CN108922909A

CN108922909A - 一种阵列基板、显示面板以及显示装置

Info

Publication number: CN108922909A
Application number: CN201810836881.9A
Authority: CN
Inventors: 曾超
Original assignee: BOE Technology Group Co Ltd; Chengdu BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Current assignee: BOE Technology Group Co Ltd; Chengdu BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date: 2018-07-26
Filing date: 2018-07-26
Publication date: 2018-11-30

Abstract

本发明公开了一种阵列基板、显示面板以及显示装置，涉及显示技术领域，用于解决相关技术中的阵列基板不能够准确检测出有裂缝的面板，有裂缝面板被检测出的概率较低的问题而发明。该阵列基板，包括显示区和位于显示区***的非显示区，非显示区内设有裂缝检测走线、裂缝阻隔走线、第一连接走线以及第二连接走线，第一连接走线与裂缝检测走线的第一端电连接，第二连接走线与裂缝检测走线的第二端电连接；裂缝检测走线具有断开部分，裂缝阻隔走线的两端分别与断开部分的两端一一对应电连接；阵列基板还包括电测测试端，电测测试端与第一连接走线电连接。本发明可用于液晶面板、OLED面板等显示面板中。

Description

一种阵列基板、显示面板以及显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板、显示面板以及显示装置。

背景技术

在显示技术领域，OLED(Organic Light-Emitting Diode；有机发光二极管)显示面板作为新一代的柔性显示技术在手机、电脑、AR(Augmented Reality；增强现实技术)等方面拥有广阔的应用前景。然而，在柔性OLED面板制作过程中，特别是在柔性OLED在切割完成以后的后续工艺中，面板边缘在外力的作用下很容易产生裂痕，这样外界的水氧以渗透的方式通过此裂痕进入OLED面板内，使面板内的有机器件氧化，从而降低OLED面板的发光效率与稳定性。因此，如何有效的阻挡与检测裂痕是柔性面板研究领域的重要课题之一。

为了阻挡与检测裂痕，相关技术中提供了一种OLED面板的阵列基板，如图1和图2所示，包括显示区01和位于显示区(AA区)01***的非显示区02，非显示区02内设有裂缝检测走线021(Panel Crack Detection；简称PCD)、裂缝阻隔坝022(Crack dam)、第一连接走线023以及第二连接走线024，裂缝阻隔坝022位于裂缝检测走线021远离显示区01的一侧，裂缝阻隔坝022采用无机材料SiNx/SiOx形成，主要是阻止面板边缘产生的裂缝向面板的显示区01域扩散；第一连接走线023与裂缝检测走线021的第一端电连接，第二连接走线024与裂缝检测走线021的第二端电连接；显示区01内设有相互平行的第一数据线011和第二数据线012，第一数据线011与第一连接走线023电连接，第二数据线012与第二连接走线024电连接；该阵列基板还包括电测测试端03(ET测试端)，电测测试端03与第一连接走线023电连接。

在裂缝检测时，将显示区01所有像素均打开，电测测试端03写入高电平数据信号(data信号)，由于电测测试端03是与第一连接走线023电连接，第一数据线011是与第一连接走线023电连接，那么与第一数据线011直接相连的像素将不发光，这些像素所在的区域显示为黑画面；而与第二数据线012直接连接的像素，由于第二数据线012是与第二连接走线024电连接，那么电测测试端03写入高电平数据信号则要经过裂缝检测走线021才能传输至与第二数据线012相连接的像素。若面板没有产生裂纹，则数据信号可顺利写入与第二数据线012相连接的像素，那么整个面板呈现黑画面；若面板产生有裂纹，那么裂缝检测走线021则会因此受到产生裂纹时面板的内部应力而折断，则数据信号不能写入与第二数据线012相连接的像素，那么，与第二数据线012相连接的像素将会发光，面板在该区域将产生亮线；具体的原理如下：PTFT导通条件为V_gs-V_th<0；如图3所示，在OLED器件发光前，Vdata写入驱动OLED的TFT的栅极(DTFT)，OLED器件是否发光取决于此TFT是否导通。在裂纹检测时，V_data为高电压；若V_data能写入栅极，那么V_gs-V_th＝(V_data+V_th-V_s-V_th)>0，则使TFT关闭，此时整个显示面板呈现黑画面。若裂缝检测走线021断路(floating状态)，则数据线对应列V_data不能写入DTFT栅极，V_gs-V_th<0使OLED器件发光，呈现亮线。

相关技术中的这种OLED面板的阵列基板，对面板裂纹的检测主要是靠裂缝检测走线021是否被折断来进行的，由于裂缝阻隔坝022的阻隔，裂缝检测走线021只能设置在位于裂缝阻隔坝022靠近显示区01的一侧，裂缝检测走线021所覆盖的区域有限，也就是只有裂缝扩散至裂缝检测走线021所覆盖的区域内才会被检测到，如果面板上的裂缝是在裂缝检测走线021所覆盖的区域之外，例如裂缝阻隔坝022远离显示区01的一侧，就不会被检测到，这样导致相关技术中这种结构设计不能够准确检测出有裂缝的面板，有裂缝面板被检测出的概率相对不高，不能够及时发现产生裂缝的面板，并对产生裂缝的面板进行及时处理，导致有较多数量有裂缝的面板进入到下一工序，大大降低了面板的良率。

发明内容

本发明的实施例提供一种阵列基板、显示面板以及显示装置，用于解决相关技术中的阵列基板不能够准确检测出有裂缝的面板，有裂缝面板被检测出的概率较低的技术问题。

为达到上述目的，第一方面，本发明实施例提供了一种阵列基板，包括显示区和位于所述显示区***的非显示区，所述非显示区内设有裂缝检测走线、裂缝阻隔走线、第一连接走线以及第二连接走线，所述裂缝阻隔走线位于所述裂缝检测走线远离所述显示区的一侧，所述第一连接走线与所述裂缝检测走线的第一端电连接，所述第二连接走线与所述裂缝检测走线的第二端电连接；裂缝检测走线具有断开部分，所述裂缝阻隔走线的两端分别与所述断开部分的两端一一对应电连接；所述显示区内设有相互平行的第一数据线和第二数据线，所述第一数据线与所述第一连接走线电连接，所述第二数据线与所述第二连接走线电连接；所述阵列基板还包括电测测试端，所述电测测试端与所述第一连接走线电连接。

进一步地，所述裂缝检测走线、所述裂缝阻隔走线均迂回设置。

进一步地，所述阵列基板包括衬底基板以及多个层叠设置于所述衬底基板上的绝缘膜层，所述裂缝检测走线、所述裂缝阻隔走线均位于所述绝缘膜层上，并且所述裂缝检测走线所位于的所述绝缘膜层的表面与所述裂缝阻隔走线所位于的所述绝缘膜层的表面为同一绝缘膜层的表面；或者所述裂缝检测走线位于相邻的两个所述绝缘膜层中的一个所述绝缘膜层的表面上，所述裂缝阻隔走线位于相邻的两个所述绝缘膜层中的另一个所述绝缘膜层的表面上。

进一步地，所述裂缝检测走线、所述裂缝阻隔走线、所述第二连接走线的数目均为多个，多个所述裂缝检测走线与多个所述裂缝阻隔走线一一相邻设置，每个所述裂缝阻隔走线均位于相邻的所述裂缝检测走线远离所述显示区的一侧；每个所述裂缝检测走线均具有所述断开部分，每个所述裂缝阻隔走线的两端均与相邻的所述裂缝检测走线的断开部分的两端一一对应电连接；多个所述第二连接走线互不直接相连，每个所述第二连接走线与至少一个所述第二数据线电连接；多个所述裂缝检测走线的第一端均与所述第一连接走线电连接；多个所述裂缝检测走线的第二端分别与多个所述第二连接走线的第一端一一对应电连接。

更进一步地，所述阵列基板还包括电阻测试端，所述电阻测试端包括多个子测试端，多个所述子测试端分别与多个所述第二连接走线一一对应电连接。

更进一步地，所述裂缝检测走线、所述裂缝阻隔走线、所述第二连接走线的数目均为两个，两个所述裂缝检测走线、两个所述裂缝阻隔走线、两个所述第二连接走线均关于所述显示区沿第二方向的中心面对称设置；其中，所述第一方向为平行于所述第一数据线或者所述第二数据线的方向，所述第二方向为与所述第一方向、所述阵列基板的厚度方向均垂直的方向。

进一步地，所述第一连接走线、所述第二连接走线均位于所述显示区在第一方向上的一侧，所述第一方向为平行于所述第一数据线或者所述第二数据线的方向。

更进一步地，所述第一连接走线和所述第二连接走线均位于所述显示区的同一侧。

第二方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括第一方面中所述的阵列基板。

第三方面，本发明实施例提供了一种显示装置，包括第二方面的显示面板。

本发明实施例提供的阵列基板、显示面板以及显示装置，本发明实施例提供的阵列基板，由于第一连接走线与裂缝检测走线的第一端电连接，第二连接走线与裂缝检测走线的第二端电连接；裂缝检测走线具有断开部分，裂缝阻隔走线的两端分别与断开部分的两端一一对应电连接；第一数据线与第一连接走线电连接，第二数据线与第二连接走线电连接；电测测试端与第一连接走线电连接；这样，在裂缝检测时，若面板没有产生裂纹，那么，由电测测试端输入的数据信号经第一连接走线、裂缝检测走线的第一端、裂缝检测走线、裂缝阻隔走线、裂缝检测走线、裂缝检测走线的第二端、第二连接走线后进入至第二数据线，以顺利写入与第二数据线相连接的像素，那么整个面板呈现黑画面；若面板产生有裂纹，那么裂缝检测走线则会因此受到产生裂纹时面板的内部应力而折断，则数据信号不能写入与第二数据线相连接的像素，那么，与第二数据线相连接的像素将会发光，面板在该区域将产生亮线；根据面板是否产生亮线就可以判断面板是否产生裂痕；本发明实施例提供的阵列基板是将裂缝检测走线与裂缝阻隔走线电连接，裂缝阻隔走线是位于裂缝检测走线远离显示区的一侧，这样，裂缝阻隔走线不但起到了阻止裂缝扩散至显示区的作用，同时也起到检测裂缝的的作用，裂缝检测走线与裂缝阻隔走线共同组成检测线路，大大提高了检测走线所覆盖的区域，只要面板在两者覆盖的区域产生有裂缝，就可以使裂缝检测走线与裂缝阻隔走线两者发生断裂，从而提高了有裂缝面板被检测出的概率；而有裂缝面板被检测出的概率的提高，就能够及时发现产生裂缝的面板，并对产生裂缝的面板进行及时处理，大大减少了有裂缝的面板进入到下一工序的数量，从而可以大大提高面板的良率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为相关技术中的一种阵列基板的俯视图；

图2为图1的B-B剖面视图；

图3阵列基板中PTFT的结构示意图；

图4为本发明一种实施例中的阵列基板的俯视图；

图5为图4的C-C剖面视图；

图6为本发明另一种实施例中的阵列基板的俯视图；

图7为图6的D-D剖面视图；

图8为图6的E-E剖面视图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

第一方面，如图4所示，本发明实施例提供了一种阵列基板，包括显示区1和位于显示区1***的非显示区2，非显示区2内设有裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22、第一连接走线23以及第二连接走线24，裂缝阻隔走线22位于裂缝检测走线21远离显示区1的一侧，第一连接走线23与裂缝检测走线21的第一端(图中a端)电连接，第二连接走线24与裂缝检测走线21的第二端(图中b端)电连接；裂缝检测走线21具有断开部分211，裂缝阻隔走线22的两端分别与断开部分211的两端一一对应电连接；显示区1内设有相互平行的第一数据线11和第二数据线12，第一数据线11与第一连接走线23电连接，第二数据线12与第二连接走线24电连接；阵列基板还包括电测测试端3，电测测试端3与第一连接走线23电连接。

其中，本发明实施例中的阵列基板，既可以应用与OLED面板中，也可以应用液晶显示面板，在此不做具体限定；裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22、第一连接走线23以及第二连接走线24均可以是导电金属(比如Mo)制成的走线。

本发明实施例提供的阵列基板，如图4所示，由于第一连接走线23与裂缝检测走线21的第一端电连接，第二连接走线24与裂缝检测走线21的第二端电连接；裂缝检测走线21具有断开部分211，裂缝阻隔走线22的两端分别与断开部分211的两端一一对应电连接；第一数据线11与第一连接走线23电连接，第二数据线12与第二连接走线24电连接；电测测试端3与第一连接走线23电连接；这样，在裂缝检测时，若面板没有产生裂纹，那么，由电测测试端3输入的数据信号经第一连接走线23、裂缝检测走线21的第一端、裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22、裂缝检测走线21、裂缝检测走线21的第二端、第二连接走线24后进入至第二数据线12，以顺利写入与第二数据线12相连接的像素，那么整个面板呈现黑画面；若面板产生有裂纹，那么裂缝检测走线21则会因此受到产生裂纹时面板的内部应力而折断，则数据信号不能写入与第二数据线12相连接的像素，那么，与第二数据线12相连接的像素将会发光，面板在该区域将产生亮线；根据面板是否产生亮线就可以判断面板是否产生裂痕；本发明实施例提供的阵列基板是将裂缝检测走线21与裂缝阻隔走线22电连接，裂缝阻隔走线22是位于裂缝检测走线21远离显示区1的一侧，这样，裂缝阻隔走线22不但起到了阻止裂缝扩散至显示区1的作用，同时也起到检测裂缝的的作用，裂缝检测走线21与裂缝阻隔走线22共同组成检测线路，大大提高了检测走线所覆盖的区域，只要面板在两者覆盖的区域产生有裂缝，就可以使裂缝检测走线21与裂缝阻隔走线22两者发生断裂，从而提高了有裂缝面板被检测出的概率；而有裂缝面板被检测出的概率的提高，就能够及时发现产生裂缝的面板，并对产生裂缝的面板进行及时处理，大大减少了有裂缝的面板进入到下一工序的数量，从而可以大大提高面板的良率。

为了进一步提高产生裂缝的面板被检测出的概率，如图4所示，裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22均迂回设置。这样，增加了裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22的长度，从而增加了裂缝检测走线21与裂缝阻隔走线22所组成的检测线路的覆盖区域的面积，进而可以提高产生裂缝的面板被检测出的概率。

其中，裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22迂回设置的方式并不局限于图4中所设置的方式，只要能够增加裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22的长度以及增加裂缝检测走线21与裂缝阻隔走线22所组成的检测线路的覆盖区域的面积的设置方式均可。

本发明实施例提供的阵列基板中，第一连接走线23、第二连接走线24相对显示区1的设置位置也不唯一，比如，如图4所示，第一连接走线23、第二连接走线24可以均位于显示区1在第一方向(例如图4所示的Y方向)上的一侧，第一方向为平行于第一数据线11或者第二数据线12的方向。另外，第一连接走线23、第二连接走线24也可以均位于显示区1在第二方向上的一侧，第二方向为与第一方向、阵列基板的厚度方向均垂直的方向，例如图4所示的X方向。相比第一连接走线23、第二连接走线24可以均位于显示区1在第二方向上的一侧，第一连接走线23、第二连接走线24均位于显示区1在第一方向上的一侧时，第一数据线11、第二数据线12就可以直接分别与第一连接走线23、第二连接走线24对应电连接，无需绕圈，方便了数据线与第一连接走线23、第二连接走线24的连接。

在第一连接走线23、第二连接走线24均位于显示区1在第一方向上的一侧的实施例中，第一连接走线23和第二连接走线24的相对位置也不唯一，比如，如图4所示，第一连接走线23和第二连接走线24可以均位于显示区1在第一方向上的同一侧。另外，第一连接走线23和第二连接走线24也可以分别位于显示区1在第一方向上的两侧。相比第一连接走线23和第二连接走线24分别位于显示区1在第一方向上的两侧，第一连接走线23和第二连接走线24均位于显示区1在第一方向上的同一侧时，可以使阵列基板的布线更加紧凑，便于裂缝检测走线21的第一端、第二端分别与第一连接走线23、第二连接走线24电连接。

如图5所示，阵列基板包括衬底基板4以及多个层叠设置于衬底基板4上的绝缘膜层5；

其中，裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22所设置的位置也不唯一，比如，如图5所示，裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22可以均位于绝缘膜层5上，比如，裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22可以均位于GI2层(Gate1与Gate2之间的绝缘层)上。另外，裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22也可以均位于衬底基板4的表面上。相比裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22均位于衬底基板4的表面上，裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22均位于绝缘膜层5上时，裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22就可以与显示区1绝缘膜层5上的栅线等在同一道工序中完成制作，例如图5所示，裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22就可以与Gate2(显示区像素电路的栅线以及与Gate1形成存储电容的金属层)一起制作，这样可以大大简化阵列基板的制作工艺，从而有利于降低阵列基板的制作成本。

在裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22均位于绝缘膜层5上的实施例中，裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22在绝缘膜层5上的设置方式也不唯一，可以包括以下两种实施例：

图4和图5所示为裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22位于同一绝缘膜层5上的实施例，在该实施例中，裂缝检测走线21所位于的绝缘膜层5的表面与裂缝阻隔走线22所位于的绝缘膜层5的表面为同一绝缘膜层5的表面，比如图5所示，裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22均位于GI2层的表面上。在该实施例中，裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22以及显示区1中的栅线(比如Gate2)等在一道工序中用一个掩膜板同时制作，大大简化阵列基板的制作工艺。

图6、图7和图8所示为裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22位于不同膜层上的实施例，在该实施例中，裂缝检测走线21位于相邻的两个绝缘膜层5中的一个绝缘膜层5的表面上，裂缝阻隔走线22位于相邻的两个绝缘膜层5中的另一个绝缘膜层5的表面上，比如图7所示，裂缝阻隔走线22位于GI1层(TFT器件栅极的绝缘层)的表面上，裂缝检测走线21位于GI2层的表面上。在该实施例中，裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22就可以分别在两道工序中与显示区1中的栅线等一同完成制作，例如图7所示，裂缝阻隔走线22就可以与Gate1(TFT的栅极)在一道工序中用一个掩膜板同时制作；裂缝检测走线21就可以与Gate2在一道工序中用一个掩膜板同时制作，从而也可简化阵列基板的制作工艺。

在裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22位于不同膜层上的实施例中，由于裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22是位于不同膜层上，这样，裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22之间是通过导电桥实现电连接，如图8所示，断开部分211的一端通过SD(显示区像素电路数据线金属层)搭成的导电桥实现电连接

为了将裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22与外界相隔离，如图5、图7和图8所示，裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22上均覆盖有绝缘膜层5，绝缘膜层5用于将裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22密封，例如图5所示，裂缝检测走线21覆盖有ILD层(层间介质电绝缘层)、裂缝阻隔走线22覆盖有PLN层(有机绝缘平坦层)。通过在裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22上覆盖绝缘膜层5可以防止裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22与外界相接触，从而更好地防止裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22被外界的水氧所侵蚀，从而保证了面板裂纹检测的准确性。

其中，裂缝阻隔走线22上所覆盖的绝缘膜层5的类型并不唯一，比如，如图5所示，裂缝阻隔走线22上可以采用有机绝缘膜层5覆盖，比如PLN层；另外，裂缝阻隔走线22上也可以采用无机绝缘膜层5覆盖，比如ILD层。相比无机绝缘膜层5，有机绝缘膜的硬度较大，将有机绝缘膜覆盖与裂缝阻隔走线22上可以更好地防止裂缝向面板的显示区1扩散。

为了进一步提高具有的裂缝面板被检测出的概率，如图4所示，裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22、第二连接走线24的数目均为多个(图中所示为2个)，多个裂缝检测走线21与多个裂缝阻隔走线22一一相邻设置，每个裂缝阻隔走线22均位于相邻的裂缝检测走线21远离显示区1的一侧；每个裂缝检测走线21均具有断开部分211，每个裂缝阻隔走线22的两端均与相邻的裂缝检测走线21的断开部分211的两端一一对应电连接；多个第二连接走线24互不相连，每个第二连接走线24与至少一个第二数据线12电连接；多个裂缝检测走线21的第一端均与第一连接走线23电连接；多个裂缝检测走线21的第二端分别与多个第二连接走线24一一对应电连接。这样在裂缝检测时，通过检测与每个第二数据线12上所连的像素是否发光就可以检测出面板是否产生裂缝；通过设置多个裂缝检测走线21以及裂缝阻隔走线22，这样，进一步增加了裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22的总长度，从而增加了裂缝检测走线21与裂缝阻隔走线22所组成的检测线路的覆盖区域的面积，进而可以提高具有的裂缝面板被检测出的概率。

本发明实施例提供的阵列基板中，电测测试点主要是在面板还未绑定IC(integrated circuit；集成电路)之前，通过向电测测试点输入数据信号来对面板的裂缝进行检测。在面板绑定IC之后，为了便于板的裂缝进行检测，如图4所示，阵列基板还包括电阻测试端6，电阻测试端6包括多个子测试端61，多个子测试端61分别与多个第二连接走线24一一对应电连接。这样通过检测每两个子测试端61之间的电阻(也就是裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22、第一连接走线23、第二连接走线24的总电阻)就可以对面板进行裂纹检测；如果面板没有产生裂缝，那么裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22就不会出现断开，那么就可以在每两个子测试端61之间测出电阻值；如果面板产生了裂缝，那么裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22就会出现断开，那么与该裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22相对应的两个子测试端61之间测出的电阻就会是无穷大。这样通过检测子测试端61之间的电阻就可以判断面板是否产生有裂缝，从而就无需向裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22输入数据信号，方便面板绑定IC之后裂缝的检测。

其中，电阻测试端6除了可以在面板绑定IC之后对面板的裂缝进行检测，也可以在面板绑定IC之前对面板的裂缝进行检测。

本发明实施例提供的阵列基板中，裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22、第二连接走线24的数目不宜过多，如果裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22、第二连接走线24的数目过多的话，比如3个以上，那么阵列基板上的布线就会变得复杂，不利于降低阵列基板的制作成本；因此，如图4所示，当裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22、第二连接走线24的数目为两个时，既不使布线变得非常复杂，又可以增加裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22的总长度，以提高产生裂缝的面板被检测出的概率。

为了更加优化裂缝检测走线21、裂缝阻隔走线22的布局，如图4所示，两个裂缝检测走线21、两个裂缝阻隔走线22、两个第二连接走线24均关于显示区1沿第二方向的中心面对称设置。

其中，本发明实施例提供的显示面板，既可以是OLED面板，也可以是液晶显示面板，在此不做具体限定。

由于本发明实施例提供的显示面板中所包括的阵列基板与第一方面中所述的阵列基板相同，所以也解决了相同的技术问题，达到了相同的技术效果。至于显示面板的其它结构已为本领域技术人员所公知，在此不再赘述。

第三方面，本发明实施例提供了一种显示装置，包括第二方面中所述的显示面板。

由于本发明实施例提供的显示装置中所包括的显示面板与第二方面中所述的显示面板相同，所以也解决了相同的技术问题，达到了相同的技术效果。至于显示装置的其它结构已为本领域技术人员所公知，在此不再赘述。

以上，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims

1.一种阵列基板，包括显示区和位于所述显示区***的非显示区，其特征在于，所述非显示区内设有裂缝检测走线、裂缝阻隔走线、第一连接走线以及第二连接走线，所述裂缝阻隔走线位于所述裂缝检测走线远离所述显示区的一侧，所述第一连接走线与所述裂缝检测走线的第一端电连接，所述第二连接走线与所述裂缝检测走线的第二端电连接；裂缝检测走线具有断开部分，所述裂缝阻隔走线的两端分别与所述断开部分的两端一一对应电连接；所述显示区内设有相互平行的第一数据线和第二数据线，所述第一数据线与所述第一连接走线电连接，所述第二数据线与所述第二连接走线电连接；所述阵列基板还包括电测测试端，所述电测测试端与所述第一连接走线电连接。

2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述裂缝检测走线、所述裂缝阻隔走线均迂回设置。

3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括衬底基板以及多个层叠设置于所述衬底基板上的绝缘膜层，所述裂缝检测走线、所述裂缝阻隔走线均位于所述绝缘膜层上，并且所述裂缝检测走线所位于的所述绝缘膜层的表面与所述裂缝阻隔走线所位于的所述绝缘膜层的表面为同一绝缘膜层的表面；或者所述裂缝检测走线位于相邻的两个所述绝缘膜层中的一个所述绝缘膜层的表面上，所述裂缝阻隔走线位于相邻的两个所述绝缘膜层中的另一个所述绝缘膜层的表面上。

4.根据权利要求1～3中任一项所述的阵列基板，其特征在于，所述裂缝检测走线、所述裂缝阻隔走线、所述第二连接走线的数目均为多个，多个所述裂缝检测走线与多个所述裂缝阻隔走线一一相邻设置，每个所述裂缝阻隔走线均位于相邻的所述裂缝检测走线远离所述显示区的一侧；每个所述裂缝检测走线均具有所述断开部分，每个所述裂缝阻隔走线的两端均与相邻的所述裂缝检测走线的断开部分的两端一一对应电连接；多个所述第二连接走线之间互不相连，并且每个所述第二连接走线与至少一个所述第二数据线电连接；多个所述裂缝检测走线的第一端均与所述第一连接走线电连接；多个所述裂缝检测走线的第二端分别与多个所述第二连接走线一一对应电连接。

5.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括电阻测试端，所述电阻测试端包括多个子测试端，多个所述子测试端分别与多个所述第二连接走线一一对应电连接。

6.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，所述裂缝检测走线、所述裂缝阻隔走线、所述第二连接走线的数目均为两个，两个所述裂缝检测走线、两个所述裂缝阻隔走线、两个所述第二连接走线均关于所述显示区沿第二方向的中心面对称设置；

其中，所述第一方向为平行于所述第一数据线或者所述第二数据线的方向，所述第二方向为与所述第一方向、所述阵列基板的厚度方向均垂直的方向。

7.根据权利要求1～3所述的阵列基板，其特征在于，所述第一连接走线、所述第二连接走线均位于所述显示区在第一方向上的一侧，所述第一方向为平行于所述第一数据线或者所述第二数据线的方向。

8.根据权利要求7所述的阵列基板，其特征在于，所述第一连接走线和所述第二连接走线均位于所述显示区的同一侧。

9.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1～8中任一项所述的阵列基板。

10.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求9所述的显示面板。