CN108550338B - 一种Pad检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种Pad检测装置,属于检测技术领域,包括第一检测单元和第二检测单元,所述第一检测单元与第二检测单元连接,所述第一检测单元和第二检测单元的输入端均与外部的外接设备连接。第一检测单元和第二检测单元的输出端为待检测产品的检测端。本发明通过设置了第一信号生成模块、第二信号生成模块、第三信号生成模块和第四信号生成模块进行把外接设备输入的信号进行生成检测显示屏的信号,从检测端口出进行检测,从而实现最少的Pad功能模块,实现更多的快检功能,使得大大的缩小了检测装置所占用的空间,同时通过第一检测单元与第二检测单元进行组合选通额外一个快检功能,使得具有更多的快检功能。
Description
【技术领域】
本发明涉及检测技术领域,具体涉及一种Pad检测装置。
【背景技术】
随着TFT-LCD行业的不断发展,使用者对显示器的要求也越来越高。产品竞争力高的显示器必须具备品质优良、经济性、实用性等多方面优点。品质的优点包括对比度高、清晰度高、广视角等;经济性的优点包括功耗低,使用成本低,生产成本低等;实用性的优点包括柔性,尺寸适中,能显示多种信息格式。
随着人们生活品质的提高,对显示屏的尺寸要求也越来越高,小型轻便化是大众趋势,存在快检功能块,尺寸不可能评估得太极限。因为当显示屏尺寸走极限时,由于空间限制,快检功能Pad也会减少,同时无法设计完所有检测功能Pad,可能会造成某些产品缺陷漏检,从而流入下一道工序,造成人工物料的浪费。
【发明内容】
本发明旨在公开一种Pad检测装置,解决上述所提到的问题,用于在相同的空间内,实现具有更多的快检功能的Pad检测装置,使得显示屏尺寸可以更加小,更加符合社会的需求。
本发明采取的技术方案为:
一种Pad检测装置,包括第一检测单元和第二检测单元,所述第一检测单元与第二检测单元连接,所述第一检测单元和第二检测单元的输入端均与外部的外接设备连接,所述第一检测单元和第二检测单元的输出端为待检测产品的检测端,所述第一检测单元和第二检测单元均是用于接收外部的外接设备的输入信号生成检测信号检测待检测产品如显示屏的断路或者短路;所述第一检测单元与第二检测单元组合根据的外接设备的输入信号生成新的检测信号检测待检测产品如显示屏的断路或者短路。
进一步地,所述第一检测单元包括第一信号生成模块、第二信号生成模块、第三信号生成模块、第四信号检测端、第五信号检测端、第六信号检测端、第七信号检测端、第八信号检测端、第九信号检测端、第三信号输入端、第四信号输入端和第五信号输入端,所述第一信号生成模块分别与第四信号检测端、第六信号检测端和第九信号检测端连接,并且分别与第二信号生成模块和第三信号生成模块连接,同时第一信号生成模块分别与第三信号输入端和第四信号输入端连接,所述第二信号生成模块与第三信号生成模块连接,并且分别与第四信号检测端、第五信号检测端、第四信号输入端和第五信号输入端连接,所述第三信号生成模块分别与第五信号检测端、第六信号检测端、第三信号输入端和第五信号输入端连接,所述第四信号检测端与第四信号输入端连接,所述第六信号检测端与第三信号输入端连接,所述第五信号检测端与第五信号输入端连接。
进一步地,所述第一信号生成模块包括第三晶体管和第四晶体管,所述第三晶体管的源极与第九信号检测端连接,栅极分别与第四晶体管的漏极、第四信号检测端、第四信号输入端和第二信号生成模块连接,漏极与第四晶体管的源极连接,所述第四晶体管的栅极分别与第六信号检测端、第三信号输入端和第三信号生成模块连接。
进一步地,所述第二信号生成模块包括第七晶体管和第八晶体管,所述第七晶体管的源极与第七信号检测端连接,栅极分别与第四晶体管的漏极、第四信号检测端、第四信号输入端、第四晶体管的漏极和第三晶体管栅极连接,漏极与第八晶体管的源极连接,所述第八晶体管的栅极分别与第五信号检测端、第五信号输入端和第三信号生成模块连接。
进一步地,所述第三信号生成模块包括第五晶体管和第六晶体管,所述第五晶体管的源极与第八信号检测端连接,栅极分别与第五信号检测端、第五信号输入端、第六晶体管的漏极和第八晶体管栅极连接,漏极与第六晶体管的源极连接,所述第六晶体管的栅极分别与第六信号检测端、第三信号输入端和第四晶体管栅极连接。
进一步地,所述第二检测单元包括第四信号生成模块、第一信号检测端、第二信号检测端、第三信号检测端、第一信号输入端和第二信号输入端,所述第四信号生成模块分别与第一信号检测端、第二信号检测端、第三信号检测端、第一信号输入端和第二信号输入端连接,所述第一信号检测端与第一信号输入端连接,所述第三信号检测端与第二信号输入端连接。
进一步地,所述第四信号生成模块包括第一晶体管和第二晶体管,所述第一晶体管的源极与第二信号检测端连接,栅极分别与第一信号检测端、第一信号输入端和第二晶体管的漏极连接,漏极与第二晶体管源极连接,所述第二晶体管的栅极分别与第三信号检测端和第二信号输入端连接,漏极分别与第一信号检测端、第一信号输入端和第一晶体管的栅极连接。
采用本发明技术方案具有以下优势:
本发明通过设置了第一信号生成模块、第二信号生成模块、第三信号生成模块和第四信号生成模块进行把外接设备输入的信号进行生成检测显示屏的信号,从检测端口进行检测,从而实现最少的Pad功能模块,实现更多的快检功能,使得大大的缩小了检测装置所占用的空间,同时通过第一检测单元与第二检测单元进行组合选通额外一个快检功能,使得具有更多的快检功能。
【附图说明】
图1是本发明实施例的一种Pad检测装置模块框图;
图2是本发明一种Pad检测装置的第一检测单元原理图;
图3是本发明一种Pad检测装置的第二检测单元原理图。
主要元件符号说明
第一检测单元a | 第二检测单元b | |
第一信号生成模块a-1 | 第二信号生成模块a-2 | 第三信号生成模块a-3 |
第四信号生成模块b-1 | ||
第一信号检测端10 | 第二信号检测端11 | 第三信号检测端12 |
第四信号检测端13 | 第五信号检测端14 | 第六信号检测端15 |
第七信号检测端16 | 第八信号检测端17 | 第九信号检测端18 |
第一晶体管21 | 第二晶体管22 | 第三晶体管23 |
第四晶体管24 | 第五晶体管25 | 第六晶体管26 |
第七晶体管27 | 第八晶体管28 | |
第一信号输入端31 | 第二信号输入端32 | 第三信号输入端33 |
第四信号输入端34 | 第五信号输入端35 |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
【具体实施方式】
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
需要说明的是,在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的,而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解,本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“包括”和“具有”以及它们任何变形,意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、***、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元,而是可选地还包括没有列出的步骤或单元,或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。
需要说明的是,下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本发明,而不能解释为对本发明的限制。
下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开,下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然,它们仅仅为示例,并且目的不在于限制本发明。此外,本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的,其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。
请参阅图1,是本发明实施例提供的一种Pad检测装置的模块框图,如图 1所示,包括第一检测单元a和第二检测单元b,所述第一检测单元a与第二检测单元b连接,第一检测单元a与第二检测单元b连接主要是用于相互组合进行选通额外一个快检功能,使得具有更多的快检功能。所述第一检测单元a和第二检测单元b的输入端均与外部的外接设备连接,外接设备是快检架,快检架给的信号为电压信号或者其他电流等信号。所述第一检测单元a和第二检测单元b的输出端为待检测产品的检测端,输出端输出的信号在显示屏上形成某种显示,从而使得检测显示屏是否出现短路或者断路,出现短路或者短路时,显示屏显示的与输出端形成的信号不同,从而实现检测。所述第一检测单元a和第二检测单元b均是用于接收外部的外接设备的输入信号生成检测信号检测待检测产品如显示屏的断路或者短路,通过把外部设备的信号(电压信号)进行根据第一检测单元a和第二检测单元b内部的电路设计进行生成信号从输出端输出到显示屏上。所述第一检测单元a和第二检测单元b组合根据的外接设备的输入信号生成新的检测信号检测待检测产品如显示屏的断路或者短路,通过两个单元的组合,从而实现最少的Pad功能模块,实现更多的快检功能。
请参阅图2,为本发明实施例中提供的一种Pad检测装置的第一检测单元的原理图。
所述第一检测单元a包括第一信号生成模块a-1、第二信号生成模块a-2、第三信号生成模块a-3、第四信号检测端13、第五信号检测端14、第六信号检测端15、第七信号检测端16、第八信号检测端17、第九信号检测端18、第三信号输入端33、第四信号输入端34和第五信号输入端35。所述第一信号生成模块a-1分别与第四信号检测端13、第六信号检测端15和第九信号检测端18连接,并且分别与第二信号生成模块a-2和第三信号生成模块a-3连接.同时第一信号生成模块a-1分别与第三信号输入端33和第四信号输入端34连接。所述第二信号生成模块a-2与第三信号生成模块a-3连接,并且分别与第四信号检测端13、第五信号检测端14、第四信号输入端34和第五信号输入端35连接.所述第三信号生成模块a-3分别与第五信号检测端14、第六信号检测端15、第三信号输入端33和第五信号输入端35连接。所述第四信号检测端13与第四信号输入端34连接。所述第六信号检测端15与第三信号输入端33连接,所述第五信号检测端14与第五信号输入端35连接。第一检测单元a通过设置了3个信号输入端,和6个信号输出端,其中三个信号输出端每个分别与一个信号输入端连接,从而可以实现直接信号的输出,然后另外三个的每一个均是通过信号生成模块后进行输出,从而输出的是进行处理过后的信号,从而使得实现最少的Pad功能模块,实现更多的快检功能。
所述第一信号生成模块a-1包括第三晶体管23和第四晶体管24,所述第三晶体管23的源极与第九信号检测端18连接,栅极分别与第四晶体管24的漏极、第四信号检测端13、第四信号输入端34和第二信号生成模块a-2连接,漏极与第四晶体管24的源极连接。所述第四晶体管24的栅极分别与第六信号检测端15、第三信号输入端33和第三信号生成模块a-3连接。通过第三晶体管23和第四晶体管24对信号进行处理,从而使得处理生成的信号从第九信号检测端18输出到显示屏上,使得实现更多的快检功能。
所述第二信号生成模块a-2包括第七晶体管27和第八晶体管28,所述第七晶体管27的源极与第七信号检测端16连接,栅极分别与第四晶体管24的漏极、第四信号检测端14、第四信号输入端34、第四晶体管24的漏极和第三晶体管23栅极连接,漏极与第八晶体管28的源极连接.所述第八晶体管28的栅极分别与第五信号检测端14、第五信号输入端35和第三信号生成模块a-3连接。通过第七晶体管27和第八晶体管28对信号进行处理,从而使得处理生成的信号从第七信号检测端16输出到显示屏上,使得实现更多的快检功能。
所述第三信号生成模a-3块包括第五晶体管25和第六晶体管26,所述第五晶体管25的源极与第八信号检测端17连接,栅极分别与第五信号检测端14、第五信号输入端35、第六晶体管26的漏极和第八晶体管28栅极连接,漏极与第六晶体管26的源极连接,所述第六晶体管26的栅极分别与第六信号检测端15、第三信号输入端33和第四晶体管栅极24连接。通过第五晶体管25和第六晶体管26对信号进行处理,从而使得处理生成的信号从第八信号检测端17输出到显示屏上,使得实现更多的快检功能。
请参阅图3,为本发明实施例中提供的一种Pad检测装置的第二检测单元的原理图。
所述第二检测单元b包括第四信号生成模块b-1、第一信号检测端10、第二信号检测端11、第三信号检测端12、第一信号输入端31和第二信号输入端32。所述第四信号生成模块b-1分别与第一信号检测端10、第二信号检测端11、第三信号检测端12、第一信号输入端31和第二信号输入端32连接,所述第一信号检测端10与第一信号输入端31连接,所述第三信号检测端12与第二信号输入端32连接。第二检测单元b通过设置了2个信号输入端,和3个信号输出端,其中2个信号输出端每个分别与一个信号输入端连接,从而可以实现直接信号的输出,然后另外一个的是通过信号生成模块后进行输出,从而输出的是进行处理过后的信号,从而使得实现最少的Pad功能模块,实现更多的快检功能。
所述第四信号生成模块b-1包括第一晶体管21和第二晶体管22,所述第一晶体管21的源极与第二信号检测端11连接,栅极分别与第一信号检测端10、第一信号输入端31和第二晶体管22的漏极连接,漏极与第二晶体管22源极连接。所述第二晶体管22的栅极分别与第三信号检测端12和第二信号输入端32连接,漏极分别与第一信号检测端10、第一信号输入端31和第一晶体管21的栅极连接。通过第一晶体管21和第二晶体管22对信号进行处理,从而使得处理生成的信号从第二信号检测端11输出到显示屏上,使得实现更多的快检功能。
本发明一种少Pad设计原理,当显示屏的空间比较极限时,无法设计完所有检测功能Pad,可能会造成某些产品缺陷漏检,从而流入下一道工序,造成人工物料的浪费。而本专利设计原理可用相同的Pad实现更多的检测功能,降低产品缺陷概率。相同空间下,增加快检功能。
随着人们生活品质的提高,对显示屏的尺寸要求也越来越高,小型轻便化是大众趋势,存在快检功能块,尺寸不可能评估得太极限。因为当显示屏尺寸走极限时,由于空间限制,快检功能Pad也会减少,本专利可在相同的空间内,实现更多的快检功能。
快检原理简介:快检可以提前筛选出不良屏,避免不良品流入下一工序而造成人力物力的浪费。信号输入端是外接设备(如快检架)与Panel的连接端口,由外接设备给信号(一般是电压),通过信号输入端,通过Panel内部电路连接设计,将信号输送到信号输出端,而形成显示屏的某种显示。假如:信号输出端连接所有红色像素,给信号输入端输送信号,正常显示是一个像素内有且只有一个子像素显示红色,若有两个或者一个没有,则能检测出相邻线路短路或者断路了,即可挑选出不良品。普通的快检设计是一个信号输入端只能对应输出一个信号输出,且信号输入要占用一大部分空间,普通设计会限制窄边化产品设计。本专利可以通过电路设计,使得两个信号输入达到三个信号输出,两个达到六个输出。
Pad是类似一个导电端口,是检测设备检测产品的端口,该端口可同产品一起制造出来,设置在产品上,Pad块做在产品上,可与外接电性连接,因需与外界相连,因此需要设置一定的大小,不然接外界的设备比较难接准。当产品检测完成后,Pad块一般是被切割掉,也可以不切割掉。
本发明具备如下有益效果:
本发明通过设置了第一信号生成模块、第二信号生成模块、第三信号生成模块和第四信号生成模块进行把外接设备输入的信号进行生成检测显示屏的信号,从检测端口进行检测,从而实现最少的Pad功能模块,实现更多的快检功能,使得大大的缩小了检测装置所占用的空间,同时通过第一检测单元与第二检测单元进行组合选通额外一个快检功能,使得具有更多的快检功能。
Claims (6)
1.一种Pad检测装置,其特征在于:包括第一检测单元和第二检测单元,所述第一检测单元与第二检测单元连接,所述第一检测单元和第二检测单元的输入端均与外部的外接设备连接,所述第一检测单元和第二检测单元的输出端为待检测产品的检测端,所述第一检测单元和第二检测单元均是用于接收外部的外接设备的输入信号生成检测信号检测待检测产品的断路或者短路;所述第一检测单元与第二检测单元组合根据的外接设备的输入信号生成新的检测信号检测待检测产品的断路或者短路,所述待检测产品包括显示屏;其中,所述第一检测单元包括第一信号生成模块、第二信号生成模块、第三信号生成模块、第四信号检测端、第五信号检测端、第六信号检测端、第七信号检测端、第八信号检测端、第九信号检测端、第三信号输入端、第四信号输入端和第五信号输入端,所述第一信号生成模块分别与第四信号检测端、第六信号检测端和第九信号检测端连接,并且分别与第二信号生成模块和第三信号生成模块连接,同时第一信号生成模块分别与第三信号输入端和第四信号输入端连接,所述第二信号生成模块与第三信号生成模块连接,并且分别与第四信号检测端、第五信号检测端、第四信号输入端和第五信号输入端连接,所述第三信号生成模块分别与第五信号检测端、第六信号检测端、第三信号输入端和第五信号输入端连接,所述第四信号检测端与第四信号输入端连接,所述第六信号检测端与第三信号输入端连接,所述第五信号检测端与第五信号输入端连接。
2.根据权利要求1所述的一种Pad检测装置,其特征在于:所述第一信号生成模块包括第三晶体管和第四晶体管,所述第三晶体管的源极与第九信号检测端连接,栅极分别与第四晶体管的漏极、第四信号检测端、第四信号输入端和第二信号生成模块连接,漏极与第四晶体管的源极连接,所述第四晶体管的栅极分别与第六信号检测端、第三信号输入端和第三信号生成模块连接。
3.根据权利要求2所述的一种Pad检测装置,其特征在于:所述第二信号生成模块包括第七晶体管和第八晶体管,所述第七晶体管的源极与第七信号检测端连接,栅极分别与第四晶体管的漏极、第四信号检测端、第四信号输入端、第四晶体管的漏极和第三晶体管栅极连接,漏极与第八晶体管的源极连接,所述第八晶体管的栅极分别与第五信号检测端、第五信号输入端和第三信号生成模块连接。
4.根据权利要求3所述的一种Pad检测装置,其特征在于:所述第三信号生成模块包括第五晶体管和第六晶体管,所述第五晶体管的源极与第八信号检测端连接,栅极分别与第五信号检测端、第五信号输入端、第六晶体管的漏极和第八晶体管栅极连接,漏极与第六晶体管的源极连接,所述第六晶体管的栅极分别与第六信号检测端、第三信号输入端和第四晶体管栅极连接。
5.根据权利要求1所述的一种Pad检测装置,其特征在于:所述第二检测单元包括第四信号生成模块、第一信号检测端、第二信号检测端、第三信号检测端、第一信号输入端和第二信号输入端,所述第四信号生成模块分别与第一信号检测端、第二信号检测端、第三信号检测端、第一信号输入端和第二信号输入端连接,所述第一信号检测端与第一信号输入端连接,所述第三信号检测端与第二信号输入端连接。
6.根据权利要求5所述的一种Pad检测装置,其特征在于:所述第四信号生成模块包括第一晶体管和第二晶体管,所述第一晶体管的源极与第二信号检测端连接,栅极分别与第一信号检测端、第一信号输入端和第二晶体管的漏极连接,漏极与第二晶体管源极连接,所述第二晶体管的栅极分别与第三信号检测端和第二信号输入端连接,漏极分别与第一信号检测端、第一信号输入端和第一晶体管的栅极连接。
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