CN108781116A - 一种功率调整方法及激光测量装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供了一种功率调整方法及激光测量装置,其中方法包括:控制功率检测电路检测激光发射电路出射的激光的功率;获取所述激光测量装置对应的门限功率;根据所述门限功率调整所述激光发射电路出射的激光的功率,可以智能地对激光测量装置出射的激光的功率进行调整,提高激光测量装置的性能。
Description
技术领域
本发明涉及电子技术领域,尤其涉及一种功率调整方法及激光测量装置。
背景技术
激光测量装置(例如激光雷达)是对外界的感知***,可以获知外界的立体三维信息,不再局限于相机等对外界的平面感知方式。激光测量装置的原理可以为主动对外发射激光脉冲信号,探测到反射回来的脉冲信号,根据发射—接收之间的时间差,判断被测物体的距离;结合光脉冲的发射角度信息,便可重建获知三维深度信息。
由于激光测量装置的出射的激光的功率不能超过门限功率。在实际生产过程中,往往采用在激光测量装置出厂前,根据本批次激光测量装置出射的功率统计规律调整相关参数,保证所有个体出射的激光的功率都不超过门限功率。
然而,考虑到电路器件、激光管、光学结构等部件的不一致性,批量生产中不同激光测量装置之间的功率会有一定的差异,若根据产品出射的功率统计规律调整相关参数,那么有部分激光测量装置的出射功率会较小,性能较差。
发明内容
本发明实施例公开了一种功率调整方法及激光测量装置,可以智能地对激光测量装置出射的激光的功率进行调整,提高激光测量装置的性能。
本发明实施例第一方面公开了一种功率调整方法,应用于激光测量装置,所述激光测量装置配置有激光发射电路和功率检测电路,包括:
控制所述功率检测电路检测所述激光发射电路出射的激光的功率;
获取所述激光测量装置对应的门限功率;
根据所述门限功率调整所述激光发射电路出射的激光的功率。
本发明实施例第二方面公开了一种激光测量装置,包括:激光发射电路、功率检测电路、处理器以及存储器;
所述激光发射电路,用于出射激光;
所述激光发射电路,用于检测所述激光发射电路出射的激光的功率;
所述存储器,用于存储程序指令;
所述处理器,用于执行所述存储器存储的程序指令,当程序指令被执行时,用于:
控制所述功率检测电路检测所述激光发射电路出射的激光的功率;
获取所述激光测量装置对应的门限功率;
根据所述门限功率调整所述激光发射电路出射的激光的功率。
本发明实施例中,通过激光测量装置控制该功率检测电路检测该激光发射电路出射的激光的功率,并根据门限功率调整该激光发射电路出射的激光的功率,可以实时地对激光测量装置出射的激光的功率进行调整,提高激光测量装置的性能。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种激光感测***的结构示意图;
图2是本发明实施例提供的一种激光测量装置的整体结构示意图;
图3是本发明实施例所提供的一种激光测量装置的结构示意图;
图3a是本发明实施例所提供的一种峰值保持电路的结构示意图;
图3b是本发明实施例所提供的另一种峰值保持电路的结构示意图
图4是本发明实施例提供的另一种激光测量装置的结构示意图;
图4a是本发明实施例提供的一种展宽电路的结构示意图;
图5是本发明实施例提供的一种功率调整方法的流程示意图;
图6a是本发明实施例所提供的一种控制参数配置方法的流程示意图;
图6b是本发明实施例所提供的另一种控制参数配置方法的流程示意图;
图7是本发明实施例提供的又一种激光测量装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
激光测量装置,例如可以是激光雷达或者激光测距仪,是对外界的感知***,可以获知外界的立体三维信息,不再局限于相机等对外界的平面感知方式。激光测量装置的原理可以为主动对外发射激光脉冲信号,探测到反射回来的激光脉冲信号,根据发射—接收之间的时间差,判断被测物体的距离,再结合光脉冲的发射角度信息,便可重建获知三维深度信息。
激光测量装置可以达到的测量距离与该测量装置出射的激光的功率有关,出射的激光的功率越大,能测量到的最大距离也就会更远。然而,该激光测量装置的功率通常设置有门限功率,如果超过该门限功率,可能会导致激光测量装置损坏,甚至会引发安全事故,或者,该激光测量装置对应的门限功率为预设的安全规范标准中规定的功率。因此,激光测量装置出射的激光的功率不能超过该门限功率。
为了使激光测量装置既不超过门限功率,又能使激光测量装置达到最大的功率,本申请提供了一种功率调整方法及激光测量装置。
首先介绍本申请涉及的***。请参阅图1,图1示出了本申请提供的一种激光感测***的示意图100。如图1所示,激光感测***(Sensor System)110用于检测该激光感测***100与被测物体104之间的距离。举例来说,该激光感测***110可以是例如激光雷达、激光测距仪等激光测量装置,其作用原理可以是测量光在该激光感测***100与被测物体104之间传播的时间(即飞行时间TOF),以此来检测被测物体104与该激光感测***100之间的距离。
该激光感测***100可以基于不同的方案来实现。例如,激光感测***可以是基于同轴的方案,在这种情况下,出射光束111和返回光束112可以共享光路的至少一部分,在一个实施例中,该出射光束111和返回光束112可以沿着同一条光路行进。可选地,激光感测***100也可以基于其他的方案,诸如异轴方案,在这种情况下,出射光束111和返回光束112可以被配置为沿着不同的光路行进。
如图1所示,激光感测***110可以包括能够产生激光的光源101。例如,激光可以是单个激光脉冲或一系列激光脉冲,其产生的激光可以是准直光。如本领域技术人员所知,准直光是指具有平行光线的光,其在传播时可能不会向外扩散或者扩散的角度较小。
在一个实施例中,可以对点源产生的光进行准直处理。例如,可以使用透镜102来对由光源101产生的光进行准直处理。或者,可以使用诸如球面镜和/或抛物面镜之类的反射镜来对由点源产生的光进行准直处理。
如图1所示,可以将准直光导向光束转向/扫描装置103,其可以引起入射光的偏折。在一个实施例中,光束转向/扫描装置103可以操纵激光来扫描激光感测***110周围的环境。例如,光束转向装置103可以包括各种光学元件,例如棱镜,反射镜,光栅,光学相控阵列(例如液晶控制光栅)或其任何组合。而且,这些不同的光学元件中的每一个都可以围绕基本共同的轴线109旋转(在下文中被称为公共轴线),以便将光线转向不同的方向。即,不同光学元件的旋转轴线之间的角度可以相同或稍微不同。例如,不同光学元件的旋转轴之间的角度可以在0.01度,0.1度,1度,2度,5度等等。
使用如图1中所示的同轴方案,一旦出射光束111照射被测物体104,光的背向反射部分可以以完全相反的方向返回到激光感测***110。因此,使用同轴方案,激光感测***100传输(或传出)的视场角(FOV)总是与接收的FOV保持一致。因此,即使在离激光感测***110很近的距离处也几乎不具有盲区。
在一个实施例中,可以使用不同的结构来实现该同轴***。例如,可以在光源101(与透镜102一起)和光束转向/扫描装置103之间布置分束器108。
如图1所示,准直光可以通过分束器108并冲击在光束转向/扫描装置103上。随后,可以控制该光束转向/扫描装置103将光转向不同的方向,如方向111和111'。另外,分束器108可以被配置为将到达分束器108的返回光束重定向到检测器105上,例如,分束器108可以包括具有开口的反射镜。分束器108的开口可允许来自光源101的准直光通过(并朝向光束转向/扫描装置103),而分束器108的镜面部分可将返回光束112朝向接收透镜106,其可以将返回的光束聚集并聚焦在检测器105上。
在一个实施方式中,检测器105可以接收返回的光束并将该返回的光束转换为电信号。例如,检测器105可以利用作为高度敏感的半导体电子装置的接收装置,例如雪崩光电二极管(APD),该APD可以利用光电流效应将光转换为电。
根据本申请提供的各种实施例,诸如飞行时间(TOF)单元107的测量电路可被用于测量TOF以便检测到被测物体104的距离。例如,TOF单元107可以基于公式t=2D/c来计算与TOF的距离,其中D是激光感测***100和被测物体104之间的距离,c是光速,t是用于从激光感测***100到物体的往返行程并返回到激光感测***。因此,激光感测***110可以基于由光源101产生光脉冲111与由检测器105接收返回光束112之间的时间差来测量到被测物体104的距离。
在一个实施例中,可以由纳秒(ns)级的激光二极管产生光发射。例如,光源101可以产生具有持续时间为接近10ns的激光脉冲,并且检测器105可以检测到类似持续时间的激光脉冲的返回信号。此外,该接收过程可以确定激光脉冲的接收时间,例如,通过检测电脉冲的上升沿来确定该接收时间,在一个实施例中,该检测的过程可以利用多级放大过程。因此,激光感测***110可以使用脉冲接收时间信息和脉冲发射时间信息来计算飞行时间信息,以便确定被测物体的距离。
下面介绍本申请提供的一种激光测量装置的部分结构,在一个实施例中,该激光测量装置可以为图1中的激光感测***110。请参阅图2,为本发明实施例提供的一种激光测量装置,图2所示的激光测量装置可以包括:激光发射电路201以及功率检测电路202,图2所示的带箭头的直线用于表示该激光发射电路201出射的激光。在一实施例中,图2中的激光发射电路可以是图1中的光源101。
在一个实施例中,该激光发射电路201可以包括信号驱动器、激光管、电源以及二极管等等,本发明实施例对此不作任何限制。
在一个实施例中,信号驱动器可以产生驱动信号,该驱动信号的驱动信号脉宽越宽,则激光管打开的时间可以越长,激光的出射的功率也就越大。
在一个实施例中,如果电源的供电电压越高,则在激光管打开时流过激光管的电流越大,出射功率也就越大。
该功率检测电路202可以用于检测出射的激光的功率。
激光发射电路201出射的激光在角度边缘处的功率较低,在一些设计中会将这部分激光舍弃。在一个实施例中,功率检测电路202可以利用这部分舍弃的激光来进行激光的功率测量,以减小由于功率测量而导致的对激光发射电路201的出射激光的遮挡。
在一个实施例中,可以利用光学结构将激光发射电路201出射的部分激光进行分离处理,以入射到位于激光发射电路201的出射光路之外的功率检测电路202中,进行功率的测量。
在一些可行的实施方式中,本申请涉及的激光测量装置的整体结构也可以如图3所示。如图3所示的激光测量装置包括:激光发射电路301以及功率检测电路302,该功率检测电路302可以包括:光电器件3021、峰值保持电路3022、第一模数转换电路ADC3023。
该激光发射电路301可以针对预设的出射方向出射激光,该光电器件3023可以检测到激光发射电路出射的激光,并将该光信号转换为电信号。在一个实施例中,转换得到的电信号可能较弱,该光电器件3023可以将该电信号输入到峰值保持电路3022中进行处理。
在一个实施例中,可以通过光学结构将出射的激光分出一部分到该光电器件3023,该光电器件3023检测到激光发射电路出射的部分激光的光信号,因此转换的电信号可能较弱。其中,该电信号可以为光电器件得到的激光脉冲信号。
在一个实施例中,该第一模数转换电路ADC3023可以根据该脉冲幅度得到采样数值,该采样数值与该激光发射电路出射的激光的功率的对应关系可以根据实际标定得出。例如,该实施标定可以是:在激光发射电路的出射口利用光功率计测量激光的实际出射功率,得到实际出射功率与功率检测电路测量得到的采样数值的比例关系,根据该比例关系以及该采样数值计算得到该激光发射电路出射的激光的功率。
在一个实施例中,该峰值保持电路的结构可以如图3a所示。如图3a所示的峰值保持电路3022包括第一二极管D1及保持电容C1,所述第一二极管D1的第一端用于输入激光脉冲信号,所述第一二极管D1的第二端与所述保持电容C1的第一端及所述峰值保持电路3022的输出端连接,所述保持电容C1的第二端用于输入参考电平Vref1。所述峰值保持电路3022的输出端用于连接第一模数转换器ADC,所述第一模数转换器ADC用于采集所述激光脉冲信号的峰值,从而获取所述激光脉冲信号的脉冲幅度。
在一种实施方式中,所述峰值保持电路3022还包括第一运算放大器U31,所述第一运算放大器U31包括第一输入端+IN、第二输入端-IN、输出端OUT、正电源端V+和负电源端V-,所述第一运算放大器U31的正、负电源端V+、V-分别用于连接正、负电源VCC+、VCC-,所述第一运算放大器U31的第一输入端+IN用于输入激光脉冲信号,所述第一运算放大器U31的第二输入端-IN与所述第一运算放大器U31的输出端OUT及所述第一二极管D1的第一端电连接,所述第一运算放大器U31用于对所述激光脉冲信号进行放大,并将放大后的激光脉冲信号输出至所述第一二极管D1的第一端。可选地,所述峰值保持电路3022还可以包括第二电阻R2,所述第二电阻R2电连接于所述第一二极管D1的第二端和所述保持电容C1的第一端之间。
请参阅图3b,在一种实施方式中,所述峰值保持电路3022还包括第二运算放大器U32和第一电阻R1,所述第二运算放大器U32包括第一输入端+IN、第二输入端-IN、输出端OUT、正电源端V+和负电源端V-,所述第二运算放大器U32的正、负电源端V+、V-分别用于连接正、负电源VCC+、VCC-,所述第二运算放大器U32的第一输入端+IN与所述保持电容C1的第一端电连接,所述第二运算放大器U32的第二输入端-IN与所述第一电阻R1的第一端及所述第二运算放大器U32的输出端OUT电连接,所述第一电阻R1的第二端用于输入参考电平Vref2。所述第二运算放大器U32用于提高后续电路的负载驱动能力。其中,所述参考电平Vref1可以与所述参考电平Vref2相同。
在一种实施方式中,所述峰值保持电路3022还包括第二二极管D2,所述第二二极管D2的第一端与所述第二运算放大器U32的第二输入端-IN电连接,所述第二二极管D2的第二端与所述第二运算放大器U32的输出端OUT电连接,所述第二二极管D2的极性与所述第一二极管D1的极性相反。可以理解,由于所述第一二极管D1的导通压降会造成所述峰值保持电路3022输出的峰值存在误差,该误差的大小等于所述第一二极管D1的导通压降,通过设置所述第二二极管D2,且使得所述第二二极管D2的极性与所述第一二极管D1的极性相反,从而实现对所述误差的补偿。
可以理解,若所述峰值保持电路3022用于获取所述激光脉冲信号的负脉冲的峰值,则所述第一二极管D1的第一端为负极,所述第一二极管D2的第二端为正极,所述第二二极管D2的第一端为正极,所述第二二极管D2的第二端为负极。若所述峰值保持电路3022用于获取所述激光脉冲信号的正脉冲的峰值,则所述第一二极管D1的第一端为正极,所述第一二极管D1的第二端为负极,所述第二二极管D2的第一端为负极,所述第二二极管D2的第二端为正极。
在一种实施方式中,所述峰值保持电路3022还包括可控开关Q,所述可控开关Q与所述保持电容C1并联,用于在所述模数转换器ADC完成峰值采集之后释放所述保持电容C1存储的电荷。其中,所述可控开关Q可以包括控制信号输入端Ctrl,用于接收控制信号,并根据所述控制信号导通或截止,当所述可控开关Q导通时,用于释放所述保持电容C1存储的电荷。
在一些可行的实施方式中,本申请涉及的激光测量装置的整体结构也可以如图4所示。如图4所示的激光测量装置包括:激光发射电路401以及功率检测电路402,该功率检测电路402可以包括:光电器件4021、展宽电路4022、第二模数转换电路ADC4023。
该激光发射电路401可以参考对图3中的激光发射电路301的相关介绍,在此不作赘述。
该光电器件4021可以参考对图3中的光电器件3021的相关介绍,在此不作赘述。
该激光发射电路301可以针对预设的出射方向出射激光,该光电器件3023可以检测到激光发射电路出射的激光,并将光信号转换为电信号。在一个实施例中,转换得到的电信号可能较弱,该光电器件3023可以将该电信号输入到展宽电路4022中进行处理。
该第二模数转换器ADC4023可以以较低的采样频率对展宽后的激光脉冲信号进行数字采样处理,并根据数字采样处理的结果计算出脉冲能量,得到激光发射电路401出射的激光的功率。
在一个实施例中,该第二模数转换电路ADC4023可以根据数字采样处理的结果得到采样数值,该采样数值与该激光发射电路出射的激光的功率可以根据实际标定得出。
在一种实施方式中,所述展宽电路4022可以为如图4a所示的电路结构,用于对所述激光脉冲信号进行展宽和放大处理。所述展宽电路4022可以包括展宽运算放大器U23、第二输入电阻R231、反馈电阻R232及第二反馈电容C23。所述运算放大器U23的第一输入端+IN用于输入参考电平Vref3,所述运算放大器U23的第二输入端-IN连接第二输入电阻R231的一端,第二输入电阻R231的另一端用于输入所述激光脉冲信号,所述运算放大器U23的第二输入端-IN还通过相互并联的反馈电阻R232及第二反馈电容C23与所述运算放大器U23的输出端OUT连接。所述运算放大器U23的正、负电源端V+、V-分别用于连接正、负电源VCC+、VCC-。
在一种实施方式中,本申请还提供一种激光测量装置,用于感测外部环境信息,例如,环境目标的距离信息、角度信息、反射强度信息、速度信息等。所述激光测量装置可以为激光雷达。
具体地,本发明实施方式的激光测量装置可应用于移动平台,所述激光测量装置可安装在移动平台的平台本体。具有激光测量装置的移动平台可对外部环境进行测量,例如,测量移动平台与障碍物的距离用于避障等用途,和对外部环境进行二维或三维的测绘。
在某些实施方式中,移动平台包括无人飞行器、汽车和遥控车中的至少一种。当激光测量装置应用于无人飞行器时,平台本体为无人飞行器的机身。当激光测量装置应用于汽车时,平台本体为汽车的车身。当激光测量装置应用于遥控车时,平台本体为遥控车的车身。
下面介绍本申请的方法实施例。需要说明的是,本申请所示的方法实施例可应用于激光测量装置,所述激光测量装置配置有激光发射电路和功率检测电路,例如,所述激光测量装置可以为图1至图4所示的激光测量装置。
请参阅图5,为本发明实施例所提供的一种功率调整方法的流程示意图。该方法可以由功率测量装置自行进行功率调整,当然也可以通过设置在功率测量装置或者其他地方的专用处理设备进行功率调整。如图5所示,本发明实施例的所述方法可包括:
S501、控制所述功率检测电路检测所述激光发射电路出射的激光的功率。
该功率检测电路以及该激光发射电路可以如图2至图4所示的功率检测电路以及激光发射电路。
需要说明的是,该激光发射电路出射的激光的功率与该激光测量装置可以达到的测量距离有关,出射的激光的功率越大,该激光测量装置可以测量到的最大距离也会越远。为了保证该激光测量装置的使用安全,常常设置安全规范标准,该激光测量装置出射的功率不能超过该安全规范标准的功率限制。
S502、获取所述激光测量装置对应的门限功率。
在一个实施例中,该激光测量装置对应的门限功率为预设的安全规范标准中规定的功率,该激光测量装置出射的激光的功率不能超过该门限功率。
在一个可行的实施方式中,该激光测量装置可以将该门限功率预先进行存储,在通过功率检测电路检测到激光发射电路出射的激光的功率时,便可获取存储的门限功率。
在一个可行的实施方式中,该激光测量装置也可以从***设备(例如服务器、终端、无人机、移动平台等)获取该门限功率。具体地,该激光测量装置与***设备通过无线链路或有线链路保持通信,并通过该激光测量装置的通信接口从***设备获取该门限功率。
S503、根据所述门限功率调整所述激光发射电路出射的激光的功率。
需要说明的是,该激光测量装置调整该激光发射电路出射的激光的功率不超过该门限功率。
举例来说,该激光测量装置可以将该激光发射电路出射的激光的功率调整到接近该门限功率。具体地,该激光测量装置可以根据低于该门限功率的某一功率值作为符合安全规范标准的最大功率值,并将该激光发射电路出射的激光的功率调整到该符合安全规范标准的最大功率值。
在一个实施例中,所述根据所述门限功率调整所述激光发射电路出射的激光的功率,也可以包括:根据所述门限功率设置调整范围,并将所述激光发射电路出射的激光的功率调整到所述调整范围内。
需要说明的是,该调整范围可以是指调整该激光发射电路出射的激光的功率后达到的功率值的范围。例如,该激光发射电路出射的激光的功率为50w,确定的调整范围为30w-38w,那么调整该激光发射电路出射的激光的功率之后,激光的出射功率处于该30w-38w内。
在一个实施例中,所述根据所述门限功率设置调整范围,并将所述激光发射电路出射的激光的功率调整到所述调整范围内,包括:确定所述门限功率以及所述激光发射电路出射的激光的功率之间的余量值;根据所述余量值设置调整范围,并将所述激光发射电路出射的激光的功率调整到所述调整范围内。
举例来说,该门限功率为36w,该激光发射电路出射的激光的功率为50w,那么该门限功率以及该激光发射电路出射的激光的功率之间的余量值可以为5w,该激光测量装置可以将调整范围设置为33w-36w,以保证该调整范围与该激光发射电路出射的激光的功率的差值大于或等于该余量值。
在一个实施例中,所述余量值根据环境参数确定,所述环境参数包括:温度和/或器件老化程度。
需要说明的是,器件可以是指该激光测量装置中设置的任意一个或多个器件。
还需要说明的是,该环境参数可以对激光发射电路出射的激光的功率造成影响。例如,如果该激光发射电路的温度过高,则该激光发射电路出射的激光的功率可能会降低。为了减缓环境参数对激光发射电路出射的激光的功率造成的影响,在设置激光发射电路出射的激光的功率以及门限功率之间的余量值时,可以根据该环境参数对余量值进行设置,以使激光的功率在受到环境参数影响变大或者变小时,可以根据动态调整激光的功率到满足安全规范标准的最大值,减小环境参数对激光的功率的影响。
在一个实施例中,所述将所述激光发射电路出射的激光的功率调整到所述调整范围内,包括:通过调整驱动信号脉宽或供电电压调整所述激光发射电路出射的激光的功率调整得到所述调整范围内。
在一些可行的实施方式中,该激光发射电路中可以设置信号驱动器,信号驱动器可以产生驱动信号,该驱动信号的驱动信号脉宽越宽,则激光的出射的功率也就越大;该驱动信号的驱动信号脉宽越窄,则激光的出射的功率也就越小,因此,可以将该驱动信号脉宽调窄以减小激光的出射的功率,将该驱动信号脉宽调宽以增大激光的出射的功率。
在一个实施例中,如果激光测量装置的供电电压越高,则激光的出射的功率也就越大;如果激光测量装置的供电电压越小,则激光的出射的功率也就越小。因此,可以将供电电压减小以减小激光的出射的功率,将将供电电压增大以增大激光的出射的功率。
在一个实施例中,所述根据所述门限功率调整所述激光发射电路出射的激光的功率之后,还包括:若检测到所述激光发射电路出射的激光的功率超过所述门限功率,则控制所述激光发射电路暂停对激光的输出。
举例来说,在根据该门限功率调整所述激光发射电路出射的激光的功率之后,如果激光测量装置的电路结构出现问题导致激光发射电路出射的激光的功率突然剧烈变大时,可以实时减小出射功率到门限功率以下,或者控制该激光发射电路暂停对激光的输出。
在一个实施例中,还可以是在激光测量装置出厂前,实际测量每一个激光测量装置的激光的出射功率,并分别调整每一个激光测量装置的激光的出射功率到符合安全规范标准的最大功率值。
本发明实施例中,通过激光测量装置控制该功率检测电路检测该激光发射电路出射的激光的功率,并根据门限功率调整该激光发射电路出射的激光的功率,可以实时探测出射的激光的功率,并对激光测量装置出射的激光的功率进行调整,既使调整后的激光的功率不超过门限功率,又能使激光测量装置尽可能达到最大的功率,提高该激光测量装置测量的距离,也提高了激光测量装置的性能。
下面请参阅图6a,为本发明实施例提供的另一种功率调整方法的流程示意图。如图6a所示的方法可包括:
S601、将所述激光发射电路出射的激光进行分离处理,并根据分离处理后的激光得到所述激光脉冲信号。
在一个实施例中,该激光测量装置可以利用光学结构将该激光发射电路出射的激光分出一部分,根据一部分激光得到该激光脉冲信号。该光学结构可以是任意可以用于分离激光的结构,本发明实施例对此不作任何限制。
在一个实施例中,激光发射电路出射的激光在角度边缘处的功率较低,在一些设计中,可以利用这部分激光得到该激光脉冲信号。
需要说明的是,该激光脉冲信号可以是用于表示激光的物理量,该激光脉冲信号为根据激光发射电路出射的激光产生的脉冲信号。
在一个实施例中,所述功率检测电路还可以包括光电器件,所述激光脉冲信号由所述光电器件检测得到。
举例来说,该光电器件可以为如图3或图4所示的光电器件,该光电器件可以进行感光,根据该光电器件的信号大小来判断激光发射电路出射的激光的功率的大小。在一些可行的实施方式中,该光电器件可以用于执行如图3以及图4所示的光电器件的相关的步骤。
下述步骤S602a至S604a可以为控制所述功率检测电路检测所述激光发射电路出射的激光的功率的相关步骤,具体如下:
S602a、控制所述功率检测电路检测激光脉冲信号的峰值。
需要说明的是,该激光脉冲信号的峰值可以是指一个信号周期内的信号最高值,或者一个信号周期内的信号最高值与最低值到平均值之间的差值。
在一个可行的实施方式中,该激光测量装置可以控制该功率检测电路检测该激光发射电路出射的激光的一部分,得到该部分激光的激光脉冲信号的峰值。
在一个可行的实施方式中,该激光测量装置也可以控制该功率检测电路检测该激光发射电路从激光发射口出射的完整激光,得到该完整激光的激光脉冲信号的峰值。
S603a、根据所述激光脉冲信号的峰值获取脉冲幅度。
在一个实施例中,所述功率检测电路包括峰值保持电路和第一模数转换器ADC。该峰值保持电路可以是如图3、图3a以及图3b中所示的峰值保持电路3022,该第一模数转换器ADC可以是如图3所示的第一模数转换电路ADC3023。
在一个实施例中,该峰值保持电路可以包括二极管以及保持电容等等。当然,该峰值保持电路还可以包括其他结构,本发明实施例对此不作任何限制。
在一个实施例中,所述第一模数转换器ADC用于采集所述脉冲信号的峰值,从而获取所述激光脉冲信号的脉冲幅度。
在一个实施例中,所述激光脉冲信号的峰值以及所述脉冲幅度通过所述峰值保持电路以及第一模数转换器ADC获取。
S604a、根据所述脉冲幅度检测所述激光发射电路出射的激光的功率。
该第一模数转换器ADC可以根据该脉冲幅度检测该激光发射电路出射的激光的功率。
在一个实施例中,该第一模数转换器ADC计算出的采样数值与该激光发射电路出射的激光的功率具有对应关系,该对应关系可以通过实际标定得知。
举例来说,可以在激光发射电路的出射口利用光功率计测量激光的实际出射功率,得到实际出射功率与第一模数转换器ADC测量得到的采样数值的比例关系,根据该比例关系以及该采样数值计算得到该激光发射电路出射的激光的功率。
在一个实施例中,请参阅图6b,控制所述功率检测电路检测所述激光发射电路出射的激光的功率,也可以包括:
S602b、控制所述功率检测电路对所述激光脉冲信号进行展宽处理以及放大处理。
在一个实施例中,所述功率检测电路包括展宽电路;所述展宽电路用于对所述激光脉冲信号进行展宽处理以及放大处理。
在一个实施例中,所述展宽电路可以包括展宽运算放大器电阻以及反馈电容等等,该展宽电路可以如图4a的结构所示,本发明实施例对此不作任何限制。
S603b、将展宽处理以及放大处理之后的激光脉冲信号进行数字采样处理,并根据数字采样处理结果计算出所述激光发射电路出射的激光的功率。
在一个实施例中,所述将展宽处理以及放大处理之后的激光脉冲信号进行数字采样处理,并根据数字采样处理结果计算出所述激光发射电路出射的激光的功率,包括:将展宽处理以及放大处理之后的激光脉冲信号进行数字采样处理,得到采样数值;根据所述采样数值进行校准处理,得到所述激光发射电路出射的激光的功率。
在一个实施例中,该功率测量电路还可以包括第二模数转换器ADC,用于进行所述数字采样处理。
可以理解,所述展宽电路的输出端还可以连接第二模数转换器ADC,通过所述展宽电路对所述激光脉冲信号进行展宽和放大处理之后,可以进一步通过所述第二模数转换器ADC以较低的采样速率来对展宽的脉冲信号进行数字采样,并根据采样数值进行校准处理,得到所述激光发射电路出射的激光的功率。
在一个实施例中,该校准处理可以为实际标定的方式。
在一个实施例中,所述根据所述采样数值进行校准处理,得到所述激光发射电路出射的激光的功率,包括:获取实际出射功率与计算得到的激光功率的比值关系;根据所述比值关系对所述采样数值得到校准处理,得到所述激光发射电路出射的激光的功率。
举例来说,可以在激光发射电路的出射口利用光功率计测量激光的实际出射功率,得到实际出射功率与第二模数转换器ADC测量得到的采样数值的比例关系,根据该比例关系以及该采样数值计算得到该激光发射电路出射的激光的功率。
S605、获取所述激光测量装置对应的门限功率。
S606、根据所述门限功率调整所述激光发射电路出射的激光的功率。
需要说明的是,上述S605以及S606的具体实现过程可参考前述方法实施例中的S502以及S503中的相关描述,在此不作赘述。
可见,本发明实施例通过将激光发射电路出射的激光进行分离处理,得到激光脉冲信号,并通过功率检测电路根据该激光脉冲信号检测得到该激光发射电路出射的激光的功率,并根据门限功率调整该激光发射电路出射的激光的功率,可以实时探测出射的激光的功率,并对激光测量装置出射的激光的功率进行调整,提高了激光测量装置的性能。
本发明实施例还提供一种激光测量装置。请参阅图7,为本发明实施例提供的又一种激光测量装置的结构示意图,包括:激光发射电路703、功率检测电路704、处理器701以及存储器702;
所述激光发射电路703,用于出射激光;
所述激光发射电路703,用于检测所述激光发射电路703出射的激光的功率;
所述存储器702,用于存储程序指令;
所述处理器701,用于执行所述存储器702存储的程序指令,当程序指令被执行时,用于:
控制所述功率检测电路检测所述激光发射电路出射的激光的功率;
获取所述激光测量装置对应的门限功率;
根据所述门限功率调整所述激光发射电路出射的激光的功率。
在一个实施例中,所述处理器701用于根据所述门限功率调整所述激光发射电路703出射的激光的功率时,具体用于:根据所述门限功率设置调整范围,并将所述激光发射电路703出射的激光的功率调整到所述调整范围内。
在一个实施例中,所述处理器701用于根据所述门限功率设置调整范围,并将所述激光发射电路703出射的激光的功率调整到所述调整范围内时,具体用于:确定所述门限功率以及所述激光发射电路703出射的激光的功率之间的余量值;根据所述余量值设置调整范围,并将所述激光发射电路703出射的激光的功率调整到所述调整范围内。
在一个实施例中,所述余量值根据环境参数确定,所述环境参数包括:温度和/或器件老化程度。
在一个实施例中,所述处理器701用于根据所述门限功率调整所述激光发射电路703出射的激光的功率之后,还用于:若检测到所述激光发射电路703出射的激光的功率超过所述门限功率,则控制所述激光发射电路703暂停对激光的输出。
在一个实施例中,所述处理器701用于将所述激光发射电路703出射的激光的功率调整到所述调整范围内时,具体用于:通过调整驱动信号脉宽或供电电压调整所述激光发射电路703出射的激光的功率调整得到所述调整范围内。
在一个实施例中,所述处理器701用于控制所述功率检测电路704检测所述激光发射电路703出射的激光的功率时,具体用于:控制所述功率检测电路704检测激光脉冲信号的峰值,所述激光脉冲信号为所述激光发射电路703出射的激光产生的脉冲信号;根据所述激光脉冲信号的峰值获取脉冲幅度;根据所述脉冲幅度检测所述激光发射电路703出射的激光的功率。
在一个实施例中,所述功率检测电路704包括峰值保持电路和第一模数转换器ADC;所述激光脉冲信号的峰值以及所述脉冲幅度通过所述峰值保持电路以及第一模数转换器ADC获取。
在一个实施例中,所述处理器701用于控制所述功率检测电路704检测所述激光发射电路703出射的激光的功率时,具体用于:控制所述功率检测电路704对所述激光脉冲信号进行展宽处理以及放大处理;将展宽处理以及放大处理之后的激光脉冲信号进行数字采样处理,并根据数字采样处理结果计算出所述激光发射电路703出射的激光的功率。
在一个实施例中,所述处理器701用于将展宽处理以及放大处理之后的激光脉冲信号进行数字采样处理,并根据数字采样处理结果计算出所述激光发射电路703出射的激光的功率时,具体用于:将展宽处理以及放大处理之后的激光脉冲信号进行数字采样处理,得到采样数值;根据所述采样数值进行校准处理,得到所述激光发射电路703出射的激光的功率。
在一个实施例中,所述处理器701用于根据所述采样数值进行校准处理,得到所述激光发射电路703出射的激光的功率时,具体用于:获取实际出射功率与计算得到的激光功率的比值关系;根据所述比值关系对所述采样数值得到校准处理,得到所述激光发射电路出射的激光的功率。
在一个实施例中,所述功率检测电路704包括展宽电路和第二模数转换器ADC;
所述展宽电路用于对所述激光脉冲信号进行展宽处理以及放大处理,所述第二模数转换器ADC用于进行所述数字采样处理。
在一个实施例中,所述处理器701还用于:将所述激光发射电路703出射的激光进行分离处理,并根据分离处理后的激光得到所述激光脉冲信号。
在一个实施例中,所述功率检测电路704还包括光电器件,所述激光脉冲信号由所述光电器件检测得到。
需要说明的是,对于前述的各个方法实施例,为了简单描述,故将其都表述为一系列的动作组合,但是本领域技术人员应所述知悉,本发明并不受所描述的动作顺序的限制,因为依据本发明,某一些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次,本领域技术人员也应所述知悉,说明书中所描述的实施例均属于优选实施例,所涉及的动作和模块并不一定是本发明所必须的。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成,所述程序可以存储于一计算机可读存储介质中,存储介质可以包括:闪存盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取器(RandomAccess Memory,RAM)、磁盘或光盘等。
以上对本发明实施例所提供的一种功率调整方法及激光测量装置进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (28)
1.一种功率调整方法,其特征在于,应用于激光测量装置,所述激光测量装置配置有激光发射电路和功率检测电路,包括:
控制所述功率检测电路检测所述激光发射电路出射的激光的功率;
获取所述激光测量装置对应的门限功率;
根据所述门限功率调整所述激光发射电路出射的激光的功率。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述门限功率调整所述激光发射电路出射的激光的功率,包括:
根据所述门限功率设置调整范围,并将所述激光发射电路出射的激光的功率调整到所述调整范围内。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述门限功率设置调整范围,并将所述激光发射电路出射的激光的功率调整到所述调整范围内,包括:
确定所述门限功率以及所述激光发射电路出射的激光的功率之间的余量值;
根据所述余量值设置调整范围,并将所述激光发射电路出射的激光的功率调整到所述调整范围内。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述余量值根据环境参数确定,所述环境参数包括:温度和/或器件老化程度。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述门限功率调整所述激光发射电路出射的激光的功率之后,还包括:
若检测到所述激光发射电路出射的激光的功率超过所述门限功率,则控制所述激光发射电路暂停对激光的输出。
6.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述将所述激光发射电路出射的激光的功率调整到所述调整范围内,包括:
通过调整驱动信号脉宽或供电电压调整所述激光发射电路出射的激光的功率调整得到所述调整范围内。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述控制所述功率检测电路检测所述激光发射电路出射的激光的功率,包括:
控制所述功率检测电路检测激光脉冲信号的峰值,所述激光脉冲信号为所述激光发射电路出射的激光产生的脉冲信号;
根据所述激光脉冲信号的峰值获取脉冲幅度;
根据所述脉冲幅度检测所述激光发射电路出射的激光的功率。
8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,所述功率检测电路包括峰值保持电路和第一模数转换器ADC;
所述激光脉冲信号的峰值以及所述脉冲幅度通过所述峰值保持电路以及第一模数转换器ADC获取。
9.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述控制所述功率检测电路检测所述激光发射电路出射的激光的功率,包括:
控制所述功率检测电路对所述激光脉冲信号进行展宽处理以及放大处理;
将展宽处理以及放大处理之后的激光脉冲信号进行数字采样处理,并根据数字采样处理结果计算出所述激光发射电路出射的激光的功率。
10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,所述将展宽处理以及放大处理之后的激光脉冲信号进行数字采样处理,并根据数字采样处理结果计算出所述激光发射电路出射的激光的功率,包括:
将展宽处理以及放大处理之后的激光脉冲信号进行数字采样处理,得到采样数值;
根据所述采样数值进行校准处理,得到所述激光发射电路出射的激光的功率。
11.如权利要求10所述的方法,其特征在于,所述根据所述采样数值进行校准处理,得到所述激光发射电路出射的激光的功率,包括:
获取实际出射功率与计算得到的激光功率的比值关系;
根据所述比值关系对所述采样数值得到校准处理,得到所述激光发射电路出射的激光的功率。
12.如权利要求9-11任一项所述的方法,其特征在于,所述功率检测电路包括展宽电路和第二模数转换器ADC;
所述展宽电路用于对所述激光脉冲信号进行展宽处理以及放大处理,所述第二模数转换器ADC用于进行所述数字采样处理。
13.如权利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
将所述激光发射电路出射的激光进行分离处理,并根据分离处理后的激光得到所述激光脉冲信号。
14.如权利要求13所述的方法,其特征在于,所述功率检测电路还包括光电器件,所述激光脉冲信号由所述光电器件检测得到。
15.一种激光测量装置,所述激光测量装置包括:激光发射电路、功率检测电路、处理器以及存储器;
所述激光发射电路,用于出射激光;
所述激光发射电路,用于检测所述激光发射电路出射的激光的功率;
所述存储器,用于存储程序指令;
所述处理器,用于执行所述存储器存储的程序指令,当程序指令被执行时,用于:
控制所述功率检测电路检测所述激光发射电路出射的激光的功率;
获取所述激光测量装置对应的门限功率;
根据所述门限功率调整所述激光发射电路出射的激光的功率。
16.如权利要求15所述的装置,其特征在于,所述处理器用于根据所述门限功率调整所述激光发射电路出射的激光的功率时,具体用于:
根据所述门限功率设置调整范围,并将所述激光发射电路出射的激光的功率调整到所述调整范围内。
17.如权利要求16所述的装置,其特征在于,所述处理器用于根据所述门限功率设置调整范围,并将所述激光发射电路出射的激光的功率调整到所述调整范围内时,具体用于:
确定所述门限功率以及所述激光发射电路出射的激光的功率之间的余量值;
根据所述余量值设置调整范围,并将所述激光发射电路出射的激光的功率调整到所述调整范围内。
18.如权利要求17所述的装置,其特征在于,所述余量值根据环境参数确定,所述环境参数包括:温度和/或器件老化程度。
19.如权利要求15所述的装置,其特征在于,所述处理器用于根据所述门限功率调整所述激光发射电路出射的激光的功率之后,还用于:
若检测到所述激光发射电路出射的激光的功率超过所述门限功率,则控制所述激光发射电路暂停对激光的输出。
20.如权利要求16所述的装置,其特征在于,所述处理器用于将所述激光发射电路出射的激光的功率调整到所述调整范围内时,具体用于:
通过调整驱动信号脉宽或供电电压调整所述激光发射电路出射的激光的功率调整得到所述调整范围内。
21.如权利要求15所述的装置,其特征在于,所述处理器用于控制所述功率检测电路检测所述激光发射电路出射的激光的功率时,具体用于:
控制所述功率检测电路检测激光脉冲信号的峰值,所述激光脉冲信号为所述激光发射电路出射的激光产生的脉冲信号;
根据所述激光脉冲信号的峰值获取脉冲幅度;
根据所述脉冲幅度检测所述激光发射电路出射的激光的功率。
22.如权利要求21所述的装置,其特征在于,所述功率检测电路包括峰值保持电路和第一模数转换器ADC;
所述激光脉冲信号的峰值以及所述脉冲幅度通过所述峰值保持电路以及第一模数转换器ADC获取。
23.如权利要求15所述的装置,其特征在于,所述处理器用于控制所述功率检测电路检测所述激光发射电路出射的激光的功率时,具体用于:
控制所述功率检测电路对所述激光脉冲信号进行展宽处理以及放大处理;
将展宽处理以及放大处理之后的激光脉冲信号进行数字采样处理,并根据数字采样处理结果计算出所述激光发射电路出射的激光的功率。
24.如权利要求23所述的装置,其特征在于,所述处理器用于将展宽处理以及放大处理之后的激光脉冲信号进行数字采样处理,并根据数字采样处理结果计算出所述激光发射电路出射的激光的功率时,具体用于:
将展宽处理以及放大处理之后的激光脉冲信号进行数字采样处理,得到采样数值;
根据所述采样数值进行校准处理,得到所述激光发射电路出射的激光的功率。
25.如权利要求24所述的装置,其特征在于,所述处理器用于根据所述采样数值进行校准处理,得到所述激光发射电路出射的激光的功率时,具体用于:
获取实际出射功率与计算得到的激光功率的比值关系;
根据所述比值关系对所述采样数值得到校准处理,得到所述激光发射电路出射的激光的功率。
26.如权利要求23-25任一项所述的装置,其特征在于,所述功率检测电路包括展宽电路和第二模数转换器ADC;
所述展宽电路用于对所述激光脉冲信号进行展宽处理以及放大处理,所述第二模数转换器ADC用于进行所述数字采样处理。
27.如权利要求24所述的装置,其特征在于,所述处理器还用于:
将所述激光发射电路出射的激光进行分离处理,并根据分离处理后的激光得到所述激光脉冲信号。
28.如权利要求27所述的装置,其特征在于,所述功率检测电路还包括光电器件,所述激光脉冲信号由所述光电器件检测得到。
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