CN108645793B - 样品分析组件、样品分析装置及样品分析方法 - Google Patents
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Abstract
本申请公开一种样品分析组件、样品分析装置及样品分析方法。所述样品分析组件包括:载台,设有用于放置样品的承载区;检测机构,设于承载区的上方,用于获取样品的膜内异物的位置;扎针机构,设置于载台上,所述扎针机构包括针,所述针用于扎出样品的膜内异物。基于此,本申请能够有利于对膜内异物进行成分分析。
Description
技术领域
本申请涉及成分分析与机械领域,具体涉及一种样品分析组件、样品分析装置及样品分析方法。
背景技术
显示器的显示面板包括多层膜结构,例如,LTPS(Low Temperature Poly-Silicon,低温多晶硅)基板上设有用于电信号传输的走线、TFT(Thin Film Transistor,薄膜晶体管)、有机层等。显示面板在制造过程中会产生大量的微观异常,最多的就是膜上异物(即位于膜上的异物)和膜内异物(即位于膜内的异物)。现有技术通常使用FTIR(FourierTransform infrared spectroscopy,傅立叶变化红外线光谱分析仪)来分析异物的成分,并以此解决微观异常现象。但FTIR只能分析膜上异物的成分,而对显示领域中最常出现的膜内异物却很难进行成分分析。
发明内容
有鉴于此,本申请提供一种样品分析组件、样品分析装置及样品分析方法,能够有利于对膜内异物进行成分分析。
本申请一实施例的样品处理组件,包括:
载台,所述载台上设有用于放置样品的承载区;
检测机构,设置于所述承载区的上方;
扎针机构,设置于所述载台上,所述扎针机构包括朝向所述承载区延伸的针。
本申请一实施例的样品分析装置,包括FTIR及上述样品处理组件。
本申请一实施例的样品分析方法,包括:
提供一样品分析组件,所述样品分析组件包括载台、检测机构及扎针机构,所述载台上设有承载区,所述检测机构设于所述承载区的上方,所述扎针机构设于所述载台上且包括朝向所述承载区延伸的针;
将样品放置于所述载台的承载区;
所述检测机构获取所述样品的膜内异物的位置;
将所述针移动至所述膜内异物的位置,并扎出所述膜内异物;
FTIR对所述膜内异物进行成分分析。
有益效果:本申请的样品处理组件包括载台、检测机构和扎针机构,将待分析样品放置于载台的承载区,检测机构获取样品的膜内异物的位置,扎针机构的针扎出该膜内异物,使得该膜内异物暴露出来,从而能够有利于对膜内异物进行成分分析。
附图说明
图1是本申请一实施例的样品处理组件的结构示意图;
图2是本申请一实施例的样品分析方法的流程示意图。
具体实施方式
本申请的主要目的是:提供至少具有载台、检测机构和扎针机构的样品处理组件,该载台用于放置待分析的样品,检测机构获取样品的膜内异物的位置,扎针机构的针将该膜内异物扎出,使得该膜内异物暴露出来,以此能够有利于对膜内异物进行成分分析。
本申请的样品处理组件可以作为样品分析装置的一部分,例如,对于采用FTIR进行成分分析的场景,该样品分析装置还包括FTIR,通过FTIR对暴露出来的膜内异物进行成分分析。
本申请可以适用于不同类型的样品,例如对于基于LTPS技术的OLED(OrganicLight-Emitting Diode,有机电致发光二极管)显示面板,本申请可以扎出LTPS基板上的走线、TFT、有机层等中的膜内异物,以及OLED器件中红色、绿色及蓝色色阻等中的膜内异物。
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请所提供的各个示例性的实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。在不冲突的情况下,下述各个实施例及其技术特征可以相互组合。并且,本申请全文所采用的方向性术语,例如“上”、“下”等,均是为了更好的描述各个实施例的技术方案,并非用于限制本申请的保护范围。
图1是本申请一实施例的样品处理组件的结构示意图。如图1所示,所述样品处理组件10包括载台11、检测机构12及扎针机构13,其中,载台11的表面上设有用于放置待分析样品20的承载区111,检测机构12设置于该承载区111的上方,扎针机构13设置于载台11上,该扎针机构13设有朝向承载区111延伸的针131,所述针131用于扎出样品20的膜内异物。
载台11的上表面为平面,承载区111可以设置于其中间区域。载台11可以在该承载区111设置有定位机构,该定位机构用以将待分析的样品20固定在载台11上,具体地,所述定位机构可以包括磁铁112和铁片113,磁铁112可以内嵌于载台11上,且磁铁112的上表面与载台11的上表面平齐,所述铁片113的上表面可以设置有双面胶,所述样品20通过双面胶粘贴于该铁片113的上表面,将铁片113放置于磁铁112上,即可将待分析的样品20固定在承载区111。
请继续参阅图1,所述载台11上还可以设有导轨114,所述导轨114设于承载区111的***,具体地,导轨114包括第一部件1141、第二部件1142以及第三部件1143,该第一部件1141与第三部件1143位于承载区111的两侧且两者平行设置,第二部件1142的两端分别与第一部件1141和第三部件1143垂直连接。于此,沿垂直于载台11的视线方向,所述导轨114可视为呈一侧开口的矩形设置。当然,沿垂直于载台11的视线方向,本申请也可以设置导轨114在所述载台11的表面上呈四周闭合的矩形设置,或者呈三角形、圆形设置。
所述检测机构12用于获取样品20的膜内异物的位置,其观测清晰度是确保检测结果准确度的核心要素,于此,本申请对检测机构12的观测清晰度要求极高,可以选取照明CCD(Charge-coupled Device,电荷耦合元件,又称CCD相机)来执行观测。该照明CCD 12可以通过支撑架121和连接杆122设置于承载区111的上方。具体地,支撑架121包括水平部和竖直部,其竖直部垂直固定于载台11的一侧,例如图中未设置导轨114的一侧,其水平部与竖直部垂直连接且朝向承载区111一侧延伸,连接杆122垂直固定与所述水平部的外端且向下延伸,照明CCD 12固定于连接杆122的下端,其镜头位于承载区111的正上方。
在其他实施例中,相对于载台11,检测机构12可以并非是固定的,而是可以移动的,例如,所述连接杆122可以为伸缩杆,通过伸缩杆调节照明CCD 12与承载区111之间的距离。
扎针机构13设置于导轨114上且可沿导轨114移动,以此改变在载台11上的位置。扎针机构13的主体部可设有滑槽,导轨114卡置于滑槽内,以此实现扎针机构13和导轨114的可移动连接。针131设置于扎针机构13朝向承载区111的一侧并朝向承载区111延伸,该针131可以包括相连接且夹角为钝角的水平延伸部和倾斜部,水平延伸部平行于承载区111,倾斜部朝向承载区111倾斜。如图1所示,所述扎针机构13还可以设置有调节旋钮132,该调节旋钮132可以分为延伸长度调节旋钮和俯仰角度调节旋钮,延伸长度调节旋钮用于调节针131朝向承载区111的长度,俯仰角度调节旋钮用于调节针131的俯仰角度。
利用样品处理组件10执行成分分析的原理及过程如下:
将待分析的样品20通过双面胶粘贴于铁片113的上表面,将铁片113放置于磁铁112上,以此将样品20固定在载台11的承载区111。然后,检测机构12检测样品20的膜内异物,以显示面板为例,膜内异物所在的位置会出现黑点或者气泡等异常现象,通过照明CCD12拍摄异常现象即可确定膜内异物的位置。接着,沿所述导轨114移动所述扎针机构13直至所述针131位于所述膜内异物的上方,再通过调节旋钮132调节针131,例如使得调节针131的俯仰角度变小,使得针131扎入样品20内部,直至针131扎出所述膜内异物。最后,FTIR可以对暴露出来的膜内异物进行成分分析。
图2是本申请一实施例的样品分析方法的流程示意图。如图2所示,所述样品分析方法包括步骤S21~S25。
S21:提供一样品分析组件,所述样品分析组件包括载台、检测机构及扎针机构,载台上设有承载区,检测机构设于承载区的上方,扎针机构设于载台上且包括朝向承载区延伸的针。
S22:将样品放置于载台的承载区。
S23:检测机构获取样品的膜内异物的位置。
S24:将针移动至膜内异物的位置,并扎出膜内异物。
S25:FTIR对膜内异物进行成分分析。
本实施例的样品分析方法可以采用具有上述样品分析组件10的样品分析装置,因此具有与其相同的有益效果。
基于此,以上所述仅为本申请的实施例,并非因此限制本申请的专利范围,凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,例如各实施例之间技术特征的相互结合,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本申请的专利保护范围内。
Claims (4)
1.一种样品分析方法,其特征在于,所述样品分析方法包括:
提供一样品分析组件,所述样品分析组件包括载台、检测机构及扎针机构,所述载台上设有承载区,所述检测机构设于所述承载区的上方,所述扎针机构设于所述载台上且包括朝向所述承载区延伸的针;
将样品放置于所述载台的承载区;
所述检测机构获取所述样品的膜内异物的位置;
将所述针移动至所述膜内异物的位置,并扎出所述膜内异物,以使得所述膜内异物暴露于所述样品;其中,所述膜内异物为LTPS基板上的走线中的膜内异物,或OLED器件中红色色阻或绿色色阻或蓝色色阻中的膜内异物;
FTIR对所述膜内异物进行成分分析;
所述载台上设有位于所述承载区***的导轨,所述扎针机构设于所述导轨上,所述将所述针移动至所述膜内异物的位置的步骤,包括:沿所述导轨移动所述扎针机构直至所述针位于所述膜内异物上方;
所述扎针机构还包括与所述针连接的调节旋钮,所述扎出所述膜内异物的步骤,包括:所述调节旋钮调节所述针的俯仰角度以使针扎入所述样品。
2.根据权利要求1所述的样品分析方法,其特征在于,所述导轨在所述载台的表面上呈三角形、圆形或矩形设置。
3.根据权利要求1所述的样品分析方法,其特征在于,所述载台在所述承载区设有磁铁和铁片,所述铁片的上表面设置有双面胶。
4.根据权利要求3所述的样品分析方法,其特征在于,所述磁铁的上表面与所述载台的表面平齐。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810446408.XA CN108645793B (zh) | 2018-05-11 | 2018-05-11 | 样品分析组件、样品分析装置及样品分析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810446408.XA CN108645793B (zh) | 2018-05-11 | 2018-05-11 | 样品分析组件、样品分析装置及样品分析方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN108645793A CN108645793A (zh) | 2018-10-12 |
CN108645793B true CN108645793B (zh) | 2021-10-15 |
Family
ID=63754412
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201810446408.XA Active CN108645793B (zh) | 2018-05-11 | 2018-05-11 | 样品分析组件、样品分析装置及样品分析方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN108645793B (zh) |
Families Citing this family (2)
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2018
- 2018-05-11 CN CN201810446408.XA patent/CN108645793B/zh active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
CN108645793A (zh) | 2018-10-12 |
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PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |