CN109427081A - 放射线成像*** - Google Patents

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Abstract

公开了放射线成像***。放射线成像***包括：多个放射线成像装置，多个放射线成像装置中的每个放射线成像装置包括执行成像操作的放射线检测单元，该成像操作用于捕获基于从放射线生成装置照射的放射线的放射线图像；控制装置，与多个放射线成像装置通信；计算单元，计算指示出放射线图像的一部分像素或全部像素是否饱和的信息；以及图像获取单元，从基于所述信息而从所述多个放射线成像装置之中选出的放射线成像装置获取放射线图像。

Description

放射线成像***
技术领域
本发明涉及使用检测照射的放射线成像装置的放射线成像***。
背景技术
近来，随着包括生成基于所照射的放射线的数字放射线图像的放射线成像装置的放射线成像***的数字化被广泛使用。通过放射线成像***的数字化，能够在放射线成像之后立即检查图像，使得与通过使用胶片或CR装置的常规方法执行成像的情况相比，工作流程得到大幅改善，从而使得能够在早期循环中执行放射线成像。
这些放射线成像***包括放射线成像装置和成像控制装置，该成像控制装置接收并使用来自放射线成像装置的放射线图像，并且由放射线成像装置获取的放射线成像作为图像被发送到外部成像控制装置。在用户从多个放射线成像装置之中选择一个放射线成像装置以执行放射线成像的情况下，需要向成像控制装置通知要从哪个放射线成像装置获取图像。成像控制装置与作为通知目标的放射线成像装置通信，以获取图像。当用户使用与作为通知目标的放射线成像装置不同的放射线成像装置时，成像控制装置难以获取放射线图像。
在日本专利特开第2011-177348号中描述的放射线成像***中，多个放射线成像装置能够执行成像，并且成像控制装置从所有多个放射线成像装置获取放射线图像并且选择和使用有意义的放射线图像。
但是，在日本专利特开第2011-177348号中描述的放射线成像***中，存在成像控制装置选择来自错误的放射线成像装置的图像的可能性。
发明内容
考虑到上述问题而提出了本发明，并且提高了选择来自执行成像的多个放射线成像装置的有意义的放射线图像的精度。本发明的放射线成像***包括：多个放射线成像装置，多个放射线成像装置中的每个放射线成像装置包括执行成像操作的放射线检测单元，该成像操作用于捕获基于从放射线生成装置照射的放射线的放射线图像；控制装置，与多个放射线成像装置通信；计算单元，计算指示出放射线图像的一部分像素或全部像素是否饱和的信息；以及图像获取单元，从基于所述信息而从所述多个放射线成像装置之中选出的放射线成像装置获取放射线图像。
根据参考附图对示例性实施例的以下描述，本发明的其它特征将变得清楚。
附图说明
图1是图示出第一实施例的放射线成像***的功能配置的示例的框图。
图2是图示出第一实施例的成像控制装置的内部结构的框图。
图3是图示出第一实施例的放射线成像装置的内部结构的框图。
图4是图示出第一实施例的放射线检测单元的内部结构的框图。
图5是图示出根据第一实施例的放射线成像操作的流程图。
图6是图示出根据第一实施例的获取放射线图像操作的流程图。
图7是图示出根据第二实施例的放射线成像操作的流程图。
图8是图示出根据第二实施例的获取放射线图像操作的流程图。
图9是图示出第三实施例的成像控制装置的功能配置的框图。
图10是图示出第三实施例的放射线成像装置的内部结构的框图。
图11是图示出根据第三实施例的放射线成像操作的流程图。
图12是图示出根据第三实施例的获取放射线图像操作的流程图。
图13是图示出根据第四实施例的获取放射线图像操作的流程图。
具体实施方式
在下文中，将参考附图描述本发明的期望实施例。要注意的是，以下实施例不限制并且为实现实施例的功能，实施例中描述的特征的所有组合并不总是必需的。要注意的是，除了用作由放射性衰变发射的粒子(包括光子)形成的射束的α射线、β射线和γ射线外，本发明中的放射线还可以包括具有相似程度的能量或更多能量的射束，比如X射线、粒子射束和宇宙射线。
(第一实施例)
图1是图示出第一实施例中的放射线成像***的功能配置的示例的图。本实施例的放射线成像***包括：放射线生成装置104，多个放射线成像装置(每个放射线成像装置基于从放射线生成装置104照射的放射线生成图像)，以及与多个放射线成像装置通信的控制装置。在本实施例中，给出成像控制装置101作为控制装置的示例，并且提供第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103作为多个放射线成像装置的示例。响应于曝光开关1041的“接通”，放射线生成装置104将照射开始通知发送到所有可用的放射线成像装置。接收照射开始通知的每个放射线成像装置开始成像操作(电荷的积累)并将照射许可通知发送到放射线生成装置104。放射线生成装置104从所有可用的放射线成像装置(在本实施例中为第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103)接收照射许可通知并利用放射线执行照射。这种操作，提供了放射线生成装置104与放射线成像装置102和103的同步。
成像控制装置101与连接到其的第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103通信，并控制放射线成像。成像控制装置101还与放射线生成装置104通信，并获取在从放射线生成装置104照射放射线时的信息。要注意的是，放射线成像装置的数量不限于两个，而可以是三个或更多个。在本实施例中，将作为示例描述其中包括两个放射线成像装置的配置。
图2图示出成像控制装置101的内部结构。如图2所示，在成像控制装置101中，控制单元1011控制信息设置单元1012、信息获取单元1013、选择单元1014、图像获取单元1015和状态管理单元1016。信息设置单元1012将像素特性信息和/或从放射线生成装置104获取的照射信息设置到多个放射线成像装置(第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103)。稍后将详细描述像素特性信息和照射信息。
信息获取单元1013从多个放射线成像装置之中的每个放射线成像装置获取基于放射线图像的信息，并且从放射线生成装置104获取当放射线被照射时的照射信息。选择单元1014基于由信息获取单元1013获取的信息来从多个放射线成像装置之中选出一个放射线成像装置。图像获取单元1015从由选择单元1014选出的一个放射线成像装置获取放射线图像。状态管理单元1016与第一放射线成像装置102或第二放射线成像装置103通信以管理和控制其状态。
图3图示出第一放射线成像装置102的内部结构。如图3所示，放射线成像装置102包括：放射线检测单元1021、成像执行单元1022、存储单元1023、成像信息生成单元1024、设置单元1025、计算单元1026、通信单元1027和电源单元1028。放射线检测单元1021包括检测从放射线生成装置104照射的放射线、将放射线转换成电荷并且积累电荷的功能。存储单元1023例如存储通过成像执行单元1022的成像操作而生成的放射线图像、从成像控制装置101接收的像素特性信息和照射信息。
存储单元1023是读取和写入的设备并且其示例包括诸如RAM之类的易失性存储器。但是，存储单元1023不限于此，并且可以是诸如闪存之类的非易失性存储器。成像信息生成单元1024具有基于存储在存储单元1023中的放射线图像来生成数据大小小于放射线图像的数据大小的成像信息的功能。设置单元1025包括将经由通信单元1027从成像控制装置101接收的图像判定条件和从成像控制装置101或放射线生成装置104接收的照射信息设置到存储单元1023的功能。虽然在本实施例中从成像控制装置101接收的像素特性信息被设置在存储单元1023中，但是能够进行配置以使得像素特性信息被预先存储在每个放射线成像装置的存储单元1023中。尽管在本实施例中从放射线生成装置104接收的照射时间被设置在存储单元1023中，但是能够进行配置以使得放射线成像装置自主地计算在执行成像操作时的照射时间，并将照射时间设置在存储单元1023中。
计算单元1026包括基于由成像操作生成的放射线图像或由成像信息生成单元1024生成的成像信息以及由设置单元1025存储的像素特性信息来生成像素饱和信息的功能。在这里，像素饱和信息是指示出放射线图像的一部分像素或全部像素是否饱和的信息。通信单元1027包括在任何定时将存储在存储单元1023中的放射线图像、由成像信息生成单元1024生成的成像信息或者像素饱和信息发送给成像控制装置101的功能。通信单元1027还包括向设置单元1025通知从成像控制装置101通知的像素特性信息或时间信息的功能。
成像执行单元1022包括通过控制放射线检测单元1021并使存储单元1023存储所生成的放射线图像来执行成像操作的功能。电源单元1028包括向第一放射线成像装置102的每个单元供电的电路。第二放射线成像装置103也具有相似的功能配置。
图4图示出放射线检测单元1021的示例。放射线检测单元1021包括：二维传感器阵列10211、驱动电路10212、采样和保持电路10213、多路复用器10214、放大器10215以及模数转换器10216。由驱动电路10212同时寻址二维传感器阵列10211的一行中的所有像素，并且行中的像素的电荷被保持在采样和保持电路10213中的电荷积累操作被执行。然后，从像素输出的存储的电荷通过多路复用器10214被顺序地读取并由放大器10215放大，然后由模数转换器10216转换成数字值。每次每行的扫描完成时，驱动器电路10212顺序地驱动并扫描二维传感器阵列10211的下一行，并且最终，从所有像素输出的电荷转换成数字值的图像生成操作被执行。
在此时，在施加到每个列信号线的电压被固定为特定值的同时执行扫描，并且丢弃所获取的电荷，使得暗电荷被放电，然后执行成像准备操作，成像准备操作是初始化二维传感器阵列10211的扫描。放射线检测单元1021的成像准备操作、电荷积累操作和图像生成操作由成像执行单元1022控制。被转换成数字值的图像经历偏移校正，在该偏移校正中从放射线图像中减去仅从在不发射放射线的情况下的暗电荷分量获取的偏移图像，由此使得能够获得从中去除不必要的暗电荷分量的放射线图像。
图5是图示出第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103的从准备放射线成像到执行放射线成像的操作的示例的流程图。
在步骤S101处，第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103处于待机状态。在待机状态下，在放射线成像装置和成像控制装置101之间建立通信。
在步骤S102处，成像控制装置101(信息设置单元1012)向所有可用的放射线成像装置发送用于评价放射线图像的像素值的、指示出放射线成像装置的各个像素的像素特性的像素特性信息。在本实施例中，第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103是可用的放射线成像装置。第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103中通过使用设置单元1025将经由通信单元1027接收的像素特性信息存储在存储单元1023中。在这里，进行如下设置：饱和放射线图像的像素值的平均值(在下文中，饱和像素平均值)被用作像素特性信息。
像素特性信息不限于此，并且例如可以使用饱和放射线图像的像素值的最大值、中值、方差值，或者根据放射线检测单元1021的输出性能计算出的像素值的最大值。像素值可以是亮度值或者可以是浓度值。尽管在本实施例中成像控制装置101将饱和像素平均值作为像素特性信息设置给第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103中的每个，但是可以进行配置以使得每个放射线成像装置预先存储饱和像素平均值。上述饱和像素平均值可以在放射线成像装置之间不同或共用。
在步骤S103处，成像控制装置101(状态管理单元1016)向第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103发送将状态转移到成像使能状态的转移指令。
在步骤S104处，响应于来自成像控制装置101的转移指令，第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103被转移到成像使能状态，并且通知成像控制装置101状态被转移到成像使能状态。
在步骤S105处，第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103与放射线生成装置104同步地执行放射线成像。
在步骤S106处，第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103通知成像控制装置101在第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103中的每个中执行了放射线成像。
在步骤S107中，成像控制装置101(信息设置单元1012)向通知了成像被执行的所有放射线成像装置发送放射线生成装置104照射放射线的时间(下文中的照射时间)作为照射信息。在本实施例中，第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103是通知了成像被执行的放射线成像装置。第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103中通过使用设置单元1025将经由通信单元1027接收的照射时间设置在存储单元1023中。
在本实施例中，设置成像控制装置101(信息设置单元1012)向第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103发送放射线生成装置104照射放射线的时间(照射时间)。但是，代替步骤S107，可以提供如下步骤：第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103中的每个在成像操作被执行时自主地计算放射线生成装置104照射放射线的时间，并且将该时间设置在存储单元1023中。
设置单元1025可以基于照射时间来线性地衰减饱和像素平均值。饱和像素平均值的衰减不限于线性衰减，而例如可以是指数衰减、对数衰减或其中组合多个类型的衰减的衰减。这使得即使对于利用由于长时间的放射线照射而饱和的像素值所生成的放射线图像，也能够进行适当的判定。
图6是图示出在由第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103执行放射线成像之后、直到由成像控制装置101获取放射线图像为止的操作的示例的流程图。
在步骤S201处，第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103中的成像信息生成单元1024生成所生成的放射线图像的像素值的统计信息作为成像信息，并将该统计信息设置在存储单元1023中。在这里，作为是成像信息的统计信息的示例，使用放射线图像的像素值的平均值(下文中的像素平均值)。作为成像信息的统计信息不限于此，并且可以使用与像素特性信息可比较的信息。例如，可以使用放射线图像的像素值的最大值、中值、方差值等。可替代地，可以使用诸如彼此相邻的像素的像素值之间的差的最大值或者像素值的最大值和最小值之间的宽度之类的统计信息。
此外，可以生成两条或更多条统计信息。作为统计信息的示例，可以使用放射线图像的像素值的变化(下文中的像素值变化)。放射线图像的像素值变化例如可以是以下项中的任一个：放射线图像的像素值的中值、方差值、像素值的最大值和最小值之间的宽度、直方图、统计分布函数等。像素值可以是亮度值或浓度值。
在步骤S202处，第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103中的每个的计算单元1026通过使用作为存储在存储单元1023中的像素特性信息的饱和像素平均值，根据作为成像信息的像素平均值来计算像素饱和信息。在这里，像素饱和信息是指示出放射线图像的一部分像素或全部像素是否饱和的信息。当像素平均值不小于饱和像素平均值时，计算单元1026计算出指示出放射线图像的一部分像素或全部像素是饱和(下文中的饱和状态)的信息作为像素饱和信息。当像素平均值大于或等于饱和像素平均值时，计算单元1026计算出指示出放射线图像的像素不饱和(下文中的非饱和状态)的信息作为像素饱和信息。通信单元1028将计算出的像素饱和信息发送到成像控制装置101。
在步骤S203处，成像控制装置101(信息获取单元1013)从第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103获取在步骤S201生成的作为成像信息的像素平均值和在步骤S202计算的像素饱和信息。
在步骤S204处，成像控制装置101(选择单元1014)在考虑在步骤S203获取的像素饱和信息的同时比较在步骤S203处获取的作为成像信息的像素平均值。作为成像信息的像素平均值各自包括比放射线图像的数据大小小的数据大小。在这里，当所有放射线成像装置的像素饱和信息指示出非饱和状态时，选择单元1014选择提供最大像素平均值的放射线成像装置。
当一个或多个放射线成像装置的像素饱和信息指示出饱和状态并且至少一个或多个放射线成像装置的像素饱和信息指示出非饱和状态时，选择单元1014选择包括指示出非饱和状态的像素饱和信息并提供最大像素平均值的放射线成像装置。当所有放射线成像装置的像素饱和信息指示出饱和状态时，选择单元1014可以选择较早通知执行了放射线成像的放射线成像装置。以这种方式，通过基于指示出放射线图像的像素的一部分像素或全部像素是否饱和的像素饱和信息来选择放射线成像装置，提高了选择来自能够成像的多个放射线成像装置的有意义的放射线图像的精度。
在步骤S205处，成像控制装置101(图像获取单元1015)从在步骤S204选择的放射线成像装置(在这里被设置为第一放射线成像装置102)获取放射线图像。即，成像控制装置101向第一放射线成像装置102请求图像，并且第一放射线成像装置102的通信单元1027响应于来自成像控制装置101的对图像的请求而向成像控制装置101发送放射线图像。
如上所述，在利用处于成像使能状态的多个放射线成像装置执行放射线成像的***中，成像控制装置101基于第一成像信息(例如，像素平均值)以及基于放射线图像的像素饱和信息来选择从其获取放射线图像的放射线成像装置。即，成像控制装置101选择捕获其中像素不饱和的放射线图像的放射线成像装置。因此，与通过比较仅基于从所有放射线成像装置捕获的放射线图像的成像信息(例如，像素平均值)来获取放射线图像的配置相比，成像控制装置101选择捕获有意义的放射线图像的放射线成像装置。因而，实现如下的放射线成像***：其在降低由于再成像而导致无效曝光的可能性的同时获取有意义的放射线图像。
(第二实施例)
第二实施例的放射线成像***的功能配置与第一实施例的放射线成像***的功能配置(图1)类似。第二实施例中的成像控制装置的内部结构与第一实施例的成像控制装置的内部结构(图2)类似。第二实施例中的信息获取单元1013获取像素平均值和像素值变化作为成像信息。第二实施例中的选择单元1014基于作为成像信息的像素平均值和像素值变化来从多个放射线成像装置之中选择一个放射线成像装置。第二实施例的放射线成像装置的内部结构与第一实施例的放射线成像装置的内部结构(图3)类似。第二实施例中的成像信息生成单元1024包括以下功能：除了第一成像信息之外，还基于存储在存储单元1023中的放射线图像或像素平均值来生成像素值变化。除了第一实施例的功能之外，第二实施例中的通信单元1027还包括发送由成像信息生成单元1024生成的像素值变化的功能。
图7是图示出第二实施例的第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103的从准备放射线成像到执行放射线成像的操作的示例的流程图。对于与第一实施例的操作(图5)类似的操作给予相同的步骤编号，并且将省略其详细描述。
在步骤S301处，成像控制装置101(信息设置单元1012)向所有可用的放射线成像装置发送像素特性信息和照射时间(下文中的基准照射时间)作为基准。第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103中通过使用设置单元1025将经由通信单元1027接收的像素特性信息和基准照射时间存储在存储单元1023中。在这里，饱和像素平均值被用作像素特性信息。
图8是图示出在由第二实施例的第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103执行放射线成像之后、直到成像控制装置101获取放射线图像为止的操作的示例的流程图。对于与第一实施例的操作(图6)类似的操作给予相同的步骤编号，并且将省略其详细描述。
在步骤S401处，第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103中的成像信息生成单元1024生成所生成的放射线图像的像素值的统计信息作为成像信息，并将该统计信息设置在存储单元1023中。在这里，作为成像信息，使用像素平均值和像素值变化。
在步骤S402处，第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103中的计算单元1026通过使用存储在存储单元1023中的饱和像素平均值、像素值变化、基准照射时间和照射时间来根据像素平均值生成像素饱和信息。当像素平均值大于或等于饱和像素平均值并且照射时间短于基准照射时间时，计算单元1026计算出指示出放射线图像的像素饱和(在下文中的饱和状态)的信息作为像素饱和信息。当像素平均值小于饱和像素平均值且照射时间等于或大于基准照射时间时，计算单元1026计算出指示出放射线图像的像素过度饱和(下文中的过饱和状态)的信息作为像素饱和信息。当像素平均值小于饱和像素平均值并且照射时间短于基准照射时间时，计算单元1026计算出指示出放射线图像的像素不饱和(下文中的非饱和状态)的信息作为像素饱和信息。当进行其中从由于长时间的放射线照射而饱和的放射线图像中减去根据在不发射放射线的情况下的暗电荷分量而获取的偏移图像的偏移校正时，在下面描述的步骤S404中适当地判定放射线成像装置。
在步骤S403处，成像控制装置101(信息获取单元1013)从第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103获取在步骤S401处计算的像素平均值和像素值变化以及在步骤S402处计算的像素饱和信息。在步骤S404处，成像控制装置101(选择单元1014)在考虑在步骤S403处获取的像素饱和信息和像素值变化的同时比较在步骤S403获取的像素平均值。
当所有放射线成像装置的像素饱和信息指示出非饱和状态时，选择单元1014选择提供最大像素平均值的放射线成像装置。此外，当至少一个或多个放射线成像装置的像素饱和信息指示出饱和状态并且至少一个或多个放射线成像装置的像素饱和信息指示出非饱和状态时，选择单元1014选择具有指示出非饱和状态的像素饱和信息并提供最大像素平均值的放射线成像装置。可替代地，当至少一个或多个放射线成像装置的像素饱和信息指示出非饱和状态并且至少一个或多个放射线成像装置的像素饱和信息指示出过饱和状态时，选择单元1014选择具有指示出非饱和状态的像素饱和信息并提供最大像素平均值的放射线成像装置。
选择单元1014还可以比较像素值变化，以选择提供最大像素值变化的放射线成像装置。当所有放射线成像装置的像素饱和信息指示出饱和状态时，选择单元1014可以选择较早地通知执行了放射线成像的放射线成像装置。当所有放射线成像装置的像素饱和信息指示出过饱和状态时，选择单元1014可以选择较早地通知执行了放射线成像的放射线成像装置。当至少一个或多个放射线成像装置的像素饱和信息指示出饱和状态并且至少一个或多个放射线成像装置的像素饱和信息指示出过饱和状态时，选择单元1014可以选择较早地通知执行了放射线成像的放射线成像装置。
如上所述，根据第二实施例，像素值的像素值变化被进一步作为成像信息生成。通过使用基准照射时间，选择单元1014通过考虑由于长时间的放射线照射而引起的过饱和状态来进行选择。因此，提高了选择来自多个放射线成像装置的有意义的放射线图像的精度。能够实现如下的放射线成像***：其在降低由于再成像而导致无效曝光的可能性的同时获取有意义的放射线图像。
(第三实施例)
第三实施例的放射线成像***的功能配置与第一实施例的放射线成像***的功能配置(图1)类似。图9图示出第三实施例中的成像控制装置的内部结构。对于与第一实施例的结构(图2)类似的结构给予相同的标号。第三实施例的成像控制装置101被配置为除了第一实施例的结构之外还包括：照射时间存储单元1017、像素特性信息存储单元1018、特性信息存储单元1019、信息校正单元1020和计算单元1026。除了与第一实施例的功能类似的功能之外，信息获取单元1013还包括从多个放射线成像装置获取像素特性信息和放射线成像装置的装置特性信息的功能。
照射时间存储单元1017存储其间照射放射线并且从放射线生成装置104获取的时间。像素特性信息存储单元1018存储多个放射线成像装置中的每个的像素特性信息。特性信息存储单元1019存储指示出多个放射线成像装置中的每个的特性并且由信息获取单元1012获取的装置特性信息。装置特性信息的示例包括指示出当放射线成像装置中的接收放射线的元件接收1mR(毫伦)的放射线时能够被转换的像素值的灵敏度信息。作为灵敏度信息，例如，可以使用在预定条件下用放射线照射放射线成像装置时能够获取的像素平均值的目标值与实际获取的像素平均值的比率。
当放射线成像装置是其中将放射线转换成光的荧光体和将光转换成电荷的光电转换元件被组合使用的放射线成像装置时，目标值可以基于荧光体的种类来定义。荧光体种类的示例包括碘化铯(CsI)或氧硫化钆(GOS)。此外，作为灵敏度信息，可以使用在预定条件下执行放射线成像时所生成的图像(增益图像)。灵敏度信息可以被周期性地更新或者可以在制造过程中确定。
如上所述，装置特性信息不限于灵敏度信息。例如，可以使用有效像素信息或无效像素信息(缺陷像素信息)作为装置特性信息。可以使用通过在不向放射线成像装置发射放射线的情况下执行成像操作而获得的暗图像校正信息(或暗图像)作为装置特性信息。可替代地，装置特性信息例如可以包括用于校正上面提到的特性信息(例如，灵敏度信息)的校正信息(灵敏度校正信息)，诸如放射线成像装置的成像环境(诸如大气温度或者放射线成像装置本身的温度)或由于依赖时间的变化引起的恶化的信息。多个放射线成像装置的装置特性信息不限于此，并且可以组合使用多条装置特性信息。
信息校正单元1020基于存储在装置特性信息存储单元1019中的装置特性信息来校正由信息获取单元1013从多个放射线成像装置获取的成像信息以及存储在像素特性信息存储单元1018中的像素特性信息。计算单元1026融合经校正的像素特性信息，根据经校正的成像信息生成像素饱和信息。选择单元1014基于由计算单元1026计算的像素饱和信息和其间执行照射的照射时间来从多个放射线成像装置(本实施例中的第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103)之中选择一个放射线成像装置。
图10图示出第三实施例中的放射线成像装置的内部结构。对于与第一实施例的结构(图3)类似的结构给予相同的标号。第三实施例的放射线成像装置具有其中设置单元1025和计算单元1026被排除在第一实施例的结构(图3)之外的结构。
图11是图示出第三实施例的第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103的从准备放射线成像到执行放射线成像的操作的示例的流程图。对于与第一实施例的操作(图5)类似的操作给予相同的步骤编号，并且将省略其详细描述。
在步骤S501处，将由成像控制装置101的信息获取单元1012获取的多个放射线成像装置中的每个的饱和像素平均值存储在像素特性信息单元1018中作为像素特性信息。在本实施例中，尽管给出饱和像素平均值作为像素特性信息的示例，但是像素特性信息不限于此，并且例如可以使用饱和像素值的最大值、最小值、平均值、中值或者方差值。可替代地，可以使用通过放射线检测单元1021的输出性能而计算的像素值的最大值、最小值、平均值、中值或者方差值。
在步骤S502处，在照射时间存储单元1019中存储由成像控制装置101的信息获取单元1012获取的放射线生成装置104的放射线照射信息的照射时间。
图12是图示出在由第三实施例的第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103执行放射线成像之后、直到成像控制装置101获取放射线图像为止的操作的示例的流程图。第一实施例(图6)的步骤S202被除去。对于与第一实施例的操作(图6)类似的操作给予相同的步骤编号，并且将省略其详细描述。
在步骤S601中，成像控制装置101(信息获取单元1013)从第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103获取各自在步骤S201生成的像素平均值。成像控制装置101的信息校正单元1020基于存储在特性信息存储单元1019中的特性信息来校正从多个放射线成像装置获取的像素平均值以及存储在像素特性信息存储单元1018中的饱和像素平均值。例如，当放射线成像装置的灵敏度与预定基准灵敏度匹配时，信息校正单元1020使用放射线成像装置的灵敏度信息来执行对像素平均值的校正。
校正像素平均值的方法不限于上面提到的方法。例如，可以确定多个放射线成像装置之中的基准放射线成像装置，使得根据基准放射线成像装置的灵敏度信息来校正其他放射线成像装置的像素平均值。此外，可以通过使用指示出由于放射线成像装置的温度或大气温度引起的特性信息的变化的校正信息(例如，灵敏度校正信息)来校正特性信息(例如，灵敏度信息)，并且可以通过使用经校正的特性信息来校正像素平均值。
对于多个放射线成像装置中的每个预先决定的依赖时间的变化的信息(相对于时间的函数)被存储为校正信息，并且基于每个放射线成像装置的操作时间来校正特性信息。因此，能够考虑由于依赖时间的变化引起的特性信息的变化。
可以以根据有效像素信息和无效像素信息而获得的有效像素的数量与像素总数量的比率来校正像素平均值。可以通过使用根据暗校正信息或暗图像计算出的像素平均值来校正像素平均值。校正像素平均值的方法不限于上面提到的方法，并且可以组合使用多个校正方法。利用上述这种处理，成像控制装置101不需要从放射线成像装置获取所有放射线图像，并且能够通过数据大小小于放射线图像的数据大小的成像信息来选择有意义的放射线图像。
在步骤S602处，成像控制装置101(选择单元1014)在考虑存储在像素特性信息存储单元1018中并被校正的饱和像素平均值以及存储在照射时间存储单元1017中的照射时间的同时比较在步骤S601处被校正的像素平均值。在这里，饱和放射线图像的像素平均值(下文中的饱和像素平均值)被用作像素特性信息。饱和像素平均值可以基于通过使用成像控制装置101的信息获取单元1013从放射线生成装置104获取的放射线照射时间而被线性衰减。饱和像素平均值的衰减不限于线性衰减，而例如可以是指数衰减、对数衰减或其中多个类型的衰减被组合的衰减。
作为饱和像素平均值，可以共同地使用所有可用放射线成像装置的饱和像素平均值之中最小的饱和像素平均值。当所有放射线成像装置的像素平均值小于饱和像素平均值时，选择提供最大像素平均值的放射线成像装置。当至少一个或多个放射线成像装置的像素平均值大于或等于饱和像素平均值并且至少一个或多个放射线成像装置的像素平均值不小于饱和像素平均值时，选择提供最大像素平均值的放射线成像装置。当所有放射线成像装置的像素平均值大于或等于饱和像素平均值时，选择单元1014可以选择较早通知执行了放射线成像的放射线成像装置。
如上所述，根据第三实施例，在利用处于成像使能状态的多个放射线成像装置执行放射线成像的***中，基于相应放射线成像装置的特性信息来校正从多个放射线成像装置获取的成像信息。成像控制装置101通过参考被校正的第一成像信息来比较多个放射线成像装置的成像信息。因而，进一步减少了从错误的放射线成像装置获取图像的可能性。
(第四实施例)
第四实施例的放射线成像***的功能配置与第一实施例的放射线成像***的功能配置(图1)类似。
第四实施例中的成像控制装置的内部结构与第三实施例的成像控制装置的内部结构(图9)类似。第四实施例中的信息获取单元1013获取像素平均值和像素值变化，作为是成像信息的放射线图像的像素值的统计信息。除了第一成像信息和像素饱和信息之外，第四实施例中的选择单元1014还基于第四成像信息从多个放射线成像装置之中选择一个放射线成像装置。
第四实施例中的放射线成像装置的内部结构与第三实施例的放射线成像装置的内部结构(图10)类似。第四实施例中的成像信息生成单元1024包括生成两条或更多条统计信息作为成像信息的功能。第四实施例中的通信单元1027包括发送两条或更多条统计信息作为成像信息的功能。
第四实施例的第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103的从准备放射线成像到执行放射线成像的操作与第三实施例的操作(图11)类似。在步骤S106之后，成像控制装置101的信息获取单元1013从放射线生成装置104获取其间照射放射线的时间。
图13是图示出在由第四实施例的第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103执行放射线成像之后、直到成像控制装置101获取放射线图像为止的操作的流程图。相同的步骤编号给予与第三实施例的操作(图11)类似的操作，并且将省略其详细描述。
在步骤S701处，第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103中的成像信息生成单元1024生成所生成的放射线图像的像素值的两条统计信息作为成像信息，并将两条统计信息设置在存储单元1023中。在这里，作为两条统计信息的示例，使用像素平均值和像素值变化。
在步骤S702处，成像控制装置101(信息获取单元1013)从第一放射线成像装置102和第二放射线成像装置103获取各自在步骤S701计算的像素平均值以及均在步骤S701计算的像素值变化。成像控制装置101的信息校正单元1020基于存储在特性信息存储单元1019中的特性信息来校正从多个放射线成像装置获取的像素平均值和存储在像素特性信息存储单元1018中的饱和像素平均值。像素值变化可以被校正。例如，信息校正单元1020在放射线成像装置的灵敏度与预定的基准灵敏度一致的情况下使用放射线成像装置的灵敏度信息对像素平均值进行校正。校正像素平均值的方法不限于上面提到的方法。例如，可以从多个放射线成像装置之中决定基准放射线成像装置，使得根据基准放射线成像装置的灵敏度信息来校正其他放射线成像装置的像素平均值。
可以通过使用指示出由于放射线成像装置的温度或大气温度引起的特性信息的变化的校正信息(例如，灵敏度校正信息)来校正特性信息(例如，灵敏度信息)，并且可以通过使用经校正的特性信息来校正像素平均值。对于多个放射线成像装置中的每个预先决定的依赖时间的变化的信息(相对于时间的函数)被存储为校正信息，并且基于每个放射线成像装置的操作时间来校正特性信息。由此，能够考虑由于依赖时间的变化引起的特性信息的变化。
可以以根据有效像素信息和无效像素信息而获得的有效像素的数量与像素总数量的比率来校正像素平均值。可以通过使用根据暗校正信息或暗图像计算出的像素平均值来校正像素平均值。校正像素平均值的方法不限于上述方法，并且可以组合使用多个校正方法。
在步骤S703处，成像控制装置101(选择单元1014)在考虑存储在像素特性信息存储单元1018中并经校正的饱和像素平均值以及存储在照射时间存储单元1017中的照射时间的同时比较在步骤S702校正的像素平均值。在这里，饱和像素平均值被用作像素特性信息。饱和像素平均值可以基于通过使用成像控制装置101的信息获取单元1013从放射线生成装置104获取的放射线照射时间而被线性衰减。饱和像素平均值的衰减不限于线性衰减，并且例如可以是指数衰减、对数衰减或组合多个类型衰减的衰减。
作为饱和像素平均值，可以共同地使用所有可用放射线成像装置的饱和像素平均值之中最小的饱和像素平均值。当像素平均值大于或等于饱和像素平均值并且照射时间短于基准值时，计算出指示出放射线图像的像素饱和(下文中的饱和状态)的像素饱和信息。当像素平均值小于饱和像素平均值并且照射时间等于或大于基准值时，计算出指示出放射线图像的像素过度饱和(下文中的过饱和状态)的像素饱和信息。当像素平均值小于饱和像素平均值并且照射时间短于基准值时，计算出指示出放射线图像的像素不饱和(非饱和状态)的像素饱和信息。基准值可以由成像控制装置101与放射线成像装置对应地预先存储，或者可以由用户指定。
当所有放射线成像装置的像素饱和信息指示出非饱和状态时，选择单元1014选择提供最大像素平均值的放射线成像装置。当至少一个或多个放射线成像装置的像素饱和信息指示出饱和状态并且至少一个或多个放射线成像装置的像素饱和信息指示出非饱和状态时，选择单元1014选择具有指示出非饱和状态的像素饱和信息并提供最大像素平均值的放射线成像装置。当至少一个或多个放射线成像装置的像素饱和信息指示出非饱和状态并且至少一个或多个放射线成像装置的像素饱和信息指示出过饱和状态时，选择单元1014选择具有指示出非饱和状态的像素饱和信息并提供最大像素平均值的放射线成像装置。选择单元1014还可以比较像素值变化，以选择提供最大像素值变化的放射线成像装置。
当所有放射线成像装置的像素饱和信息指示出饱和状态时，选择单元1014可以选择较早通知放射线成像被执行的放射线成像装置。当所有放射线成像装置的像素饱和信息指示出过饱和状态时，选择单元1014可以选择较早通知放射线成像被执行的放射线成像装置。可替代地，当至少一个或多个放射线成像装置的像素饱和信息指示出饱和状态并且至少一个或多个放射线成像装置的像素饱和信息指示出过饱和状态时，选择单元1014可以选择较早通知放射线成像被执行的放射线成像装置。
如上所述，虽然已经基于实施例给出了描述，但是本发明不限于这些具体实施例，并且在不脱离本发明的主旨的范围内的各种形态也被涵盖在本发明的范围内。
其它实施例
本发明的(一个或多个)实施例还可以通过读出并执行记录在存储介质(其也可以被更完整地称为“非暂态计算机可读存储介质”)上的计算机可执行指令(例如，一个或多个程序)以执行上述(一个或多个)实施例中的一个或多个实施例的功能和/或包括用于执行上述(一个或多个)实施例中的一个或多个实施例的功能的一个或多个电路(例如，专用集成电路(ASIC))的***或装置的计算机来实现，以及通过例如从存储介质读出并执行计算机可执行指令以执行上述(一个或多个)实施例中的一个或多个实施例的功能和/或控制一个或多个电路执行上述(一个或多个)实施例中的一个或多个实施例的功能而通过由***或装置的计算机执行的方法来实现。计算机可以包括一个或多个处理器(例如，中央处理单元(CPU)、微处理单元(MPU))，并且可以包括单独计算机或单独处理器的网络，以读出并执行计算机可执行指令。计算机可执行指令可以例如从网络或存储介质提供给计算机。存储介质可以包括例如硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、分布式计算***的存储装置、光盘(诸如紧凑盘(CD)、数字多功能盘(DVD)或蓝光盘(BD)TM)、闪存设备、存储卡等中的一个或多个。
其它实施例
本发明的实施例还可以通过如下的方法来实现，即，通过网络或者各种存储介质将执行上述实施例的功能的软件(程序)提供给***或装置，该***或装置的计算机或是中央处理单元(CPU)、微处理单元(MPU)读出并执行程序的方法。
虽然已经参考示例性实施例描述了本发明，但是应当理解的是，本发明不限于所公开的示例性实施例。以下权利要求的范围将被赋予最广泛的解释，以便涵盖所有此类修改以及等同的结构和功能。

Claims (16)

1.一种放射线成像***，包括：
多个放射线成像装置，所述多个放射线成像装置中的每个放射线成像装置包括执行成像操作的放射线检测单元，该成像操作用于捕获基于从放射线生成装置照射的放射线的放射线图像；
控制装置，与所述多个放射线成像装置通信；
计算单元，计算指示出放射线图像的一部分像素或全部像素是否饱和的信息；以及
图像获取单元，从基于所述信息而从所述多个放射线成像装置之中选出的放射线成像装置获取放射线图像。
2.如权利要求1所述的放射线成像***，其中
所述多个放射线成像装置中的每个放射线成像装置包括计算单元，并且
控制装置包括图像获取单元。
3.如权利要求1所述的放射线成像***，其中
所述多个放射线成像装置中的每个放射线成像装置包括：生成数据大小小于放射线图像的数据大小的成像信息的生成单元，基于所述成像信息计算所述信息的计算单元，以及发送所述信息的通信单元。
4.如权利要求3所述的放射线成像***，其中
生成单元生成放射线图像的像素值的统计信息作为成像信息，
统计信息包括以下项中的一个或多个：像素值的平均值、像素值的最大值、像素值的中值、像素值的方差值、彼此相邻的像素的像素值之间的差的最大值，或者像素值的最大值和最小值之间的宽度。
5.如权利要求3所述的放射线成像***，其中
生成单元生成放射线图像的像素值的统计信息作为成像信息，
生成单元生成放射线图像的像素值变化作为统计信息，
其中，像素值变化是像素值的方差值、像素值的最大值和像素值的最小值之间的宽度、直方图，或者分布函数。
6.如权利要求3所述的放射线成像***，其中
控制装置包括选择单元，该选择单元基于所述信息从所述多个放射线成像装置之中选出一个放射线成像装置，并且
图像获取单元从选出的所述一个放射线成像装置获取放射线图像。
7.如权利要求6所述的放射线成像***，其中
控制装置包括存储单元，该存储单元存储当成像操作被执行时的放射线生成装置的照射信息，指示出所述多个放射线成像装置中的每个放射线成像装置的装置特性的装置特性信息，以及指示出所述多个放射线成像装置中的每个放射线成像装置的像素特性的像素特性信息，以及校正单元，该校正单元基于装置特性信息来校正成像信息，并且
选择单元基于校正的成像信息来从所述多个放射线成像装置之中选出一个放射线成像装置。
8.如权利要求7所述的放射线成像***，其中
校正单元基于装置特性信息来将所述多个放射线成像装置中的每个放射线成像装置的成像信息校正为当所述多个放射线成像装置的灵敏度与预定基准灵敏度匹配时的成像信息。
9.如权利要求8所述的放射线成像***，其中
基准灵敏度是来自所述多个放射线成像装置之中的一个放射线成像装置的灵敏度。
10.如权利要求7所述的放射线成像***，其中
像素特性信息包括以下项中的一个或多个：饱和放射线图像的像素值的平均值、饱和放射线图像的像素值的最大值、饱和放射线图像的像素值的中值、或者饱和放射线图像的像素值的最大值和最小值之间的宽度。
11.如权利要求7所述的放射线成像***，其中，照射信息是照射时间。
12.如权利要求11所述的放射线成像***，还包括：设置像素特性信息的设置单元，其中
设置单元通过线性衰减、指数衰减或对数衰减来基于照射时间使像素特性信息衰减。
13.如权利要求11所述的放射线成像***，其中
生成单元还基于照射时间来生成所述信息。
14.如权利要求1所述的放射线成像***，
其中，所述多个放射线成像装置中的每个放射线成像装置包括：生成数据大小小于放射线图像的数据大小的成像信息的生成单元，以及发送所述成像的通信单元；以及
其中，控制装置包括：使用从所述多个放射线成像装置中的每个放射线成像装置获取的成像信息来计算所述信息的计算单元，以及图像获取单元。
15.如权利要求14所述的放射线成像***，其中
生成单元生成放射线图像的像素值的统计信息作为成像信息；以及
统计信息包括以下项中的一个或多个：像素值的平均值、像素值的最大值、像素值的中值、像素值的方差值、彼此相邻的像素的像素值之间的差的最大值，或者像素值的最大值和最小值之间的宽度。
16.如权利要求14所述的放射线成像***，其中
生成单元生成放射线图像的像素值的统计信息作为成像信息；
生成单元生成放射线图像的像素值变化作为统计信息，并且
像素值变化是以下项中的任一个：像素值的方差值、像素值的最大值和像素值的最小值之间的宽度、直方图以及分布函数。
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