有模拟电路，
该处理装置的特征在于，具有：
设置方向检测部，其对所述处理装置所设置的姿态进行检测；
通电时间测量部，其对向所述处理装置的通电时间进行测量；以及
控制部，其基于所述设置方向检测部中的检测结果和所述通电时间测量部中的测量结果，对所述模拟电路中的处理结果进行校正。
2.根据权利要求1所述的处理装置，其特征在于，
该处理装置具有无通电时间取得部，该无通电时间取得部取得从上一次将所述处理装置的电源断开的时刻即上一次电源断开时刻至本次将所述处理装置的电源接通的通电开始时刻为止的所述处理装置的无通电时间，
该处理装置具有上一次通电时间取得部，该上一次通电时间取得部取得从上一次将所述处理装置的电源接通至断开为止的向所述处理装置的通电时间即上一次通电时间，
所述控制部基于所述无通电时间和所述上一次通电时间，对所述模拟电路中的处理结果进行校正。
3.根据权利要求1或2所述的处理装置，其特征在于，
具有存储部，该存储部存储有用于对校正值进行计算的校正式，该校正值基于所述设置方向检测部中的检测结果和所述通电时间测量部中的测量结果，对所述模拟电路中的处理结果进行校正。
4.根据权利要求1或2所述的处理装置，其特征在于，
所述模拟电路是与热电偶连接而被输入由所述热电偶生成的热电动势的电压信号的热电偶输入部。
5.根据权利要求3所述的处理装置，其特征在于，
所述模拟电路是与热电偶连接而被输入由所述热电偶生成的热电动势的电压信号的热电偶输入部。
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