CN108646097A - 一种***损耗测试方法和*** - Google Patents
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Abstract
一种***损耗测试方法和***,属于损耗测试技术领域。***包括射频发射机、第一功率计、第二功率计、开关选通电路;所述射频发射机经射频线缆连接第一功率计,所述第一功率计与所述第二功率计之间各自通过射频线缆连接所述开关选通电路,所述开关选通电路用以接入待测设备,所述第一功率计和所述第二功率计分别用于检测待测设备的输入输出功率。方法基于上述***实现,包括:步骤S01,利用开关选通电路将待测设备接入***损耗测试***;步骤S02,获取第一功率计与第二功率计的功率值,并根据上述功率值计算***损耗ΔS1。本发明可以实现发射机和负载大功率匹配状态下,在线测量待测设备的***损耗,同时也提升了测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及损耗测试技术领域,尤其涉及一种***损耗测试方法和***。
背景技术
目前,对***损耗的测量主要有以下几种方法,譬如,通过网络分析仪对被测设备进行***损耗测量,或者通过终端式功率计、射频信号源对被测设备进行***损耗测量等。而这些方法普遍存在的问题,就是偏向于无源***的测量或者说主要适用于小功率射频设备测量。基本上无法实现发射机和负载大功率匹配状态下,大功率待测设备的***损耗测量。
图1示出了现有网络分析仪对被测设备进行***损耗测量。网络分析仪的RF端口经射频线缆与被测设备DUT连接。网络分析仪成本昂贵,其RF端口承受的功率非常有限,并且网络分析仪比较适合一些无源器件的***损耗测量,而对于工作在大功率状态的射频设备,很难做到在线***损耗测量。
图2示出了现有终端式功率计、射频信号源对被测设备进行***损耗测量。被测设备DUT在其两端通过射频电缆分别连接信号源、功率计。在该测试方案中,需要用信号源发出期望的功率值,然后通过功率计对信号进行接收,测量功率计的功率差值,所述功率差值为信号源发出的期望功率值与功率计接收到的功率值两者的差值,进而得到待测设备的***损耗。目前此方案下的功率计多为终端式功率计,终端式功率计的精度虽然很高,但是功率范围比较有限。当待测设备DUT工作在大功率状态下时,此方案很难做到在线***损耗测量。
发明专利CN105049082B公开了一种射频线缆线损测量***和测量方法,具体公开了信号发生器、功率计、第一功率分配器、第二功率分配器、射频输入端口阵列和射频输出端口阵列。所述信号发生器通过第一功率分配器连接到射频输入端口阵列的输入端口,所述功率计通过第二功率分配器连接到射频输出端口阵列的射频输出端口,待测射频线缆选择性地连接在与其两端接口类型相匹配的射频输入端口和射频输出端口之间。该发明专利采用图2所示的终端式功率计和射频信号源对被测设备进行***损耗测量,其存在上述提及的缺陷。且该***还采用了功率分配器,功率分配器在每分配一路信号时会产生几db衰减,随着端口数量的增加损耗会更大,大大影响了***损耗的测量精度。
发明专利申请CN105978623A公开了一种光纤连接器***损耗计算***,并具体公开了光源端、标准适配器、光功率计算器;标准测试条线连接在光源端与标准适配器之间,被测跳线连接在标准适配器与光功率计算器之间。该发明也是采用图2所示的测量方法,存在述提及的缺陷。
发明内容
本发明针对现有技术存在的问题,提出了一种可实现发射机和负载大功率匹配状态下在线测量待测设备的***损耗且测试效率高的***损耗测试方法和***。
本发明是通过以下技术方案得以实现的:
本发明一种***损耗测试***,包括射频发射机、第一功率计、第二功率计、开关选通电路;所述射频发射机经射频线缆连接第一功率计,所述第一功率计与所述第二功率计之间各自通过射频线缆连接所述开关选通电路,所述开关选通电路用以接入待测设备;所述第一功率计和所述第二功率计分别用于检测待测设备的输入输出功率。
作为优选,所述开关选通电路包括单输入多输出单元、多输入单输出单元、第一多路输入输出单元、第二多路输入输出单元、第三多路输入输出单元、多个射频转接端子;所述单输入多输出单元的输入端连接第一功率计,所述单输入多输出单元的输出端连接所述第一多路输入输出单元的输入端,所述第一多路输入输出单元的输出端分别连接射频转接端子和第三多路输入输出单元的输入端;第二多路输入输出单元的输入端分别连接第三多路输入输出单元的输出端和射频转接端子,所述第二多路输入输出单元的输出端连接所述多输入单输出单元的输入端;所述多输入单输出单元的输出端连接所述第二功率计。
作为优选,所述单输入多输出单元、所述多输入单输出单元、所述第一多路输入输出单元、所述第二多路输入输出单元、所述第三多路输入输出单元均采用射频开关。
作为优选,所述第一多路输入输出单元包括多个第一单刀双掷开关,每个第一单刀双掷开关的静触点连接所述单输入多输出单元的一输出端,每个第一单刀双掷开关的动触点分别连接一种射频转接端子和第三多路输入输出单元的一输入端;所述第二多路输入输出单元包括多个第二单刀双掷开关,每个第二单刀双掷开关的动触点分别连接一种射频转接端子和第三多路输入输出单元的一输出端,每个第二单刀双掷开关的静触点连接所述多输入单输出单元的输入端
作为优选,所述第一功率计、所述第二功率计为通过式功率计。
作为优选,所述射频转接端子包括SMAM、SMAF、RP-SMAM、RP-SMAF。
作为优选,***还包括控制端、串口服务器;所述控制端经所述串口服务器分别与所述第一功率计、所述第二功率计、所述开关选通电路通信连接;所述控制端用以控制串口服务器获取第一功率计和第二功率计的功率值,并进行***损耗计算;所述控制端还通过串口服务器选通所述开关选通电路。
作为优选,***还包括与所述第二功率计连接的终端负载。
一种***损耗测试方法,适用于上述***损耗测试***,所述方法包括:
步骤一,利用开关选通电路将待测设备接入***损耗测试***;
步骤二,获取第一功率计与第二功率计的功率值,并根据上述功率值计算***损耗ΔS1。
作为优选,所述方法还包括在步骤一前进行***损耗校准:利用开关选通电路在不接入待测设备的情况下选通***损耗测试***的测试电路,获取当前第一功率计与第二功率计的功率值,并根据当前第一功率计与第二功率计的功率值计算***损耗校准值ΔS0;所述方法还包括在步骤二之后,根据***损耗ΔS1和***损耗校准值ΔS0的差值获得最终***损耗ΔS。
本发明具有以下有益效果:
本发明***损耗测试方法和***,在待测设备的两端采用双功率计进行测量,可适于大功率设备***损耗测量,测试效率高;另外采用开关选通电路可连接不同类型SMA射频连接器连接繁琐,简化了校准操作,提升了测试效率。
此外,控制端通过串口服务器控制选通开关选通电路进行损耗测试,使得开关数量少、连接线路简便,并进行在线开关控制。串口服务器可以实现实时同步处理第一、第二功率计的数据采集。开关选通电路采用插损一般都很小的射频选择开关,带来的损耗相对比较固定,都在1dB以下,测量精度上占优。通过功率计读取输入端功率值替代传统的预设功率值,提高了精度。
附图说明
图1为现有网络分析仪对被测设备进行***损耗测量的原理框图;
图2为现有终端式功率计、射频信号源对被测设备进行***损耗测量原理框图;
图3为本发明一种***损耗测试***一实施方式下的原理框图;
图4为图3中开关选通电路的电路示意图;
图5为本发明一种***损耗测试***另一实施方式下的原理框图;
图6为本发明一种***损耗测试方法一实施方式下的流程框图;
图7为本发明一种***损耗测试方法另一实施方式下的流程框图。
具体实施方式
以下是本发明的具体实施例并结合附图,对本发明的技术方案作进一步的描述,但本发明并不限于这些实施例。
现有***损耗测试方法是通过网络分析仪,或者终端式功率计、射频信号源对被测设备进行***损耗测量,这些方法适合无源***或小功率射频设备测量,而基本上无法实现发射机和负载大功率匹配状态下,大功率待测设备的***损耗测量。为此,本发明提出一种大功率设备***损耗测试方法和***。
实施例一
图3示出了一种***损耗测试***一实施方式下的原理框图。所述***损耗测试***包括射频发射机、第一功率计、第二功率计、开关选通电路。所述射频发射机经射频线缆连接第一功率计,所述第一功率计与所述第二功率计之间各自通过射频线缆连接所述开关选通电路,所述开关选通电路用以接入待测设备。
所述射频发射机通过射频线缆向所述第一功率计发送特定频段的射频信号,所述射频发射机主要指大功率的射频信号源,用来模拟发射基站或大功率的电台。所述第一功率计与所述第二功率计分别设于所述开关选通电路两端,一旦选通接入待测设备的通路,则待测设备接入***损耗测试***,所述第一功率计与所述第二功率计可用于测量同一时刻的输入输出信号功率。所述第一功率计与所述第二功率计优选为通过式功率计。所述通过式功率计用于测试正向功率和反向功率,其测试频率为300MHz-3800MHz。通过计算输出功率(dBm)、输入功率(dBm)的差值,即可得到待测设备的***损耗值。
在先申请发明专利CN105049082B采用终端式功率计和射频信号源对被测设备进行***损耗,其***损耗是根据射频发射机发射经第一功率分配器预先设定的发射功率,和接收从第二功率分配器返回射频信号的功率计读取的接收功率,两者的差值获得。对于大功率设备的***损耗是相当大的,如根据预先设定的发射功率和终端接收功率的差值来计算,大大影响***损耗测量精度。而本发明在待测设备两端设置两个功率计能实时、同时检测接入设备的输入输出功率,继而计算待测设备***损耗,测量精度更高,适于大功率设备有源检测。
所述开关选通电路用于选通是否将待测设备接入***损耗测试***中。所述开关选通电路可以为一个简单的具有选择开关的电路,如该开关选通电路包括用于将待测设备与第一功率计连通的一选择开关、以及用于将待测设备与第二功率计连通的另一选择开关。当闭合两个选择开关时,则待测设备被接入到***损耗测试***中,就能通过第一功率计和第二功率计的实时计量值来计算获得待测设备***损耗值。
考虑到目前射频同轴线缆的接口形式主要有四类,如SMAM(内螺纹内针)、SMAF(外螺纹内孔)、RP-SMAM(内螺纹内孔)、RP-SMAF(外螺纹内针)。基于不同类型SMA射频连接器连接繁琐的问题,为此本发明设计所述开关选通电路能够可选的设置多类射频转接端子进行连接。参照图4,所述开关选通电路包括单输入多输出单元SW1、多输入单输出单元SW3、第一多路输入输出单元SW4、第二多路输入输出单元SW5、第三多路输入输出单元SW2、多个射频转接端子SMA。具体地,所述单输入多输出单元SW1的输入端连接第一功率计,所述单输入多输出单元SW1的输出端连接所述第一多路输入输出单元SW4的输入端,所述第一多路输入输出单元SW4的输出端分别连接射频转接端子SMA和第三多路输入输出单元SW2的输入端;第二多路输入输出单元SW5的输入端分别连接第三多路输入输出单元SW2的输出端和射频转接端子SMA,所述第二多路输入输出单元SW5的输出端连接所述多输入单输出单元SW3的输入端,所述多输入单输出单元SW3的输出端连接所述第二功率计。所述射频转接端子可以设置有多种类型,包括上述四种类型或任意三种或任意两种。所述射频转接端子可以有多个,且任意种类的数量不定。其中,所述第一多输入输出单元SW4输出端连接的射频转接端子SMA的数量与所述第二多输入输出单元SW5输入端连接的射频转接端子SMA的数量相同,其中两边同种类的射频转接端子SMA的数量可以相同也可不同。所述第一多输入输出单元SW4输出端连接的射频转接端子SMA的数量/所述第二多输入输出单元SW5输入端连接的射频转接端子SMA的数量决定了所述第一多输入输出单元SW4/所述第二输入输出单元SW5的输入输出条数,也决定了第三多输入输出单元SW2的输入输出条数;进一步确定了单输入多输出单元SW1的输出条数和多输入单输出单元SW3的输入条数,且条数与所述第一多输入输出单元SW4输出端连接的射频转接端子SMA的数量/所述第二多输入输出单元SW5输入端连接的射频转接端子SMA的数量相同。
所述单输入多输出单元或所述多输入单输出单元可选择功率分配器或功率合成器。但不论是功率分配器还是功率合成器,在每分配一路信号时会出现几dB衰减,随着端口数量增加损耗也会增加。为此,本发明单输入多输出单元或所述多输入单输出单元优选为射频选择开关。如图4,所述射频选择开关为单刀多掷射频选择开关。射频选择开关的插损一般都很小,带来的损耗相对比较固定,都在1dB以下,测量精度上占优。
所述第一多路输入输出单元SW4、所述第二多路输入输出单元SW5、所述第三多路输入输出单元SW2可采用在先发明专利CN105049082B所公开的第一端口矩阵控制模块,或者第一端口矩阵控制模块和第二端口矩阵控制模块。但利用该矩阵控制模块配合所述单输入多输出单元、多输入单输出单元构成的开关选通电路存在开关数量接入过多,连线复杂。为此,所述第一多路输入输出单元可设计为包括多个第一单刀双掷开关K11、K21、K31、K41,每个第一单刀双掷开关的静触点连接所述单输入多输出单元的一输出端,每个第一单刀双掷开关K11、K21、K31、K41的动触点分别连接一种射频转接端子SMA和第三多路输入输出单元SW2的一输入端。所述第二多路输入输出单元SW5包括多个第二单刀双掷开关K12,K22,K32,K42,每个第二单刀双掷开关K12,K22,K32,K42的动触点分别连接一种射频转接端子SMA和第三多路输入输出单元SW2的一输出端,每个第二单刀双掷开关K12,K22,K32,K42的静触点连接所述多输入单输出单元SW3的输入端。
当待测设备需要被接入到***损耗测试***时,操作人员手动选通单输入输出单元SW1和多输入单输出单元SW3对应的射频通道SW1n和SW3n(n=1,2,3,4),再控制第一多输入输出单元SW4和第二多输入输出单元SW5分别只有一个SMA端子被选中导通。例如,将待测设备连接在第一多输入输出单元SW4的SMAM、第二多输入输出单元SW5的SMAF端子之间,操作人员首先控制接通SW1-1<---->K11-1,K22-1<---->SW3-2两段通路,然后将待测设备跨接在SMA端子之间。假设此种情况下,第一功率计的读数为P3(单位:W),第二功率计的读数为P4(单位:W),那么ΔS1=10log(P4/P3)(单位:dB)。
如果考虑到******损耗ΔS0的存在,则可利用图4所示的开关选通电路在进行***损耗测量前进行***损耗校准。首先操作人员手动控制单输入输出单元SW1和多输入单输出单元SW3选通对应的射频通道SW1n和SW3n(n=1,2,3,4);然后控制第一多输入输出单元SW4和第二多输入输出单元SW5选通对应的开关Kn1和Kn2(n=1,2,3,4),并且导通在非SMA端子位置;接着控制第三多输入输出单元SW2选通对应的输入输出通道,这样实现从SW1到SW3形成一条完整的射频通路。
举例说明考虑******损耗ΔS0进行测量的上述过程,譬如待测设备的输入输出端子需要连接在第一多输入输出单元SW4的SMAM、第二多输入输出单元SW5的SMAF端子之间,那么在测量之前需要对待测通路进行校准,即操作人员选择射频开关导通,并形成一条射频通路:SW1-1<---->K11-2<---->M1-1<---->M2-2<---->K22-2<---->SW3-2。由于采用了极小***损耗的射频开关,因此,对于大功率设备来说,上述开关导通时的链路衰减可以几乎忽略不计,约等于SMAM和SMAF端子啮合时的插损ΔS0。假设此种情况下第一功率计读数为P1(单位:W),第二功率计读数为P2(单位:W),那么ΔS0=10log(P2/P1)(单位:dB)。之后再将待测设备接入***损耗测试***测量***损耗ΔS1=10log(P4/P3)(单位:dB)。则,最终的***损耗为ΔS=ΔS1-ΔS0=10log((P1×P4)/P2×P3))(单位:dB)。
为了避免终端反射较大,信号反射回来损坏仪表和***,***还包括与所述第二功率计连接的终端负载。所述第二功率计一端用于接入待测设备,另一端用以连接终端负载,以起到匹配端接的作用。
实施例二
为了实现在线实时同步处理各部分的数据采集、简化连接线路和智能控制***损耗测试,在实施例一的基础上,实施例二的***还包括控制端、串口服务器。所述控制端经所述串口服务器分别与所述第一功率计、所述第二功率计、所述开关选通电路通信连接。
图5示出了本发明一种***损耗测试***的另一实施方式。所述控制端可以为控制计算机,或其他如手机等手持pad的智能设备。所述控制端通过Ethernet与所述串口服务器通信,用以控制串口服务器获取第一功率计和第二功率计的功率值(单位:W),并进行***损耗计算。这相比与实施例一的操作人员读取数据并计算来说,效率更快、准确率高,且便捷。另外,所述控制端还通过串口服务器下达指令控制开关选通电路的射频开关的导通与截止。
所述串口服务器包含多个串口,可以为RS232,且不限于此类型串口。所述串口服务器将串口信号最终转换成以太网信号,这样可以实现远程串口控制访问,包括读取功率计结果,以及控制射频开关矩阵相应开关的导通与截止。
当待测设备需要被接入到***损耗测试***时,控制端通过总线控制,如RS232控制选通单输入输出单元SW1和多输入单输出单元SW3对应的射频通道SW1n和SW3n(n=1,2,3,4),再总线控制第一多输入输出单元SW4和第二多输入输出单元SW5分别只有一个SMA端子被选中导通。例如,将待测设备连接在第一多输入输出单元SW4的SMAM、第二多输入输出单元SW5的SMAF端子之间,操作人员首先控制接通SW1-1<---->K11-1,K22-1<---->SW3-2两段通路,然后将待测设备跨接在SMA端子之间。假设此种情况下,第一功率计的读数为P3(单位:W),第二功率计的读数为P4(单位:W),那么ΔS1=10log(P4/P3)(单位:dB)。
如果考虑到******损耗ΔS0的存在,则可利用图4所示的开关选通电路在进行***损耗测量前进行***损耗校准。首先控制端通过总线控制,如RS232控制单输入输出单元SW1和多输入单输出单元SW3选通对应的射频通道SW1n和SW3n(n=1,2,3,4);然后总线控制第一多输入输出单元SW4和第二多输入输出单元SW5选通对应的开关Kn1和Kn2(n=1,2,3,4),并且导通在非SMA端子位置;接着总线控制第三多输入输出单元SW2选通对应的输入输出通道,这样实现从SW1到SW3形成一条完整的射频通路。
举例说明考虑******损耗ΔS0进行测量的上述过程,譬如待测设备的输入输出端子需要连接在第一多输入输出单元SW4的SMAM、第二多输入输出单元SW5的SMAF端子之间,那么在测量之前需要对待测通路进行校准,即操作人员选择射频开关导通,并形成一条射频通路:SW1-1<---->K11-2<---->M1-1<---->M2-2<---->K22-2<---->SW3-2。由于采用了极小***损耗的射频开关,因此,对于大功率设备来说,上述开关导通时的链路衰减可以几乎忽略不计,约等于SMAM和SMAF端子啮合时的插损ΔS0。假设此种情况下第一功率计读数为P1(单位:W),第二功率计读数为P2(单位:W),那么ΔS0=10log(P2/P1)(单位:dB)。之后再将待测设备接入***损耗测试***测量***损耗ΔS1=10log(P4/P3)(单位:dB)。则,最终的***损耗为ΔS=ΔS1-ΔS0=10log((P1×P4)/P2×P3))(单位:dB)。
实施例三
图6示出了本发明一种***损耗测试方法的一实施方式。该测试方法适用于实施例一或实施例二的***损耗测试***,且利用上述***直接测量待测设备接入***损耗测试***的***损耗值。
具体地,该测试方法包括:
步骤一S10,利用开关选通电路将待测设备接入***损耗测试***;
步骤二S20,获取第一功率计与第二功率计的功率值,并根据上述功率值计算***损耗ΔS1。
具体测试方法示例过程参照实施例一或实施例二。
实施例四
图7示出了本发明一种***损耗测试方法的另一实施方式。该测试方法适用于实施例一或实施例二的***损耗测试***,且利用上述***在进行***损耗校准下测量待测设备接入***损耗测试***的***损耗值。
实施例四的方法相较于实施例三的方法,在步骤一前进行***损耗校准,最终***损耗值需考虑校准值方为精准。
具体地,所述方法包括:
步骤S01,***损耗校准:利用开关选通电路在不接入待测设备的情况下选通***损耗测试***的测试电路;获取当前第一功率计与第二功率计的功率值,并根据当前第一功率计与第二功率计的功率值计算***损耗校准值ΔS0;
步骤S02,利用开关选通电路将待测设备接入***损耗测试***;
步骤S03,获取第一功率计与第二功率计的功率值,并根据上述功率值计算***损耗ΔS1;
步骤S04,根据***损耗ΔS1和***损耗校准值ΔS0的差值获得最终***损耗ΔS。
具体测试方法示例过程参照实施例一或实施例二。
本领域的技术人员应理解,上述描述及附图中所示的本发明的实施例只作为举例而并不限制本发明。本发明的目的已经完整有效地实现。本发明的功能及结构原理已在实施例中展示和说明,在没有背离所述原理下,本发明的实施方式可以有任何变形或修改。
Claims (10)
1.一种***损耗测试***,其特征在于,包括射频发射机、第一功率计、第二功率计、开关选通电路;所述射频发射机经射频线缆连接第一功率计,所述第一功率计与所述第二功率计之间各自通过射频线缆连接所述开关选通电路,所述开关选通电路用以接入待测设备,所述第一功率计和所述第二功率计分别用于检测待测设备的输入输出功率。
2.根据权利要求1所述的一种***损耗测试***,其特征在于,所述开关选通电路包括单输入多输出单元、多输入单输出单元、第一多路输入输出单元、第二多路输入输出单元、第三多路输入输出单元、多个射频转接端子;所述单输入多输出单元的输入端连接第一功率计,所述单输入多输出单元的输出端连接所述第一多路输入输出单元的输入端,所述第一多路输入输出单元的输出端分别连接射频转接端子和第三多路输入输出单元的输入端;第二多路输入输出单元的输入端分别连接第三多路输入输出单元的输出端和射频转接端子,所述第二多路输入输出单元的输出端连接所述多输入单输出单元的输入端;所述多输入单输出单元的输出端连接所述第二功率计。
3.根据权利要求2所述的一种***损耗测试***,其特征在于,所述单输入多输出单元、所述多输入单输出单元、所述第一多路输入输出单元、所述第二多路输入输出单元、所述第三多路输入输出单元均采用射频开关。
4.根据权利要求2所述的一种***损耗测试***,其特征在于,所述第一多路输入输出单元包括多个第一单刀双掷开关,每个第一单刀双掷开关的静触点连接所述单输入多输出单元的一输出端,每个第一单刀双掷开关的动触点分别连接一种射频转接端子和第三多路输入输出单元的一输入端;所述第二多路输入输出单元包括多个第二单刀双掷开关,每个第二单刀双掷开关的动触点分别连接一种射频转接端子和第三多路输入输出单元的一输出端,每个第二单刀双掷开关的静触点连接所述多输入单输出单元的输入端。
5.根据权利要求1所述的一种***损耗测试***,其特征在于,所述第一功率计、所述第二功率计为通过式功率计。
6.根据权利要求4所述的一种***损耗测试***,其特征在于,射频转接端子包括SMAM、SMAF、RP-SMAM、RP-SMAF。
7.根据权利要求1所述的一种***损耗测试***,其特征在于,***还包括控制端、串口服务器;所述控制端经所述串口服务器分别与所述第一功率计、所述第二功率计、所述开关选通电路通信连接;所述控制端用以控制串口服务器获取第一功率计和第二功率计的功率值,并进行***损耗计算;所述控制端还通过串口服务器选通所述开关选通电路。
8.根据权利要求1所述的一种***损耗测试***,其特征在于,***还包括与所述第二功率计连接的终端负载。
9.一种***损耗测试方法,适用于如权利要求1-8中任一项所述的***损耗测试***,其特征在于,所述方法包括:
步骤一,利用开关选通电路将待测设备接入***损耗测试***;
步骤二,获取第一功率计与第二功率计的功率值,并根据上述功率值计算***损耗ΔS1。
10.根据权利要求9所述的一种***损耗测试方法,其特征在于,所述方法还包括在步骤一前进行***损耗校准:利用开关选通电路在不接入待测设备的情况下选通***损耗测试***的测试电路,获取当前第一功率计与第二功率计的功率值,并根据当前第一功率计与第二功率计的功率值计算***损耗校准值ΔS0;所述方法还包括在步骤二之后,根据***损耗ΔS1和***损耗校准值ΔS0的差值获得最终***损耗ΔS。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109890046A (zh) * | 2019-01-30 | 2019-06-14 | 芯讯通无线科技(上海)有限公司 | 测试无线通信设备的夹具功率损耗的方法及*** |
CN110827530A (zh) * | 2019-11-06 | 2020-02-21 | 水利部交通运输部国家能源局南京水利科学研究院 | 一种减少恒定流实验数据采集***数量的采集装置及采集方法 |
CN112505376A (zh) * | 2020-12-31 | 2021-03-16 | 西安开容电子技术有限责任公司 | 一种电力线防信息泄漏测试用负载 |
CN113075460A (zh) * | 2021-03-30 | 2021-07-06 | 上海传输线研究所(中国电子科技集团公司第二十三研究所) | 一种通信电缆等效介电常数、等效介质损耗角正切值的测试方法 |
CN113992280A (zh) * | 2021-10-25 | 2022-01-28 | 广州通则康威智能科技有限公司 | 一种宽频信道产测夹具的***损耗校准装置及其工作方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000019753A1 (en) * | 1998-09-28 | 2000-04-06 | Nokia Networks Oy | Method and apparatus for providing feeder cable insertion loss detection in a transmission system without interfering with normal operation |
CN1831544A (zh) * | 2005-03-11 | 2006-09-13 | 诺思路·格鲁曼公司 | 避免使用长的测试缆线的用于rf缆线测试的测试方法 |
CN104062510A (zh) * | 2014-07-07 | 2014-09-24 | 中国船舶重工集团公司第七二四研究所 | 可减小测量误差的两端口较远互易馈线***损耗测量方法 |
CN105049082A (zh) * | 2015-08-21 | 2015-11-11 | 上海斐讯数据通信技术有限公司 | 射频线缆线损测量***和测量方法 |
CN105738708A (zh) * | 2016-04-06 | 2016-07-06 | 中国舰船研究设计中心 | 一种短波天线调谐器***损耗测量装置及方法 |
CN107888232A (zh) * | 2017-11-21 | 2018-04-06 | 广东欧珀移动通信有限公司 | 检测线损的方法和测试***、上位机、计算机可读存储介质 |
-
2018
- 2018-04-24 CN CN201810372374.4A patent/CN108646097A/zh active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000019753A1 (en) * | 1998-09-28 | 2000-04-06 | Nokia Networks Oy | Method and apparatus for providing feeder cable insertion loss detection in a transmission system without interfering with normal operation |
CN1831544A (zh) * | 2005-03-11 | 2006-09-13 | 诺思路·格鲁曼公司 | 避免使用长的测试缆线的用于rf缆线测试的测试方法 |
CN104062510A (zh) * | 2014-07-07 | 2014-09-24 | 中国船舶重工集团公司第七二四研究所 | 可减小测量误差的两端口较远互易馈线***损耗测量方法 |
CN105049082A (zh) * | 2015-08-21 | 2015-11-11 | 上海斐讯数据通信技术有限公司 | 射频线缆线损测量***和测量方法 |
CN105738708A (zh) * | 2016-04-06 | 2016-07-06 | 中国舰船研究设计中心 | 一种短波天线调谐器***损耗测量装置及方法 |
CN107888232A (zh) * | 2017-11-21 | 2018-04-06 | 广东欧珀移动通信有限公司 | 检测线损的方法和测试***、上位机、计算机可读存储介质 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
王公浩等: "通过式功率计在通信测试中的应用", 《科技信息》 * |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109890046A (zh) * | 2019-01-30 | 2019-06-14 | 芯讯通无线科技(上海)有限公司 | 测试无线通信设备的夹具功率损耗的方法及*** |
CN110827530A (zh) * | 2019-11-06 | 2020-02-21 | 水利部交通运输部国家能源局南京水利科学研究院 | 一种减少恒定流实验数据采集***数量的采集装置及采集方法 |
CN112505376A (zh) * | 2020-12-31 | 2021-03-16 | 西安开容电子技术有限责任公司 | 一种电力线防信息泄漏测试用负载 |
CN112505376B (zh) * | 2020-12-31 | 2024-06-11 | 西安开容电子技术有限责任公司 | 一种电力线防信息泄漏测试用负载 |
CN113075460A (zh) * | 2021-03-30 | 2021-07-06 | 上海传输线研究所(中国电子科技集团公司第二十三研究所) | 一种通信电缆等效介电常数、等效介质损耗角正切值的测试方法 |
CN113992280A (zh) * | 2021-10-25 | 2022-01-28 | 广州通则康威智能科技有限公司 | 一种宽频信道产测夹具的***损耗校准装置及其工作方法 |
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