CN108627195A - 一种对记忆体模组进行检测的智能检测方法及智能检测*** - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种对记忆体模组进行检测的智能检测方法及智能检测***，其用以同时对设置于多个检测装置上的待测组件逐一进行以下步骤：检测步骤、记录步骤及顺序调整步骤。在检测步骤中，控制装置将控制多个检测装置，对设置于其上的待测组件依据初始顺序进行N个检测作业。在记录步骤中，控制装置将会将各个检测装置执行各个检测作业的结果，对应储存为检测结果信息。在顺序调整步骤中，控制装置将统计在哪一个检测作业执行失败的次数最多，并据以提升执行失败的次数最多的检测作业在初始顺序中的顺序，产生优化顺序。

Description

一种对记忆体模组进行检测的智能检测方法及智能检测***

技术领域

本发明属于智能检测领域，尤其涉及一种对记忆体模组进行检测的智能检测方法及智能检测***。

背景技术

目前，现有技术中检测记忆体模组的方式大多是利用多个检测装置逐一地对各个记忆体模组进行预定的各种检测，这种检测方式往往需要耗费大量的时间。另外，现有记忆体模组检测的设备，大多是以人工的方式进行记忆体模组的插接及卸除，因此，需要大量的人力并耗费大量的时间，才可完成大量的记忆体模组的检测作业。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种检测方法及检测***，用以改善现有技术中记忆体模组所使用得检测方法及检测***存在有检测效能不佳的问题。

为了实现上述目的，本发明提供一种检测方法，其用以同时对设置于多个检测装置上的待测组件逐一进行以下步骤：

一检测步骤：利用一控制装置控制多个所述检测装置，以使各个所述检测装置依据一初始顺序，对设置于其上的所述待测组件进行N个检测作业；其中，当待测组件未通过相对应的检测装置所执行的第M个检测作业时，表示第M个检测作业执行失败；其中，N、M为大于1的正整数，且M＜N；一记录步骤：利用所述控制装置，将各个所述检测装置执行各个所述检测作业的结果，对应储存为一检测结果信息；一顺序调整步骤：利用所述控制装置，依据多个所述检测结果信息，统计在哪一个检测作业执行失败的次数最多，据以提升执行失败的次数最多的检测作业在所述初始顺序中的顺序，产生一优化顺序。

为了实现上述目的，本发明还提供一种检测***，其包含：多个检测装置、一控制装置及至少一移载装置。各个检测装置用以设置一记忆体模组，各个检测装置能对设置于其上的记忆体模组进行N个检测作业，并据以产生一检测结果信息；各个检测装置对设置于其上的记忆体模组完成N个检测作业时，能对应产生一完成讯号；其中，当记忆体模组未通过相对应的检测装置所执行的第M个检测作业时，表示第M个检测作业执行失败；其中，N、M为大于1的正整数，且M＜N。控制装置电性连接多个检测装置，控制装置能控制各个检测装置依据一初始顺序对设置于其上的记忆体模组进行N个检测作业；其中，控制装置能依据多个检测结果信息，统计哪一个检测作业执行失败的次数最多，据以提升执行失败的次数最多的检测作业在初始顺序中的顺序并产生一优化顺序。移载装置电性连接控制装置，移载装置受控制装置控制而将多个记忆体模组安装于多个检测装置上，或将安装于各个检测装置上的记忆体模组卸除。其中，控制装置控制移载装置，先将设置于各个检测装置上已完成N个检测作业的记忆体模组卸除，并将未被检测的记忆体模组安装于多个检测装置后，控制装置将控制各个检测装置依据优化顺序，对设置于其上的记忆体模组进行N个检测作业。

本发明的有益效果在于：可以大幅提升检测装置找出多个待测组检中的不良品的速度，从而大幅提升整体检测的效能。

附图说明

图1为本发明的检测方法的第一实施例的流程示意图

图2A、2B、2C为本发明的检测方法的第一实施例的方块示意图

图3为本发明的检测方法的第二实施例的流程示意图

图4为本发明的检测方法的第三实施例的流程示意图

图5为本发明的检测***的第一实施例的方块示意图

图6为本发明的检测***的第二实施例的方块示意图

图7为本发明的检测***的第三实施例的方块示意图

附图符号说明：

S1、S2、S21、S22、S23、S24、S3：流程步骤

A：控制装置

A1、A2、A3：控制讯号

B1、B2、B3：检测装置

B11、B21、B31：检测结果信息

C1、C2、C3、C4、C5、C6、C7、C8、C9：待测组件

1：检测***

10：控制装置

101：检测信息

102：测试讯号

103：断电讯号

104A：移载讯号

104B：重新安装讯号

105：确认讯号

11：通讯模组

20：检测装置

201：完成讯号

202：检测结果信息

203A：准备完成讯号

203B：准备失败讯号

21：侦测模组

30：移载装置

40：参数储存装置

401：检测作业参数

50：输入装置

501：输入讯号

60：显示装置

70：远端资料储存装置

80：承载装置

8011：侦测结果信息

81：侦测模组

C：记忆体模组

具体实施方式

下面结合附图，对实施例作详细说明。

请一并参阅图1及图2，图1为本发明的检测方法的第一实施例的流程示意图，图2为本发明的检测方法的方块示意图。本发明的检测方法，其用以同时对设置于多个检测装置上的待测组件逐一进行以下步骤：

一检测步骤S1：利用一控制装置控制多个检测装置，以使各个检测装置依据一初始顺序，对设置于其上的待测组件进行N个检测作业；其中，当待测组件未通过相对应的检测装置所执行的第M个检测作业时，表示第M个检测作业执行失败；其中，N、M为大于1的正整数，且M＜N；

一记录步骤S2：利用控制装置，将各个检测装置执行各个检测作业的结果，对应储存为一检测结果信息；

一顺序调整步骤S3：利用控制装置，依据多个检测结果信息，统计在哪一个检测作业执行失败的次数最多，据以提升执行失败的次数最多的检测作业，于初始顺序中的顺序，以产生一优化顺序。

如图2A、图2B及图2C所示，其显示控制装置A利用三个检测装置B1、B2、B3，分3次对9个不同的待测组件C1、C2、C3…C9进行检测时的方块示意图。于此所举的检测装置的数量、待测组件C1、C2、C3、C4、C5、C6、C7、C8、C9的数量以及以下说明中所举的检测作业的项目数，皆仅为示范态样，于实际应用中该些数量皆可依据需求变化。

如图2A所示，当控制装置A发送3个控制讯号A1，以控制3个检测装置B1、B2、B3对三个待测组件C1、C2、C3进行检测作业(即对应为前述检测步骤S1)时，控制装置A是控制各个检测装置B1、B2、B3对设置于其上的待测组件C1、C2、C3，依序执行4个检测作业Test1、Test2、Test3、Test4。

假设检测装置B1在对设置于其上的待测组件C1逐一进行4个检测作业的过程中，检测装置B1判断待测组件C1未通过检测作业Test3及检测作业Test4，则控制装置A将分别记录检测作业Test3及检测作业Test4分别具有1次执行失败(即对应为前述记录步骤S2)。如图2A所示，在记录步骤S2中，控制装置A将可于对应于检测结果信息B11中，记录待测组件的编号及其对应于4个检测作业的检测结果(例如是图中所示的O表示通过检测，X表示未通过检测)：在实际应用中，所述检测结果信息B11、B21、B31所包含的内容可以是依据需求变化，不以待测组件的编号及其对应于4个检测作业的检测结果为限。

假设检测装置B2在对设置于其上的待测组件C2逐一进行4个检测作业的过程中，检测装置B2判断待测组件C2未通过检测作业Test3，则控制装置A将记录检测作业Test3具有2次执行失败(即对应为前述记录步骤S2)，亦即，控制装置A将会累积记录各个检测作业执行失败的次数。相同地，控制装置A将对应产生有检测结果信息B21。

假设检测装置B3在对设置于其上的待测组件C3逐一进行4个检测作业的过程中，检测装置B3判断待测组件C3通过4个检测作业，则控制装置A将仅对应产生检测结果信息B31，而不对应累加任一个检测作业执行失败的次数。

当三个检测装置B1、B2、B3皆已分别对设置于其上的待测组件C1、C2、C3完成4个检测作业时，控制装置A将执行前述顺序调整步骤S3；即，控制装置A将依据多个检测结果信息B11、B21、B31，将统计执行失败次数较多的检测作业Test3及检测作业Test4，于初始顺序中的顺序向前提升，并据以形成一优化顺序。也就是说，4个检测作业于优化顺序中的排序为检测作业Test3、Test4、Test1、Test2。

在实际应用中，各个检测作业于优化顺序中的排列顺序，可以是依据各个检测作业所对应的检测结果信息，累积执行失败的次数多少而决定。亦即，在前述举例中，累积有2次执行失败记录的检测作业Test3将由原本的第三顺序(指在初始顺序中的顺序)，提升至第一顺序(指在优化顺序中的顺序)，而累积有1次执行失败记录的检测作业Test4则由原本的第四顺序(指在初始顺序中的顺序)，提升至第二顺序(指在优化顺序中的顺序)；检测作业Test1、Test2则对应由第一顺序、第二顺序(指在初始顺序中的顺序)，调整至第三顺序及第四顺序(指在优化顺序中的顺序)。

关于调整多个检测作业的顺序，不侷限于仅参考检测作业执行失败的次数，在不同的应用中，还可以是同时参考各个检测作业被执行的时间，以决定检测作业于优化顺序中的顺序。举例来说，可以是将执行时间相对较短，且被执行失败次数最多的检测作业的顺序，提前至优化顺序中的第一顺序，如此，控制装置A将可快速地判断待测组件C1、C2、C3、C4、C5、C6、C7、C8、C9是否为不良品。

如图2B所示，控制装置A发出三个控制讯号A2，以控制三个检测装置B1、B2、B3第二次进行检测步骤S1，以分别对设置于其上的待测组件C4、C5、C6分别进行4个检测作业时，控制装置A则是使各个检测装置B1、B2、B3，依据优化顺序对各个待测组件C4、C5、C6依序进行4个检测作业Test3、Test4、Test1、Test2。

假设检测装置B1、B2、B3分别对待测组件C4、C5、C6进行检测作业的结果是：待测组件C4、C5、C6皆未通过检测作业Test4，且待测组件C6亦未通过检测作业Test2。则，控制装置A将对应记录检测作业Test1、Test2、Test3、Test4分别累积执行失败次数为：0次、1次、3次、4次，而于顺序调整步骤S3后，优化顺序中4个检测作业的排序将变为Test4、Test3、Test2、Test1。

如图2C所示，控制装置A发出三个控制讯号A3，控制三个检测装置B1、B2、B3第三次进行检测步骤S1，以分别对设置于其上的待测组件C7、C8、C9进行检测作业时，控制装置A则是使各个检测装置B1、B2、B3，依据优化顺序对各个待测组件C4、C5、C6依序进行4个检测作业Test4、Test3、Test2、Test1。

如上所述，本发明的检测方法，可以依据检测装置对待测组件的检测结果，以调整检测装置对下一批量的待测组件，先后执行的检测作业的顺序，据以可以让检测装置对后续的待测组件进行检测作业时，可以优先进行可能发生检测失败的检测作业，而可以以相对较少的检测时间，即排除检测失败的待测组件。

请参阅图3，其显示为本发明的检测方法的第二实施例的流程示意图。本实施例的检测方法适用于利用P个检测装置对Q个待测组件分批进行检测作业，P、Q为大于1的正整数，且Q＞P；而本实施例与前述实施例最大不同之处在于：于前述记录步骤及顺序调整步骤之间，还包含以下步骤：

一移载步骤S21：利用控制装置控制一移载装置，以依据多个检测结果信息，将各个检测装置上的待测组件，移载至一不良品位置或一良品位置；

一安装步骤S22：利用控制装置控制移载装置，将未被检测的待测组件安装于多个检测装置；

一总量分析步骤S23：利用控制装置，判断各个检测装置执行N个检测作业的累积次数是否大于一预定总量；

其中，当控制装置判断各个检测装置执行N个检测作业的次数大于所述预定总量时，则先执行顺序调整步骤后，再执行检测步骤；当控制装置判断各个检测装置执行N个检测作业的次数，小于预定总量时，则跳过顺序调整步骤，而直接执行检测步骤。

举例来说，当以10个检测装置分100次，对1000个待测组件逐一进行4个检测作业Test1、Test2、Test3、Test4时，假定预定总量为20次。如此，所述顺序调整步骤S3则是在检测步骤S1、记录步骤S2、移载步骤S21、安装步骤S22及总量分析步骤S23反覆执行20次后才进行。换言之，当10个检测装置分20次对200个待测组件，逐一完成4个检测作业后，所述顺序调整步骤S3才被执行，而于10个检测装置反覆执行20次检测步骤S1之前，顺序调整步骤S3将不被执行。

具体来说，在待测组件的总量相对较多的情况下，若频繁地执行顺序调整步骤S3，可能发生变化10次后的优化顺序，与初始的初始顺序相同的问题，亦即，执行10次的顺序调整步骤S3形同虚设，如此，不但无法节省时间，反而可能浪费更多的时间。因此，在对大量的待测组件进行检测作业时，透过总量分析步骤S23的设计，将可使顺序调整步骤S3所产生的优化顺序，对后续检测作业产生良好的影响，即，加速后续各检测装置判断待测组件是否为不良品的速度。

请参阅图4，其为本发明的检测方法的第三实施例的流程示意图。如图所示，本实施例与前述实施例最大不同之处在于：于总量分析步骤S23及顺序调整步骤S3之间，还可以是包含有一比列分析步骤S22：利用控制装置，判断任一个检测作业执行失败的累积次数是否大于一预定次数。

其中，当任一个检测作业执行失败的次数大于预定次数时，则先执行顺序调整步骤，以提升大于预定次数的检测作业于初始顺序的顺序，并据以形成优化顺序后，再执行检测步骤；当各个检测作业执行失败的次数，皆小于预定次数时，则跳过顺序调整步骤，而直接执行检测步骤。

举例来说，当以10个检测装置分100次，对1000个待测组件逐一进行4个检测作业Test1、Test2、Test3、Test4时，假定预定总量为20次，所述预定次数为50次。如此，所述顺序调整步骤S3则是在检测步骤S1、记录步骤S2、移载步骤S21、安装步骤S22及总量分析步骤S23反覆执行20次后才进行。换言之，当10个检测装置分20次对200个待测组件，逐一完成4个检测作业后，所述比例分析步骤S24才被执行，而于10个检测装置反覆执行20次检测步骤S1之前，比例分析步骤S24将不被执行。

当控制装置于比例分析步骤S24中，判断其中一个检测作业执行失败的累积次数到达50次时，才会执行顺序调整步骤S3；反之，控制装置于比例分析步骤S24中，判断未有任一个检测作业执行失败的累积次数到达50次时，则不执行顺序调整步骤S3，而直接执行检测步骤S1。

换言之，10个检测装置分20次，对200待测组件逐一完成4个检测作业后，若检测作业Test3执行失败的累积次数到达50次时，则执行顺序调整步骤S3，以将检测作业Test3于初始顺序中的顺序向前提升至第一顺序，并据以产生优化顺序。亦即，在200个待测组件中，存在有50个待测组件未通过检测作业Test3，其表示其馀的800个待测组件，可能有很高的比例，同样无法通过检测作业Test3的测试。当然，在另一实施例中，在执行比例分析步骤S24时，若有检测作业Test3及检测作业Test4分别累积的执行失败次数为56次及5次，则于顺序调整步骤S3中，也可以是一并将检测作业Test4的顺序向前提升，但不以此为限，亦可以仅提升执行失败累积次数到达50次的检测作业。

透过总量分析步骤S23及比例分析步骤S24的设计，虽然可能会大幅降低顺序调整步骤S3被执行的次数，但相对可大幅避免无必要的顺序调整(例如在繁複地执行顺序调整步骤S3后，却得到与初始的初始顺序一样的优化顺序的状况)。

值得一提的是，在实际应用中，于移载步骤S21中，控制装置可以是先控制各个检测装置，以切断各个检测装置与设置于其上的待测组件之间的电性连接，而后再控制移载装置，将各个检测装置上的检测组件移载至特定的位置。藉此，可避免待测组件在与检测装置电性连接的情况下，被移载装置由检测装置上移除，从而导致待测组件或是检测装置毁坏的问题发生。

另外，在执行检测步骤S1前，控制装置可以是先传递一测试讯号至各个检测装置，以确认各个检测装置的状态：当控制装置接收检测装置所回传的一回传讯号时，控制装置则再控制相对应的检测装置执行检测步骤S1。具体来说，控制装置可以是依据各个检测装置所回传的讯号，判断检测装置是否设置有待测组件，而后控制装置则可以是仅控制设置有待测组件的检测装置进行检测步骤；又或者，控制装置可以依据各回传讯号，以判断检测装置是否正确安装待测组件，以在待测组件未被正确安装时，控制移载装置重新对该待测组件进行移载及安装步骤。

特别说明的是，上述待测组件可以是记忆体模组，而透过上述各实施例所举的检测方法，利用多个检测装置，对多个记忆体模组进行N个检测作业，将可大幅提升整体检测的效能，而可相对快速地挑出，多个记忆体模组中的不良品。当然，上述检测方法，不侷限应用于记忆体模组检测作业中，其可应用于任何检测作业中。

请参阅图5，其显示为本发明的检测***的第一实施例的方块示意图。如图所示，本发明的检测***1包含有多个检测装置20、一控制装置10及一移载装置30及一参数储存装置40。于本实施例图中仅绘示两个检测装置20及一个移载装置30为示范，但该些装置的数量可以是依据需求变化，不以图中所示为限。

多个检测装置20电性连接控制装置10，各个检测装置20用以设置记忆体模组C，而各个检测装置20用以设置一记忆体模组C，各个检测装置20能对设置于其上的记忆体模组C进行N个检测作业。控制装置10能控制各个检测装置20对设置于其上的记忆体模组C进行N个检测作业。

在实际应用中，所述记忆体模组C例如可以是插设于电脑设备中的记忆体插卡，而各个检测装置20可以是包含相对应的电插接槽，各个记忆体插卡则可对应插接于检测装置20的电插接槽中；所述控制装置10则可以是电脑设备、微处理器等。各个检测装置20还可以是包含有相关的电子卡扣(图未示)，各个电子卡扣能辅助记忆体模组C稳定地固定设置于检测装置20(的电插接槽)中，电子卡扣也可以是电性连接控制装置10，而控制装置10能控制电子卡扣的作动。

移载装置30电性连接控制装置10，而控制装置10能控制移载装置30将多个记忆体模组C安装于多个检测装置20上，或者是将安装于各个检测装置20上的记忆体模组C，由检测装置20上卸除，并对应将该些记忆体模组C移载至一良品位置或是一不良品位置。在实际应用中，移载装置30例如可以是机械手臂。

参数储存装置40储存有多个检测作业参数401，且参数储存装置40电性连接控制装置10，而控制装置10能读取参数储存装置40中的至少一个检测作业参数401。在实际应用中，参数储存装置40可以是设置于控制装置10中，或者可以是独立的储存装置，于此不加以限制。

检测***1的具体实施方式可以是：控制装置10读取参数储存装置40所储存的R个检测作业参数中的N个，以形成一检测信息101；而后，控制装置10向各个检测装置20传递所述检测信息101，据以使各个检测装置20，能依据所述检测信息101中所对应包含的N个检测作业参数，以一初始顺序对设置于其上的记忆体模组C进行N个检测作业。各个检测装置20对设置于其上的记忆体模组C，进行N个检测作业时，检测装置20可以对应记录记忆体模组C对应于各个检测作业的检测结果，据以形成一检测结果信息202。当记忆体模组C未通过相对应的检测装置20所执行的第M个检测作业时，表示第M个检测作业执行失败；其中，R、N、M为大于1的正整数，且R＞N、M＜N。

当各个检测装置20对设置于其上的记忆体模组C，完成N个检测作业时，检测装置20能对应传递一完成讯号201至控制装置10，而控制装置10接收任一个检测装置20所传递的完成讯号201后，控制装置10将控制移载装置30，以将相对应的检测装置20上的记忆体模组C卸除，并将另一待检测的记忆体模组C安装于相对应的检测装置20上。

控制装置10在接收多个检测装置20所传递的检测结果信息202后，控制装置10能统计哪一个检测作业执行失败的次数最多，据以提升执行失败的次数最多的检测作业，于初始顺序中的顺序，以产生一优化顺序。当控制装置10控制移载装置30，将各个检测装置20上已完成N个检测作业的记忆体模组C卸除，且于各个检测装置20上安装有另一个待检测的记忆体模组C时，控制装置10将控制各个检测装置20，而使各个检测装置20依据优化顺序，对设置于其上的记忆体模组C进行N个检测作业。

关于控制装置10控制多个检测装置20分次对大量的待测组件(即本实施例所称记忆体模组)，逐一进行多个检测作业，并据以对应改变初始顺序，而形成优化顺序的详细说明，请参前述实施例中，对于图2A、图2B及图2C的说明，于此不再赘述。

请参阅图6，其显示为本发明的检测***的第二实施例的方块示意图。如图所示，本实施例与前述实施例其中一个不同之处在于：检测***1还可以包含有一输入装置50及一显示装置60。

输入装置50及显示装置60电性连接控制装置10。输入装置50用以提供使用者操作，而能对应产生一输入讯号501。控制装置10则能依据输入讯号501，读取参数储存装置40所储存的R个检测作业参数中的N个，以形成一检测信息101；而后，控制装置10向各个检测装置20传递所述检测信息101，据以使各个检测装置20，能依据所述检测信息101中所对应包含的N个检测作业参数，以一初始顺序对设置于其上的记忆体模组C进行N个检测作业。显示装置60电性连接控制装置10，而控制装置10能控制显示装置60显示参数储存装置40所储存的多个检测作业参数401；在实际应用中，控制装置10还可以是控制显示装置60显示初始顺序及优化顺序，所分别对应的多个检测作业。

具体来说，参数储存装置40中可以是储存有20个检测作业所对应的检测作业参数401，而控制装置10可以是控制显示装置60，于其画面中显示出20个检测项目，使用者则可以是依据记忆体模组C的不同，透过输入装置50由20个检测项目中选出10项，据以使各检测装置20对设置于其上的记忆体模组C依据一初始顺序进行10项检测作业。所述输入装置50例如是键盘、滑鼠等，在不同的实施例中，输入装置50也可以是结合于显示装置60中的触控面板，于此不加以限制。

本实施例与前述实施例另一个不同之处在于：各个检测装置20中还可以是设置有一侦测模组21。侦测模组21用以侦测相对应的检测装置20上是否设置有记忆体模组C。控制装置10在控制各个检测装置20对设置于其上的记忆体模组C进行检测作业前，控制装置10可以是先传送一测试讯号102至各个检测装置20。

各个检测装置20接收到所述测试讯号102时，各个检测装置20的侦测模组21，将据以侦测检测装置20上是否正确设置有记忆体模组C，并据以传递一准备完成讯号203A或一准备失败讯号203B至控制装置10。当然，在具体的实施中，侦测模组21还可以是在侦测检测装置20上未设置有记忆体模组C时，传递一未准备讯号(图未示)至控制装置10，如此，控制装置10将据以得知检测装置20为设置有记忆体模组C，控制装置10后续将不再对该检测装置20进行相关控制。

当控制装置10接收检测装置20所传递的准备完成讯号203A时，控制装置10则对应控制相对应的检测装置20对设置于其上的记忆体模组C进行N个检测作业。相对地，当控制装置10接收检测装置20所传递的准备失败讯号203B时，代表检测装置20上的记忆体模组C可能未正确地安装，此时，控制装置10则可以是传递一重新安装讯号104B至移载装置30，以控制移载装置30重新安装设置于相对应的检测装置20上的记忆体模组C，而后，控制装置10将可再次传递测试讯号102至检测装置20，以确认记忆体模组C是否已正确地被安装于检测装置20上。

本实施例与前述实施例另一个不同之处在于：控制装置10还可以包含有一通讯模组11，所述通讯模组11能与一远端资料储存装置70通讯连接，而控制装置10则能透过通讯模组11，将多个检测结果信息202传递至远端资料储存装置70，而使多个检测结果信息202储存于远端资料储存装置70。所述远端资料储存装置70例如是云端伺服器、与多个检测装置20设置于不同地的远端伺服器等。在另一实施例中，所述参数储存装置40也可以是设置于远端资料储存装置70中，而控制装置10则可以透过通讯模组11，以读取参数储存装置40中的多个检测作业参数401。

值得一提的是，控制装置10在控制移载装置30将已完成检测的记忆体模组C由检测装置20上卸除前，控制装置10可以是先传递一断电讯号103至各个检测装置20，以使各个检测装置20不再提供电力至设置于其上的记忆体模组C，而后控制装置10才再控制移载装置30，将相对应的检测装置20上的记忆体模组C卸除。如此，将可避免记忆体模组C在通电的情况下被拔除，而可能发生毁坏的问题。

请参阅图7，其显示为本发明的检测***的第三实施例的方块示意图。如图所示，本实施例与前述实施例最大不同之处在于：控制装置10还可以是电性连接一承载装置80，承载装置80用以承载待检测的多个记忆体模组C，且承载装置80具有一侦测模组81。侦测模组81用以侦测承载装置80是否设置有记忆体模组C，并据以产生一侦测结果信息8011。

当控制装置10接收任一个检测装置20所传递的完成讯号201时，控制装置10能传递一确认讯号105至承载装置80，以控制侦测模组81侦测承载装置80是否设置有记忆体模组C。而后，控制装置10则能依据侦测结果信息8011，以于承载装置80设置有记忆体模组C的情况下，控制移载装置30先卸载相对应的检测装置20上已完成N个检测作业的记忆体模组C，再将设置于承载装置80上的其中一个记忆体模组C移载至相对应的检测装置20上。在具体的实施例中，控制装置10可以依据侦测结果信息8011，以判断承载装置80所设置的待检测的记忆体模组C的数量，而控制装置10则可据以控制移载装置30，移除相对数量的检测装置20上已完成检测的记忆体模组C。

上述实施例仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种对记忆体模组进行检测的智能检测方法，其特征在于，所述智能检测方法用以同时对设置于多个检测装置上的待测组件逐一进行以下步骤：

一检测步骤：利用一控制装置控制所述多个检测装置，以使各个所述检测装置依据一初始顺序，对设置于各个所述检测装置上的所述待测组件进行N个检测作业；其中，当待测组件未通过相对应的检测装置所执行的第M个检测作业时，表示第M个检测作业执行失败；其中，N、M为大于1的正整数，且M＜N；

一记录步骤：利用所述控制装置，将各个所述检测装置执行各个所述检测作业的结果，对应储存为一检测结果信息；

一顺序调整步骤：利用所述控制装置，依据多个所述检测结果信息，统计哪一个检测作业执行失败的次数最多，并据以提升执行失败的次数最多的检测作业在所述初始顺序中的顺序，产生一优化顺序。

2.根据权利要求1所述的智能检测方法，其特征在于，所述智能检测方法适用于利用P个检测装置对Q个待测组件分批进行检测作业，P、Q为大于1的正整数，且Q＞P；在所述记录步骤及所述顺序调整步骤之间，还包含以下步骤：

一移载步骤：利用所述控制装置控制一移载装置，以依据多个所述检测结果信息，将各个所述检测装置上的待测组件移载至一不良品位置或一良品位置；

一安装步骤：利用所述控制装置控制所述移载装置，将Q个待测组件中未被检测的待测组件安装于P个所述检测装置；

一总量分析步骤：利用所述控制装置，判断各个所述检测装置执行N个检测作业的累积次数是否大于一预定总量；

其中，当所述控制装置判断各个所述检测装置执行N个检测作业的累积次数大于所述预定总量时，则先执行所述顺序调整步骤后再执行所述检测步骤；当所述控制装置判断各个所述检测装置执行N个检测作业的累积次数小于所述预定总量时，跳过所述顺序调整步骤而直接执行所述检测步骤。

3.根据权利要求1所述的智能检测方法，其特征在于，所述智能检测方法适用于利用P个检测装置对Q个待测组件分批进行检测作业，P、Q为大于1的正整数，且Q＞P；在所述记录步骤及所述顺序调整步骤之间，还包含以下步骤：

一移载步骤：利用所述控制装置控制一移载装置，以依据多个所述检测结果信息，将各个所述检测装置上的待测组件移载至一不良品位置或一良品位置；

一安装步骤：利用所述控制装置控制所述移载装置，将Q个待测组件中未被检测的待测组件安装于P个所述检测装置；

一比例分析步骤：利用所述控制装置，统计各个检测作业执行失败的累积次数是否大于一预定次数；

其中，当任一个所述检测作业执行失败的累积次数大于所述预定次数时，则先执行所述顺序调整步骤，提升大于所述预定次数的检测作业于所述初始顺序的顺序，并在形成所述优化顺序后再执行所述检测步骤；当各个所述检测作业执行失败的累积次数皆小于所述预定次数时，则跳过所述顺序调整步骤直接执行所述检测步骤。

4.根据权利要求2或3所述的智能检测方法，其特征在于，在所述检测步骤前，所述控制装置传递一测试讯号至各个所述检测装置，当所述控制装置接收检测装置所回传的一回传讯号时，所述控制装置则控制相对应的检测装置执行所述检测步骤。

5.根据权利要求1至3其中任一项所述的智能检测方法，其特征在于，在所述优化顺序中，各个所述检测作业的排列顺序依据各个检测作业执行失败的累积次数多少进行排列。

6.一种智能检测***，其特征在于，所述智能检测***包含：

多个检测装置，各个所述检测装置用以设置一内存模块，各个所述检测装置对设置于其上的所述内存模块进行N个检测作业，并据以产生一检测结果信息；各个所述检测装置对设置于其上的所述内存模块完成N个检测作业时，对应产生一完成讯号；其中，当所述内存模块未通过相对应的所述检测装置所执行的第M个检测作业时，表示第M个检测作业执行失败；其中，N、M为大于1的正整数，且M＜N；

一控制装置，其电性连接多个所述检测装置，所述控制装置控制各个所述检测装置依据一初始顺序对设置于其上的内存模块进行N个检测作业；其中，所述控制装置能依据多个所述检测结果信息，统计哪一个检测作业执行失败的次数最多，并据以提升执行失败的次数最多的检测作业在所述初始顺序中的顺序，并产生一优化顺序；

以及至少一移载装置，其电性连接所述控制装置，所述移载装置受所述控制装置控制而将多个所述内存模块安装于多个所述检测装置上，或将安装于各个所述检测装置上的内存模块卸除；

其中，所述控制装置控制所述移载装置，先将设置于各个所述检测装置上已完成N个检测作业的内存模块卸除，并将未被检测的内存模块安装于多个所述检测装置后，所述控制装置进而控制各个所述检测装置依据所述优化顺序，对设置于其上的内存模块进行N个检测作业。

7.根据权利要求6所述的智能检测***，其特征在于，各个所述检测装置包含有一侦测模块，所述侦测模块用于侦测相对应的检测装置上是否设置有内存模块；所述控制装置用于传送一测试讯号至各个所述检测装置，各个所述检测装置接收所述测试讯号后，各个所述侦测模块侦测对应的所述检测装置上是否正确设置有所述内存模块，并据以传递一准备完成讯号或一准备失败讯号至所述控制装置；当所述控制装置接收所述检测装置所传递的准备完成讯号时，所述控制装置将对应控制相对应的检测装置对设置于其上的内存模块进行N个检测作业；当所述控制装置接收所述检测装置所传递的准备失败讯号时，所述控制装置将控制所述移载装置重新安装设置于相对应的检测装置上的内存模块，并再次传递所述测试讯号至检测装置。

8.根据权利要求6所述的智能检测***，其特征在于，所述控制装置在接收所述完成讯号时，先传递一断电讯号至相对应的检测装置，以使检测装置不再提供电力至设置于其上的内存模块，而后所述控制装置能再控制所述移载装置，将相对应的检测装置上的内存模块卸除。

9.根据权利要求6所述的智能检测***，其特征在于，所述控制装置还包含有一通讯模块，所述通讯模块用于与一远程数据储存装置通讯连接，所述控制装置通过所述通讯模块传递多个所述检测结果信息至所述远程数据储存装置，以将多个所述检测结果信息储存于所述远程数据储存装置。

10.根据权利要求6所述的智能检测***，其特征在于，所述智能检测***还包含有一承载装置，所述承载装置设置有一侦测模块，所述承载装置用以承载待检测的多个所述内存模块，所述侦测模块用以侦测所述承载装置是否设置有所述内存模块，并据以产生一侦测结果信息；当所述控制装置接收任一个所述检测装置所传递的完成讯号时，所述控制装置传递一确认讯号至所述承载装置以控制所述侦测模块侦测对应的所述承载装置是否设置有所述内存模块，而后所述控制装置依据所述侦测结果信息，在所述承载装置设置有内存模块的情况下，控制所述移载装置先卸除相对应的检测装置上已完成N个检测作业的内存模块，再将设置于所述承载装置上的其中一个内存模块移载至相对应的检测装置上。