CN108871736A - 一种光学器件平面45度角度检测装置 - Google Patents

一种光学器件平面45度角度检测装置 Download PDF

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万祥
童严
时尧成
戴道锌
刘勇
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Abstract

本发明公开了一种光学器件平面45度角度检测装置，包括装置主体、激光光源、可调光源固定架、器件固定平台、角度检测区；所述激光光源为检测输入光，通过可调光源固定架来调整输入光的水平位置；所述器件固定平台与激光光源为垂直状态；所述角度检测区为反射光呈现区。本发明一种光学器件平面45度角度检测装置，可应用于光学器件在生产加工过程中的角度检测，便于器件的后道耦合与封装，提高光学器件耦合与封装效率及良率，降低生产成本。

Description

一种光学器件平面45度角度检测装置
技术领域
本发明公开了一种光学器件平面45度角度检测装置。
背景技术
随着光进铜退，光学器件在无源光网络中的应用范围越来越广。在光通信***中，各种光无源器件扮演着不可或缺的角色。在光通信***中，大部份的光无源器件都是利用光的全反射原理来实现光的应用。在传统的光无源器件的应用中，为了避免器件中的反射光对光通信***中造成影响，一般会将光纤头加工成8度角，以减少光在耦合后的损耗。而在光模块的光收发***中，需将光的反射角加工成45度来能改变光的传播方向。随着市场对光模块的需求量越来越大，对45度光学器件的生产效率要求也越来越高。
现有的8度角度检测装置，由于检测的角度不同，无法满足45度角的检测。
发明内容
本发明的目的在于提供一种光学器件平面45度角度检测装置，旨在生产45度光学器件过程中，提前检测所用器件的角度，提高生产效率与一次良率，减少器件耦合封装时因材料角度不良造成的浪费，降低45度角光学器器件的生产成本。
为了实现上述目的，本发明的技术方案是设计一种光学应用器件平面45度角度检测装置，包括：装置主体、激光光源、可调光源固定架、器件固定平台、角度检测区；所述激光光源为检测输入光，所述可调光固定架安装在所述装置主体的下方用于调整检测输入光的水平位置，所述器件固定平台安装在所述装置主体的上方，所述器件固定平台与所述激光光源呈垂直状态，所述角度检测区为反射光呈现区。
本发明的优点和有益效果在于：本发明的光学应用器件平面45度角度检测装置，适用于各种尺寸器件的45度角度检测，应用泛围广，操作简单，测试准确。可有效提高生产效率与一次良率，减少器件耦合封装时因材料角度不良造成的浪费。降低45度角光学器器件的生产成本。
附图说明
图1为本发明的示意图。
本发明中器件固定平台1、光源2、可调器件固定架3、角度检测区4、入射光5、反射光6。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案，而不能以此来限制本发明的保护范围。
实施例：
一种光学器件平面45度角度检测装置，包括装置主体、激光光源2、可调光源固定架3、器件固定平台1、角度检测区4；所述激光光源2为检测输入光源，通过可调光源固定架3来调整输入射光5的水平方向；入射光5通过45度器件的反射面形成反射光6；根据反射光6在角度检测区4呈现的位置可判断所检器件的45度角是否合格。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (1)

1.一种光学器件平面45度角度检测装置，其特征在于，包括：装置主体、激光光源、可调光源固定架、器件固定平台、角度检测区；所述激光光源为检测输入光，所述可调光固定架安装在所述装置主体的下方用于调整检测输入光的水平位置，所述器件固定平台安装在所述装置主体的上方，所述器件固定平台与所述激光光源呈垂直状态，所述角度检测区为反射光呈现区。
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Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003194667A (ja) * 2001-12-28 2003-07-09 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光ファイバ端面検査装置
CN202002626U (zh) * 2011-04-02 2011-10-05 深圳市泰科微光学有限公司 光纤连接器的激光角度检测装置
CN102607520A (zh) * 2012-03-23 2012-07-25 北京国科世纪激光技术有限公司 一种检测激光晶体倾斜角度以及倾斜方向的装置
CN103105282A (zh) * 2013-01-18 2013-05-15 上海亨通宏普通信技术有限公司 一种对光纤阵列或芯片进行角度测量的装置及方法
CN203849002U (zh) * 2014-05-28 2014-09-24 奥普镀膜技术（广州）有限公司 45度滤光片测试装置
CN205642802U (zh) * 2016-04-11 2016-10-12 杰讯光电(福建)有限公司 C透镜角度测试装置
CN106788698A (zh) * 2016-12-28 2017-05-31 上海航天科工电器研究院有限公司 一种用于45°光纤阵列耦合效率测试的装置及方法
CN207019634U (zh) * 2017-05-30 2018-02-16 上海永鼎光电子技术有限公司 一种光纤端面角度测量装置
CN208350334U (zh) * 2018-07-11 2019-01-08 苏州天步光电技术有限公司 一种光学器件平面45度角度检测装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003194667A (ja) * 2001-12-28 2003-07-09 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光ファイバ端面検査装置
CN202002626U (zh) * 2011-04-02 2011-10-05 深圳市泰科微光学有限公司 光纤连接器的激光角度检测装置
CN102607520A (zh) * 2012-03-23 2012-07-25 北京国科世纪激光技术有限公司 一种检测激光晶体倾斜角度以及倾斜方向的装置
CN103105282A (zh) * 2013-01-18 2013-05-15 上海亨通宏普通信技术有限公司 一种对光纤阵列或芯片进行角度测量的装置及方法
CN203849002U (zh) * 2014-05-28 2014-09-24 奥普镀膜技术（广州）有限公司 45度滤光片测试装置
CN205642802U (zh) * 2016-04-11 2016-10-12 杰讯光电(福建)有限公司 C透镜角度测试装置
CN106788698A (zh) * 2016-12-28 2017-05-31 上海航天科工电器研究院有限公司 一种用于45°光纤阵列耦合效率测试的装置及方法
CN207019634U (zh) * 2017-05-30 2018-02-16 上海永鼎光电子技术有限公司 一种光纤端面角度测量装置
CN208350334U (zh) * 2018-07-11 2019-01-08 苏州天步光电技术有限公司 一种光学器件平面45度角度检测装置

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