CN109085182A - 筒状物的缺陷检查装置 - Google Patents

筒状物的缺陷检查装置 Download PDF

Info

Publication number
CN109085182A
CN109085182A CN201810600136.4A CN201810600136A CN109085182A CN 109085182 A CN109085182 A CN 109085182A CN 201810600136 A CN201810600136 A CN 201810600136A CN 109085182 A CN109085182 A CN 109085182A
Authority
CN
China
Prior art keywords
defect
interior
image
intermediate transfer
acceptance part
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201810600136.4A
Other languages
English (en)
Inventor
桑迫真广
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Konica Minolta Opto Inc
Original Assignee
Konica Minolta Opto Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Opto Inc filed Critical Konica Minolta Opto Inc
Publication of CN109085182A publication Critical patent/CN109085182A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/952Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/954Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G15/00Apparatus for electrographic processes using a charge pattern
    • G03G15/50Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control
    • G03G15/5054Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control by measuring the characteristics of an intermediate image carrying member or the characteristics of an image on an intermediate image carrying member, e.g. intermediate transfer belt or drum, conveyor belt
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8854Grading and classifying of flaws
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8887Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/954Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores
    • G01N2021/9548Scanning the interior of a cylinder
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G2215/00Apparatus for electrophotographic processes
    • G03G2215/00025Machine control, e.g. regulating different parts of the machine
    • G03G2215/00029Image density detection
    • G03G2215/00059Image density detection on intermediate image carrying member, e.g. transfer belt
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108Industrial image inspection
    • G06T2207/30164Workpiece; Machine component

Landscapes

  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

提供一种能够提高缺陷的检测精度的缺陷检查装置。缺陷检查装置(100)包括:光源(31),对中间转印带(1)的外表面(1a)照射光;线性照相机(32),接受来自外表面(1a)的光,并发送基于接受到的光的信号;光源(41),对中间转印带(1)的内表面(1b)照射光;以及线性照相机(42),接受来自内表面(1b)的光,并发送基于接受到的光的信号。缺陷检查装置(100)基于从线性照相机(32)接收到的信号来创建作为外表面(1a)的二维图像的外表面图像,并基于从线性照相机(42)接收到的信号来创建作为内表面(1b)的二维图像的内表面图像。缺陷检查装置(100)基于外表面图像以及内表面图像来检测中间转印带(1)中包含的缺陷。

Description

筒状物的缺陷检查装置
技术领域
本发明涉及缺陷检查装置。更具体地说,本发明涉及能够提高缺陷的检测精度的筒状物的缺陷检查装置。
背景技术
在电子照相式的图像形成装置中,有具备扫描仪功能、传真功能、复印功能、作为打印机的功能、数据通信功能、以及服务器功能的MFP(多功能复合一体机(Multi FunctionPeripheral));传真装置;复印机;打印机等。
通常,图像形成装置将在像载体上形成了的静电潜像通过显像装置显像而形成调色剂像,并将该调色剂像转印到纸张上之后,通过由定影装置将调色剂像在纸张上定影,从而在纸张上形成图像。此外,图像形成装置中,也有将感光体表面的静电潜像通过显像装置显像而形成调色剂像,使用一次转印辊来将调色剂像转印到中间转印带,并使用二次转印辊来将中间转印带上的调色剂像二次转印到纸张上。
中间转印带有薄壁圆柱状。通常,中间转印带通过以下方法被制造。准备包含热塑性树脂的原料,并熔化原料中的热塑性树脂。使用金属模具将包含熔化了的热塑性树脂的原料注塑为筒状。输出通过注塑而得到的成形体并冷却,将其切断为规定的长度而得到筒状物。矫正筒状物的形状,并将筒状物进一步切断为中间转印带的长度。之后,在检查步骤中通过目视来检查中间转印带的外表面(外周面)有没有缺陷。
另外,例如在下述文献1等中,公开了涉及感光鼓的检查的技术。在下述文献1中,通过驱动装置设感光鼓为逆时针低速旋转的状态。点亮高频荧光灯而在第一线性传感器上接受来自感光鼓表面的正反射光,从而根据该输出的电信号而检测在图像处理装置中有没有颜色不均。同时在第二线性传感器上接受来自鼓表面的散射光,从而根据该输出的电信号检测在图像处理装置中有没有凹凸。
现有技术文献
专利文献
文献1:(日本)特开平7-128240号公报
在中间转印带的内表面(内周面)上存在由于异物或者局部断裂而引起的缺陷的情况下,有时在中间转印带的内表面上出现的缺陷的尺寸大,另一方面,在中间转印带的外表面上出现的缺陷的尺寸小。但是,在以往的技术中,由于仅检查中间转印带的外表面有没有缺陷,所以中间转印带的内表面的如上所述的缺陷在外表面上只不过是微小的缺陷,有时不被检测。因此,在以往的技术中存在缺陷的检测精度低的问题。此外,中间转印带的内表面的缺陷有时也会对中间转印带的质量产生坏影响,在中间转印带上,不仅外表面,内表面的质量也很重要。
缺陷的检测精度低的问题不仅在检查对象为中间转印带的情况下发生,在检查对象为筒状物的所有情况下都可能发生。
发明内容
本发明用于解决上述课题,其目的在于,提供能够提高缺陷的检测精度的缺陷检查装置。
本发明的一方面的缺陷检查装置是筒状物的缺陷检查装置,包括:外照射部,对筒状物的外表面照射光;外受光部,接受来自外表面的光,并发送基于接受到的光的信号;内照射部,对筒状物的内表面照射光;内受光部,接受来自内表面的光,并发送基于接收到的光的信号;图像处理机构,基于从外受光部接受到的信号而创建作为外表面的二维图像的外表面图像,并基于从内受光部接收到的信号而创建作为内表面的二维图像的内表面图像;以及检测机构,基于外表面图像以及内表面图像,检测筒状物中包含的缺陷。
附图说明
图1是表示本发明的第一实施方式中的缺陷检查装置100的结构的主视图。
图2是图1中沿着II-II线的截面图。
图3是表示本发明的第一实施方式中的缺陷检查装置100的控制结构的框图。
图4是表示本发明的第一实施方式中的缺陷检查装置100的动作的第一图。
图5是表示本发明的第一实施方式中的缺陷检查装置100的动作的第二图。
图6是表示本发明的第一实施方式中的缺陷检查装置100的动作的第三图。
图7是表示本发明的第一实施方式中的缺陷检查装置100的动作的第四图。
图8(a)~(c)是示意性地表示在本发明的第一实施方式中,摄影图像获取部103创建的外表面图像以及内表面图像的图。
图9是表示本发明的第一实施方式中的缺陷检查装置100的图像获取动作的流程图。
图10是表示本发明的第一实施方式中的缺陷检查装置100的缺陷检测动作的流程图。
图11是表示本发明的第一实施方式的变形例中的缺陷检查装置100的缺陷检测动作的流程图。
图12是表示本发明的第二实施方式中的缺陷检查装置100a的结构的主视图。
图13是表示本发明的第三实施方式中的缺陷检查装置100b的结构的主视图。
图14是表示本发明的第三实施方式中的缺陷检查装置100b的动作的图。
图15是表示本发明的第四实施方式中的缺陷检查装置100c的结构的主视图。
图16是表示本发明的第四实施方式中的缺陷检查装置100c的图像获取动作的流程图。
标号说明
1 中间转印带(筒状物的一例)
1a 中间转印带的外表面
1b 中间转印带的外表面
10 旋转部
11 旋转台(第一保持部的一例)
11a 旋转部的小直径部
11b 旋转部的大直径部
12 轴承(第二保持部的一例)
12a 轴承的小直径部
12b 轴承的大直径部
13 旋转轨道
13a 旋转轨道的延伸部
14 旋转驱动部
20 框架
21 框架的主体部
22、23 框架的臂(第一以及第二框架的一例)
24 框架的延伸部
31、31a、31b、41、41a、41b 光源(外照射部以及内照射部的一例)
32、32a、32b、42、42a、42b 线性照相机(外受光部以及内受光部的一例)
33、33a、33b、43、43a、43b 透镜
51 轴承驱动部
52、52a、52b 照相机光源移动驱动部(移动驱动部的一例)
100、100a、100b、100c 缺陷检查装置
101 控制部
102 光源控制部
103 摄影图像获取部(图像处理机构的一例)
104 存储部
105 ***(检查机构的一例)
105a 缺陷检测处理部(外表面检测机构以及内表面检测机构的一例)
105b 缺陷类别判定部(判别机构以及识别机构的一例)
106 结果输出部
CX 中间转印带的中心轴
FA1、FA2 缺陷
IMa 外表面图像
IMb、IMc 内表面图像
L1、L3 光
L2、L4 反射光
RG1、RG2、RG3、RG4 摄影的区域
具体实施方式
以下,基于附图说明本发明的实施方式。
在以下的实施方式中,说明缺陷检查装置的检查对象为中间转印带的情况。本发明的缺陷检查装置的检查对象可以是任意的筒状物,除了中间转印带,也可以是感光体、定影带、或者被切断为中间转印带的制品长度之前的筒状物(中间转印带的材料)等。
图1是表示本发明的第一实施方式中的缺陷检查装置100的结构的主视图。图2是图1中沿着II-II线的截面图。另外在图2中,表示了从上述截面能看到的臂22以及23、光源31以及41、线性照相机32以及42、还有透镜33以及43的结构。
参照图1以及图2,本实施方式中的缺陷检查装置100进行中间转印带1(筒状物的一例)的检查。中间转印带1为薄壁圆柱状,包含:中心轴CX、外表面(外周面)1a、以及内表面(内周面)1b。缺陷检查装置100包括:旋转部10、框架20、光源31(外照射部的一例)以及41(内照射部的一例)、线性照相机32(外受光部的一例)以及42(内受光部的一例)、透镜33以及43、轴承驱动部51、照相机光源移动驱动部52(移动驱动部的一例)、以及PC(个人计算机(Personal Computer))60。
旋转部10围绕中心轴CX旋转中间转印带1。旋转部10包含:旋转台11(第一保持部的一例)、轴承12(第二保持部的一例)、旋转轨道13、以及旋转驱动部14。
旋转台11在中心轴CX成为垂直方向(图1中纵向)的状态下保持中间转印带1的下端部。旋转台11为环状,并包含小直径部11a和大直径部11b。小直径部11a被设置于大直径部11b上方。旋转台11通过小直径部11a的外周面和中间转印带1的下端部的内周面的卡合来保持中间转印带1。
轴承12在中心轴CX成为垂直方向的状态下保持中间转印带1的上端部。轴承12为环状,并包含小直径部12a和大直径部12b。小直径部12a被设置于大直径部12b下方。轴承12通过小直径部12a的外周面和中间转印带1的上端部的内周面的卡合来保持中间转印带1。轴承12起到避免在使中间转印带1旋转时产生的振动(模糊)的作用。
旋转轨道13包含环状的轨道。旋转轨道13通过环状的轨道与轴承12卡合,可旋转地支撑轴承12。旋转轨道13包含作为接受来自轴承驱动部51的动力的部分的延伸部13a。
旋转驱动部14通过经由旋转台11的大直径部11b的外周面施加动力,使旋转台11以及中间转印带1如箭头AR3所示围绕中心轴CX旋转。此时,轴承12也通过经由旋转台11以及中间转印带1从旋转驱动部14接受动力,沿着旋转轨道13的环状的轨道旋转(自转)。在使中间转印带1旋转时,轴承12和中间转印带1之间不产生摩擦。
框架20包含主体部21、臂22以及23(第一以及第二框架的一例)、以及延伸部24。主体部21为棒状,沿水平方向延伸。臂22以及23各自从主体部21向下方突出。延伸部24是接受来自照相机光源移动驱动部52的动力的部分。
光源31、线性照相机32、以及透镜33被固定于臂22。光源31对中间转印带1的外表面1a照射光L1。线性照相机32经由透镜33接受来自外表面1a的反射光L2,并向PC60发送基于接受到的反射光L2的信号。
光源41、线性照相机42、以及透镜43被固定于臂23。光源41向中间转印带1的内表面1b照射光L3。线性照相机42经由透镜43接受来自内表面1b的反射光L4,并向PC60发送基于接受到的反射光L4的信号。
优选光源31和光源41彼此相对,线性照相机32和线性照相机42彼此相对,透镜33和透镜43彼此相对。由此,能够使用线性照相机32以及线性照相机42同时对中间转印带1中的相同位置的外表面1a以及内表面1b各自进行摄影。
轴承驱动部51通过经由延伸部13a施加动力,使轴承12以及旋转轨道13如箭头AR1所示沿着中心轴CX(在垂直方向上)移动。轴承驱动部51通过轴承12以及旋转轨道13的内侧的孔而使臂23、光源41、线性照相机42、以及透镜43各自进出中间转印带1的内部。通过设轴承12以及旋转轨道13为可移动的,使得中间转印带1对于旋转台11以及轴承12的装卸变得容易。另外,在旋转台11为环状的情况下,轴承驱动部51也可以通过旋转台11的内侧的孔而使光源41、线性照相机42、以及透镜43各自进出中间转印带1的内部。
照相机光源移动驱动部52通过经由延伸部24施加动力,使框架20、光源31以及41、线性照相机32以及42、还有透镜33以及43如箭头AR2所示沿着中心轴CX(在垂直方向上)移动。
PC60控制缺陷检查装置100整体的动作,并由CPU(中央处理单元(CentralProcessing Unit))、ROM(只读存储器(Read Only Memory))、RAM(随机存取存储器(RandomAccess Memory))、操作部、显示部、以及存储部104(图3)等硬件而构成。PC60与旋转驱动部14、光源31以及41、线性照相机32以及42、轴承驱动部51、还有照相机光源移动驱动部52连接。
图3是表示本发明的第一实施方式中的缺陷检查装置100的控制结构的框图。
参照图3,缺陷检查装置100包括控制部101、光源控制部102、摄影图像获取部103(图像处理机构的一例)、存储部104、***105(检查机构的一例)、以及结果输出部106。控制部101、光源控制部102、摄影图像获取部103、***105、以及结果输出部106各自是通过PC60而被实现的功能。
控制部101控制PC60整体。此外控制部101控制旋转驱动部14、轴承驱动部51、以及照相机光源移动驱动部52各自的动作。
光源控制部102分别控制光源31以及41。
摄影图像获取部103从线性照相机32接收基于反射光L2的信号,并基于获取到的信号,创建作为外表面1a的二维图像的外表面图像。摄影图像获取部103从线性照相机42接收基于反射光L4的信号,并基于接收到的信号,创建作为内表面1b的二维图像的内表面图像。摄影图像获取部103将创建成的外表面图像以及内表面图像保存在存储部104。
存储部104由HDD(硬盘驱动器(Hard Disk Drive))等组成,存储各种信息。
***105包含缺陷检测处理部105a(外表面检测机构以及内表面检测机构的一例)、缺陷种类判定部105b(判别机构以及识别机构的一例)。缺陷检测处理部105a基于外表面图像以及内表面图像,检测中间转印带1中包含的缺陷。缺陷类别判定部105b在由缺陷检测处理部105a检测到缺陷的情况下,判定该缺陷的类别。
结果输出部106在PC60的显示部等上显示***105的检查结果。
接下来,说明本实施方式中的缺陷检查装置100的动作。
图4~图7是表示本发明的第一实施方式中的缺陷检查装置100的动作的图。
参照图4,轴承驱动部51使轴承12以及旋转轨道13上升,并使轴承12以及旋转轨道13在旋转台11的上部中,处于与旋转台11充分分离的状态。此外照相机光源移动驱动部52使框架20上升,并使框架20在轴承12以及旋转轨道13的上部中,处于与轴承12以及旋转轨道13充分分离的状态。
接下来操作人员将中间转印带1的下端部***旋转台11的小直径部11a。旋转台11的小直径部11a的外周面与中间转印带1的内表面1b接触。
接下来,如箭头AR1A所示,轴承驱动部51使轴承12以及旋转轨道13下降,并将轴承12的小直径部12a***中间转印带1的上端部。轴承12的小直径部12a的外周面与中间转印带1的内表面1b接触。由此,中间转印带1被固定于旋转部10。
参照图5,接下来照相机光源移动驱动部52如箭头AR2A所示使框架20下降,光源31以及41、线性照相机32以及42、还有透镜33以及43各自被移动到第一位置。臂23、光源41、线性照相机42、以及透镜43通过轴承12以及旋转轨道13的内侧的孔被***中间转印带1的内部。此时,优选将中间转印带1固定在从线性照相机32到中间转印带1的外表面1a的距离和从线性照相机42到中间转印带1的内表面1b的距离相同的位置上。
这里,第一位置是指线性照相机32对中间转印带1的上部的外表面1a的区域进行摄影,且线性照相机42对中间转印带1的上部的内表面1b的区域进行摄影的位置。
参照图6,接下来如箭头AR3所示由旋转驱动部14将中间转印带1旋转一圈,并且线性照相机32以及42各自对区域RG1以及RG2的每一个进行摄影。光源31对通过区域RG1的外表面1a的区域照射光,线性照相机32接受其反射光,并向摄影图像获取部103发送基于接受到的反射光的信号。光源41对通过区域RG2的内表面1b的区域照射光,线性照相机42接受其反射光,并向摄影图像获取部103发送基于接受到的反射光的信号。摄影图像获取部103基于从线性照相机32接收到的信号,创建中间转印带1的上部的外表面1a的圆柱状的区域的图像(外表面图像)。摄影图像获取部103基于从线性照相机42接收到的信号,创建中间转印带1的上部的内表面1b的圆柱状的区域的图像(内表面图像)。
另外,优选在中间转印带旋转时,线性照相机42在与线性照相机32接受来自外表面1a中的规定的区域的光的定时相同的定时,接受来自对应于内表面1b中的上述规定的区域的区域的光。
参照图7,接下来照相机光源移动驱动部52如箭头AR2A所示使框架20下降,使光源31以及41、线性照相机32以及42、还有透镜33以及43各自移动到第二位置。
这里,第二位置是指线性照相机32对中间转印带1的下部的外表面1a的区域进行摄影,且线性照相机42对中间转印带1的下部的内表面1b的区域进行摄影的位置。
接下来如箭头AR3所示由旋转驱动部14将中间转印带1旋转一圈,并且线性照相机32以及42各自对区域RG3以及RG4的每一个进行摄影。光源31对通过区域RG3的外表面1a的区域照射光,线性照相机32接受其反射光,并向摄影图像获取部103发射基于接收到的反射光的信号。光源41对通过区域RG4的内表面1b的区域照射光,线性照相机42接受其反射光,并向摄影图像获取部103发送基于接收到的反射光的信号。摄影图像获取部103基于从线性照相机32接受到的信号,创建中间转印带1的下部的外表面1a的圆柱状的区域的图像(外表面图像)。摄影图像获取部103基于从线性照相机42接收到的信号,创建中间转印带1的下部的内表面1b的圆柱状的区域的图像(内表面图像)。
这里,表示了将成为中间转印带1的外表面1a以及内表面1b的检查对象的区域分成两次进行摄影的情况,但基于成为中间转印带1的检查对象的区域的中心轴CX方向的长度与线性照相机32以及42各自可摄影的区域的大小的关系,摄影次数可被设定为任意次数。
图8是示意性地表示在本发明的第一实施方式中,摄影图像获取部103创建的外表面图像以及内表面图像的图。图8(a)为外表面图像,图8(b)为修正前的内表面图像,图8(c)为内表面图像。另外,在图8中,中间转印带1的圆周方向设为x轴方向,中心轴CX方向设为y轴方向。
参照图8(a),摄影图像获取部103通过将中间转印带1的上部的外表面图像(第一次由线性照相机32进行了摄影的图像)PE1和中间转印带1的下部的外表面图像(第二次由线性照相机32进行了摄影的图像)PE2在中心轴CX方向上进行合成,从而创建成为中间转印带1的外表面1a的检查对象的区域整体的图像即外表面图像IMa。
参照图8(b),摄影图像获取部103通过将中间转印带1的上部的内表面1b的圆柱状的区域的图像(第一次由线性照相机42进行了摄影的图像)PE3和中间转印带1的下部的内表面1b的圆柱状的区域的图像(第二次由线性照相机42进行了摄影的图像)PE4在中心轴CX方向上进行合成,从而创建成为中间转印带1的内表面1b的检查对象的区域整体的图像即内表面图像IMb。
参照图8(c),在中间转印带1的厚度为不能无视的程度的情况下,相比于内表面图像IMb,外表面图像IMa的圆周方向的长度变长。因此,摄影图像获取部103也可以通过扩大内表面图像IMb使得内表面图像IMb的圆周方向的长度与外表面图像IMa的圆周方向的长度相同,从而创建修正后的内表面图像IMc。由此,外表面图像IMa的坐标(x,y)与内表面图像IMc的坐标(x,y)一致。
缺陷检测处理部105a基于外表面图像IMa,检测外表面1a中包含的缺陷。此外缺陷检测处理部105a基于内表面图像IMc(或者IMb),检测内表面1b中包含的缺陷。在由缺陷检测处理部105a在外表面1a以及内表面1b中的一个面(这里是外表面1a)上检测到缺陷FA1的情况下,缺陷类别判定部105b判别在外表面1a以及内表面1b中另一个面(这里是内表面1b)上的对应于缺陷FA1的位置的位置上是否检测到缺陷FA2。通常,缺陷与缺陷之外的部分相比亮度等不同。
在缺陷类别判定部105b判别为在另一个面上的对应于缺陷FA1的位置上检测到缺陷FA2的情况下,将在一个面上检测到的缺陷FA1和在另一个面上检测到的缺陷FA2识别为称为“断裂缺陷”(第一缺陷的一例)的相同缺陷。
断裂缺陷是指中间转印带1由于局部被折弯而产生的凹凸的缺陷。断裂缺陷多在外表面1a以及内表面1b两者上被检测到。断裂缺陷对中间转印带1的质量造成较大的坏影响。
在缺陷类别判定部105b判别为在对应于另一个面上的缺陷FA1的位置上检测不到缺陷FA2的情况下,缺陷FA1不被识别为断裂缺陷。
具体而言,缺陷类别判定部105b可以设为:在内表面1b上检测到缺陷FA2的情况下,判别是否在对应于缺陷FA2的位置的外表面1a中的位置上检测到缺陷,并在判别为在对应于缺陷FA2的位置的外表面1a中的位置上没有检测到缺陷的情况下,不将在内表面1b上检测到的缺陷FA2识别为缺陷。
在中间转印带1的情况下,外表面1a的表面状态是重要的,这是由于内表面1b中的断裂缺陷之外的其他缺陷(第二缺陷的一例,“污损”或“划痕”等缺陷)对中间转印带1的质量造成的坏影响小,在实际的制造中可以被视为合格品。
此外,在外表面1a上检测到缺陷FA1的情况下,缺陷类别判定部105b判别是否在对应于缺陷FA1的位置的内表面1b中的位置上检测到缺陷,并且在判别为在对应于缺陷FA1的位置的内表面1b中的位置上没有检测到缺陷的情况下,可以将缺陷FA1识别为断裂缺陷之外的其他缺陷。此外缺陷类别判定部105b也可以基于尺寸的阈值,决定是否将缺陷FA1识别为其他缺陷。
图9是表示本发明的第一实施方式中的缺陷检查装置100的图像获取动作的流程图。另外,之后的流程图全部通过PC60的CPU将被存储在ROM中的程序载入RAM中而被执行。
参照图9,CPU开始中间转印带1的旋转(S1),并将线性照相机32以及42移动到未摄影区域的摄影位置(S3)。CPU开始摄影(S5),并判别从摄影开始起中间转印带1是否旋转了一圈(S7)。在判别为从摄影开始起中间转印带1旋转了一圈之前,CPU重复步骤S7的处理。
在步骤S7中,在判别为从摄影开始起中间转印带1旋转了一圈的情况下(S7为“是”),CPU停止中间转印带1的摄影(S9),并判别中间转印带1的全部区域的摄影是否完成(S11)。
在步骤S11中,在判别为中间转印带1的全部区域的摄影没有完成的情况下(S11为“否”),CPU使线性照相机32以及42移动到未摄影区域的摄影位置(S13),并进入步骤S5的处理。
在步骤S11中,在判别为中间转印带1的全部区域的摄影完成了的情况下(S11为“是”),CPU停止中间转印带1的旋转以及摄影(S15),创建外表面图像以及内表面图像(S17),并结束处理。
图10是表示本发明的第一实施方式中的缺陷检查装置100的缺陷检测动作的流程图。
参照图10,CPU从作为外表面1a以及内表面1b中的一方的图像的第一读取图像检测第一缺陷(S31),并且从作为外表面1a以及内表面1b中的另一方的图像的第二读取图像检测第二缺陷(S35)。接下来CPU判别在与第一缺陷的位置相对应的位置上是否存在第二缺陷(S37)。
在步骤S37中,在判别为在与第一缺陷的位置对应的位置上存在第二缺陷的情况下(S37为“是”),CPU判定为第一以及第二缺陷是断裂缺陷(S39),并结束处理。
在步骤S37中,在判别为在与第一缺陷的位置对应的位置上不存在第二缺陷的情况下(S37为“否”),CPU判别第一缺陷的大小是否为判定用阈值以上(S41)。
在步骤S41中,在判别为第一缺陷的大小为判定用阈值以上的情况下(S41为“是”),CPU判定为第一缺陷是断裂缺陷之外的其他缺陷(S43),并结束处理。
在步骤S41中,在判别为第一缺陷的大小不是判定用阈值以上的情况下(S41为“否”),CPU判定为第一缺陷不是缺陷(S45),并且结束处理。
图11是表示本发明的第一实施方式的变形例中的缺陷检查装置100的缺陷检测动作的流程图。
参照图11,在图10的步骤S41中进入“是”的情况下,在进行步骤S42的处理的点上,本流程图与图10的流程图不同。
在步骤S42中,CPU判别第一缺陷是否是外表面的缺陷(S42)。
在步骤S42中,在判别为第一缺陷是外表面的缺陷的情况下(S42为“是”),CPU判定为第一缺陷是断裂缺陷之外的其他缺陷(S43),并结束处理。
在步骤S42中,在判别为第一缺陷不是外表面的缺陷的情况下(S42为“否”),CPU判定为第一缺陷不是缺陷(S43),并结束处理。
另外,由于本流程图中的上述之外的处理与图10的流程图相同,所以不重复说明。
根据本实施方式,由于检查了中间转印带的外表面以及内表面有无缺陷,所以能够提高缺陷的检测精度。
[第二实施方式]
图12是表示本发明的第二实施方式中的缺陷检查装置100a的结构的主视图。
参照图12,本实施方式中的缺陷检查装置100a作为用于对外表面1a进行摄影的结构,包括:多个光源31a以及31b、多个线性照相机32a以及32b、多个透镜33a以及33b。
光源31a以及31b沿着中心轴CX(在垂直方向上)被配置,并被固定于臂22。线性照相机32a以及32b沿着中心轴CX(在垂直方向上)被配置,并被固定于臂22。透镜33a以及33b沿着中心轴CX(在垂直方向上)被配置,并被固定于臂22。
光源31a对旋转的中间转印带1的外表面1a的上部的区域RG1照射光。线性照相机32a经由透镜33a接受来自外表面1a的区域RG1的反射光,并向PC60发送基于接受到的反射光的信号。光源31b对旋转的中间转印带1的外表面1a的下部的区域RG3照射光。线性照相机32b经由透镜33b接受来自外表面1a的区域RG3的反射光,并向PC60发送基于接受到的反射光的信号。区域RG1以及RG3为互相不同的区域,但也可以部分重复。
此外缺陷检查装置100a作为用于对内表面1b进行摄影的结构,包含:多个光源41a以及41b、多个线性照相机42a以及42b、多个透镜43a以及43b。
光源41a以及41b沿着中心轴CX(在垂直方向上)被配置,并被固定于臂23。线性照相机42a以及42b沿着中心轴CX(在垂直方向上)被配置,并被固定于臂23。透镜43a以及43b沿着中心轴CX(在垂直方向上)被配置,并被固定于臂23。
光源41a对中间转印带1的内表面1b的上部的区域RG2照射光。线性照相机42a经由透镜43a接受来自内表面1b的区域RG2的反射光,并向PC60发送基于接受到的反射光的信号。光源41b对中间转印带1的内表面1b的下部的区域RG4照射光。线性照相机42b经由透镜43b接受来自内表面1b的区域RG4的反射光,并向PC60发送基于接受到的反射光的信号。区域RG2以及RG4为互相不同的区域,但也可以部分重复。
另外,由于本实施方式中的缺陷检查装置100a的上述之外的结构以及动作与第一实施方式中的缺陷检查装置100的结构以及动作相同,所以对相同的构件附加相同的标号,并不重复该说明。
根据本实施方式,能够在中间转印带1旋转一圈的期间对中间转印带1的外表面1a以及内表面1b的所需的全部区域进行摄影。能够减少旋转中间转印带1的次数以及移动线性照相机的次数,并且缩短检查所需的时间。
[第三实施方式]
图13是表示本发明的第三实施方式中的缺陷检查装置100b的结构的主视图。
参照图13,在本实施方式中的缺陷检查装置100b中,轴承12以及旋转轨道13被固定于框架20。旋转轨道13的上表面与框架20的主体部21的下表面接触。由此,照相机光源移动驱动部52能够使轴承12以及旋转轨道13与框架20;光源31a、31b、41a、以及41b;线性照相机32a、32b、42a、以及42b;还有透镜33a、33b、43a、以及43b一起沿着中心轴CX移动。
接下来,说明本实施方式中的缺陷检查装置100b的动作。
照相机光源移动驱动部52使轴承12以及旋转轨道13与框架20等一起上升,并使轴承12以及旋转轨道13在旋转台11的上部中,处于与旋转台11充分分离的状态。接下来操作人员将中间转印带1的下端部***旋转台11的小直径部11a。
图14是表示本发明的第三实施方式中的缺陷检查装置100b的动作的图。
参照图14,接下来照相机光源移动驱动部52如箭头AR2A所示使框架20下降,并使光源31a以及41a、线性照相机32a以及42a、还有透镜33a以及43a各自移动到第一位置,使光源31b以及41b、线性照相机32b以及42b、还有透镜33b以及43b各自移动到第二位置。
这里,第一位置是指线性照相机32a对中间转印带1的上部的外表面1a的区域进行摄影,且线性照相机42a对中间转印带1的上部的内表面1b的区域进行摄影的位置。第二位置是指线性照相机32b对中间转印带1的下部的外表面1a的区域进行摄影,且线性照相机42b对中间转印带1的下部的内表面1b的区域进行摄影的位置。
在光源31a以及41a、线性照相机32a以及42a、还有透镜33a以及43a各自移动到第一位置,且光源31b以及41b、线性照相机32b以及42b、还有透镜33b以及43b各自移动到了第二位置的状态下,轴承12以及旋转轨道13下降到轴承12的小直径部12a被***中间转印带1的上端部的位置。由此,中间转印带1被固定于旋转部10。
接下来,如箭头AR3所示由旋转驱动部14使中间转印带1旋转一圈,并且线性照相机32a、32b、42a、以及42b各自对区域RG1、RG3、RG2、以及RG4的每一个进行摄影。由此,中间转印带1的上部的外表面1a的圆柱状的区域的图像被线性照相机32a摄影,中间转印带1的上部的内表面1b的圆柱状的区域的图像被线性照相机42a摄影,中间转印带1的下部的外表面1a的圆柱状的区域的图像被线性照相机32b摄影,中间转印带1的下部的内表面1b的圆柱状的区域的图像被线性照相机42b摄影。
另外,由于本实施方式中的缺陷检查装置100b的上述之外的结构以及动作与第二实施方式中的缺陷检查装置100a的结构以及动作相同,所以对相同的构件附加相同的标号,并不重复该说明。
根据本实施方式,能够使轴承12以及旋转轨道13;框架20;光源31a、31b、41a、以及41b;线性照相机32a、32b、42a、以及42b;还有透镜33a、33b、43a、以及43b一体地(同步地)移动。由此,能够减少用于缺陷检查装置中的构件的移动的促动器(图1的延伸部13a以及轴承驱动部51等结构)。
[第四实施方式]
图15是表示本发明的第四实施方式中的缺陷检查装置100c的结构的主视图。
参照图15,在本实施方式中的缺陷检查装置100c中,框架20包含相互不连接的臂22以及23,并且不包含主体部21以及延伸部24(图1)。光源31、线性照相机32、以及透镜33被固定于臂22。光源41、线性照相机42、以及透镜43被固定于臂23。
此外照相机光源移动驱动部52包括两个照相机光源移动驱动部52a以及52b。照相机光源移动驱动部52a通过对臂22施加动力,使臂22、光源31、线性照相机32、以及透镜33如箭头AR21所示沿着中心轴CX(在垂直方向上)移动。照相机光源移动驱动部52b通过对臂23施加动力,使臂23、光源41、线性照相机42、以及透镜43如箭头AR22所示沿着中心轴CX(在垂直方向上)移动。
即,照相机光源移动驱动部52通过使臂22和臂23各自独立地移动,从而使光源31、线性照相机32、以及透镜33和光源41、线性照相机42、以及透镜43相互独立地移动。由此,在中间转印带1旋转时,线性照相机32能够在与线性照相机42接受来自内表面1b中的规定的区域的光的定时不同的定时,接受来自对应于外表面1a中的上述的规定的区域的区域的光。
接下来,说明本实施方式中的缺陷检查装置100b的动作。
图16是表示本发明的第四实施方式中的缺陷检查装置100c的图像获取动作的流程图。
参照图16,CPU开始中间转印带1的旋转(S71),并使线性照相机32移动到第一区域(区域RG1以及RG3中的任一方)的摄影位置(S73)。CPU开始第一区域的摄影(S75),并判别从线性照相机32的第一区域的摄影开始起中间转印带1是否旋转了一圈(S77)。在判别为从线性照相机32的第一区域的摄影开始起中间转印带1旋转了一圈之前,CPU重复步骤S77的处理。
在步骤S77中,在判别为从线性照相机32的第一区域的摄影开始起中间转印带1旋转了一圈的情况下(S77为“是”),CPU停止线性照相机32的摄影S79),并使线性照相机32移动到第三区域(区域RG1以及RG3中的任意另一方)的摄影位置(S81)。CPU开始第三区域的摄影(S83),并判别从线性照相机32的第三区域的摄影开始起中间转印带1是否旋转了一圈(S85)。在判别为从线性照相机32的第三区域的摄影开始起中间转印带1旋转了一圈之前,CPU重复步骤S85的处理。
在步骤S85中,在判别为从线性照相机32的第三区域的摄影开始起中间转印带1旋转了一圈的情况下(S85为“是”),CPU停止线性照相机32的摄影(S87),并进入步骤S105的处理。
CPU与有关线性照相机32的摄影的处理(步骤S73~S87)并行地进行有关线性照相机42的摄影的处理(步骤S89~S103)。CPU在步骤S71的处理之后,使线性照相机42移动到第二区域(区域RG2以及RG4中的任意一方)的摄影位置(S89)。CPU开始第二区域的摄影(S91),并判别从线性照相机42的第二区域的摄影开始起中间转印带1是否旋转了一圈(S93)。在判别为从线性照相机42的第二区域的摄影开始起中间转印带1旋转了一圈之前,CPU重复步骤S93的处理。
在步骤S93中,在判别为从线性照相机42的第二区域的摄影开始起中间转印带1旋转了一圈的情况下(S93为“是”),CPU停止线性照相机42的摄影(S95),并使线性照相机42移动到第四区域(区域RG2以及RG4中的任意另一方)的摄影位置(S97)。CPU开始第四区域的摄影(S99),并判别从线性照相机42的第四区域的摄影开始起中间转印带1是否旋转了一圈(S101)。在判别为从线性照相机42的第四区域的摄影开始起中间转印带1旋转了一圈之前,CPU重复步骤S101的处理。
在步骤S101中,在判别为从线性照相机42的第四区域的摄影开始起中间转印带1旋转了一圈的情况下(S101为“是”),CPU停止线性照相机32的摄影(S103),并进入步骤S105的处理。
在步骤S105中,CPU在停止了线性照相机32以及42各自的摄影之后(在全部摄影完成了的定时),停止中间转印带1的旋转(S105),创建外表面图像以及内表面图像(S107),并结束处理。
另外,由于本实施方式中的缺陷检查装置100c的上述之外的结构以及动作与第一实施方式中的缺陷检查装置100的结构以及动作相同,所以对相同的构件附加相同的标号,并不重复该说明。
根据本实施方式,能够单独地移动对外表面1a进行摄影的线性照相机32和对内表面1b进行摄影的线性照相机,并能够在各自分开的定时下进行摄影。此外,能够单独地设定线性照相机32的摄影区域的大小和线性照相机42的摄影区域的大小。作为一例,通过使线性照相机32和中间转印带1的距离比线性照相机42和中间转印带1的距离大,能够使线性照相机32的摄影区域比线性照相机42的摄影区域大。
[其他]
多个线性照相机也能够使用来自一台光源的光来进行摄影。
上述的实施方式能够互相组合。例如也可以将像第三实施方式那样轴承12以及旋转轨道13被固定于框架20的结构应用于像第一实施方式那样使外表面1a以及内表面1b各自分别由一个线性照相机32以及42各自进行摄影的结构。此外,也可以将像第四实施方式那样对外表面1a进行摄影的线性照相机32和对内表面1b进行摄影的线性照相机42可独立地移动的结构应用于像第二实施方式那样使外表面1a以及内表面1b各自分别由多个线性照相机32a以及32b、还有线性照相机42a以及42b各自进行摄影的结构。
上述实施方式中的处理可以通过软件进行,也可以使用硬件电路进行。此外,能够提供执行上述实施方式中的处理的程序,也可以将该程序存储在CD-ROM、软盘、硬盘、ROM、RAM、存储卡等记录介质中而提供给用户。程序通过CPU等计算机而被执行。此外,程序也可以经由网络等通信线路而下载到装置中。
应认为上述的实施方式在全部点上均为例示而不具有限制性。本发明的范围不通过上述说明而通过权力要求的范围来示出,并意图包括与权利要求的范围等同的含义以及范围内的全部变更。
根据本发明,能够提供一种能够提高缺陷的检测精度的缺陷检查装置。

Claims (13)

1.一种筒状物的缺陷检查装置,包括:
外照射部,对所述筒状物的外表面照射光;
外受光部,接受来自所述外表面的光,并发送基于接受到的光的信号;
内照射部,对所述筒状物的内表面照射光;
内受光部,接受来自所述内表面的光,并发送基于接受到的光的信号;
图像处理机构,基于从所述外受光部接收到的信号来创建作为所述外表面的二维图像的外表面图像,并基于从所述内受光部接收到的信号来创建作为所述内表面的二维图像的内表面图像;以及
检测机构,基于所述外表面图像以及所述内表面图像,检测所述筒状物中包含的缺陷。
2.如权利要求1所述的缺陷检查装置,
所述检测机构包含:
外表面检测机构,基于所述外表面图像,检测所述外表面中包含的缺陷;
内表面检测机构,基于所述内表面图像,检测所述内表面中包含的缺陷;
判别机构,在所述外表面以及所述内表面中的一个面上检测到缺陷的情况下,判别在所述外表面以及所述内表面中的另一个面上的、与在所述一个面上检测到的缺陷的位置对应的位置上是否检测到缺陷;以及
识别机构,在由所述判别机构判别为在所述另一个面上的位置上检测到缺陷的情况下,将在所述一个面上检测到的缺陷和在所述另一个面上检测到的缺陷识别为第一种类的相同的缺陷,
在由所述判别机构判别为所述另一个面上的位置上没有检测到缺陷的情况下,不将在所述一个面上检测到的缺陷识别为所述第一种类的缺陷。
3.如权利要求2所述的缺陷检查装置,
在所述内表面上检测到缺陷的情况下,所述判别机构判别在与在所述内表面上检测到的缺陷的位置对应的所述外表面上的位置上是否检测到缺陷,
在由所述判别机构判别为在所述外表面上的位置上没有检测到缺陷的情况下,所述识别机构不将在所述内表面上检测到的缺陷识别为缺陷。
4.如权利要求3所述的缺陷检查装置,
在所述外表面上检测到缺陷的情况下,所述判别机构判别在与在所述外表面上检测到的缺陷的位置对应的所述内表面上的位置上是否检测到缺陷,
在由所述判别机构判别为在所述内表面上的位置上没有检测到缺陷的情况下,所述识别机构将在所述外表面上检测到的缺陷识别为与所述第一种类不同的第二种类的缺陷。
5.如权利要求1~4中任一项所述的缺陷检查装置,还包括:
旋转部,使所述筒状物围绕中心轴旋转;以及
移动驱动部,使所述外照射部、所述外受光部、所述内照射部、以及所述内受光部各自沿着所述中心轴移动。
6.如权利要求5所述的缺陷检查装置,
所述图像处理机构包含:
第一图像创建机构,在由所述移动驱动部使所述外照射部、所述外受光部、所述内照射部、以及所述内受光部各自移动到第一位置的状态下,通过由所述旋转部使所述筒状物旋转一圈,从而创建所述筒状物中的第一部分的所述外表面图像以及所述内表面图像;以及
第二图像创建机构,在由所述移动驱动部使所述外照射部、所述外受光部、所述内照射部、以及所述内受光部各自移动到与所述第一位置不同的第二位置的状态下,通过由所述旋转部使所述筒状物旋转一圈,从而创建所述筒状物中的与所述第一部分不同的第二部分的所述外表面图像以及所述内表面图像。
7.如权利要求5或6所述的缺陷检查装置,
所述旋转部包含:
第一保持部,在所述中心轴成为垂直方向的状态下保持所述筒状物的一方的端部;
第二保持部,在所述中心轴成为垂直方向的状态下保持所述筒状物的另一方的端部;以及
旋转驱动部,使所述第一保持部以及所述第二保持部旋转,
所述第一保持部以及所述第二保持部中的至少任意一方的保持部为环状,
所述移动驱动部使所述内照射部以及所述内受光部各自通过所述至少任意一方的保持部而进出所述筒状部的内部。
8.如权利要求5~7中任一项所述的缺陷检查装置,还包括:
框架,固定所述外照射部、所述外受光部、所述内照射部、以及所述内受光部的每一个,
所述移动驱动部通过使所述框架沿着所述中心轴移动,从而使所述外照射部、所述外受光部、所述内照射部、以及所述内受光部各自移动。
9.如权利要求5~7中任一项所述的缺陷检查装置,
所述框架包含:
第一框架,固定所述外照射部以及所述外受光部的每一个;以及
第二框架,固定所述内照射部以及所述内受光部的每一个,
所述移动驱动部通过使所述第一框架和所述第二框架各自相互独立地移动,从而使所述外照射部以及所述外受光部和所述内照射部以及所述内受光部相互独立地移动。
10.如权利要求5或6所述的缺陷检查装置,还包括:
框架,固定所述外照射部、所述外受光部、所述内照射部、以及所述内受光部的每一个,
所述旋转部包含:
第一保持部,在所述中心轴成为垂直方向的状态下保持所述筒状物的一方的端部;
第二保持部,在所述中心轴成为垂直方向的状态下保持所述筒状物的另一方的端部;以及
旋转驱动部,使所述第一保持部以及所述第二保持部旋转,
所述框架还固定所述第一保持部,
所述移动驱动部通过使所述框架沿着所述中心轴移动,从而使所述外照射部、所述外受光部、所述内照射部、以及所述内受光部各自和所述第一保持部移动。
11.如权利要求5~10中任一项所述的缺陷检查装置,
所述外受光部为多个,多个外受光部各自沿着所述中心轴而被配置,
所述内受光部为多个,多个内受光部各自沿着所述中心轴而被配置。
12.如权利要求5~11中任一项所述的缺陷检查装置,
在所述筒状物旋转时,所述内受光部在与所述外受光部接受来自所述外表面中的规定的区域的光的定时相同的定时,接受来自与所述内表面中的所述规定的区域对应的区域的光。
13.如权利要求5~11中任一项所述的缺陷检查装置,
在所述筒状物旋转时,所述外受光部在与所述内受光部接受来自所述内表面中的规定的区域的光的定时不同的定时,接受来自与所述外表面中的所述规定的区域对应的区域的光。
CN201810600136.4A 2017-06-13 2018-06-12 筒状物的缺陷检查装置 Pending CN109085182A (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017115615A JP2019002725A (ja) 2017-06-13 2017-06-13 欠陥検査装置
JP2017-115615 2017-06-13

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN109085182A true CN109085182A (zh) 2018-12-25

Family

ID=64564128

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810600136.4A Pending CN109085182A (zh) 2017-06-13 2018-06-12 筒状物的缺陷检查装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20180357757A1 (zh)
JP (1) JP2019002725A (zh)
CN (1) CN109085182A (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109959406A (zh) * 2019-04-17 2019-07-02 福州大学 轮式旋转悬臂水下桥墩检测装置及其工作方法
CN109975320A (zh) * 2019-03-27 2019-07-05 中国科学院自动化研究所 基于机器视觉的圆柱体曲面图像采集方法、***、装置
CN110381265A (zh) * 2019-07-12 2019-10-25 武汉恒新动力科技有限公司 筒装工件内壁图像获取方法、设备及计算机可读存储介质
CN116698876A (zh) * 2023-08-09 2023-09-05 盐城捷特拉克无损检测设备有限公司 一种圆棒及圆管金属材料的无损检测设备及检测方法

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI605905B (zh) * 2016-11-23 2017-11-21 財團法人工業技術研究院 刀具檢測系統與刀具檢測方法
US10755401B2 (en) * 2018-12-04 2020-08-25 General Electric Company System and method for work piece inspection
CN110261407A (zh) * 2019-05-23 2019-09-20 北京工业大学 一种旋转式全扫描热水器内胆表面缺陷检测装置及方法
US11493453B2 (en) * 2019-06-28 2022-11-08 Kyocera Document Solutions Inc. Belt inspection system, belt inspection method, and recording medium for belt inspection program
JP2021047136A (ja) * 2019-09-20 2021-03-25 株式会社Screenホールディングス 撮像装置、撮像方法および検査装置
JP7436781B2 (ja) * 2019-09-25 2024-02-22 キョーラク株式会社 検査システム
JP2021189239A (ja) * 2020-05-27 2021-12-13 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 ベルト検査システムおよびベルト検査プログラム
JP7469740B2 (ja) * 2020-05-27 2024-04-17 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 ベルト検査システムおよびベルト検査プログラム

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3601616A (en) * 1968-02-02 1971-08-24 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Method and device for inspecting bottle by radiant energy
JPH0989789A (ja) * 1995-09-20 1997-04-04 Denso Corp 筒内面欠陥検出装置
CN101109716A (zh) * 2007-08-01 2008-01-23 北京理工大学 孔内表面的光学检测方法
US8107713B2 (en) * 2008-02-25 2012-01-31 Burroughs Payment Systems, Inc. Reduction of incorrectly identified document scanning defects
CN102713506A (zh) * 2009-12-17 2012-10-03 住友金属工业株式会社 管状物的检查装置及其检查方法
US20140110606A1 (en) * 2011-05-27 2014-04-24 Hitachi, Ltd. Near-field optical defect inspection apparatus
CN104181171A (zh) * 2014-08-08 2014-12-03 明泰信科精密仪器科技(苏州)有限公司 对圆孔工件的内外壁进行图像拍摄的方法和装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9894269B2 (en) * 2012-10-31 2018-02-13 Atheer, Inc. Method and apparatus for background subtraction using focus differences
CA2992772A1 (en) * 2013-03-15 2014-09-18 Aegion Coating Services, Llc Pipe outer surface inspection apparatus

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3601616A (en) * 1968-02-02 1971-08-24 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Method and device for inspecting bottle by radiant energy
JPH0989789A (ja) * 1995-09-20 1997-04-04 Denso Corp 筒内面欠陥検出装置
CN101109716A (zh) * 2007-08-01 2008-01-23 北京理工大学 孔内表面的光学检测方法
US8107713B2 (en) * 2008-02-25 2012-01-31 Burroughs Payment Systems, Inc. Reduction of incorrectly identified document scanning defects
CN102713506A (zh) * 2009-12-17 2012-10-03 住友金属工业株式会社 管状物的检查装置及其检查方法
US20140110606A1 (en) * 2011-05-27 2014-04-24 Hitachi, Ltd. Near-field optical defect inspection apparatus
CN104181171A (zh) * 2014-08-08 2014-12-03 明泰信科精密仪器科技(苏州)有限公司 对圆孔工件的内外壁进行图像拍摄的方法和装置

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
张宪民 等: "《机械工程概论》", 30 September 2011 *
高明 等: "《光电仪器设计》", 31 July 2012 *

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109975320A (zh) * 2019-03-27 2019-07-05 中国科学院自动化研究所 基于机器视觉的圆柱体曲面图像采集方法、***、装置
CN109975320B (zh) * 2019-03-27 2020-09-01 中国科学院自动化研究所 基于机器视觉的圆柱体曲面图像采集方法、***、装置
CN109959406A (zh) * 2019-04-17 2019-07-02 福州大学 轮式旋转悬臂水下桥墩检测装置及其工作方法
CN109959406B (zh) * 2019-04-17 2024-02-02 福州大学 轮式旋转悬臂水下桥墩检测装置及其工作方法
CN110381265A (zh) * 2019-07-12 2019-10-25 武汉恒新动力科技有限公司 筒装工件内壁图像获取方法、设备及计算机可读存储介质
CN110381265B (zh) * 2019-07-12 2021-08-31 武汉恒新动力科技有限公司 筒状工件内壁图像获取方法、设备及计算机可读存储介质
CN116698876A (zh) * 2023-08-09 2023-09-05 盐城捷特拉克无损检测设备有限公司 一种圆棒及圆管金属材料的无损检测设备及检测方法
CN116698876B (zh) * 2023-08-09 2023-12-19 盐城捷特拉克无损检测设备有限公司 一种圆棒及圆管金属材料的无损检测设备及检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20180357757A1 (en) 2018-12-13
JP2019002725A (ja) 2019-01-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109085182A (zh) 筒状物的缺陷检查装置
CN109961421B (zh) 数据生成装置、数据生成方法以及数据生成记录介质
TWI225927B (en) Defect inspection system
JP6955211B2 (ja) 識別装置、識別方法及びプログラム
JP7054436B2 (ja) 検出システム、情報処理装置、評価方法及びプログラム
TWI484161B (zh) 缺陷檢查系統及使用於該缺陷檢查系統之缺陷檢查用攝影裝置、缺陷檢查用畫像處理裝置、缺陷檢查用畫像處理程式、記錄媒體及缺陷檢查用畫像處理方法
CZ20024260A3 (cs) Systém zpracování zobrazení pro použití v systému kontroly
JPWO2014050641A1 (ja) 容器検査システム
US20090290788A1 (en) System and method for performing multi-image training for pattern recognition and registration
US11323574B2 (en) Determining defects having a characteristic separation distance
JP2008102676A (ja) 樹脂層読取方法、樹脂層識別照合方法、樹脂層読取装置および樹脂層識別照合装置
JP2020187696A (ja) 異物マーク判別方法、シート検査装置及びプログラム
JP5127781B2 (ja) 角缶の内面検査方法
TWI435069B (zh) 葉片狀薄膜檢測裝置及葉片狀薄膜檢測方法
Schöch et al. Automating the surface inspection on small customer-specific optical elements
TWM600842U (zh) 片狀材料快速檢測瑕疵整合系統
CN113640303A (zh) 一种用于笔记本电脑的表面瑕疵检验设备及其检测方法
KR100948795B1 (ko) 주화검사장치
US10890870B2 (en) ITM dent identification utilizing integrated defect maps
TWI731565B (zh) 片狀材料快速檢測瑕疵整合系統及其使用方法
Fitti et al. In-line burr inspection through backlight vision
Schöch et al. Automated classification of imperfections and dust un small optical elements
JP2005070012A (ja) 容器充填液体の異物検査方法とその装置
WO2023243253A1 (ja) ウェーハの判定方法、判定プログラム、判定装置、ウェーハの製造方法及びウェーハ
KR100351129B1 (ko) 주변 마스크를 이용한 인쇄불량 검사시스템

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination