CN209231637U - 一种点灯治具及点灯测试*** - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种点灯治具及点灯测试***。该点灯治具包括动态测试数据接收端口、处理器和数据来源判别模块；数据来源判别模块与动态测试数据接收端口相连，以判断当前是否有动态测试数据输入；处理器与动态测试数据接收端口相连，若数据来源判别模块判断当前有动态测试数据输入，处理器通过动态测试数据接收端口接收外部设备输入的动态测试数据并提供至待测显示面板；否则，处理器向待测显示面板提供静态测试数据。本实用新型的点灯治具可以利用静态测试数据以及动态测试数据该两种类型的测试数据对待测显示面板进行点灯测试，而且还能实现两种测试数据点灯测试的有效切换。
Description
技术领域
本实用新型实施例涉及显示面板测试技术领域，尤其涉及一种点灯治具及点灯测试***。
背景技术
随着液晶屏生产技术的不断发展，各领域的液晶屏机种不断增多，经常性的需要将各模组机种组立成Demo Kit(演示工具包)的形式向客户展示，这样对于点灯治具的需求和要求也越来越多。
目前，有好多车载以及工控机种不仅需要利用静态测试数据(如纯色图案及图片)进行点灯测试，还需要利用动态测试数据(如显示PC***、播放视频等)进行点灯测试。但是现有的点灯治具或者只能进行利用静态测试数据对显示面板进行点灯测试，或者只能利用动态测试数据对显示面板进行点灯测试。即现有的点灯治具往往仅能支持一种类型的测试数据，功能单一，这使得现有的点灯治具不能满足用户需求。
实用新型内容
本实用新型提供一种点灯治具及点灯测试***，以实现能够利用静态测试数据和动态测试数据两种测试数据对显示设备进行点灯测试，以及两种测试数据点灯测试的有效切换。
第一方面，本实用新型提供了一种点灯治具，该点灯治具包括：动态测试数据接收端口、处理器和数据来源判别模块；
数据来源判别模块与动态测试数据接收端口相连，以判断当前是否有动态测试数据输入；
处理器分别与数据来源判别模块以及动态测试数据接收端口相连，若数据来源判别模块判断当前有动态测试数据输入，处理器通过动态测试数据接收端口接收外部设备输入的动态测试数据并提供至待测显示面板；否则，处理器向待测显示面板提供静态测试数据。
进一步地，动态测试数据接收端口包括至少一个动态测试数据检测引脚，数据来源判别模块包括电平判断单元；
电平判断单元与动态测试数据检测引脚连接，电平判断单元根据流经动态测试数据检测引脚的电平高低状态，判断当前是否有动态测试数据输入。
进一步地，处理器包括微处理控制器、现场可编程门阵列FPGA、转换集成电路、第一存储器以及第二存储器；
微处理控制器分别与数据来源判别模块、FPGA以及第二存储器相连；转换集成电路分别与FPGA、第一存储器以及动态测试数据接收端口相连；
若数据来源判别模块判断当前有动态测试数据输入，微处理控制器控制FPGA对转换集成电路进行配置，转换集成电路读取第一存储器中存储的待测显示面板的性能参数，转换集成电路将动态测试数据接收端口接收的动态测试数据提供至待测显示面板；否则，微处理控制器读取第二存储器中存储的待测显示面板的性能参数，并发送至FPGA，FPGA产生静态测试数据并提供至待测显示面板。
进一步地，处理器还包括数据处理单元，数据处理单元分别与FPGA以及转换集成电路相连；
数据处理单元能够将FPGA输出的静态测试数据转换为待测显示面板能够识别的数据类型后提供至待测显示设备；
数据处理单元能够将转换集成电路输出的动态测试数据转换为待测显示面板能够识别的数据类型后提供至待测显示设备。
进一步地，动态测试数据接收端口为高清多媒体接口HDMI。
进一步地，数据处理单元为桥接集成电路Bridge IC。
进一步地，微处理控制器为高级精简指令集计算机ARM。
进一步地，第一存储器为带电可擦可编程只写存储器EEPROM，第二存储器为安全数码卡。
第二方面，本实用新型还提供了一种点灯测试***，该点灯***包括上述任意的点灯治具、待测显示面板以及外部设备；
点灯治具分别与外部设备以及待测显示面板相连。
进一步地，外部设备为电脑。
本实用新型通过设置点灯治具包括动态测试数据接收端口、处理器和数据来源判别模块，数据来源判别模块与动态测试数据接收端口相连，以判断当前是否有动态测试数据输入，处理器与动态测试数据接收端口相连，若数据来源判别模块判断当前有动态测试数据输入，处理器通过动态测试数据接收端口接收外部设备输入的动态测试数据并提供至待测显示面板；否则，处理器向待测显示面板提供静态测试数据。可以使得该点灯治具既能够利用静态测试数据对待测显示面板进行点灯测试，又能够利用动态测试数据对待测显示设备进行点灯测试，并且能够有效实现静态测试数据点灯测试和动态测试数据点灯测试的切换，解决了现有的点灯治具功能单一的问题，给进行点灯测试的工作人员带来了便利。
附图说明
图1为本实用新型实施例一提供的一种点灯治具的结构框图；
图2为本实用新型实施例二提供的一种点灯治具的结构框图；
图3为电平为高电平时，该点灯治具的工作过程中各部件的工作顺序图；
图4为电平为低电平时，该点灯治具的工作过程中各部件的工作顺序图；
图5是本实用新型实施例三提供的一种点灯测试***的结构框图；
其中，附图标记与对应的特征名称：
1-点灯治具，2-外部设备，3-待测显示面板，11-动态测试数据接收端口，111-动态测试数据检测引脚，12-数据来源判别模块，13-处理器，131-微处理控制器，132-FPGA，133-转换IC，134-第二存储器，135-第一存储器，136-数据处理单元。
具体实施方式
为更进一步阐述本实用新型为达成预定实用新型目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型提出的一种点灯治具及点灯测试***的具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
实施例一
图1为本实用新型实施例一提供的一种点灯治具的结构框图。参见图1，该点灯治具1包括动态测试数据接收端口11、处理器13和数据来源判别模块12，数据来源判别模块12与动态测试数据接收端口11相连，以判断当前是否有动态测试数据输入，处理器13分别与数据来源判别模块12以及动态测试数据接收端口11相连，若数据来源判别模块12判断当前有动态测试数据输入，处理器13通过动态测试数据接收端口11接收外部设备输入的动态测试数据并提供至待测显示面板；否则，处理器13向待测显示面板提供静态测试数据。
本实用新型提供的点灯治具1包括动态测试数据接收端口11，以接收外部设备输入的动态测试数据；数据来源判别模块12与动态测试数据接收端口11相连，以判断当前是否有动态测试数据输入；处理器13与动态测试数据接收端口11相连，若数据来源判别模块12判断当前有动态测试数据输入，处理器13将动态测试数据提供至待测显示面板；否则，处理器13向待测显示面板提供静态测试数据。可以使得该点灯治具1既具有利用静态测试数据对显示面板进行点灯测试的功能，又具有利用动态测试数据对显示设备进行点灯测试的功能，并且有效实现两种功能的有效切换，解决了现有的点灯治具功能单一的问题，给进行点灯测试的工作人员带来了便利。
在上述技术方案中，具体可以使得数据来源判别模块12具有判断当前是否有动态测试数据输入的方法有多种，下面就典型示例进行详细说明，但不构成对本申请的限制。
继续参见图1，该点灯治具1中，动态测试数据接收端口11包括至少一个动态测试数据检测引脚111，数据来源判别模块12包括电平判断单元，电平判断单元与动态测试数据检测引脚111连接，电平判断单元根据流经动态测试数据检测引脚111的电平高低状态，判断当前是否有动态测试数据输入。
在进行点灯测试之前，将存储有动态测试数据的外部设备通过动态测试数据接收端口11与该点灯治具1进行连接，并且，将待测显示面板与该点灯治具1的处理器13进行连接，在进行点灯测试时，若电平判断单元检测到流经动态测试数据检测引脚111的电平为高电平，处理器13接收由外部设备输出的，流经动态测试数据接收端口11的动态测试数据，并将该动态测试数据输出至待测显示面板，待测显示面板基于该动态测试数据进行图像显示，以完成测试。若电平判断单元检测到流经动态测试数据检测引脚111的电平为低电平，处理器13自产生静态测试数据，并将该静态测试数据输出至测显示面板，待测显示面板基于该静态测试数据进行图像显示，以完成测试。
实施例二
图2为本实用新型实施例二提供的一种点灯治具的结构框图。本实施例是对实施例一中的处理器13进行细化。参见图2，处理器13包括微处理控制器131、现场可编程门阵列(Field－Programmable Gate Array，FPGA)132、转换集成电路(converter IntegratedCircuit，简称转换IC)133、第一存储器135以及第二存储器134，微处理控制器131分别与数据来源判别模块12、FPGA132以及第二存储器134相连；转换IC133分别与FPGA132、第一存储器135以及动态测试数据接收端口11相连，若数据来源判别模块12判断当前有动态测试数据输入，微处理控制器131控制FPGA132对转换IC133进行配置，转换IC133读取第一存储器135中存储的待测显示面板的性能参数，转换IC133将动态测试数据接收端口11接收的动态测试数据提供至待测显示面板；否则，微处理控制器131读取第二存储器134中存储的待测显示面板的性能参数，并发送至FPGA132，FPGA132产生静态测试数据并提供至待测显示面板。
在上述技术方案中，可选地，处理器13还包括数据处理单元136，数据处理单元136分别与FPGA132以及转换IC133相连；
数据处理单元136能够将FPGA132输出的静态测试数据转换为待测显示面板能够识别的数据类型后提供至待测显示设备；
数据处理单元136能够将转换IC133输出的动态测试数据转换为待测显示面板能够识别的数据类型后提供至待测显示设备。
这样设置的目的是，FPGA132输出的静态测试数据以及转换IC133输出的动态测试数据均为逻辑门电路(Transistor-Transistor Logic，TTL)信号，但是有些待测显示面板不能够识别TTL信号，数据处理单元136能够将TTL信号转换为待测显示面板能够识别的数据类型，以使点灯治具1能够对不同类型的待测显示面板进行点灯测试。
可选地，动态测试数据接收端口11为高清多媒体接口(High DefinitionMultimedia Interface，HDMI)。
可选地，数据处理单元136为桥接集成电路(Bridge Integrated Circuit，BridgeIC，Bridge IC)。
可选地，微处理控制器131为高级精简指令集计算机(Advanced RISC Machine，ARM)。
可选地，第一存储器135为带电可擦可编程只写存储器(Electrically ErasableProgrammable read only memory，EEPROM)，第二存储器134为安全数码卡(SecureDigital Memory Card，简称SD卡)。
具体的，外部设备的作用是通过自身的HDMI端口将HDMI信号(动态测试数据)传输到点灯治具端的HDMI端口(动态测试数据接收端口11)。点灯治具端的HDMI端口的作用是接收外部设备传输来的HDMI信号，并且点灯治具端的HDMI端口的其中一个引脚为动态测试数据检测引脚111。数据来源判别模块12的作用是在ARM的控制下检测流经动态测试数据检测引脚111的电流的电平高低从而判别当前是否有动态测试数据输入。ARM的作用是通过串行外设接口(Serial Peripheral Interface，SPI)与FPGA132通信、控制数据来源判别模块12工作以及读取SD卡中存储的待测显示设备的性能参数。EEPROM的作用是存储待测显示面板的扩展显示标识数据(Extended Display Identification Data，EDID)信息并将其传输给转换IC133。SD卡的作用是存储待测显示面板的扩展显示标识数据EDID信息并将其传输给转换ARM。FPGA132的作用是通过SPI通信配置后产生TTL信号以及水平同步信号(Horizontal Synchronization，Hsync)、水平同步信号(Vertical Synchronization，Vsync)和有效显示数据选通信号(Effective Display of Data Option Signal，De)等时序信号。转换IC133的作用是通过FPGA132在内置集成电路(Inter-Integrated Circuit，I2C)的配置下将从HDMI信息转化成TTL信号以及Hsync、Vsync、De等时序信号。Bridge IC的作用是将TTL信号转换成待测显示面板所需的移动产业处理器接口(Mobile IndustryProcessor Interface，MIPI)信号或嵌入式显示端口(Embedded Display Port，eDP)信号等信号。
图3为电平为高电平时，该点灯治具的工作过程中各部件的工作顺序图。如图3所示，ARM与数据来源判别模块进行实时通信，当数据来源判别模块检测到HDMI端口的动态测试数据检测引脚上的电平为高电平，则表明外部设备的HDMI端口与点灯治具端的HDMI端口进行了连接，外部设备开始向点灯治具输出动态测试数据，此时ARM通过SPI通信告知FPGA配置转换IC，IC从EEPROM读取EDID信息并将从HDMI端口接收的动态测试数据转换成TTL信号以及Hsync、Vsync、De等时序信号再传输给Bridge IC，Bridge IC将TTL信号转换为待测显示面板所能识别的数据类型，从而点亮待测显示面板。可以理解的是，当待测显示面板能够识别TTL信号时，则不必经过Bridge IC，直接将转换IC输出的动态测试数据传输至待测显示面板即可。
图4为电平为低电平时，该点灯治具的工作过程中各部件的工作顺序图。如图4所示，ARM与数据来源判别模块进行实时通信，当数据来源判别模块检测到HDMI端口的动态测试数据检测引脚上的电平为低电平，则表明外部设备的HDMI端口与点灯治具端的HDMI端口之间断开连接，外部设备未向点灯治具输出动态测试数据，此时，ARM通过SPI通信告知FPGA自产生静态测试数据，并将其传输至Bridge IC，Bridge IC将TTL信号转换为待测显示面板所能识别的数据类型，从而点亮待测显示面板。可以理解的是，当待测显示面板能够识别TTL信号时，则不必经过Bridge IC，直接将FPGA输出的静态测试数据传输至待测显示面板即可。
本实用新型实施例提供的点灯治具能够自动进行模式切换，因此，可以避免由于模式选择错误而导致的点亮异常等一系列问题，并且在展示Demo Kit时可实现多模式自由切换，给使用者带来了便利。
实施例三
图5是本实用新型实施例三提供的一种点灯测试***的结构框图。该点灯测试***包括本实用新型实施例提供的任意一种所述的点灯治具1和待测显示面板3以及外部设备2。点灯治具1分别与外部设备2以及待测显示面板3相连。可选地，外部设备2为电脑。
由于本实施例提供的点灯测试***包括本实用新型实施例提供的任意一种所述的点灯治具，其具有与其所述包括的点灯治具相同或相应的有益效果，本申请对此不作赘述。
以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本实用新型,任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
Claims (10)
1.一种点灯治具，其特征在于，包括动态测试数据接收端口、处理器和数据来源判别模块；
所述数据来源判别模块与所述动态测试数据接收端口相连，以判断当前是否有动态测试数据输入；
所述处理器分别与所述数据来源判别模块以及所述动态测试数据接收端口相连，若所述数据来源判别模块判断当前有动态测试数据输入，所述处理器通过所述动态测试数据接收端口接收外部设备输入的动态测试数据并提供至待测显示面板；否则，所述处理器向待测显示面板提供静态测试数据。
2.根据权利要求1所述点灯治具，其特征在于，所述动态测试数据接收端口包括至少一个动态测试数据检测引脚，所述数据来源判别模块包括电平判断单元；
所述电平判断单元与所述动态测试数据检测引脚连接，所述电平判断单元根据流经所述动态测试数据检测引脚的电平高低状态，判断当前是否有动态测试数据输入。
3.根据权利要求1所述点灯治具，其特征在于，所述处理器包括微处理控制器、现场可编程门阵列FPGA、转换集成电路、第一存储器以及第二存储器；
所述微处理控制器分别与所述数据来源判别模块、所述FPGA以及所述第二存储器相连；所述转换集成电路分别与所述FPGA、所述第一存储器以及所述动态测试数据接收端口相连；
若所述数据来源判别模块判断当前有动态测试数据输入，所述微处理控制器控制所述FPGA对所述转换集成电路进行配置，所述转换集成电路读取所述第一存储器中存储的待测显示面板的性能参数，所述转换集成电路将所述动态测试数据接收端口接收的动态测试数据提供至所述待测显示面板；否则，所述微处理控制器读取所述第二存储器中存储的待测显示面板的性能参数，并发送至所述FPGA，所述FPGA产生静态测试数据并提供至所述待测显示面板。
4.根据权利要求3所述点灯治具，其特征在于，所述处理器还包括数据处理单元，所述数据处理单元分别与所述FPGA以及所述转换集成电路相连；
所述数据处理单元能够将所述FPGA输出的静态测试数据转换为待测显示面板能够识别的数据类型后提供至所述待测显示设备；
所述数据处理单元能够将所述转换集成电路输出的动态测试数据转换为待测显示面板能够识别的数据类型后提供至所述待测显示设备。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的点灯治具，其特征在于，所述动态测试数据接收端口为高清多媒体接口HDMI。
6.根据权利要求4所述的点灯治具，其特征在于，所述数据处理单元为桥接集成电路Bridge IC。
7.根据权利要求3所述的点灯治具，其特征在于，所述微处理控制器为高级精简指令集计算机ARM。
8.根据权利要求3所述的点灯治具，其特征在于，所述第一存储器为带电可擦可编程只写存储器EEPROM，所述第二存储器为安全数码卡。
9.一种点灯测试***，其特征在于，包括权利要求1-8中任意一项所述的点灯治具、待测显示面板以及外部设备；
所述点灯治具分别与所述外部设备以及所述待测显示面板相连。
10.根据权利要求9所述的点灯测试***，其特征在于，所述外部设备为电脑。
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