CN108760247A - 显示装置的测试治具和显示装置测试*** - Google Patents

显示装置的测试治具和显示装置测试*** Download PDF

Info

Publication number
CN108760247A
CN108760247A CN201810523694.5A CN201810523694A CN108760247A CN 108760247 A CN108760247 A CN 108760247A CN 201810523694 A CN201810523694 A CN 201810523694A CN 108760247 A CN108760247 A CN 108760247A
Authority
CN
China
Prior art keywords
display device
measurement jig
signal
module
pattern generator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201810523694.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN108760247B (zh
Inventor
李方宇
赵建
冯杰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Zhangjiagang Kangdexin Optronics Material Co Ltd
Original Assignee
Zhangjiagang Kangdexin Optronics Material Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zhangjiagang Kangdexin Optronics Material Co Ltd filed Critical Zhangjiagang Kangdexin Optronics Material Co Ltd
Priority to CN201810523694.5A priority Critical patent/CN108760247B/zh
Publication of CN108760247A publication Critical patent/CN108760247A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN108760247B publication Critical patent/CN108760247B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Controls And Circuits For Display Device (AREA)

Abstract

本发明提供了一种显示装置的测试治具和显示装置测试***,其中,显示装置的测试治具包括计算机和图形发生器,计算机用于生成对显示装置的3D成像功能进行检测的校正信号,校正信号包含3D测试图像信息,图形发生器包括信号转换模块,信号转换模块与计算机连接,信号转换模块用于接收校正信号,并将校正信号转换为3D图像显示信号后传输至显示装置,显示装置根据3D图像显示信号包含的3D测试图像信息而呈现3D测试图像。本发明解决了现有技术中的图形发生器无法用于对显示装置的3D成像功能进行检测的问题。

Description

显示装置的测试治具和显示装置测试***
技术领域
本发明涉及显示技术领域,具体而言,涉及一种显示装置的测试治具和显示装置测试***。
背景技术
显示装置的测试治具用于对显示装置的成像功能进行检测,现有技术中,通常采用图形发生器作为显示装置的测试治具,通过图形发生器对显示装置进行点亮试验,实现对显示装置的成像功能的检测。
随着显示技术的发展,出现了能够实现3D成像功能的显示装置,相应地,需要对此类显示装置的3D成像功能进行检测。
但现有的图形发生器只能生成包含2D测试图像信息的2D图像显示信号,无法生成包含3D测试图像信息的3D图像显示信号,并且现有的图形发生器无法将计算机生成的对显示装置的3D成像功能进行检测的校正信号转换成包含3D测试图像信息的3D图像显示信号,导致现有的图形发生器无法用于对显示装置的3D成像功能进行检测。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种显示装置的测试治具和显示装置测试***,以解决现有技术中的图形发生器无法用于对显示装置的3D成像功能进行检测的问题。
为了实现上述目的,根据本发明的一个方面,提供了一种显示装置的测试治具,包括:计算机,用于生成对显示装置的3D成像功能进行检测的校正信号,校正信号包含3D测试图像信息;图形发生器,图形发生器包括信号转换模块,信号转换模块与计算机连接,信号转换模块用于接收校正信号,并将校正信号转换为3D图像显示信号后传输至显示装置,显示装置根据3D图像显示信号包含的3D测试图像信息而呈现3D测试图像。
进一步地,计算机包括3D校正控制单元,3D校正控制单元用于生成含有3D测试图像信息的校正信号,校正信号通过计算机的显卡向外输出。
进一步地,显卡具有校正信号输出端口,信号转换模块具有与校正信号输出端口相对应的校正信号输入端口,其中,校正信号输出端口为HDMI、DP、DVI、VGA中的一种,校正信号输入端口为HDMI、DP、DVI、VGA中的一种。
进一步地,图形发生器还包括图片生成模块,图片生成模块与计算机连接,图片生成模块用于生成包含2D测试图像信息的2D图像显示信号,显示装置接收2D图像显示信号并根据2D图像显示信号包含的2D测试图像信息而呈现2D测试图像,以检测显示装置的装配状态。
进一步地,3D图像显示信号为LVDS信号或V By One信号;2D图像显示信号为LVDS信号或V By One信号。
进一步地,计算机包括图形发生器控制单元,图形发生器控制单元与信号转换模块和图片生成模块连接,图形发生器控制单元用于控制信号转换模块或图片生成模块处于工作状态。
进一步地,计算机和图形发生器均具有以太网接口,计算机的以太网接口和图形发生器的以太网接口之间连接有网线,图形发生器控制单元通过网线与信号转换模块或图片生成模块连接。
进一步地,测试治具还包括背光板,图形发生器还包括供电模块,供电模块用于为背光板提供背光电压,以点亮背光板而为显示装置提供测试光线。
进一步地,测试治具还包括工业相机,工业相机与3D校正控制单元连接,工业相机用于对显示装置呈现的3D测试图像取像分析,并将分析处理结果存储在计算机内。
根据本发明的另一方面,提供了一种显示装置测试***,包括:测试治具,测试治具用于发生3D图像显示信号或2D图像显示信号,测试治具为上述的测试治具;显示装置,显示装置包括显像模组和时序控制器,显像模组通过时序控制器与测试治具信号连接;当时序控制器接收3D图像显示信号时,显像模组呈现3D测试图像,以检测其3D成像功能;当时序控制器接收2D图像显示信号时,显像模组呈现2D测试图像,以检测其装配状态。
进一步地,显像模组包括相贴合的基板和3D成像膜,显像模组呈现2D测试图像用于检测基板和3D成像膜的贴合状态。
应用本发明的技术方案,测试治具包括计算机和图形发生器,通过在图形发生器中设置信号转换模块,使图形发生器具有信号转换功能,从而使图形发生器能够用于对显示装置的3D成像功能进行检测。具体地,当需要对显示装置的3D成像功能进行检测时,将信号转换模块与计算机和显示装置连接,控制计算机生成对显示装置的3D成像功能进行检测的校正信号,计算机将校正信号传输至信号转换模块,信号转换模块接收到校正信号后将校正信号转换为3D图像显示信号,之后,信号转换模块再将3D图像显示信号传输至显示装置,显示装置根据3D图像显示信号包含的3D测试图像信息而呈现3D测试图像。使用者可以通过对显示装置呈现的3D测试图像进行分析,得到对显示装置的3D成像功能进行检测的测试结果,本申请提供的测试治具能够便捷地对显示装置的3D成像功能进行检测,提升了图形发生器的实用性。
本申请提供的显示装置测试***包括测试治具和显示装置,其中,测试治具为上述的测试治具,测试治具能够发生3D图像显示信号,使显示装置呈现3D测试图像,以便对显示装置的3D成像功能进行检测,不仅如此,测试治具能够发生2D图像显示信号,使显示装置呈现2D测试图像,以便对显示装置的装配状态进行检测。本申请提供的显示装置测试***具有良好的使用便捷性。
附图说明
构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本发明的进一步理解,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1示出了根据本发明的一种可选实施例的显示装置测试***的结构框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的,决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
为了解决现有技术中的图形发生器无法用于对显示装置的3D成像功能进行检测的问题,本发明提供了一种显示装置的测试治具和显示装置测试***。其中,显示装置测试***包括测试治具和显示装置,测试治具为上述和下述的测试治具。本申请提供的显示装置测试***能够检测显示装置的3D成像功能和装配状态。
需要说明的是,本申请中提及的显示装置包括显像模组和时序控制器,其中,显像模组包括相贴合的基板和3D成像膜;本申请中提及的显示装置的装配状态具体为基板和3D成像膜的贴合状态。
根据本申请的第一方面,如图1所示,显示装置的测试治具包括计算机和图形发生器,其中,计算机用于生成对显示装置的3D成像功能进行检测的校正信号,校正信号包含3D测试图像信息;图形发生器包括信号转换模块,信号转换模块与计算机连接,信号转换模块用于接收校正信号,并将校正信号转换为3D图像显示信号后传输至显示装置,显示装置根据3D图像显示信号包含的3D测试图像信息而呈现3D测试图像。
在本申请中,测试治具包括计算机和图形发生器,通过在图形发生器中设置信号转换模块,使图形发生器具有信号转换功能,从而使图形发生器能够用于对显示装置的3D成像功能进行检测。具体地,当需要对显示装置的3D成像功能进行检测时,将信号转换模块与计算机和显示装置连接,控制计算机生成对显示装置的3D成像功能进行检测的校正信号,计算机将校正信号传输至信号转换模块,信号转换模块接收到校正信号后将校正信号转换为3D图像显示信号,之后,信号转换模块再将3D图像显示信号传输至显示装置,显示装置根据3D图像显示信号包含的3D测试图像信息而呈现3D测试图像。使用者可以通过对显示装置呈现的3D测试图像进行分析,得到对显示装置的3D成像功能进行检测的测试结果,本申请提供的测试治具能够便捷地对显示装置的3D成像功能进行检测,提升了图形发生器的实用性。
在本申请中,图形发生器的显示方式为点对点(Dot To Dot)显示,这样,图形发生器的显示方式能够与显示装置的显示方式相匹配,从而使显示装置能够呈现出3D测试图像。
如图1所示,计算机包括3D校正控制单元,3D校正控制单元用于生成含有3D测试图像信息的校正信号,校正信号通过计算机的显卡向外输出。这样,使用者通过控制计算机的3D校正控制单元工作,使3D校正控制单元生成含有3D测试图像信息的校正信号,再通过计算机的显卡将校正信号输出至图形发生器的信号转换模块。
可选地,3D校正控制单元为3D校正软件,使用者只需要在计算机上安装3D校正软件,在需要对显示装置的3D成像功能进行检测时,对安装在计算机内的3D校正软件进行操作,提升了测试治具的使用便捷性。
如图1所示,显卡具有校正信号输出端口,信号转换模块具有与校正信号输出端口相对应的校正信号输入端口,其中,校正信号输出端口为HDMI、DP、DVI、VGA中的一种,校正信号输入端口为HDMI、DP、DVI、VGA中的一种。这样,显卡和信号转换模块分别设置有对应的校正信号输出端口和校正信号输入端口,校正信号输出端口和校正信号输入端口之间通过对应的数据线连接,从而实现显卡和信号转换模块之间的信号传输。
优选地,校正信号输出端口和校正信号输入端口采用HDMI、DP中的一种。
如图1所示,图形发生器还包括图片生成模块,图片生成模块与计算机连接,图片生成模块用于生成包含2D测试图像信息的2D图像显示信号,显示装置接收2D图像显示信号并根据2D图像显示信号包含的2D测试图像信息而呈现2D测试图像,以检测显示装置的装配状态,即显示装置的显像模组的基板和3D成像膜的贴合状态。这样,在需要检测显示装置的装配状态时,控制图形发生器的图片生成模块工作,生成包含2D测试图像信息的2D图像显示信号,并将2D图像显示信号传输至显示装置,显示装置接收2D图像显示信号并根据2D图像显示信号包含的2D测试图像信息而呈现出2D测试图像,使用者观察显示装置呈现出的2D测试图像是否符合要求,从而检测显示装置的装配状态,即显示装置的显像模组的基板和3D成像膜的贴合状态、基板和3D成像膜之间是否有异物。本申请提供的显示装置的测试治具既能够检测显示装置的3D成像功能,又能够检测显示装置的装配状态,提升了测试治具的实用性和使用便捷性。
可选地,3D图像显示信号为LVDS信号或V By One信号;2D图像显示信号为LVDS信号或V By One信号。
如图1所示,计算机包括图形发生器控制单元,图形发生器控制单元与信号转换模块和图片生成模块连接,图形发生器控制单元用于控制信号转换模块或图片生成模块处于工作状态。这样,在需要检测显示装置的3D成像功能时,使用者通过图形发生器控制单元控制信号转换模块处于工作状态;在需要检测显示装置的装配状态时,使用者通过图形发生器控制单元控制图片生成模块处于工作状态,从而提升了测试治具的自动化程度和使用便捷性。
可选地,图形发生器控制单元为图形发生器控制软件,使用者仅需要在计算机上安装图形发生器控制软件,在对显示装置进行检测前,对计算机内的图形发生器控制软件进行操作,并在图形发生器控制软件的操作界面选择检测显示装置的3D成像功能或检测显示装置的装配状态,从而进一步地提升了测试治具的自动化程度和使用便捷性。
在图1示出的可选实施例中,计算机和图形发生器均具有以太网接口,计算机的以太网接口和图形发生器的以太网接口之间连接有网线,图形发生器控制单元通过网线与信号转换模块或图片生成模块连接。这样,图形发生器控制单元与信号转换模块和图片生成模块之间通过网线进行信号传输,图形发生器控制单元通过网线传输的信号控制信号转换模块处于工作状态或控制图片生成模块处于工作状态。
如图1所示,测试治具还包括背光板,图形发生器还包括供电模块,供电模块用于为背光板提供背光电压,以点亮背光板而为显示装置提供测试光线。显示装置利用背光板提供的测试光线和接收到的图形发生器传输来的3D图像显示信号或2D图像显示信号,呈现出3D测试图像或2D测试图像。
如图1所示,测试治具还包括工业相机,工业相机与3D校正控制单元连接,工业相机用于对显示装置呈现的3D测试图像取像分析,并将分析处理结果存储在计算机内。这样,可以通过工业相机智能地对显示装置呈现的3D测试图像取像分析,不需要使用者用肉眼进行观察,从而避免了主观因素对检测结果的影响,提升了检测结果的准确性,同时,降低了使用者的劳动强度,进一步地提升了测试治具的自动化程度和使用便捷性。
可选地,计算机将分析处理结果传输至3D校正软件中,通过3D校正软件直观地为使用者显示出对显示装置的3D成像功能的分析处理结果。
可选地,工业相机与计算机通过USB接口连接。
可选地,工业相机为CCD。
本申请提供的显示装置的测试治具具有良好的通用性,对于新品开发和打样具有极大的优势;同时,本申请提供的显示装置的测试治具能够整体封装,不存在多余接线,具有良好的外观美感;另外,本申请提供的显示装置的测试治具还具有过压、过流保护功能,从而使测试治具具有良好的使用寿命。
根据本申请的第二方面,如图1所示,本申请提供了一种显示装置测试***,包括测试治具和显示装置,测试治具用于发生3D图像显示信号或2D图像显示信号,测试治具为本申请第一方面提供的测试治具,显示装置包括显像模组和时序控制器,显像模组通过时序控制器与测试治具信号连接;当时序控制器接收3D图像显示信号时,显像模组呈现3D测试图像,以检测其3D成像功能;当时序控制器接收2D图像显示信号时,显像模组呈现2D测试图像,以检测其装配状态。
本申请中,显示装置测试***包括测试治具和显示装置,其中,测试治具为上述的测试治具,测试治具能够发生3D图像显示信号,使显示装置呈现3D测试图像,以便对显示装置的3D成像功能进行检测,不仅如此,测试治具能够发生2D图像显示信号,使显示装置呈现2D测试图像,以便对显示装置的装配状态进行检测。本申请提供的显示装置测试***具有良好的使用便捷性。
在本申请的可选实施例中,显像模组包括相贴合的基板和3D成像膜,显像模组呈现2D测试图像用于检测基板和3D成像膜的贴合状态。
在本申请中,显像模组为3D FOG(Filme On Glass);图形发生器为PG(PatternGenerator)。
通常情况下,先对显示装置的装配状态进行检测,将装配状态不合格的显示装置分拣出去,之后,对装配状态合格的显示装置再进行3D成像功能的检测,再将3D成像功能不合格的显示装置分拣出去。
需要注意的是,这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式,而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的,除非上下文另外明确指出,否则单数形式也意图包括复数形式,此外,还应当理解的是,当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时,其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
除非另外具体说明,否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。同时,应当明白,为了便于描述,附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论,但在适当情况下,所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有示例中,任何具体值应被解释为仅仅是示例性的,而不是作为限制。因此,示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
在本发明的描述中,需要理解的是,方位词如“前、后、上、下、左、右”、“横向、竖向、垂直、水平”和“顶、底”等所指示的方位或位置关系通常是基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,在未作相反说明的情况下,这些方位词并不指示和暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位或者以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明保护范围的限制;方位词“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内外。
为了便于描述,在这里可以使用空间相对术语,如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等,用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是,空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如,如果附图中的器件被倒置,则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而,示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位),并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。
此外,需要说明的是,使用“第一”、“第二”等词语来限定零部件,仅仅是为了便于对相应零部件进行区别,如没有另行声明,上述词语并没有特殊含义,因此不能理解为对本发明保护范围的限制。
需要注意的是,这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式,而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的,除非上下文另外明确指出,否则单数形式也意图包括复数形式,此外,还应当理解的是,当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时,其指明存在特征、步骤、工作、器件、组件和/或它们的组合。
需要说明的是,本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本申请的实施方式能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (11)

1.一种显示装置的测试治具,其特征在于,包括:
计算机,用于生成对所述显示装置的3D成像功能进行检测的校正信号,所述校正信号包含3D测试图像信息;
图形发生器,所述图形发生器包括信号转换模块,所述信号转换模块与所述计算机连接,所述信号转换模块用于接收所述校正信号,并将所述校正信号转换为3D图像显示信号后传输至所述显示装置,所述显示装置根据所述3D图像显示信号包含的3D测试图像信息而呈现3D测试图像。
2.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述计算机包括3D校正控制单元,所述3D校正控制单元用于生成含有所述3D测试图像信息的校正信号,所述校正信号通过所述计算机的显卡向外输出。
3.根据权利要求2所述的测试治具,其特征在于,所述显卡具有校正信号输出端口,所述信号转换模块具有与所述校正信号输出端口相对应的校正信号输入端口,其中,所述校正信号输出端口为HDMI、DP、DVI、VGA中的一种,所述校正信号输入端口为HDMI、DP、DVI、VGA中的一种。
4.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述图形发生器还包括图片生成模块,所述图片生成模块与所述计算机连接,所述图片生成模块用于生成包含2D测试图像信息的2D图像显示信号,所述显示装置接收所述2D图像显示信号并根据所述2D图像显示信号包含的2D测试图像信息而呈现2D测试图像,以检测所述显示装置的装配状态。
5.根据权利要求4所述的测试治具,其特征在于,
所述3D图像显示信号为LVDS信号或V By One信号;
所述2D图像显示信号为LVDS信号或V By One信号。
6.根据权利要求4所述的测试治具,其特征在于,所述计算机包括图形发生器控制单元,所述图形发生器控制单元与所述信号转换模块和所述图片生成模块连接,所述图形发生器控制单元用于控制所述信号转换模块或所述图片生成模块处于工作状态。
7.根据权利要求6所述的测试治具,其特征在于,所述计算机和所述图形发生器均具有以太网接口,所述计算机的以太网接口和所述图形发生器的以太网接口之间连接有网线,所述图形发生器控制单元通过所述网线与所述信号转换模块或所述图片生成模块连接。
8.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述测试治具还包括背光板,所述图形发生器还包括供电模块,所述供电模块用于为所述背光板提供背光电压,以点亮所述背光板而为所述显示装置提供测试光线。
9.根据权利要求2所述的测试治具,其特征在于,所述测试治具还包括工业相机,所述工业相机与所述3D校正控制单元连接,所述工业相机用于对所述显示装置呈现的3D测试图像取像分析,并将分析处理结果存储在所述计算机内。
10.一种显示装置测试***,其特征在于,包括:
测试治具,所述测试治具用于发生3D图像显示信号或2D图像显示信号,所述测试治具为权利要求1至9中任一项所述的测试治具;
显示装置,所述显示装置包括显像模组和时序控制器,所述显像模组通过所述时序控制器与所述测试治具信号连接;
当所述时序控制器接收所述3D图像显示信号时,所述显像模组呈现3D测试图像,以检测其3D成像功能;
当所述时序控制器接收所述2D图像显示信号时,所述显像模组呈现2D测试图像,以检测其装配状态。
11.根据权利要求10所述的显示装置测试***,其特征在于,所述显像模组包括相贴合的基板和3D成像膜,所述显像模组呈现所述2D测试图像用于检测所述基板和所述3D成像膜的贴合状态。
CN201810523694.5A 2018-05-28 2018-05-28 显示装置的测试治具和显示装置测试*** Active CN108760247B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810523694.5A CN108760247B (zh) 2018-05-28 2018-05-28 显示装置的测试治具和显示装置测试***

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810523694.5A CN108760247B (zh) 2018-05-28 2018-05-28 显示装置的测试治具和显示装置测试***

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN108760247A true CN108760247A (zh) 2018-11-06
CN108760247B CN108760247B (zh) 2020-12-08

Family

ID=64003052

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810523694.5A Active CN108760247B (zh) 2018-05-28 2018-05-28 显示装置的测试治具和显示装置测试***

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108760247B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112053659A (zh) * 2020-09-25 2020-12-08 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其供电方法和显示装置
CN114446210A (zh) * 2022-01-28 2022-05-06 冠捷显示科技(厦门)有限公司 一种适配液晶面板的Scaler主板检测方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08334438A (ja) * 1995-06-09 1996-12-17 Banzai:Kk ヘッドライトテスター
CN102466562A (zh) * 2010-10-29 2012-05-23 乐金显示有限公司 立体显示设备的光学测量装置和方法
CN202928783U (zh) * 2012-11-22 2013-05-08 清华大学深圳研究生院 裸眼3d显示图像源和显示设备综合测试***
CN103575507A (zh) * 2012-08-10 2014-02-12 北京京东方光电科技有限公司 一种3d显示产品的光学检测方法及***
CN104735443A (zh) * 2013-12-18 2015-06-24 特克特朗尼克公司 用于测量显示器质量的装置和方法
CN105812787A (zh) * 2016-03-15 2016-07-27 重庆卓美华视光电有限公司 一种裸眼3d显示设备的测试方法及装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08334438A (ja) * 1995-06-09 1996-12-17 Banzai:Kk ヘッドライトテスター
CN102466562A (zh) * 2010-10-29 2012-05-23 乐金显示有限公司 立体显示设备的光学测量装置和方法
CN103575507A (zh) * 2012-08-10 2014-02-12 北京京东方光电科技有限公司 一种3d显示产品的光学检测方法及***
CN202928783U (zh) * 2012-11-22 2013-05-08 清华大学深圳研究生院 裸眼3d显示图像源和显示设备综合测试***
CN104735443A (zh) * 2013-12-18 2015-06-24 特克特朗尼克公司 用于测量显示器质量的装置和方法
CN105812787A (zh) * 2016-03-15 2016-07-27 重庆卓美华视光电有限公司 一种裸眼3d显示设备的测试方法及装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112053659A (zh) * 2020-09-25 2020-12-08 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其供电方法和显示装置
CN114446210A (zh) * 2022-01-28 2022-05-06 冠捷显示科技(厦门)有限公司 一种适配液晶面板的Scaler主板检测方法
CN114446210B (zh) * 2022-01-28 2023-12-29 冠捷显示科技(厦门)有限公司 一种适配液晶面板的Scaler主板检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN108760247B (zh) 2020-12-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1173259C (zh) 模拟/数字显示适配器和具有这种适配器的计算机***
US20080055189A1 (en) System and Method for Displaying Computer Data in a Multi-Screen Display System
CN209231637U (zh) 一种点灯治具及点灯测试***
CN108760247A (zh) 显示装置的测试治具和显示装置测试***
US20120296583A1 (en) Test card and motherboard monitoring system
KR101943416B1 (ko) 디스플레이 검사장비용 디스플레이포트 인터페이스 모듈
CN106775397B (zh) Pcb板和应用pcb板的多点触控方法
CN107452305A (zh) 一种用于屏幕检测的电流检测装置、***和方法
CN103837758B (zh) 影像讯号的多重检测***及其多重检测方法
CN107390394A (zh) 一种基于sopc的液晶模组测试***
CN101196623A (zh) 检测屏幕色彩特性装置及其方法
CN111767177A (zh) Led显示屏控制卡的测试方法,测试装置,测试设备及存储介质
CN203590370U (zh) 一种通用视频信号性能参数自动测试装置
CN112015318B (zh) 一种显示模组调试装置、***及方法
CN111402771A (zh) 一种显示驱动芯片和显示模组的检测设备
CN108172158A (zh) 显示设备及其驱动方法
CN104575344A (zh) 基于亮度色度计的屏幕质量检测方法及屏幕质量检测***
CN107688447A (zh) 图像处理服务器及具有其的超高分辨率显示***
CN104346245B (zh) 颜色测试***
CN108205429A (zh) 模拟显示画面暨支持虚拟显示设备之控制设备、***及方法
CN106680635A (zh) 触摸屏测试***和触摸屏测试方法
CN105405377A (zh) 时序控制芯片无画面检测***及其方法
CN102122094A (zh) 一种液晶面板显示屏检测***
CN110033723A (zh) 显示输入延迟检测***及方法
CN212570348U (zh) 一种多屏显示检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant