CN1804808A - 优化测试顺序的方法 - Google Patents
优化测试顺序的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN1804808A CN1804808A CNA200510087161XA CN200510087161A CN1804808A CN 1804808 A CN1804808 A CN 1804808A CN A200510087161X A CNA200510087161X A CN A200510087161XA CN 200510087161 A CN200510087161 A CN 200510087161A CN 1804808 A CN1804808 A CN 1804808A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test
- resource requirement
- factor
- percent
- pass
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3172—Optimisation aspects, e.g. using functional pin as test pin, pin multiplexing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
- G01R31/318307—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences computer-aided, e.g. automatic test program generator [ATPG], program translations, test program debugging
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
- G01R31/318314—Tools, e.g. program interfaces, test suite, test bench, simulation hardware, test compiler, test program languages
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2894—Aspects of quality control [QC]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
本发明公开了一种测试顺序优化方法,在该方法中,识别出多种测试中的每种测试的通过概率和资源需求。然后根据测试的通过概率和资源需求,产生每种测试的经通过率加权的资源需求因子。随后,根据它们经通过率加权的资源需求因子,对将被执行的测试进行排序。
Description
技术领域
本发明涉及优化测试顺序的方法以及存储了执行该方法的指令序列的机器可读介质。
背景技术
在制造和/或销售诸如电子设备或机械设备(包括诸如电路板、集成电路或片上***(SOC)之类的***或组件)或者软件程序或模块之类的产品之前,通常要对产品进行测试,以确定该产品是否是按设计的那样建立或工作的。在很多行业中,产品测试已经成为重要的开销项目,它需要耗费时间、设备、人力和其他资源。
发明内容
在一个实施例中,测试顺序优化方法包括识别多种测试中的每种测试的通过概率和资源需求。然后,根据测试的通过概率和资源需求,产生每种测试的经通过率加权的(pass-weighted)需求因子。随后,根据经通过率加权的资源需求因子来排序将被执行的测试。
本发明还公开了其他实施例。
附图说明
附图示出了本发明的示例性实施例,其中:
图1示出了示例性测试顺序优化方法;
图2示出了图1中方法的示例性用法以用于排序两种测试;以及
图3示出了根据图1中方法排序后的示例性测试表。
具体实施方式
在产品测试期间,经常按某种逻辑顺序来执行测试。例如,可以先在产品的一个块或模块上执行测试,然后再在另一个块或模块上执行测试。或者,例如可以先执行一种类型测试的全部,然后再执行另一种类型测试的全部。当测试失败时,通常停止其他测试的执行,并且销毁或重做产品。
图1示出了示例性测试顺序优化方法100。在某些情况下,该方法可以优化测试顺序以能够更快速地识别故障产品,从而能够在产品测试期间提高产品的产量。方法100包括识别(102、104)多种测试中的每种测试的通过概率和资源需求。然后,根据测试的通过概率和资源需求,产生每种测试的经通过率加权的资源需求因子。随后,根据经通过率加权的资源需求因子来排序将被执行的测试。
在执行测试之前,或许不知道其通过概率。在这种情况下,可以估计测试的概率(或者可以识别已经估计出的通过概率)。在已经执行了一次或多次测试之后,可以从其先前的执行中确定其通过概率。在某些情况下,测试的通过概率可以被周期性更新。例如,可以在每测试1000个产品之后,或者在每测试24小时之后更新通过概率。然后,更新后的通过概率可以被用于重新产生PWRR因子,并且据此对测试的执行进行重新排序。
测试的资源需求可以是多种多样的,例如包括测试的执行时间、测试的成本、测试的设备(硬件或软件)需求,以及在某些情况下,还包括测试的人力需求。
测试的经通过率加权的资源需求(PWRR)因子可以以多种方式产生。在优选的实施例中,该因子是通过用测试的通过概率乘以资源需求而产生的。另外,该因子也可以通过相加或以其它方式组合测试的通过概率和资源需求而产生。在一个实施例中,PWRR因子被产生,以便提供如下指示:在使用较少测试资源的情况下,哪些测试可能更频繁地失败。以这种方式,这些测试可以被放置在测试执行顺序的前期,从而提高将更快速地识别出故障产品的可能性,以便可以跳过对故障产品的额外测试,并且提高在产品测试期间的产品产量。但是,在其他实施例中,可能希望使用PWRR因子以不同的顺序来安排测试。
在某些情况下,可能希望通过根据非线性的公式组合测试的通过概率和资源需求,来产生PWRR因子。例如,如果测试的通过概率或资源需求处于第一范围内,则可以按照一种方式来组合测试的通过概率或资源需求,但是如果测试的通过概率或资源需求处于第二范围内,则可以按照不同的方式进行组合(例如,考虑具有相对适中工资费用的技师,但是对于一定的工作小时数,需要给予加班费;或者,考虑需要额外计算机处理能力的测试,这种额外计算机处理能力的获得需要额外的租赁费用)。可能还希望给PWRR因子确定一定值的上限。
在方法100的一个实施例中,还可能根据调整因子来产生一些或全部PWRR因子。例如,在某些情况下,不同的测试可能与不同的调整因子相关联,以反映某些测试的不同重要性,从而将重要测试移动到测试执行顺序中的较高位置上。
在为不同测试标识不同资源需求的情况下,PWRR调整因子也可能是非常有用的。在这种情况下,调整因子可被用于使不同资源需求相等。例如,耗费3秒执行的测试可以被看作等同于花费15美元的另一测试。为了简单,假设每种测试具有10%的通过可能性。第一测试具有PWRR因子0.3(3秒×10%通过率),而第二测试具有PWRR因子1.5(15美元×10%通过率)。由于这些经通过率加权的资源需求因子已经被确定为相等,因此以调整因子5乘以第一PWRR因子(或者以调整因子1/5乘以第二PWRR因子)的做法提供了使两种资源需求相等的手段。
图2示出了方法100的示例性用法,其用于确定(214)两种测试中的哪一种应该被选择在另一种之前执行。如图所示,测试1和测试2的通过概率被确定(202、208)。测试1和测试2的资源需求也被确定(204、210)。随后,计算出测试1和测试2的PWRR因子(206,212);并且将PWRR因子用于确定(214)测试1应该被选择(216)在测试2之前执行,还是测试2应该被选择(218)在测试1之前执行。
注意,如果两种测试具有相同的通过概率,那么将按照它们的资源需求对它们进行排序。同样,如果两种测试具有相同的资源需求,则将按照它们的通过概率对它们进行排序。
图3示出了示例性表300,其具有五种测试以及它们各自的资源需求、通过概率、PWRR因子以及所选择的执行顺序。这里,通过以通过概率乘以测试时间来导出PWRR因子。如图所示,根据由低到高的PWRR因子对将被执行的测试进行排序。
在一个实施例中,图1所示的方法或其任意变化可以被包含在存储于机器可读介质(例如,在单个位置上、在单个机器上,或者在网络中分布的一个或多个固定盘、诸如压缩盘(CD)或数字多功能盘(DVD)之类的可移动介质、随机访问存储器或只读存储器,或者它们的任意组合)上的指令序列中。当被诸如计算机***之类的机器所执行时,指令序列使机器执行方法100的动作。作为示例,执行指令序列的机器可以是片上***(SOC)测试器,例如Agilent 93000 SOC测试器(可从Agilent技术公司购买,该公司总部位于美国加州Palo Alto)。SOC测试通常需要执行大量电路测试,并且因此有效且高效地识别故障SOC可以节省大量时间和/或其他资源,而且还可以提高在SOC测试期间的产品产量。
Claims (19)
1.一种测试顺序优化方法,包括:
识别多种测试中的每种测试的通过概率;
识别所述测试中的每种测试的资源需求;
对于所述测试中的每种测试,根据所述测试的通过概率和资源需求来产生经通过率加权的资源需求因子;以及
根据所述测试的经通过率加权的资源需求因子,对将被执行的所述测试进行排序。
2.如权利要求1所述的方法,其中所述识别测试的通过概率的步骤包括:对于至少一种测试,在该测试被执行之前,估计该测试的通过概率。
3.如权利要求1所述的方法,其中所述识别测试的通过概率的步骤包括:对于至少一种测试,从该测试的在前执行中确定该测试的通过概率。
4.如权利要求1所述的方法,其中所述识别测试的资源需求的步骤包括:对于至少一种测试,识别执行该测试所需的时间需求。
5.如权利要求1所述的方法,其中所述产生测试的经通过率加权的资源需求因子的步骤包括:对于至少一种测试,将该测试的通过概率与资源需求相乘。
6.如权利要求1所述的方法,其中所述产生测试的经通过率加权的资源需求因子的步骤包括:对于至少一种测试,将该测试的通过概率与资源需求相加。
7.如权利要求1所述的方法,其中,对于至少一种测试,根据调整因子来进一步产生该测试的经通过率加权的资源需求因子。
8.如权利要求7所述的方法,其中测试的调整因子反映所述测试的重要性。
9.如权利要求1所述的方法,其中为不同的测试标识不同的资源需求,并且其中,对于至少一种测试,根据使其资源需求与不同资源需求相等的调整因子来进一步产生该测试的经通过率加权的资源需求因子。
10.如权利要求1所述的方法,其中所述产生测试的经通过率加权的资源需求因子的步骤包括:对于至少一种测试,根据非线性公式来产生其经通过率加权的资源需求因子。
11.如权利要求1所述的方法,其中所述对测试进行排序的步骤包括:将具有较低经通过率加权的资源需求因子的测试放置在具有较高经通过率加权的资源需求因子的测试之前执行。
12.如权利要求1所述的方法,还包括,周期性地执行以下步骤:
至少更新所述测试的通过概率;
重新产生所述测试的所述经通过率加权的资源需求因子;以及
根据它们重新产生的经通过率加权的资源需求因子,对将被执行的测试进行重新排序。
13.如权利要求1所述的方法,其中所述测试是电路测试。
14.一种存储有指令序列的机器可读介质,当所述指令序列被机器所执行时,使所述机器执行以下动作:
识别多种测试中的每种测试的通过概率;
识别所述测试中的每种测试的资源需求;
对于所述测试中的每种测试,根据所述测试的通过概率和资源需求来产生经通过率加权的资源需求因子;以及
根据所述测试的经通过率加权的资源需求因子,对将被执行的所述测试进行排序。
15.如权利要求14所述的机器可读介质,其中所述使机器执行识别测试的资源需求的动作的指令使所述机器执行以下动作:对于至少一种测试,识别执行该测试所需的时间需求。
16.如权利要求14所述的机器可读介质,其中所述使机器执行产生测试的经通过率加权的资源需求因子的动作的指令使所述机器执行以下动作:对于至少一种测试,将该测试的通过概率与资源需求相乘。
17.如权利要求14所述的机器可读介质,其中所述使机器执行产生测试的经通过率加权的资源需求因子的动作的指令使所述机器执行以下动作:对于至少一种测试,根据调整因子来进一步产生该测试的经通过率加权的资源需求因子。
18.如权利要求17所述的机器可读介质,其中测试的调整因子反映所述测试的重要性。
19.如权利要求14所述的机器可读介质,其中所述指令还使所述机器周期性地执行以下动作:
至少更新所述测试的通过概率;
重新产生所述测试的所述经通过率加权的资源需求因子;以及
根据它们重新产生的经通过率加权的资源需求因子,对将被执行的测试进行重新排序。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/036,574 | 2005-01-14 | ||
US11/036,574 US7050922B1 (en) | 2005-01-14 | 2005-01-14 | Method for optimizing test order, and machine-readable media storing sequences of instructions to perform same |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN1804808A true CN1804808A (zh) | 2006-07-19 |
Family
ID=36423937
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CNA200510087161XA Pending CN1804808A (zh) | 2005-01-14 | 2005-07-27 | 优化测试顺序的方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7050922B1 (zh) |
CN (1) | CN1804808A (zh) |
DE (1) | DE102005034165A1 (zh) |
TW (1) | TWI352288B (zh) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102707225A (zh) * | 2012-06-21 | 2012-10-03 | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 | 集成电路测试优化方法及其测试装置 |
CN102736963A (zh) * | 2011-04-06 | 2012-10-17 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 主板测试流程自动调整***及方法 |
CN102799516A (zh) * | 2011-05-21 | 2012-11-28 | 江南大学 | 一种大规模集成电路测试人力成本管理方法 |
WO2016172950A1 (en) * | 2015-04-30 | 2016-11-03 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Application testing |
CN108287771A (zh) * | 2017-12-27 | 2018-07-17 | 沈阳东软医疗***有限公司 | 一种数据校验方法、装置及设备 |
CN108627195A (zh) * | 2018-08-17 | 2018-10-09 | 深圳市金邦科技发展有限公司 | 一种对记忆体模组进行检测的智能检测方法及智能检测*** |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2477109B1 (en) | 2006-04-12 | 2016-07-13 | Soft Machines, Inc. | Apparatus and method for processing an instruction matrix specifying parallel and dependent operations |
EP2523101B1 (en) | 2006-11-14 | 2014-06-04 | Soft Machines, Inc. | Apparatus and method for processing complex instruction formats in a multi- threaded architecture supporting various context switch modes and virtualization schemes |
US20090037879A1 (en) * | 2007-07-31 | 2009-02-05 | Arun Kwangil Iyengar | Method and system for integrating model-based and search-based automatic software configuration |
US8175999B2 (en) * | 2007-12-17 | 2012-05-08 | Orbotech | Optimal test ordering in cascade architectures |
US7991580B2 (en) * | 2008-04-16 | 2011-08-02 | Honeywell International Inc. | Benchmarking diagnostic algorithms |
CN101295008B (zh) * | 2008-06-19 | 2010-06-23 | 电子科技大学 | 一种基于离散粒子群算法的多目标故障测试优化方法 |
US10228949B2 (en) | 2010-09-17 | 2019-03-12 | Intel Corporation | Single cycle multi-branch prediction including shadow cache for early far branch prediction |
US9009682B2 (en) * | 2010-12-13 | 2015-04-14 | Sap Se | Enhanced unit test framework |
EP2689330B1 (en) | 2011-03-25 | 2022-12-21 | Intel Corporation | Register file segments for supporting code block execution by using virtual cores instantiated by partitionable engines |
TWI533129B (zh) | 2011-03-25 | 2016-05-11 | 軟體機器公司 | 使用可分割引擎實體化的虛擬核心執行指令序列程式碼區塊 |
TWI520070B (zh) | 2011-03-25 | 2016-02-01 | 軟體機器公司 | 使用可分割引擎實體化的虛擬核心以支援程式碼區塊執行的記憶體片段 |
TWI548994B (zh) | 2011-05-20 | 2016-09-11 | 軟體機器公司 | 以複數個引擎支援指令序列的執行之互連結構 |
WO2012162188A2 (en) | 2011-05-20 | 2012-11-29 | Soft Machines, Inc. | Decentralized allocation of resources and interconnect structures to support the execution of instruction sequences by a plurality of engines |
CN104040490B (zh) | 2011-11-22 | 2017-12-15 | 英特尔公司 | 用于多引擎微处理器的加速的代码优化器 |
CN108427574B (zh) | 2011-11-22 | 2022-06-07 | 英特尔公司 | 微处理器加速的代码优化器 |
CN102866949B (zh) * | 2012-08-31 | 2015-04-15 | 中国人民解放军63928部队 | 一种基于假设检验的嵌入式基础软件可靠性评估方法 |
WO2014150806A1 (en) | 2013-03-15 | 2014-09-25 | Soft Machines, Inc. | A method for populating register view data structure by using register template snapshots |
US9811342B2 (en) | 2013-03-15 | 2017-11-07 | Intel Corporation | Method for performing dual dispatch of blocks and half blocks |
US9904625B2 (en) | 2013-03-15 | 2018-02-27 | Intel Corporation | Methods, systems and apparatus for predicting the way of a set associative cache |
US10275255B2 (en) | 2013-03-15 | 2019-04-30 | Intel Corporation | Method for dependency broadcasting through a source organized source view data structure |
WO2014150991A1 (en) | 2013-03-15 | 2014-09-25 | Soft Machines, Inc. | A method for implementing a reduced size register view data structure in a microprocessor |
US9632825B2 (en) | 2013-03-15 | 2017-04-25 | Intel Corporation | Method and apparatus for efficient scheduling for asymmetrical execution units |
US10140138B2 (en) | 2013-03-15 | 2018-11-27 | Intel Corporation | Methods, systems and apparatus for supporting wide and efficient front-end operation with guest-architecture emulation |
WO2014150971A1 (en) | 2013-03-15 | 2014-09-25 | Soft Machines, Inc. | A method for dependency broadcasting through a block organized source view data structure |
US9891924B2 (en) | 2013-03-15 | 2018-02-13 | Intel Corporation | Method for implementing a reduced size register view data structure in a microprocessor |
CN105247484B (zh) | 2013-03-15 | 2021-02-23 | 英特尔公司 | 利用本地分布式标志体系架构来仿真访客集中式标志体系架构的方法 |
US9886279B2 (en) | 2013-03-15 | 2018-02-06 | Intel Corporation | Method for populating and instruction view data structure by using register template snapshots |
CN105210040B (zh) | 2013-03-15 | 2019-04-02 | 英特尔公司 | 用于执行分组成块的多线程指令的方法 |
US9569216B2 (en) | 2013-03-15 | 2017-02-14 | Soft Machines, Inc. | Method for populating a source view data structure by using register template snapshots |
WO2020159539A1 (en) * | 2019-02-01 | 2020-08-06 | Dell Products L.P. | Smart selection of test scripts for commodity testing on manufacturing floor |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0794495A3 (en) * | 1996-03-08 | 1998-07-22 | Hewlett-Packard Company | Automated analysis of a model-based diagnostic system |
US6078189A (en) * | 1996-12-13 | 2000-06-20 | International Business Machines Corporation | Dynamic test reordering |
US6167352A (en) * | 1997-06-26 | 2000-12-26 | Agilent Technologies, Inc. | Model-based diagnostic system with automated procedures for next test selection |
TWI285341B (en) * | 2002-12-31 | 2007-08-11 | Powerchip Semiconductor Corp | Method for analyzing in-line QC parameters |
US7086023B2 (en) * | 2003-09-19 | 2006-08-01 | International Business Machines Corporation | System and method for probabilistic criticality prediction of digital circuits |
US20050210311A1 (en) * | 2004-03-08 | 2005-09-22 | Rodeheffer Thomas L | Method and system for probabilistic defect isolation |
US20050217349A1 (en) * | 2004-03-30 | 2005-10-06 | Chevron Oronite S.A. | System and method for simulating lubricating oil testing |
-
2005
- 2005-01-14 US US11/036,574 patent/US7050922B1/en active Active
- 2005-05-30 TW TW094117643A patent/TWI352288B/zh active
- 2005-07-21 DE DE102005034165A patent/DE102005034165A1/de not_active Ceased
- 2005-07-27 CN CNA200510087161XA patent/CN1804808A/zh active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102736963A (zh) * | 2011-04-06 | 2012-10-17 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 主板测试流程自动调整***及方法 |
CN102799516A (zh) * | 2011-05-21 | 2012-11-28 | 江南大学 | 一种大规模集成电路测试人力成本管理方法 |
CN102799516B (zh) * | 2011-05-21 | 2016-05-04 | 江南大学 | 一种大规模集成电路测试人力成本管理方法 |
CN102707225A (zh) * | 2012-06-21 | 2012-10-03 | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 | 集成电路测试优化方法及其测试装置 |
WO2016172950A1 (en) * | 2015-04-30 | 2016-11-03 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Application testing |
US10489282B2 (en) | 2015-04-30 | 2019-11-26 | Micro Focus Llc | Application testing |
CN108287771A (zh) * | 2017-12-27 | 2018-07-17 | 沈阳东软医疗***有限公司 | 一种数据校验方法、装置及设备 |
CN108627195A (zh) * | 2018-08-17 | 2018-10-09 | 深圳市金邦科技发展有限公司 | 一种对记忆体模组进行检测的智能检测方法及智能检测*** |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102005034165A1 (de) | 2006-07-27 |
TW200625078A (en) | 2006-07-16 |
TWI352288B (en) | 2011-11-11 |
US7050922B1 (en) | 2006-05-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN1804808A (zh) | 优化测试顺序的方法 | |
US7552361B2 (en) | Software testing optimization apparatus and method | |
CN100587507C (zh) | 测试制造后的集成电路器件的方法和*** | |
US7689876B2 (en) | Real-time optimized testing of semiconductor device | |
CN101593146B (zh) | 页面自动化测试方法和装置 | |
CN101147204A (zh) | 测试装置以及选择装置 | |
Rao et al. | Acceptance sampling plans from truncated life tests based on the log-logistic distributions for percentiles | |
US7930130B2 (en) | Method and system for reducing device test time | |
WO2006076114A2 (en) | Model-based pre-assembly testing of multi-component production devices | |
US6716652B1 (en) | Method and system for adaptive sampling testing of assemblies | |
CN101017496A (zh) | 基于最佳匹配测试结果类型自动格式化数据的方法和装置 | |
CN102736963A (zh) | 主板测试流程自动调整***及方法 | |
CN115936419A (zh) | 基于mes的生产监控方法、装置、设备及存储介质 | |
CN115686898A (zh) | 多级故障模式与影响分析方法、*** | |
CN104237680A (zh) | 电能质量监测数据检测方法、设备和*** | |
CN111382068B (zh) | 一种大批量数据的层次测试方法及装置 | |
Cha et al. | An information‐based burn‐in procedure for minimally repaired items from mixed population | |
CN115128370A (zh) | 多核并行测试单一待测物的***及方法 | |
US6510443B1 (en) | Processing semiconductor devices having some defective input-output pins | |
CN118071336B (zh) | 一种电缆生产设备的设备运行管理方法及*** | |
WO2023166584A1 (ja) | 半導体試験結果分析装置、半導体試験結果分析方法およびコンピュータプログラム | |
CN116467194A (zh) | 确定测试用例不稳定性的方法和装置 | |
CN115222229A (zh) | 一种物料管理方法及*** | |
CN117474282A (zh) | 一种板材下料订单管理方法、装置、电子设备及存储介质 | |
CN101206238A (zh) | 错误覆盖分析法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20080201 Address after: Singapore Singapore Applicant after: Inovys Corp. Address before: American California Applicant before: Anjelen Sci. & Tech. Inc. |
|
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |