CN109030986B - 基于触发功能的t/r组件移相精度测试方法及*** - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种基于触发功能的T/R组件移相精度测试方法及***，包括：状态控制器在接收到移相开始指令后对T/R组件连续输出N态移相指令，并在每一态移相指令生效后向矢量网络分析仪“外触发输入”端口输出测量同步信号触发扫描，实时监听矢量网络分析仪“外触发就绪”端口测量完成信号，将本次矢量网络分析仪测量完成信号作为下一态移相指令开始信号。本发明有益效果：本发明工控机程控读取矢量网络分析仪测试数据的次数由64次变为1次，提高了测试效率。

Description

基于触发功能的T/R组件移相精度测试方法及***
技术领域
本发明涉及测试技术领域，特别涉及一种基于触发功能的T/R组件移相精度测试方法及***。
背景技术
移相精度是衡量T/R组件的重要指标。目前一般采用工控机程控状态控制器、矢量网络分析仪协同的方式进行，传统移相精度测试***流程如图1所示，程控矢量网络分析仪输入激励信号到T/R组件，程控状态控制器对T/R组件进行移相操作，程控矢量网络分析仪启动扫描，待扫描结束后程控矢量网络分析仪获取单态移相量测试数据。重复完成64态移相测试。
上述测试过程中，工控机在单个相位状态中需要与仪器(状态控制器、矢量网络分析仪)通讯3次，64态需通讯192(3×64)次，工控机与状态控制器、矢量网络分析仪之间的频繁通讯，严重降低了测试效率。且T/R组件工作时发热量往往较大，冗长的测试时间会引入温飘，对测试精度造成较大影响。
因此，在T/R组件移相精度自动测试中，目前传统方法需要工控机多次程控状态控制器对T/R组件进行移相操作并程控矢量网络分析仪完成扫描并获取测试数据。工控机与状态控制器、矢量网络分析仪之间的频繁通讯，严重降低了测试效率。
发明内容
本发明为了解决上述问题，提出了一种基于触发功能的T/R组件移相精度测试方法及***，利用状态控制器预设移相命令组控制T/R组件移相操作取代工控机多次程控状态控制器对T/R组件进行移相操作。
为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：
本发明的第一目的是公开一种基于触发功能的T/R组件移相精度测试方法，包括：
状态控制器在接收到移相开始指令后对T/R组件连续输出N态移相指令，并在每一态移相指令生效后向矢量网络分析仪“外触发输入”端口输入测量同步信号触发扫描，实时监听矢量网络分析仪“外触发就绪”端口测量完成信号，将本次矢量网络分析仪测量完成信号作为下一态移相指令开始信号。
进一步地，具体实现方法如下：
(1)设置矢量网络分析仪的扫描方式以及扫描点数；设置矢量网络分析仪触发方式以及触发范围；
(2)程控T/R组件初始移相量状态，以该状态为基态，对矢量网络分析仪进行归一化；
(3)状态控制器接收到移相开始指令后对T/R组件完成移相操作，并向矢量网络分析仪“外触发输入”端口发出测量同步信号；
(4)矢量网络分析仪进行第一个移相状态测试；
(5)状态控制器监听到矢量网络分析仪“外触发就绪”测量完成信号后向T/R组件输出下一态移相指令；
(6)重复步骤(3)-(5)，直至所有的移相状态测试完毕。
进一步地，设置矢量网络分析仪的扫描方式为点频扫描。
进一步地，设置矢量网络分析仪触发方式为外部，触发范围为通道，触发模式为点触发，触发设置为单次。
进一步地，所有移相状态测试数据暂存在矢量网络分析仪内，工控机一次性程控获取矢量网络分析仪内暂存的所有移相状态测试数据。
本发明的第二目的是公开一种用于进行移相精度测试的状态控制器，与T/R组件连接对T/R组件进行移相操作；其特征在于，所述状态控制器增设两路TTL控制信号，一路连接到矢量网络分析仪“外触发输入”端口，另一路连接到矢量网络分析仪“外触发就绪”端口。
进一步地，所述状态控制器内预置N组移相指令，其中，N为设定整数值。
本发明的第三目的是基于触发功能的T/R组件移相精度测试***，包括：工控机、上述的用于进行移相精度测试的状态控制器、矢量网络分析仪以及T/R组件；所述工控机通过LAN总线与状态控制器进行通信；所述矢量网络分析仪与T/R组件进行射频信号通信；所述状态控制器与矢量网络分析仪和T/R组件分别进行通信。
进一步地，状态控制器在接收到工控机移相开始指令后向T/R组件连续输出N态移相指令，并在每一态移相指令生效后向矢量网络分析仪“外触发输入”端口输出测量同步信号触发扫描，实时监听矢量网络分析仪“外触发就绪”端口测量完成信号，将本次矢量网络分析仪测量完成信号作为下一态移相指令开始信号。
本发明的有益效果为：
1、本发明将工控机、状态控制器、矢量网络分析仪三者之间的配合测试转换成状态控制器、矢量网络分析仪两者之间的配合测试，简化了测试组成；
2、本发明将矢量网络分析仪的触发由原来的工控机程控命令触发转换成控制器的TTL电平触发，加快触发速度；
3、本发明将被动盲目等待矢量网络分析仪扫描完成转换成主动监听扫描完成，间接加快扫描速度；
4、本发明工控机程控读取矢量网络分析仪测试数据的次数由64次变为1次，提高了测试效率；
5、本发明通过加快测试速度极大地改善了温飘对测试结果的影响。
附图说明
图1为现有技术中对T/R组件的移相精度测试方法流程图；
图2为本发明基于触发功能的T/R组件移相精度测试方法流程图；
图3为本发明基于触发功能的T/R组件移相精度测试结构示意图。
具体实施方式：
下面结合附图与实施例对本发明作进一步说明。
应该指出，以下详细说明都是示例性的，旨在对本申请提供进一步的说明。除非另有指明，本文使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。
需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
基于现有技术中存在的工控机与状态控制器、矢量网络分析仪之间的频繁通讯，严重降低了测试效率以及T/R组件工作时发热量往往较大，冗长的测试时间会引入温飘，对测试精度造成较大影响的问题，本发明公开了一种基于触发功能的T/R组件移相精度测试方法，该方法的核心思想是：
状态控制器在接收到移相开始指令后对T/R组件连续输出N态移相指令，并在每一态移相指令生效后向矢量网络分析仪“外触发输入”端口输入测量同步信号触发扫描，实时监听矢量网络分析仪“外触发就绪”端口测量完成信号，将本次矢量网络分析仪测量完成信号作为下一态移相指令开始信号。
本发明基于触发功能的T/R组件移相精度测试方法如图2所示，详细设置执行过程如下：
1)将矢量网络分析仪的扫描方式设置为点频，扫描点数设置为64；
2)将矢量网络分析仪触发方式设置为外部，触发范围设置为通道，触发模式为点触发，触发设置为单次；
3)程控T/R组件移相量为0°，以该状态为基态，对矢量网络分析仪进行归一化；
4)由工控机向状态控制器下发移相开始指令；
5)状态控制器对T/R组件完成移相操作后，向矢量网络分析仪“外触发输入”端口发出测量同步信号；
6)矢量网络分析仪进行第一个移相状态测试；
7)状态控制器监听到矢量网络分析仪“外触发就绪”端口测量完成信号后输出下一态移相指令；
8)状态控制器与矢量网络分析仪自主配合按照5)、6)、7)步骤完成其它63态测试；
9)测试完成后，该通道进入Hold模式；
10)通过程控一次性获取矢量网络分析仪64态相位值。
为了实现上述方法，本发明需要对状态控制器进行如下改造：
状态控制器硬件上增加两路TTL控制信号，一路连接到矢量网络分析仪“外触发输入”端口，另一路连接到矢量网络分析仪“外触发就绪”端口。
控制器固件程序上预设64组移相指令。状态控制器在接收到工控机移相开始指令后对T/R组件连续输出64态移相指令。期间在各个移相指令生效后向矢量网络分析仪“外触发输入”端口输出测量同步信号触发扫描，状态控制器监听矢量网络分析仪“外触发就绪”测量完成信号作为下一态移相指令开始信号。
为了实现上述方法，本发明公开基于触发功能的T/R组件移相精度测试***，其结构如图3所示，包括：
工控机、状态控制器、矢量网络分析仪以及T/R组件；工控机通过LAN总线与状态控制器、矢量网络分析仪进行通信；矢量网络分析仪与T/R组件进行射频信号通讯；状态控制器与矢量分析仪和T/R组件分别进行通信；
本发明将现有技术中工控机、状态控制器和矢量网络分析仪三者之间的配合测试转换成状态控制器、矢量网络分析仪两者之间的配合测试，简化了测试组成，提高了测试效率和精度。
本发明利用状态控制器预设移相命令组控制T/R组件移相操作取代工控机多次程控状态控制器对T/R组件进行移相操作；
本发明利用状态控制器TTL触发信号取代工控机触发命令控制矢量网络分析仪触发扫描；
本发明利用状态控制器监听矢量网络分析仪“外触发就绪”端口测量完成信号取代盲目等待矢量网络分析仪扫描结束；
本发明利用矢量网络分析仪内部暂存功能取代工控机与矢量网络分析仪间频繁数据通讯。
需要说明的是，本发明测试方法除了适用于本发明给出的移相精度测试技术领域以外，同样适用于衰减精度测试技术领域。
上述虽然结合附图对本发明的具体实施方式进行了描述，但并非对本发明保护范围的限制，所属领域技术人员应该明白，在本发明的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本发明的保护范围以内。

Claims (8)

1.基于触发功能的T/R组件移相精度测试方法，其特征在于，包括：
状态控制器在接收到移相开始指令后对T/R组件连续输出N态移相指令，并在每一态移相指令生效后向矢量网络分析仪外触发输入端口输出测量同步信号触发扫描，实时监听矢量网络分析仪外触发就绪端口测量完成信号，将本次矢量网络分析仪测量完成信号作为下一态移相指令开始信号；
具体实现方法如下：
(1)设置矢量网络分析仪的扫描方式以及扫描点数；设置矢量网络分析仪触发方式以及触发范围；
(2)程控T/R组件初始移相量状态，以该状态为基态，对矢量网络分析仪进行归一化；
(3)状态控制器接收到移相开始指令后对T/R组件完成移相操作，并向矢量网络分析仪外触发输入端口发出测量同步信号；
(4)矢量网络分析仪进行第一个移相状态测试；
(5)状态控制器监听到矢量网络分析仪外触发就绪端口测量完成信号后输出下一态移相指令；
(6)重复步骤(3)-(5)，直至所有的移相状态测试完毕。
2.如权利要求1所述的基于触发功能的T/R组件移相精度测试方法，其特征在于，设置矢量网络分析仪的扫描方式为点频扫描。
3.如权利要求1所述的基于触发功能的T/R组件移相精度测试方法，其特征在于，设置矢量网络分析仪触发方式为外部，触发范围为通道，触发模式为点触发，触发设置为单次。
4.如权利要求1所述的基于触发功能的T/R组件移相精度测试方法，其特征在于，所有移相状态测试数据暂存在矢量网络分析仪内，状态控制器一次性获取矢量网络分析仪内暂存的所有移相状态测试数据。
5.用于进行移相精度测试的状态控制器，采用如权利要求1-4任一项所述的基于触发功能的T/R组件移相精度测试方法，与T/R组件连接对T/R组件进行移相操作；其特征在于，所述状态控制器增设两路TTL控制信号，一路连接到矢量网络分析仪“外触发输入”端口，另一路连接到矢量网络分析仪“外触发就绪”端口。
6.如权利要求5所述的用于进行移相精度测试的状态控制器，其特征在于，所述状态控制器内预置N组移相指令，其中，N为设定整数值。
7.基于触发功能的T/R组件移相精度测试***，其特征在于，包括：工控机、权利要求5-6任一项所述的用于进行移相精度测试的状态控制器、矢量网络分析仪以及T/R组件；所述工控机通过LAN总线与状态控制器进行通信；所述矢量网络分析仪与T/R组件进行射频信号通信；所述状态控制器与矢量网络分析仪和T/R组件分别进行通信。
8.如权利要求7所述的基于触发功能的T/R组件移相精度测试***，其特征在于，状态控制器在接收到工控机移相开始指令后对T/R组件连续输出N态移相指令，并在每一态移相指令生效后向矢量网络分析仪外触发输入端口输出测量同步信号触发扫描，实时监听矢量网络分析仪外触发就绪端口测量完成信号，将本次矢量网络分析仪测量完成信号作为下一态移相指令开始信号。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113447898A (zh) * 2021-06-28 2021-09-28 四创电子股份有限公司 一种基于矢网的t/r组件多态s参数测量***
CN113945772A (zh) * 2021-10-14 2022-01-18 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种基于矢量网络分析仪的快速连续点测量***及方法
CN115085828B (zh) * 2022-08-22 2022-11-22 上海安其威微电子科技有限公司 相位移相精度测试方法和装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103267902A (zh) * 2013-05-20 2013-08-28 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种基于硬件触发的快速天线测试装置及方法
CN105242246A (zh) * 2015-09-08 2016-01-13 西安电子科技大学 一种雷达t/r组件自动测试***及其方法
CN105425220A (zh) * 2015-11-05 2016-03-23 中国船舶重工集团公司第七二四研究所 一种数字t/r组件收发转换及接收布相时间测量方法
CN106405270A (zh) * 2016-08-22 2017-02-15 中国电子科技集团公司第四十研究所 支持多t/r组件测试的收发切换控制信号产生方法及装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103267902A (zh) * 2013-05-20 2013-08-28 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种基于硬件触发的快速天线测试装置及方法
CN105242246A (zh) * 2015-09-08 2016-01-13 西安电子科技大学 一种雷达t/r组件自动测试***及其方法
CN105425220A (zh) * 2015-11-05 2016-03-23 中国船舶重工集团公司第七二四研究所 一种数字t/r组件收发转换及接收布相时间测量方法
CN106405270A (zh) * 2016-08-22 2017-02-15 中国电子科技集团公司第四十研究所 支持多t/r组件测试的收发切换控制信号产生方法及装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
T/R组件自动测试***;盛永鑫;《国外电子测量技术》;20061130;第25卷(第11期);第39页第1栏第1段-第5段及图1 *

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