CN108646483A - 阵列基板、显示面板和显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种阵列基板、显示面板和显示装置。该阵列基板包括：多条信号线，多条信号线包括第一信号线和第二信号线，第一信号线的负载大于第二信号线的负载；测试引线；控制引线；多个测试开关，测试开关包括输出端、输入端和控制端，每个测试开关的输出端均与一条不同的信号线电连接，每个测试开关的输入端均与一条测试引线电连接，每个测试开关的控制端均与一条控制引线电连接；多个测试开关包括第一测试开关和第二测试开关，第一测试开关的输出端与第一信号线电连接，第二测试开关的输出端与第二信号线电连接；其中，第一测试开关的开态电流大于第二测试开关的开态电流。通过本发明，能够提高测试的准确度。

Description

阵列基板、显示面板和显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，更具体地，涉及一种阵列基板、显示面板和显示装置。

背景技术

显示面板封装之后，将芯片(IC)或柔性电路板(FPC)压接于显示面板之前，需要对显示面板进行测试，其中，以开关(switch，SW)方式进行测试较为常见。测试时，外部测试信号经开关传递至显示面板的数据信号线上，为像素提供数据信号，测试像素的显示效果。此外，对于将触控功能集成在显示面板中的触控显示面板，除了测试像素的显示效果，还需要测试触控功能。在测试触控功能时，与测试像素的显示效果类似，外部测试信号经开关传递至触控电极线上，为触控电极提供输入信号，测试触控电极的触控检测功能。

随着显示面板的发展，显示面板的形状逐渐多样化，由传统的长方形逐步发展为多种形状，例如，拐角为圆弧形状的显示面板，或者圆形形状的显示面板等异形显示面板，对于该异形显示面板，采用SW方式进行测试时，容易将异形显示面板形状特殊引起的显示差异或触控差异误判为显示面板异常，从而使得这类型显示面板的测试准确性降低。

因此，提供一种阵列基板、显示面板和显示装置，提高异形显示面板测试的准确性，是本领域亟待解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种阵列基板、显示面板和显示装置，解决了现有技术中异形显示面板测试准确性低的技术问题。

为了解决上述技术问题，本发明提出一种阵列基板。

该阵列基板包括：多条信号线，所述多条信号线包括第一信号线和第二信号线，所述第一信号线的负载大于所述第二信号线的负载；测试引线；控制引线；多个测试开关，所述测试开关包括输出端、输入端和控制端，每个所述测试开关的输出端均与一条不同的所述信号线电连接，每个所述测试开关的输入端均与一条所述测试引线电连接，每个所述测试开关的控制端均与一条所述控制引线电连接；所述多个测试开关包括第一测试开关和第二测试开关，所述第一测试开关的输出端与所述第一信号线电连接，所述第二测试开关的输出端与所述第二信号线电连接；其中，所述第一测试开关的开态电流大于所述第二测试开关的开态电流。

另一方面，基于同一发明构思，本发明还提出一种显示面板。

本发明提供的显示面板包括本发明提供的任意一种阵列基板。

再一方面，基于同一发明构思，本发明还提出一种显示装置。

本发明提供的显示装置包括本发明提供的任意一种显示面板。

与现有技术相比，本发明的阵列基板、显示面板和显示装置，实现了如下的有益效果：

对于阵列基板上负载较大的第一信号线和负载较小的第二信号线，设置与第一信号线连接的测试开关的开态电流，大于与第二信号线连接的测试开关的开态电流，也即第一测试开关的开态电流大于第二测试开关的开态电流，使得第一测试开关的驱动能力大于第二测试开关的驱动能力，能够补偿第一信号线与第二信号线的负载差异，从而在进行测试时，能够改善由于信号线自身负载差异而造成的显示不良，进而能够提高测试的准确度。

通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例，并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。

图1为现有技术所述的阵列基板的结构示意图；

图2为本发明实施例所述的阵列基板的线路连接示意图；

图3为本发明实施例所述的一种阵列基板的结构示意图；

图4为本发明实施例所述的阵列基板的触控部分的结构示意图；

图5为本发明实施例所述的又一种阵列基板的触控部分的结构示意图；

图6为本发明实施例所述的再一种阵列基板的触控部分的结构示意图；

图7为本发明实施例所述的再一种阵列基板的触控部分的结构示意图；

图8为本发明实施例所述的一种互容式触控电极的结构示意图；

图9为本发明实施例所述的另一种互容式触控电极的结构示意图；

图10为本发明实施例所述的阵列基板中测试开关的示意图；

图11为本发明实施例所述的一种阵列基板中第一测试开关和第二测试开关的示意图；

图12为本发明实施例所述的阵列基板中另一种第一测试开关和第二测试开关的示意图；

图13为本发明实施例所述的又一种阵列基板的结构示意图；

图14为本发明实施例所述的显示装置的结构示意图。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

发明人对现有技术中的阵列基板进行了如下的研究：图1为现有技术所述的阵列基板的结构示意图，如图1所示，该阵列基板包括多根在第一方向y'上延伸的数据信号线10'，用于将数据信号，也即显示灰阶的电压信号传递至像素SP'，通常情况下，多个像素SP'在第一方向上y'上依次排列，形成一个像素列PY'，一根数据信号线10'连接一个像素列PY'的各个像素SP'，也即一根数据信号线10'的负载包括一个像素列PY'的所有像素SP'。阵列基板还包括测试开关SW'，测试开关SW'与数据信号线10'相连接，接收外部测试信号，经由数据信号线10'传递至像素SP'，对像素SP'进行测试。需要说明的是，图中的测试开关SW'仅用于示意性的表示出与数据信号线10'具有连接关系，并不限定所有的数据信号线10仅能连接至同一测试开关SW'。

对于如图1所示的异形显示面板，在第一方向y'上，每个像素列PY'包括的像素SP'的个数并不相等，在图1中所示的拐角为圆弧形状的显示面板的阵列基板中，相比阵列基板中心区域的像素列PY'，在第二方向x'上靠近阵列基板边缘的区域的像素列PY'，包括的像素SP'的个数会减少，导致驱动阵列基板中心区域的数据信号线10'的负载大于驱动阵列基板边缘的数据信号线10'的负载。

而当与具有不同负载的数据信号线10'相连接的各个测试开关SW'的驱动能力相同，在进行测试时，中心区域的像素SP'与边缘区域的像素SP'显示时会出现显示差异，具体呈现为显示不良。而显示面板本身的质量问题，可能也会引起中心区域像素SP'与边缘区域像素SP'出现差异。因而，在测试过程中，当中心区域的像素SP'与靠近边缘的区域的像素SP'显示出现差异时，并不能准确确定出引起这一差异的真正原因，如果忽略这一差异，可能会漏掉具有质量问题的显示面板；如果直接判定为显示面板的质量问题，又会出现误判。

因此，现有技术中采用上述阵列基板的异形显示面板，在进行显示像素的测试时，测试准确度较低。同时，对于具有触控功能的异形显示面板，在对触控功能或者显示功能进行测试时，由于不同触控信号线上的负载不同，也会出现与上述显示像素的测试过程类似的问题，导致测试准确度降低。此外，对于常规的显示面板，当被测信号线的负载不同时，也会出现类似的问题。

基于上述研究，为了提高显示面板测试的准确性，本申请提出一种阵列基板、显示面板和显示装置，关于本申请提出的阵列基板、显示面板和显示装置的实施例，分别详细介绍如下。

图2为本发明实施例所述的阵列基板的线路连接示意图，如图2所示，该阵列基板包括多条信号线10、测试引线20、控制引线30和多个测试开关SW。

其中，信号线10为阵列基板中，向被驱动的负载传递周边电路或集成电路芯片的信号的走线，例如数据信号线、触控信号线或其他信号线等。多条信号线10包括第一信号线11和第二信号线12，第一信号线11的负载大于第二信号线12的负载。其中，第一信号线11的负载包括电阻负载，第二信号线12的负载包括电阻负载，此时，第一信号线11的电阻负载的阻值大于第二信号线12的电阻负载的阻值。和/或，第一信号线11的负载包括电容负载，第二信号线12的负载包括电容负载，此时，第一信号线11的电容负载的容值大于第二信号线12的电容负载的容值。该实施例中对第一信号线11和第二信号线12的负载的具体形式不做限定。

测试开关SW包括输出端O、输入端I和控制端C。测试引线20连接外部的测试信号发生装置，阵列基板上的测试引线20可以为一条或多条，每个测试开关SW的输入端I均与一条测试引线20电连接，各测试开关SW的输入端I可以连接不同的测试引线20，或者如图2所示，也可以连接至同一条测试引线20，测试开关SW通过输入端I接收测试信号发生装置产生的测试信号；控制引线30连接，例如外部的控制信号发生装置，阵列基板上的控制引线30可以为一条或多条，每个测试开关SW的控制端C均与一条控制引线30电连接，各测试开关SW的控制端C可以连接不同的控制引线30，或者如图2所示，也可以连接至同一条控制引线30，测试开关SW通过控制端C接收控制信号发生装置产生的控制信号，使输入端I与输出端O导通或关断，其中，测试信号发生装置和控制信号发生装置可以集成于同一测试工装内，也可以分别单独设置在不同的测试工装；每个测试开关SW的输出端O均与一条信号线10电连接，当测试开关的输入端I与输出端O导通时，将测试信号给入至信号线10，实现对负载功能的测试。

其中，多个测试开关SW包括第一测试开关SW1和第二测试开关SW2，第一测试开关SW1的输出端O1与第一信号线11电连接，第二测试开关SW2的输出端O2与第二信号线12电连接，第一测试开关SW1的开态电流大于第二测试开关SW2的开态电流。测试开关SW的开态电流大小影响测试开关SW的充电时间，开态电流越大，在有限时间内充电越充分，测试开关SW的驱动能力越强。

在本申请中，对于第一测试开关SW1和第二测试开关SW2，设置第一测试开关SW1的开态电流大于第二测试开关SW2的开态电流，使得第一测试开关SW1的驱动能力大于第二测试开关SW2的驱动能力，能够补偿第一信号线11与第二信号线12的负载差异，从而在进行测试时，能够改善由于信号线自身负载差异而造成的显示不良，进而能够提高测试的准确度。

需要说明的是，阵列基板的多个测试开关SW中，至少第一测试开关SW1和第二测试开关SW2连接不同的信号线10，例如，图1中不同的测试开关SW连接不同的信号线10，可选地，可设置一个测试开关SW连接不同的信号线10，但同一个测试开关SW连接的各个信号线10的负载相同，以减少测试开关SW的数量，减小阵列基板的边框。

可选地，图3为本发明实施例所述的一种阵列基板的结构示意图，如图3所示，阵列基板包括多条数据线10a和多条栅极线40，多条数据线10a和多条栅极线40绝缘交叉限定多个像素单元SP。多条信号线10包括多条数据线10a，每条数据线10a至少与一个像素单元SP电连接。其中，栅极线40向像素单元SP提供扫描信号，数据线10a向像素单元SP提供数据信号。

采用该实施例，在对显示面板上的像素单元SP进行测试时，测试开关SW通过输入端I接收测试信号发生装置产生的测试信号，也即数据信号，在测试开关SW的输入端I与输出端O导通时，将数据信号给入至数据线10a，能够实现对像素单元SP显示功能的测试。其中，当不同的数据线10a连接的像素单元SP的个数不同时，也即数据线10a的负载不同时，设置对应的测试开关SW的开态电流的大小不同，通过测试开关SW的开态电流差异，补偿数据线10a连接的像素单元SP的个数差异，从而在进行显示测试时，减少显示面板由于数据线10a连接的像素单元SP的个数差异引起的显示差异，当显示面板上产生显示差异，直接判定为显示面板的质量问题时，能够减少误判，提高测试的准确度。

在一种具体的实施例中，如图3所示，每个像素单元SP包括像素晶体管Ta和像素电极P，像素晶体管Ta具有包括栅极、源极和漏极，其中，栅极线40与薄膜晶体管的栅极电连接，数据线10a与像素单元SP电连接具体为，数据线10a与像素晶体管Ta的源极电连接，像素晶体管Ta的漏极与像素电极P电连接，阵列基板上还可以设置有公共电极，或者，与阵列基板对置的基板上设置有公共电极，像素电极与公共电极之间形成使液晶分子偏转的电场。多个像素单元SP在第一方向y上排列形成多个像素列py，在第二方向x上排列形成多个像素行px，每条栅极线40连接一个像素行px，每条数据线10a连接一个像素列py。其中，多条数据线10a包括第一数据线11a(也即第一信号线)和第二数据线12a(也即第二信号线)，第一数据线11a连接的第一像素列包括M个像素单元SP，第二数据线12a连接的第二像素列包括N个像素单元SP，其中M＞N≥1，也即第一数据线11a连接的像素单元SP的个数大于第二数据线12a连接的像素单元SP的个数，其中，数据线连接的像素单元的个数越多，数据线的负载越大，因而，第一数据线11a的负载大于第二数据线12a的负载。例如，图3中，第一数据线11a连接的第一像素列包括4个像素单元SP，第二数据线12a连接的第二像素列包括2个像素单元SP，需要说明的是，图3中的像素列和像素行中像素的个数并不构成对阵列基板的限定，仅仅是示意性的说明像素单元的排布方式。第一数据线11a与第一测试开关SW1电连接，第二数据线12a与第二测试开关SW2电连接，此时，由于第一测试开关SW1的开态电流大于第二测试开关SW2的开态电流，使得第一测试开关SW1的驱动能力大于第二测试开关SW2的驱动能力，能够补偿第一数据线11a与第二数据线12a连接的像素单元SP的个数差异，从而在进行显示测试时，能够减少由于此个数差异引起的显示差异，也即与第一数据线11a连接的显示单元SP，和与第二数据线12a连接的显示单元SP之间的显示差异。因此，在减少此个数差异引起的显示差异的基础上，当测试过程中出现显示差异被确定为显示问题时，相对现有技术而言，减少了误判，提高了显示面板显示单元的测试的准确度。

可选地，图4为本发明实施例所述的一种阵列基板的触控部分的结构示意图，图5为本发明实施例所述的又一种阵列基板的触控部分的结构示意图，图6为本发明实施例所述的再一种阵列基板的触控部分的结构示意图，图7为本发明实施例所述的再一种阵列基板的触控部分的结构示意图，如图4至图7所示，阵列基板设置有触控部分，具体地，阵列基板包括触控电极层，该触控电极层包括多个触控电极TP，每个触控电极TP均与一条触控信号线10b电连接，多条信号线10包括触控信号线10b。其中，触控信号线10b向触控电极TP提供触控驱动信号。

采用该实施例，在对显示面板上集成的触控电极TP进行测试时，测试开关SW通过输入端I接收测试信号发生装置产生的测试信号，也即触控驱动信号，在测试开关SW的输入端I与输出端O导通时，将触控驱动信号给入至触控信号线10b，能够实现对触控电极TP触控功能的测试。其中，当不同的触控信号线10b连接的触控电极TP的面积不同时，也即触控信号线10b的负载不同时，设置对应的测试开关SW的开态电流的大小不同，通过测试开关SW的开态电流差异，补偿触控信号线10b连接的触控电极TP的面积差异，从而在进行触控测试时，减少显示面板由于触控信号线10b连接的触控电极TP的面积差异引起的触控差异，当显示面板上产生触控差异，直接判定为显示面板的质量问题时，能够减少误判，提高测试的准确度。需要特别说明的是，在进行触控测试时，每条触控信号线10b均分别只与一个不同的测试开关SW电连接。

可选地，在一种实施例中，触控电极在显示阶段复用为公共电极，从而，在显示阶段，触控信号线10b向触控电极TP提供公共电压信号，在触控阶段，触控信号线10b向触控电极TP提供触控驱动信号。

采用该实施例，在对显示面板上集成的触控电极TP进行测试时，包括上述的触控功能测试，还包括作为公共电极的显示功能的测试，针对作为触控电极的触控功能测试见上文，该处不再赘述。针对作为公共电极的显示功能的测试，测试开关SW通过输入端I接收测试信号发生装置产生的测试信号，也即公共电压信号，在测试开关SW的输入端I与输出端O导通时，将公共电压信号给入至触控信号线10b，能够实现对触控电极TP作为公共电极的测试。其中，当不同的触控信号线10b连接的触控电极TP的面积不同时，也即触控信号线10b的负载不同时，设置对应的测试开关SW的开态电流的大小不同，通过测试开关SW的开态电流差异，补偿触控信号线10b连接的触控电极TP的面积差异，从而在进行显示功能测试时，减少显示面板由于触控信号线10b连接的触控电极TP的面积差异引起的显示差异，当显示面板上产生显示差异，可以直接判定为显示面板的质量问题时，能够减少误判，提高测试的准确度。

在一种具体的实施例中，请继续参考图4和图5，触控电极TP为在第一方向y上延伸的第一电极TP1，多个第一电极TP1在第二方向x上依次排布，其中，第一方向y与第二方向x交叉。图4和图5示出了阵列基板上触控电极TP面积不同的两种情况，图4中所示的阵列基板在形成触控电极TP的图案时，直接形成大小不同的触控电极TP。图5所示的阵列基板在形成触控电极TP的图案时，形成的是大小相同的触控电极TP，显示面板切割时使切割边缘的触控电极TP小于其他位置的触控电极TP。

第一电极TP1作为互容式触控检测中一侧电极，在阵列基板上或者与阵列基板对置的基板上还设置有互容式触控检测中的另一侧电极，具体地，图8为本发明实施例所述的一种互容式触控电极的结构示意图，图8示出了阵列基板BS1上设置有第三电极TP3，图9为本发明实施例所述的另一种互容式触控电极的结构示意图，图9示出了在阵列基板BS1对置的基板BS2上设置有第三电极TP3，第三电极TP3在第二方向y上延伸且在第一方向x上依次排布。第一电极TP1与第三电极TP3用于实现互电容式触控检测。其中，第一电极TP1和第三电极TP3可以为采用金属材料形成的网格状电极，或者为如图8和图9所示的采用薄膜导电材料形成的条状电极，或者也可以为现有技术中其他形状和结构的电极，该实施例对此并不进行限定。

每条触控信号线10b与一个第一电极TP1对应电连接，向各个第一电极TP1提供触控驱动信号，其中，多条触控信号线10b包括第一触控信号线11b(也即第一信号线)和第二触控信号线12b(也即第二信号线)，与第一触控信号线11b连接的第一电极TP1的面积为S1，与第二触控信号线12b连接的第一电极TP1的面积为S2，其中S1＞S2＞0，也即与第一触控信号线11b连接的第一电极TP1的面积，大于与第二触控信号线12b连接的第一电极TP1的面积，其中，触控信号线连接的电极的面积越大，触控信号线的负载越大，因此，第一触控信号线11b的负载大于与第二触控信号线12b的负载。第一触控信号线11b与第一测试开关SW1电连接，第二触控信号线12b与第二测试开关SW2电连接，此时，由于第一测试开关SW1的开态电流大于第二测试开关SW2的开态电流，使得第一测试开关SW1的驱动能力大于第二测试开关SW2的驱动能力，能够补偿第一触控信号线11b与第二触控信号线12b连接的第一电极TP1的面积差异，从而在进行触控测试时，能够减少由于此面积差异引起的触控差异，也即与第一触控信号线11b连接的第一电极TP1，和与第二触控信号线12b连接的第一电极TP1之间的触控差异。因此，在减少此面积差异引起的触控差异的基础上，当测试过程中出现触控差异被确定为触控问题时，相对现有技术而言，减少了误判，提高了显示面板的触控功能的测试的准确度。

在另一种具体的实施例中，如图6和图7所示，触控电极TP为第二电极TP2，多个第二电极TP2呈矩阵阵列排布，用于实现自电容式触控检测。图6和图7示出了阵列基板上触控电极TP面积不同的两种情况，图6中所示的阵列基板在形成触控电极TP的图案时，直接形成大小不同的触控电极TP。图7所示的阵列基板在形成触控电极TP的图案时，形成的是大小相同的触控电极TP，显示面板切割时使切割边缘的触控电极TP小于其他位置的触控电极TP。

每条触控信号线10b与一个第二电极TP2对应电连接，向各个第二电极TP2提供触控驱动信号，其中，多条触控信号线10b包括第一触控信号线11b(也即第一信号线)和第二触控信号线12b(也即第二信号线)，与第一触控信号线11b连接的第二电极TP2的面积为S1，与第二触控信号线12b连接的第二电极TP2的面积为S2，其中S1＞S2＞0，也即与第一触控信号线11b连接的第二电极TP2的面积，大于与第二触控信号线12b连接的第二电极TP2的面积，其中，触控信号线连接的电极的面积越大，触控信号线的负载越大，因此，第一触控信号线11b的负载大于与第二触控信号线12b的负载。第一触控信号线11b与第一测试开关SW1电连接，第二触控信号线12b与第二测试开关SW2电连接，此时，由于第一测试开关SW1的开态电流大于第二测试开关SW2的开态电流，使得第一测试开关SW1的驱动能力大于第二测试开关SW2的驱动能力，能够补偿第一触控信号线11b与第二触控信号线12b连接的第二电极TP2的面积差异，从而在进行触控测试时，能够减少由于此面积差异引起的触控差异，也即与第一触控信号线11b连接的第二电极TP2，和与第二触控信号线12b连接的第二电极TP2之间的触控差异。因此，在减少此面积差异引起的触控差异的基础上，当测试过程中出现触控差异被确定为触控问题时，相对现有技术而言，减少了误判，提高了显示面板的触控功能的测试的准确度。

可选地，图10为本发明实施例所述的阵列基板中测试开关的示意图，如图10所示，测试开关SW包括开关晶体管Tb，该开关晶体管Tb包括有源层A、栅极G、源极S和漏极D，其中，开关晶体管Tb的栅极G的连接端为测试开关SW的控制端，的与控制引线30电连接，开关晶体管Tb的源极S的连接端为测试开关SW的输入端，与测试引线电连接，开关晶体管Tb的漏极的连接端为测试开关SW的输出端，与信号线电连接，在有源层A与栅极G重叠的部分，源极S和漏极D之间形成载流子移动的沟道，图10中示出的L1为沟道长，L2为沟道宽。

具体地，图11为本发明实施例所述的一种阵列基板中第一测试开关和第二测试开关的示意图，图12为本发明实施例所述的阵列基板中另一种第一测试开关和第二测试开关的示意图，如图11和图12所示，第一测试开关包括第一开关晶体管Tb1，第一开关晶体管Tb1包括第一有源层A1，第一开关晶体管Tb1的栅极G1与控制引线30电连接，第一开关晶体管Tb1的源极S1与测试引线20电连接，第一开关晶体管Tb1的漏极D1与第一信号线11电连接；第二测试开关包括第二开关晶体管Tb2，第二开关晶体管Tb2包括第二有源层A2，第二开关晶体管Tb2的栅极G2与控制引线10电连接，第二开关晶体管Tb2的源极S2与测试引线20电连接，第二开关晶体管Tb2的漏极D2与第二信号线12电连接，通过设置第一开关晶体管Tb1与第二开关晶体管Tb2的结构不同，实现第一开关晶体管与第二开关晶体管的开态电流不同。

采用该实施例提供的阵列基板，测试开关的结构简单，占用阵列基板边框区的面积小，同时能够与显示单元的像素晶体管同制程制备，减少阵列基板的制程。

具体地，在实现第一开关晶体管与第二开关晶体管的开态电流不同时，可以通过以下一种或几种方法实现。

在一种方法中，设置第一开关晶体管沟道的宽长比大于第二开关晶体沟道的宽长比。

如图11所示，第一开关晶体管Tb1沟道的宽长比L21/L11大于第二开关晶体Tb2沟道的宽长比L22/L12，可以通过设置和调整第一开关晶体管Tb1的源极S1与第二开关晶体Tb2的源极S2，和/或，第一开关晶体管Tb1的漏级D1和第二开关晶体Tb2的漏级D2，来实现第一开关晶体管沟道的宽长比大于第二开关晶体沟道的宽长比。

具体地，第一开关晶体管Tb1沟道的宽长比L21/L11大于第二开关晶体Tb2沟道的宽长比L22/L12，包括以下几种可实施方式：

第一开关晶体管Tb1的沟道长L11与第二开关晶体Tb2的沟道长L12相等，第一开关晶体管Tb1的沟道宽L21大于第二开关晶体Tb2的沟道宽L22；

第一开关晶体管Tb1的沟道宽L21等于第二开关晶体Tb2的沟道宽L22，第一开关晶体管Tb1的沟道长L11小于第二开关晶体Tb2的沟道长L12；

第一开关晶体管Tb1和第二开关晶体Tb2的沟道长、宽均不相等。

无论采用上述哪种实施方式，均是通过调整第一开关晶体管Tb1和/或第二开关晶体管Tb2的源极和/或漏极，来实现第一开关晶体管Tb1沟道的宽长比L21/L11大于第二开关晶体Tb2沟道的宽长比L22/L12。

在另一种方法中，设置第一有源层在阵列基板所在平面的投影面积大于第二有源层2在阵列基板所在平面的投影面积。

如图12所示，第一有源层A1在阵列基板所在平面的投影面积大于第二有源层A2在阵列基板所在平面的投影面积，在开关晶体管打开时，有源层的中心和边缘都会有电子通过，因此可以通过调整有源层尺寸来实现开关晶体管开态电流的调整，有源层的尺寸越大，开关晶体管的开态电流越大，其中，第一开关晶体管Tb1和第二开关晶体管Tb2的沟道宽长比可以设置为相等。

在第三种方法中，也可同时调整以下任意一种或几种，包括：第一开关晶体管的有源层的面积、源极或漏极，或者第二开关晶体管的有源层的面积、源极或漏极，达到第一开关晶体管Tb1沟道的开态电流大于第二开关晶体Tb2的开态电流。

在第四种方法中，设置第一有源层的掺杂浓度大于第二有源层的掺杂浓度。其中，有源层的掺杂浓度越大，开关晶体管的开态电流越大，开关晶体管的驱动能力越强，该方法中通过调整有源层的掺杂浓度能够调整第一开关晶体管和第二开关晶体管的开态电流大小。

在第五种方法中，设置第一有源层的晶化程度大于第二有源层的晶化程度。其中，有源层的晶化程度越大，开关晶体管的开态电流越大，开关晶体管的驱动能力越强，该方法中通过调整有源层的晶化程度能够调整第一开关晶体管和第二开关晶体管的开态电流大小。

可选地，图13为本发明实施例所述的又一种阵列基板的结构示意图，如图13所示，阵列基板包括显示区AA和围绕显示区的非显示区BA，其中，信号线10在显示区AA内沿第一方向y延伸，显示区AA包括异形显示区AA1，该异形显示区AA1至少包括一条异形边Y，异形边Y的延伸方向与第一方向y非垂直相交，第二信号线12位于异形显示区AA1内。

在该实施例中，位于异形显示区内AA1的信号线10，也即第二信号线12的负载与第一信号线11的负载不同，设置与第一信号线11连接的测试开关SW的开态电流，和与第二信号线11连接的测试开关SW的开态电流不同，对第二信号线12和第一信号线11上的负载差异构成补偿，从而在进行测试时，能够改善由于信号线自身负载差异而造成的显示不良，进而能够提高测试的准确度。

以上为本申请提供的阵列基板的各个实施例，本申请还提供了一种显示面板，该显示面板具有上述任意一种阵列基板，具有上述任意一种阵列基板的特征和相应的技术效果，该处不再赘述。该显示面板可以为液晶显示面板、有机发光显示面板、电子纸等显示面板。

此外，本申请还提供了一种显示装置，图14为本发明实施例所述的显示装置的结构示意图，如图14所示，示例性的，该显示装置具有圆弧拐角的外壳01，同时显示面板的显示区AA也具有圆弧边界Y，构成显示区的R角，同时，该显示面板包括上述任意一种显示面板，具有上述任意一种阵列基板的特征和相应的技术效果，该处不再赘述。

通过上述实施例可知，本发明的阵列基板、显示面板和显示装置，达到了如下的有益效果：

对于阵列基板上负载较大的第一信号线和负载较小的第二信号线，设置与第一信号线连接的测试开关的开态电流，大于与第二信号线连接的测试开关的开态电流，也即第一测试开关的开态电流大于第二测试开关的开态电流，使得第一测试开关的驱动能力大于第二测试开关的驱动能力，能够补偿第一信号线与第二信号线的负载差异，从而在进行测试时，能够改善由于信号线自身负载差异而造成的显示不良，进而能够提高测试的准确度。

虽然已经通过例子对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上例子仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本发明的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。

Claims (13)

1.一种阵列基板，其特征在于，包括：

多条信号线，所述多条信号线包括第一信号线和第二信号线，所述第一信号线的负载大于所述第二信号线的负载；

测试引线；

控制引线；

多个测试开关，所述测试开关包括输出端、输入端和控制端，每个所述测试开关的输出端均与一条不同的所述信号线电连接，每个所述测试开关的输入端均与一条所述测试引线电连接，每个所述测试开关的控制端均与一条所述控制引线电连接；

所述多个测试开关包括第一测试开关和第二测试开关，所述第一测试开关的输出端与所述第一信号线电连接，所述第二测试开关的输出端与所述第二信号线电连接；其中，

所述第一测试开关的开态电流大于所述第二测试开关的开态电流。

2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，

所述第一信号线的负载包括电阻负载，所述第二信号线的负载包括电阻负载；和/或，

所述第一信号线的负载包括电容负载，所述第二信号线的负载包括电容负载。

3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，包括：

多条数据线和多条栅极线，所述多条数据线和所述多条栅极线绝缘交叉限定多个像素单元；

所述多条信号线包括所述多条数据线，每条所述数据线至少与一个所述像素单元电连接。

4.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，

所述第一信号线与M个所述像素单元电连接，所述第二信号线与N个所述像素单元电连接，其中M＞N≥1。

5.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，还包括：

触控电极层，所述触控电极层包括多个触控电极，每个所述触控电极均与一条触控信号线电连接；

所述多条信号线包括所述触控信号线。

6.根据权利要求5所述的阵列基板，其特征在于，

与所述第一信号线电连接的所述触控电极的面积为S1，与所述第二信号线电连接的所述触控电极的面积为S2，其中S1＞S2＞0。

7.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，

所述第一测试开关包括第一开关晶体管，所述第一开关晶体管包括第一有源层，所述第一开关晶体管的栅极与所述第一测试开关的控制端电连接，所述第一开关晶体管的源极与所述第一测试开关的输入端电连接，所述第一开关晶体管的漏极与所述第一测试开关的输出端电连接；

所述第二测试开关包括第二开关晶体管，所述第二开关晶体管包括第二有源层，所述第二开关晶体管的栅极与所述第二测试开关的控制端电连接，所述第二开关晶体管的源极与所述第二测试开关的输入端电连接，所述第二开关晶体管的漏极与所述第二测试开关电连接。

8.根据权利要求7所述的阵列基板，其特征在于，

所述第一开关晶体管沟道的宽长比大于所述第二开关晶体沟道的宽长比；和/或，

所述第一有源层在所述阵列基板所在平面的投影面积大于所述第二有源层在所述阵列基板所在平面的投影面积。

9.根据权利要求7所述的阵列基板，其特征在于，

所述第一有源层的掺杂浓度大于所述第二有源层的掺杂浓度。

10.根据权利要求7所述的阵列基板，其特征在于，

所述第一有源层的晶化程度大于所述第二有源层的晶化程度。

11.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，

所述阵列基板包括显示区和围绕所述显示区的非显示区；

所述信号线在所述显示区内沿第一方向延伸；

所述显示区包括异形显示区，所述异形显示区至少包括一条异形边，所述异形边的延伸方向与所述第一方向非垂直相交；

所述第二信号线位于所述异形显示区内。

12.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1至11中任一项所述的阵列基板。

13.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求12所述的显示面板。