CN108448005B - 显示设备及显示设备阻水效果的测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公布了一种显示设备，包括依次层叠设置的发光基层、传输层、金属层和封装层；所述传输层包括导电引线和测试引脚；所述金属层包括多个阵列排布的金属块，每个所述金属块通过所述导电引线电连接至所述测试引脚；以及，所述封装层用于阻隔外界的水汽接触金属层，通过测试所述测试引脚电连接的所述金属块的电阻，确定所述封装层正对所述金属块的区域阻隔水汽的效果。通过金属块的电阻变化可以确定封装层与该金属块对应区域对水汽的阻隔效果，准确的确定封装层阻水效果不佳的区域，有利于发现显示设备制作过程中的不良，且可以用于评定封装工艺是否合格，提高良品率，有利于降低生产成本。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其是涉及一种显示设备及显示设备阻水效果的测试方法。
背景技术
随着科技发展，柔性显示设备展现出越来越广泛的应用前景。柔性显示设备的可绕折性可以实现产品的多样化，达到出色的显示效果和外观效果。柔性显示设备一般采用有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)显示屏实现。
由于OLED器件寿命很容易受到水汽影响，柔性显示设备普遍使用薄膜状的封装层以阻隔水汽进入OLED的发光层。封装层的封装效果会影响封装层的阻水效果，从而影响柔性显示设备防止水汽侵蚀的能力，对柔性显示设备的寿命影响巨大。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种显示设备及显示设备阻水效果的测试方法，用以解决现有技术中无法检测显示设备封装层不良的问题。
为解决上述技术问题，本发明提供一种显示设备，包括依次层叠设置的发光基层、传输层、金属层和封装层；
所述传输层包括导电引线和测试引脚；
所述金属层包括多个阵列排布的金属块，每个所述金属块通过所述导电引线电连接至所述测试引脚；以及
所述封装层用于阻隔外界的水汽接触金属层，通过测试所述测试引脚电连接的所述金属块的电阻，确定所述封装层正对所述金属块的区域阻隔水汽的效果。
一种实施方式中，每个所述金属块电连接至四个所述测试引脚，每个所述测试引脚通过一个所述导电引线电连接至所述金属块，两个所述测试引脚用于电连接电流源，两个所述测试引脚用于电连接电压表。
一种实施方式中，所述导电引线与所述金属块的连接处形成连接点，四个所述连接点相互之间的距离相同。
一种实施方式中，所述测试引脚在所述发光基层的垂直投影位于所述发光基层的边缘。
一种实施方式中，所述发光基层包括基板和发光层，所述发光层位于所述传输层与所述基板之间，所述发光层用于发光以显示图像。
一种实施方式中，所述显示设备还包括绝缘层，所述绝缘层位于所述传输层与所述发光层之间，所述绝缘层用于隔离所述传输层与所述发光层。
一种实施方式中，所述封装层包括互连为一体的第一部分与第二部分，所述第一部分层叠设置于所述金属层上，所述第二部分填充于所述金属块之间，所述第二部分用于隔离相邻的所述金属块。
一种实施方式中，所述金属层的材质为钙或镁中的一种。
本发明还提供一种显示设备阻水效果的测试方法，包括：
提供显示设备，所述显示设备包括发光基层、传输层、金属层及封装层，所述传输层设置于所述发光基层上，所述传输层包括导电引线和测试引脚，所述金属层层叠设置于所述传输层上，所述金属层包括多个阵列排布的金属块，每个所述金属块通过所述导电引线电连接至所述测试引脚，所述封装层覆盖于所述金属层上，
将所述显示设备放置于测试环境中；
测试所述测试引脚电连接的所述金属块的电阻，确定所述封装层正对所述金属块的区域阻隔水汽的效果。
一种实施方式中，每个所述金属块电连接至四个所述测试引脚，每个所述测试引脚通过一个所述导电引线电连接至所述金属块，所述“测试所述测试引脚电连接的所述金属块的电阻”包括：
将电流源电连接两个所述测试引脚，将电压表电连接另外两个所述测试引脚，通过所述金属块的电压变化确定所述金属块的电阻变化。
本发明的有益效果如下：水汽透过封装层后会与金属块发生氧化还原反应，从而金属块的电阻发生变化，金属块阵列排布，每个金属块对应封装层的一个区域，电阻表接触测试引脚可以监测与该测试引脚相连的金属块的电阻变化，通过金属块的电阻变化可以确定封装层与该金属块对应区域对水汽的阻隔效果，准确的确定封装层阻水效果不佳的区域，有利于发现显示设备制作过程中的不良，且可以用于评定封装工艺是否合格，提高良品率，有利于降低生产成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的明显变形方式。
图1为本发明实施例提供的显示设备的截面结构示意图。
图2为本发明实施例提供的显示设备的部分结构俯视图。
图3为本发明实施例提供的显示设备的一种实施方式的部分结构俯视图。
图4为测试显示设备的阻水效果的示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请一并参阅图1和图2，本发明实施例提供的显示设备100用于显示图像，一种实施方式中，本发明实施例提供的显示设备100为柔性显示设备，进一步的，该显示设备100为OLED显示屏，OLED显示屏显示效果优异，且可用于形成弯曲的显示屏。本实施例中，柔性显示设备包括但不限于手机、显示器、笔记本电脑、平板电脑、智能手表等。进一步的，显示设备100可以仅用于显示，也可以集成触控面板形成具有触控功能的显示设备100。
具体到图1，本发明实施例提供的显示设备100包括依次层叠设置的发光基层10、传输层20、金属层30及封装层40。进一步的，发光基层10为显示设备100用于显示图像的结构，具体的，发光基层10包括基板12和发光层14，发光层14位于基板12上，基板12具有一定的强度，不易断裂，基板12为显示设备100的主要承载结构，发光层14、传输层20、金属层30及封装层40等均设置于基板12上。一种实施方式中，基板12为柔性基板12，换言之，基板12可以弯曲，以适用于柔性显示设备。进一步的，基板12可以为透明基板12，例如玻璃基板12或塑料基板12等。本实施例中，发光层14位于基板12上，一种实施方式中，发光层14通过物理气相沉积或化学气相沉积等方式形成于基板12上。发光层14用于发光并形成图像，具体的，发光层14包括发光材料层和驱动电路层，驱动电路层电连接至电源，驱动电路层驱动对应的发光材料层的像素发光，从而形成需要显示的图像。本实施例中，发光材料层为有机发光材料制成，发光材料层具有较佳的显示效果的同时，还具有较好的弯折特性。进一步的，驱动电路层也可以弯折，从而适应柔性显示设备的弯折要求。
结合图1和图2，本实施例中，传输层20设置于发光基层10上，具体的，传输层20位于发光层14背离基板12的一侧，也即发光层14位于传输层20与基板12之间。一种实施方式中，传输层20为透明导电材料制成，例如氧化铟锡(ITO)等。具体到图2，传输层20包括导电引线24和测试引脚22，一种实施方式中，导电引线24和测试引脚22为传输层20经过图案化后形成，例如激光蚀刻、化学蚀刻等方式。本实施例中，测试引脚22为矩形或圆形的片状结构，可以用于接触电阻表50的探测针。
请继续参阅图1，本实施例中，金属层30层叠设置于传输层20上，金属层30为容易与水发生氧化还原反应的活泼金属材料制成，例如镁、钙等。结合图2，金属层30包括多个金属块32，具体的，金属块32阵列排布，且每个金属块32的体积相同，一种实施方式中，金属块32为矩形，阵列排布的金属块32布满传输层20。本实施例中，每个金属块32通过导电引线24电连接至测试引脚22，具体的，每个测试引脚22通过一个导电引线24电连接至金属块32。
请继续参阅图1，本实施例中，封装层40覆盖于金属层30上，封装层40用于阻隔水汽，通过测试测试引脚22电连接的金属块32的电阻，确定封装层40正对金属块32的区域阻隔水汽的效果。具体的，封装层40为具有一定的阻隔水汽能力的膜层结构，封装层40覆盖于金属层30上，将金属层30与外界隔开，外界的水汽只有穿过封装层40才能接触到金属层30。当封装层40的封装效果不佳，或封装层40的材料、厚度不符合要求时，封装层40阻隔水汽的效果不佳，水汽进入显示设备100内部接触金属层30并与金属块32反应，金属块32的电阻变化，进一步的，封装层40的某一区域封装效果不佳时，对应该区域的金属块32与水汽发生反应。本实施例中，通过采用电阻表50接触测试引脚22从而测试与该测试引脚22相连的金属块32的电阻，进一步的，电阻表50可以提供电流源和电压测试模式，金属块32连接电阻表50也可以理解为金属块32连接电流源和电压表。
水汽透过封装层40后会与金属块32发生氧化还原反应，从而金属块32的电阻发生变化，金属块32阵列排布，每个金属块32对应封装层40的一个区域，电阻表50接触测试引脚22可以监测与该测试引脚22相连的金属块32的电阻变化，通过金属块32的电阻变化可以确定封装层40与该金属块32对应区域对水汽的阻隔效果，准确的确定封装层40阻水效果不佳的区域，有利于发现显示设备100制作过程中的不良，且可以用于评定封装工艺是否合格，提高良品率，有利于降低生产成本。
请参阅图2，本实施例中，每个金属块32电连接至四个测试引脚22，每个测试引脚22通过一个导电引线24电连接至金属块32，两个测试引脚22用于电连接电流源，两个测试引脚22用于电连接电压表。具体的，测试金属块32的电阻时，两个测试引脚22接入电流源，电流流过金属块32，两个测试引脚22连接电压表，即电压表与金属块32并联，电压表测量电流流过金属块32时金属块32的电压，从而根据欧姆定律计算得到金属块32的电阻。一种实施方式中，在监测金属块32电阻变化的时间段内，接入金属块32的电流源的电流值恒定，从而从金属块32的电压变化可以反映金属块32的电阻变化，也即可以反映封装层40阻隔水汽的效果。
请继续参阅图2，本实施例中，导电引线24与金属块32的连接处形成连接点，四个连接点相互之间的距离相同。一种实施方式中，金属块32为正方形，四个导电引线24与金属块32的连接点分别位于金属块32的四个顶角，从而使四个连接点之间的距离相等。本实施例中，四个连接点之间的距离相等，可以使电流源输入到金属块32的电流均匀的流过金属块32，从而使电压表测得的金属块32的电压更准确。进一步的，电压表测量的测量位置有利于提高电压表的测量准确性。
请继续参阅图2，本实施例中，测试引脚22在发光基层10的垂直投影位于发光基层10的边缘。具体的，测试引脚22沿显示设备100的边缘排布，方便电阻表50的探针接触测试引脚22，换言之，电阻表50的探针从显示设备100的边缘就可以接触测试探针而测试金属块32的电阻，无需破坏封装层40。
本实施例中，如图3所示，金属块32的数量为多个，并且金属块32阵列排布，测试引脚22的数量也为多个，每个金属块32对应四个测试引脚22，导电引线24交错排列，以将金属块32电连接至对应的测试引脚22。
请参阅图1，本实施例中，发光基层10包括基板12和发光层14，发光层14位于传输层20与基板12之间，发光层14用于发光以显示图像。一种实施方式中，基板12为柔性基板12，换言之，基板12可以弯曲，以适用于柔性显示设备。进一步的，基板12可以为透明基板12，例如玻璃基板12或塑料基板12等。本实施例中，发光层14位于基板12上，一种实施方式中，发光层14通过物理气相沉积或化学气相沉积等方式形成于基板12上。发光层14用于发光并形成图像，具体的，发光层14包括发光材料层和驱动电路层，驱动电路层电连接至电源，驱动电路层驱动对应的发光材料层的像素发光，从而形成需要显示的图像。本实施例中，发光材料层为有机发光材料制成，发光材料层具有较佳的显示效果的同时，还具有较好的弯折特性。进一步的，驱动电路层也可以弯折，从而适应柔性显示设备的弯折要求。
请继续参阅图1，本实施例中，显示设备100还包括绝缘层，绝缘层位于传输层20与发光层14之间，绝缘层用于隔离传输层20与发光层14。具体的，绝缘层用于将传输层20与发光层14隔开，一方面绝缘层电性隔离传输层20与发光层14，避免传输层20与发光层14内的驱动电路层短接而影响发光层14发光，另一方面物理隔绝传输层20与发光层14，避免发生氧化还原反应的金属块32与发光材料层发生反应而影响发光层14发光。
请继续参阅图1，本实施例中，封装层40包括互连为一体的第一部分42与第二部分44，第一部分42层叠设置于金属层30上，第二部分44填充于金属块32之间，第二部分44用于隔离相邻的金属块32。具体的，第一部分42将金属层30与外界隔开，以阻隔水汽，第二部分44不仅辅助隔绝水汽，还用于隔离金属块32，防止相邻的金属块32相互影响，例如防止水汽穿过封装层40的某区域后与该区域对应的金属块32反应，并且水汽流动到相邻的金属块32上，或者发生反应的金属块32与未发生反应的金属块32一通发生反应。第二部分44隔离相邻的金属块32，从而提高判断封装层40不良位置的精确性。
水汽透过封装层40后会与金属块32发生氧化还原反应，从而金属块32的电阻发生变化，金属块32阵列排布，每个金属块32对应封装层40的一个区域，电阻表50接触测试引脚22可以监测与该测试引脚22相连的金属块32的电阻变化，通过金属块32的电阻变化可以确定封装层40与该金属块32对应区域对水汽的阻隔效果，准确的确定封装层40阻水效果不佳的区域，有利于发现显示设备100制作过程中的不良，且可以用于评定封装工艺是否合格，提高良品率，有利于降低生产成本。
请参阅图4，本发明实施例还提供一种显示设备100阻水效果的测试方法，显示设备100包括依次层叠设置的发光基层10、传输层20、金属层30及封装层40。进一步的，发光基层10为显示设备100用于显示图像的结构，具体的，发光基层10包括基板12和发光层14，发光层14位于基板12上，基板12具有一定的强度，不易断裂，基板12为显示设备100的主要承载结构，发光层14、传输层20、金属层30及封装层40等均设置于基板12上。一种实施方式中，基板12为柔性基板12，换言之，基板12可以弯曲，以适用于柔性显示设备。进一步的，基板12可以为透明基板12，例如玻璃基板12或塑料基板12等。本实施例中，发光层14位于基板12上，一种实施方式中，发光层14通过物理气相沉积或化学气相沉积等方式形成于基板12上。发光层14用于发光并形成图像，具体的，发光层14包括发光材料层和驱动电路层，驱动电路层电连接至电源，驱动电路层驱动对应的发光材料层的像素发光，从而形成需要显示的图像。本实施例中，发光材料层为有机发光材料制成，发光材料层具有较佳的显示效果的同时，还具有较好的弯折特性。进一步的，驱动电路层也可以弯折，从而适应柔性显示设备的弯折要求。
结合图1和图2，本实施例中，传输层20设置于发光基层10上，具体的，传输层20位于发光层14背离基板12的一侧，也即发光层14位于传输层20与基板12之间。一种实施方式中，传输层20为透明导电材料制成，例如氧化铟锡(ITO)等。具体到图2，传输层20包括导电引线24和测试引脚22，一种实施方式中，导电引线24和测试引脚22为传输层20经过图案化后形成，例如激光蚀刻、化学蚀刻等方式。本实施例中，测试引脚22为矩形或圆形的片状结构，可以用于接触电阻表50的探测针。
请继续参阅图1，本实施例中，金属层30层叠设置于传输层20上，金属层30为容易与水发生氧化还原反应的活泼金属材料制成，例如镁、钙等。结合图2，金属层30包括多个金属块32，具体的，金属块32阵列排布，且每个金属块32的体积相同，一种实施方式中，金属块32为矩形，阵列排布的金属块32布满传输层20。本实施例中，每个金属块32通过导电引线24电连接至测试引脚22，具体的，每个测试引脚22通过一个导电引线24电连接至金属块32。
请继续参阅图1，本实施例中，封装层40覆盖于金属层30上，封装层40用于阻隔水汽，通过测试测试引脚22电连接的金属块32的电阻，确定封装层40正对金属块32的区域阻隔水汽的效果。具体的，封装层40为具有一定的阻隔水汽能力的膜层结构，封装层40覆盖于金属层30上，将金属层30与外界隔开，外界的水汽只有穿过封装层40才能接触到金属层30。当封装层40的封装效果不佳，或封装层40的材料、厚度不符合要求时，封装层40阻隔水汽的效果不佳，水汽进入显示设备100内部接触金属层30并与金属块32反应，金属块32的电阻变化，进一步的，封装层40的某一区域封装效果不佳时，对应该区域的金属块32与水汽发生反应。本实施例中，通过采用电阻表50接触测试引脚22从而测试与该测试引脚22相连的金属块32的电阻，进一步的，电阻表50可以提供电流源和电压测试模式，金属块32连接电阻表50也可以理解为金属块32连接电流源和电压表。
本实施例中，测试显示设备100阻水效果之前，将显示设备100放置于测试环境中。测试环境为具有一定的温度、湿度的环境，以模拟显示设备100的实际使用环境。
测试过程中，测试测试引脚22电连接的金属块32的电阻，确定封装层40正对金属块32的区域阻隔水汽的效果。
水汽透过封装层40后会与金属块32发生氧化还原反应，从而金属块32的电阻发生变化，金属块32阵列排布，每个金属块32对应封装层40的一个区域，电阻表50接触测试引脚22可以监测与该测试引脚22相连的金属块32的电阻变化，通过金属块32的电阻变化可以确定封装层40与该金属块32对应区域对水汽的阻隔效果，准确的确定封装层40阻水效果不佳的区域，有利于发现显示设备100制作过程中的不良，且可以用于评定封装工艺是否合格，提高良品率，有利于降低生产成本。
请结合图3和图4，本实施例中，每个金属块32电连接至四个测试引脚22，每个测试引脚22通过一个导电引线24电连接至金属块32，“测试测试引脚22电连接的金属块32的电阻”包括：将电流源电连接两个测试引脚22，将电压表电连接另外两个测试引脚22，通过金属块32的电压变化确定金属块32的电阻变化。具体的，测试金属块32的电阻时，两个测试引脚22接入电流源，电流流过金属块32，两个测试引脚22连接电压表，即电压表与金属块32并联，电压表测量电流流过金属块32时金属块32的电压，从而根据欧姆定律计算得到金属块32的电阻。一种实施方式中，在监测金属块32电阻变化的时间段内，接入金属块32的电流源的电流值恒定，从而从金属块32的电压变化可以反映金属块32的电阻变化，也即可以反映封装层40阻隔水汽的效果。
水汽透过封装层40后会与金属块32发生氧化还原反应，从而金属块32的电阻发生变化，金属块32阵列排布，每个金属块32对应封装层40的一个区域，电阻表50接触测试引脚22可以监测与该测试引脚22相连的金属块32的电阻变化，通过金属块32的电阻变化可以确定封装层40与该金属块32对应区域对水汽的阻隔效果，准确的确定封装层40阻水效果不佳的区域，有利于发现显示设备100制作过程中的不良，且可以用于评定封装工艺是否合格，提高良品率，有利于降低生产成本。
以上所揭露的仅为本发明几种较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分流程，并依本发明权利要求所作的等同变化，仍属于发明所涵盖的范围。
Claims (6)
1.一种显示设备，其特征在于，包括依次层叠设置的发光基层、传输层、金属层和封装层；
所述发光基层包括基板和发光层，所述发光层位于所述传输层与所述基板之间，所述发光层用于发光以显示图像，所述显示设备还包括绝缘层，所述绝缘层位于所述传输层与所述发光层之间，所述绝缘层用于隔离所述传输层与所述发光层；
所述传输层包括导电引线和测试引脚；
所述金属层包括多个阵列排布的金属块，每个所述金属块电连接至四个所述测试引脚，每个所述测试引脚通过一个所述导电引线电连接至所述金属块，两个所述测试引脚用于电连接电流源，两个所述测试引脚用于电连接电压表，所述导电引线与所述金属块的连接处形成连接点，四个所述连接点相互之间的距离相同；以及
所述封装层用于阻隔外界的水汽接触金属层，通过测试所述测试引脚电连接的所述金属块的电阻，确定所述封装层正对所述金属块的区域阻隔水汽的效果。
2.根据权利要求1所述的显示设备，其特征在于，所述测试引脚在所述发光基层的垂直投影位于所述发光基层的边缘。
3.根据权利要求1所述的显示设备，其特征在于，所述封装层包括互连为一体的第一部分与第二部分，所述第一部分层叠设置于所述金属层上，所述第二部分填充于所述金属块之间，所述第二部分用于隔离相邻的所述金属块。
4.根据权利要求1至3任意一项所述的显示设备，其特征在于，所述金属层的材质为钙或镁中的一种。
5.一种显示设备阻水效果的测试方法，其特征在于，包括：
提供显示设备，所述显示设备包括发光基层、传输层、金属层及封装层，所述传输层设置于所述发光基层上，所述传输层包括导电引线和测试引脚，所述金属层层叠设置于所述传输层上，所述金属层包括多个阵列排布的金属块，每个所述金属块通过所述导电引线电连接至所述测试引脚，所述封装层覆盖于所述金属层上，
将所述显示设备放置于测试环境中；
测试所述测试引脚电连接的所述金属块的电阻，确定所述封装层正对所述金属块的区域阻隔水汽的效果。
6.根据权利要求5所述的显示设备阻水效果的测试方法，其特征在于，每个所述金属块电连接至四个所述测试引脚，每个所述测试引脚通过一个所述导电引线电连接至所述金属块，所述“测试所述测试引脚电连接的所述金属块的电阻”包括：
将电流源电连接两个所述测试引脚，将电压表电连接另外两个所述测试引脚，通过所述金属块的电压变化确定所述金属块的电阻变化。
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