CN108394168B - 带有糊层的片的制造方法和涂布装置 - Google Patents

Abstract

当使用呈直角配置的3根辊在基材片上形成糊层时，为了抵消各辊的热膨胀造成的第1间隙的变动量，利用对第2辊的第2辊上涂膜的涂膜表面进行检测的第1传感器、以及对第2辊表面进行检测的第2传感器的输出，算出某一检测期间的变动量，使用第1辊移动机构使第1辊移动。

Description

带有糊层的片的制造方法和涂布装置

技术领域

本发明涉及带有糊层的片的制造方法以及该制造所用的涂布装置，所述带有糊层的片在带状基材片上设置有带状糊层。

背景技术

作为电池所用的带状电极板(正极板或负极板)，已知将包含活性物质粒子、粘结剂等的带状活性物质层形成于带状集电箔上而得到的电极板。这样的电极板采用例如以下方法制造。即，准备将活性物质粒子和粘结剂分散于溶剂中而成的活性物质糊。然后，准备具备第1辊、与该第1辊隔着第1间隙平行配置的第2辊、以及与该第2辊隔着第2间隙平行配置的第3辊的涂布装置。然后，向第1辊和第2辊之间的第1间隙供给活性物质糊，在第2辊上制造未干燥涂膜。接着，向穿过了第2辊和第3辊之间的第2间隙的集电箔上转印，将未干燥活性物质层涂布于集电箔。然后，使该集电箔上的未干燥活性物质层干燥，形成活性物质层。这样的制造方法记载于例如日本特开2016-152169。

发明内容

但是，如上所述，如果涂布装置中在长带状集电箔(基材片)上持续形成未干燥活性物质层(糊层)，则因在第1间隙、第2间隙附近产生的摩擦热等而升温，各辊的大小(半径)由于热膨胀而逐渐变大。于是，第1间隙的大小由于第1辊和第2辊的半径变大而变小，在第2辊上形成的未干燥涂膜(第2辊上涂膜)的厚度也变薄。因此，在集电箔(基材片)上形成的未干燥活性物质层(糊层)的厚度和密度会变动。

本发明提供一种带有糊层的片的制造方法和该制造中使用的涂布装置，抑制了在基材片上形成的糊层的与各辊的热膨胀相伴的变动。

本发明的一方式是一种带有糊层的片的制造方法，所述带有糊层的片在带状基材片上设置有由糊形成的带状糊层，所述制造方法包括：

使用涂布装置在所述基材片上形成所述糊层，所述涂布装置具有：

第1辊，

第2辊，其相对于所述第1辊隔着第1间隙平行配置，且沿着与所述第1辊的旋转方向相反的第2辊旋转方向旋转，

第3辊，其相对于所述第2辊隔着第2间隙平行配置，沿着与所述第2辊的旋转方向相反的方向，且对穿过所述第2间隙的所述基材片进行传送，

所述第1辊、所述第2辊和所述第3辊被配置为以下形态：将所述第2辊的第2辊中心轴与所述第1辊的第1辊中心轴连结的第1假想面以及将所述第2辊的所述第2辊中心轴与所述第3辊的第3辊中心轴连结的第2假想面在所述第2辊中心轴正交，并且所述第2间隙在以下部位形成，所述部位是从所述第1间隙在所述第2辊的第2辊表面上沿着所述第2辊旋转方向旋转1/4圈的部位，

第1传感器，其对在所述第2辊表面涂布的由所述糊形成的第2辊上涂膜的涂膜表面的第1径向位置进行检测，所述第1径向位置是所述第2辊上涂膜的所述涂膜表面之中、从所述第1间隙在所述第2辊表面上沿着所述第2辊旋转方向旋转第1角度的第1角度位置，所述第1角度大于0°且小于90°，

第2传感器，其隔着所述第2辊与所述第1传感器相对配置，且对所述第2辊的第2辊表面的第2径向位置进行检测，所述第2径向位置是所述第2辊表面之中、从所述第1角度位置沿着所述第2辊旋转方向旋转180°的第2角度位置，以及

第1辊移动机构，其使所述第1辊沿着将所述第2辊与所述第1辊连结的第1方向移动，

在形成所述糊层的过程中，向所述第1间隙供给所述糊，使在所述第2辊表面涂布的所述第2辊上涂膜穿过所述第2间隙，向所述第3辊传送的所述基材片上转印；

根据由所述第1传感器检测出的所述第1径向位置、以及由所述第2传感器检测出的所述第2径向位置，在每个所述检测期间检测所述第1间隙的间隙尺寸的变动量，所述第1间隙的所述变动量是由于所述第1辊和所述第2辊产生的热膨胀而在反复设置的检测期间中产生的；

使用所述第1辊移动机构，以将检测出的所述第1间隙的所述变动量抵消的方式使所述第1辊沿所述第1方向移动；

在上次的所述检测期间结束之后，结束由所述第1辊移动机构进行的所述第1辊的移动，然后在经过所述第2辊旋转所述第1角度的第2辊旋转时间以后，开始新的所述检测期间的检测。

上述带有糊层的片的制造方法中，使用将第1辊和第3辊以第2辊为中心配置了的涂布装置。该涂布装置中，即使为了调整第1间隙的间隙尺寸而使第1辊沿第1方向移动，也难以对位于与其正交的第2方向的第2间隙的间隙尺寸产生影响。因此，能够无需考虑对第2间隙的影响地使第1辊移动。再者，判断出第2辊上涂膜的厚度与该第2辊上涂膜形成的时间点的第1间隙的大小相等。因此，在检测工序中，使用如上所述地配置的第1传感器和第2传感器，在每个检测期间，检测该检测期间产生的第1辊和第2辊的热膨胀造成的第1间隙的变动量，使第1辊移动时，使用第1辊移动机构，以将检测出的第1间隙的变动量抵消的方式使第1辊沿第1方向移动。由此，在每个检测期间，没有随着第1间隙的变动而产生的第2辊上涂膜的厚度变动，能够防止第1间隙的变动积累。由此，根据该制造方法，能够抑制第1辊和第2辊的热膨胀造成的、对在基材片上形成的糊层的厚度、密度的影响，制造对于基材片的长度方向的糊层的变动被抑制了的带有糊层的片。

再者，将新的检测期间的始期设为上次检测期间结束后，结束由第1辊移动机构进行的第1辊的移动，然后经过第2辊旋转第1角度的第2辊旋转时间以后。若这样处理，则通过第1辊的移动使第1间隙成为新的大小，在通过该新的间隙尺寸的第1间隙而形成的第2辊上涂膜能够用第1传感器检测的定时以后，开始下一次检测期间，因此从检测期间的最开始，能够使用第1传感器的输出。

另外，对在第2辊的表面、第2辊上设置的第2辊上涂膜的涂膜表面的径向位置，是指以第2辊中心轴为基准的第2辊的径向的位置。第1传感器和第2传感器是检测第2辊上涂膜的涂膜表面或者第2辊表面的径向位置的位移传感器，例如，可以使用能够非接触地检测第2辊上涂膜的涂膜表面或者第2辊表面的径向位置的、静电容量式、光学式、激光式等的位移计。另外，在这些传感器中，例如，可以在向第1间隙供给糊之前(没有向第2辊表面涂布糊的状态)，以各辊没有发生热膨胀的状态(带有糊层的片的制造开始前)的第2辊表面的径向位置为基准，检测第2辊上涂膜的涂膜表面或者第2辊表面的径向位置。

第1传感器检测第2辊上涂膜的涂膜表面的径向位置的第1角度位置，是从第1间隙在第2辊表面上沿着第2辊旋转方向旋转了第1角度θ1的位置，从θ1＝0～90°的范围选出。优选将第1角度θ1设为θ1＝25～65°的范围，进而可以从θ1＝40～50°的范围选出。因为这容易将第1传感器配置在第1辊和第3辊之间，而且不与它们干涉。另外，第2传感器如上所述，对第2辊表面的第2辊径向位置进行检测，第2辊径向位置是第2辊表面之中从第1角度位置沿着第2辊旋转方向旋转180°的第2角度位置、即与第1角度位置隔着第2辊中心轴正相对侧的第2角度位置。

因此，例如，能够根据由第1传感器的输出检测出的第2辊上涂膜的涂膜表面的径向位置，检测第2辊上涂膜的厚度。此外，能够由检测期间内产生的第1传感器和第2传感器的输出的变化，检测该检测期间产生的第2辊上涂膜的厚度的变动量，因此，能够检测第1间隙的间隙尺寸的变动量。

进而对一例具体说明。

某一检测期间产生的第1辊的半径R1的变动量：ΔR1、

该检测期间产生的第2辊的半径R2的变动量：ΔR2、

该检测期间产生的第1间隙KG1的变动量：ΔG1、

该检测期间产生的由第1传感器检测出的第2辊上涂膜的涂膜表面的第1径向位置PR5s的变动量：ΔPR5s、

该检测期间产生的由第2传感器检测出的第2辊表面的第2径向位置PR12s的变动量：ΔPR12s。

在此，判断出在第2辊表面形成的第2辊上涂膜的厚度，与第2辊上涂膜形成的时间点的第1间隙的间隙尺寸相等。并且由此，某一检测期间中(该检测期间的从始期到终期)产生的第2辊上涂膜的厚度变动量，与该检测期间的第1间隙的间隙尺寸的变动量相等。

检测期间中，如果第2辊的半径R2由于热膨胀而膨胀了变动量ΔR2，则由第2传感器检测的第2辊表面的第2径向位置PR12s也向径向外侧移动。具体而言，变动的变动量ΔPR12s＝ΔR2。即，第2传感器中，能够检测第2辊的热膨胀造成的半径R2的变动量ΔR2。另一方面，第1传感器中，检测第2辊上涂膜的涂膜表面的第1径向位置PR5s。该第2辊上涂膜的涂膜表面的第1径向位置PR5s是对第2辊的半径R2加上第2辊上涂膜的厚度的位置，因此，也是对第2辊的半径R2加上第1间隙的间隙尺寸G1的位置。这也对应于第1间隙的第1辊的第1辊表面的径向位置。因此，如果第1辊的半径R1由于热膨胀而增加变动量ΔR1，则由第2传感器检测的第2辊上涂膜的涂膜表面的第1径向位置PR5s相应地减少(向中心侧移动)。即，由第1传感器检测的第1径向位置PR5s的变动量ΔPR5s，与该检测期间产生的第1辊的热膨胀造成的半径R1的变动量ΔR1的相反数相等(ΔPR5s＝-ΔR1)。而且，如果忽视该检测期间的第1辊中心轴和第2辊中心轴的移动，则第1间隙的间隙尺寸G1在该检测期间相应地减小第1辊和第2辊产生的热膨胀的量。即，间隙尺寸G1的变动量ΔG1相当于第1辊和第2辊产生的半径R1、R2的变动量ΔR1、ΔR2之和的相反数(ΔG1＝-(ΔR1+ΔR2))。因此，根据由第1传感器检测出的变动量ΔPR5s和由第2传感器检测出的变动量ΔPR12s，能够检测间隙尺寸G1的变动量ΔG1。

作为检测期间，例如可以使用按预定时间(例如每1分钟)划分的检测期间。另外，涂布装置的起动最开始可以使检测期间比较短(例如每30秒)，从起动开始经过时间从而热膨胀的增加变缓的时期以后可以使检测期间比较长(例如每5分钟)。另外，可以在从检测期间的始期起的第1间隙的变动超过预定值的时间点结束该检测期间，经过第1辊移动工序和调整工序之后，开始下一次新的检测期间。

再者，所谓“糊”，包含将溶质(例如活性物质粒子和粘结剂)和溶剂混合了的涂布材料，所述涂布材料由多个湿润造粒体构成。在此，所谓湿润造粒体，是指在溶剂被溶质粒子保持(吸收)的状态下，它们聚集(结合)而成的物质(粒状体)。作为湿润造粒体，可列举例如将活性物质粒子、粘结剂和溶剂混合造粒而成的物质。该湿润造粒体是在溶剂被活性物质粒子和粘结剂保持(吸收)的状态下，它们聚集(结合)而成的物质(粒状体)。

上述带有糊层的片的制造方法，也可以根据所述检测期间产生的、由所述第1传感器检测出的所述第2辊上涂膜的所述涂膜表面的第1径向位置的变动量以及由所述第2传感器检测出的所述第2辊的所述第2辊表面的第2径向位置的变动量之差，取得由于所述热膨胀而在该检测期间内产生的所述第1间隙的所述变动量。

该带有糊层的片的制造方法中，根据检测期间产生的、第2辊上涂膜的涂膜表面的第1径向位置PR5s的变动量ΔPR5s以及第2辊的第2辊表面的第2径向位置PR12s的变动量ΔPR12s之差，取得该检测期间内产生的第1间隙的间隙尺寸的变动量，所以能够容易地取得第1间隙的间隙尺寸G1的变动量ΔG1。即，间隙尺寸G1的变动量ΔG1是ΔG1＝-(ΔR1+ΔR2)＝ΔPR5s-ΔPR12s，所以由变动量ΔPR5s和变动量ΔPR12s之差能够容易取得所述变动量。

另外，所述带有糊层的片的制造方法，可以为：所述第1传感器是对所述涂膜表面的所述第1径向位置进行检测的传感器，所述第1径向位置以所述第1角度位置的所述第2辊表面的开始前第1径向位置为基准位置，所述开始前第1径向位置是在向所述第1间隙开始所述糊的供给之前由所述第1传感器测定的，

所述第2传感器是对所述第2辊表面的所述第2径向位置进行测定的传感器，所述第2径向位置以所述第2角度位置的所述第2辊表面的开始前第2径向位置为基准位置，所述开始前第2径向位置是在向所述第1间隙开始所述糊的供给之前由所述第2传感器测定的，

所述制造方法包括：

从反复设置的所述检测期间之中最初的检测期间开始时的、向所述第1间隙开始所述糊的供给时起算，在所述第2辊旋转所述第1角度以上之后、并且所述第2辊旋转第1预定数之前，由所述第1传感器测定所述第2辊上涂膜的所述涂膜表面的初期第1径向位置，所述初期第1径向位置以所述开始前第1径向位置为基准位置，

从反复设置的所述检测期间之中最初的检测期间开始时的、向所述第1间隙开始所述糊的供给时起算，在所述第2辊旋转所述第1角度以上之后、并且所述第2辊旋转第1预定数之前，由所述第2传感器测定所述第2辊表面的初期第2径向位置，所述初期第2径向位置以所述开始前第2径向位置为基准位置，

测定了所述初期第1径向位置和所述初期第2径向位置之后，在各个所述检测期间的结束时，由所述第1传感器测定所述第2辊上涂膜的所述涂膜表面的结束时第1径向位置，所述结束时第1径向位置以所述开始前第1径向位置为基准位置，

测定了所述初期第1径向位置和所述初期第2径向位置之后，在各个所述检测期间的结束时，由所述第2传感器测定所述第2辊表面的结束时第2径向位置，所述结束时第2径向位置以所述开始前第2径向位置为基准位置，

在将所述初期第1径向位置的值设为L11、将所述初期第2径向位置的值设为L21、将所述结束时第1径向位置的值设为L12、并将所述结束时第2径向位置的值设为L22时，使用ΔG1＝(L12-L22)-(L11-L21)的关系式，算出由于所述热膨胀而在各个所述检测期间内产生的所述第1间隙的所述变动量即ΔG1的值。

如果向第1间隙开始糊的供给，开始在第1辊和第2辊之间对糊进行压缩并成膜(形成涂膜)的加工，则其加工反作用力(在第1辊和第2辊之间对糊压缩并成膜时作用于糊的压缩力的反作用力)作用于第1辊和第2辊。加工刚开始后，大的加工反作用力急剧地施加于第1辊和第2辊，因此由于该加工反作用力，会以第1辊和第2辊之间的第1间隙放大的方式使第1辊和第2辊沿第1方向移动(第1辊的旋转轴向与第2辊离开的方向错位，第2辊的旋转轴向与第1辊离开的方向错位)。尤其是当作为糊，使用了固体成分比率高的(溶剂量少的)湿润造粒体构成的涂布材料的情况下，加工反作用力变大，容易发生第1辊和第2辊的错位。由此，第1辊和第2辊之间的第1间隙的间隙尺寸变动。

另外，在第1辊和第2辊之间对糊压缩并成膜的加工开始后不久，由于在第1间隙附近产生的摩擦热，第1辊和第2辊热膨胀。尤其是当作为糊，使用固体成分比率高的(溶剂量少的)湿润造粒体构成的涂布材料的情况下，摩擦热的产生量变大，容易发生第1辊和第2辊的热膨胀。由于该热膨胀，第1辊和第2辊之间的第1间隙的间隙尺寸也会变动。

然而，加工反作用力造成的第1辊和第2辊的错位，其大多数在加工刚开始后(例如从加工开始时起算第2辊旋转1圈为止)发生，然后，在第1辊和第2辊的热膨胀产生前后(例如从加工开始时起算第2辊的旋转数超过30圈时)不发生(即使发生，也为能够忽视程度的错位)。因此，可以认为随着加工反作用力造成的第1辊和第2辊的错位而使第1间隙的间隙尺寸变动之后，随着第1辊和第2辊的热膨胀而使第1间隙的间隙尺寸变动。

因此，上述的制造方法中，将随着加工反作用力造成的第1辊和第2辊的错位而使第1间隙变动之后(第1辊和第2辊热膨胀之前)的第1间隙的间隙尺寸设为目标的第1间隙的间隙尺寸(第1间隙目标值)，然后，检测期间中，将从第1间隙目标值随着第1辊和第2辊的热膨胀而变动的变动量作为变动量ΔG1，算出第1间隙的间隙尺寸。然后，在第1辊移动工序中，以将该变动量ΔG1抵消的方式使第1辊移动，由此将第1间隙的间隙尺寸调整为第1间隙目标值。

即，上述的制造方法中，将随着加工反作用力造成的第1辊和第2辊的错位而使第1间隙变动之后(第1辊和第2辊热膨胀之前)的第1间隙的间隙尺寸设为目标的第1间隙的间隙尺寸(第1间隙目标值)，制造期间中进行反馈控制，以使第1间隙的间隙尺寸成为第1间隙目标值。由此，能够遍及制造期间的整体地，使穿过第1辊和第2辊之间形成的涂膜的厚度，成为第1间隙目标值或与其接近的尺寸。

具体而言，上述的制造方法中，检测工序所含的第1初期检测工序(第1初期检测步骤)中，从向第1间隙开始的供给时起算，第2辊旋转第1角度θ1以上之后，并且第2辊旋转预定数之前，通过第1传感器和第2传感器，测定初期第1径向位置和初期第2径向位置。更具体而言，通过第1传感器，作为第2辊上涂膜的涂膜表面的径向位置，测定以“向第1间隙开始糊的供给之前，预先由第1传感器测定出的、第1角度位置的第2辊表面的开始前第1径向位置”为基准位置(0基准)的、涂膜表面的初期第1径向位置(换句话说，是从作为基准位置的开始前第1径向位置起的第2辊径向距离)。

此外，通过第2传感器，作为第2辊的第2辊表面的径向位置，测定以“向第1间隙开始糊的供给之前，预先由第2传感器测定出的、第2角度位置的第2辊表面的开始前第2径向位置”为基准位置(0基准)的、第2辊的第2辊表面的初期第2径向位置(换句话说，从作为基准位置的开始前第2径向位置起的第2辊径向距离)。

再者，从向第1间隙开始糊的供给时起算，第2辊旋转第1角度θ1时，第2辊上涂膜的顶端部(在第2辊的周向的顶端部)到达“第1传感器检测第2辊上涂膜的涂膜表面的径向位置的第1角度位置”。另外，从向第1间隙开始糊的供给时起算，直到第2辊旋转预定数为止，在第1辊和第2辊没有发生热膨胀，或者即使发生热膨胀，其膨胀量也为极其微量的能够忽视的程度。

因此，前述的测定所述初期第1径向位置和所述初期第2径向位置时由第1传感器测定的L11，成为随着加工反作用力造成的第1辊和第2辊的错位而使第1间隙变动之后，并且第1辊和第2辊热膨胀之前(或者即使发生热膨胀，其膨胀量也是极其微量的能够忽视的程度时)的、第2辊上涂膜的涂膜表面的径向位置(换句话说，是从作为基准位置的开始前第1径向位置起的第2辊径向距离)。

另外，在前述的第1初期检测工序中由第2传感器测定的L21，成为随着加工反作用力造成的第1辊和第2辊的错位而使第1间隙变动之后，并且第1辊和第2辊热膨胀之前(或者即使发生热膨胀，其膨胀量也是极其微量的能够忽视的程度时)的、第2辊表面的径向位置(换句话说，是从作为基准位置的开始前第2径向位置起的第2辊径向距离)。

此外，上述的制造方法中，测定了所述初期第1径向位置和所述初期第2径向位置之后，在各个所述检测期间的结束时，由第1传感器和第2传感器，测定结束时第1径向位置和结束时第2径向位置。

具体而言，由第1传感器，作为第2辊上涂膜的涂膜表面的径向位置，测定以所述开始前第1径向位置为基准位置(0基准)的、涂膜表面的结束时第1径向位置(换句话说，是从作为基准位置的开始前第1径向位置起的第2辊径向距离)。

此外，由第2传感器，作为第2辊的第2辊表面的径向位置，测定以所述开始前第2径向位置为基准位置(0基准)的、第2辊的第2辊表面的结束时第2径向位置(换句话说，是从作为基准位置的开始前第2径向位置起的第2辊径向距离)。

再者，认为测定所述初期第1径向位置和所述初期第2径向位置之后，在各个检测期间的结束时，第1辊和第2辊显著热膨胀。因此，在第1期间结束时检测工序中由第1传感器测定的L12，成为随着加工反作用力造成的第1辊和第2辊的错位而使第1间隙变动之后并且第1辊和第2辊热膨胀之后的、第2辊上涂膜的涂膜表面的径向位置(换句话说，是从作为基准位置的开始前第1径向位置起的第2辊径向距离)。

另外，由第2传感器测定的L22，成为随着加工反作用力造成的第1辊和第2辊的错位而使第1间隙变动之后并且第1辊和第2辊热膨胀之后的、第2辊表面的径向位置(换句话说，是从作为基准位置的开始前第2径向位置起的第2辊径向距离)。而且，上述的制造方法中，使用ΔG1＝(L12-L22)-(L11-L21)的关系式，算出由于热膨胀而在各个检测期间内产生的第1间隙的变动量即ΔG1。

再者，所述关系式如下地导出。首先，将第1间隙的间隙尺寸的设定值(开始制造之前的第1间隙的间隙尺寸)设为G1S。另外，将由于加工反作用力而沿第1方向移动(错位)的第1辊的错位量设为ΔX1。另外，将第1辊的热膨胀造成的半径的增加量设为ΔR1。另外，将由于加工反作用力而沿第1方向移动(错位)的第2辊的错位量设为ΔX2。另外，将由于在第2辊和第3辊之间产生的加工反作用力而沿第2方向移动(错位)的第2辊的错位量设为ΔY2。另外，将第2辊的热膨胀造成的半径的增加量设为ΔR2。

如果如上所述地设定，则在第1初期检测工序中测定L11和L21时的第1间隙的间隙尺寸G1，成为G1＝G1S+ΔX1+ΔX2…(式1)。

另外，成为L11＝ΔX2cosθ1+ΔY2sinθ1…(式2)。

另外，成为L21＝-ΔX2cosθ1-ΔY2sinθ1-G1＝-ΔX2cosθ1-ΔY2sinθ1-(G1S+ΔX1+ΔX2)…(式3)。

此外，在第1期间结束时检测工序中测定L12和L22时的第1间隙的间隙尺寸G1，成为G1＝G1S+ΔX1+ΔX2-ΔR1-ΔR2…(式4)。

另外，成为L12＝ΔX2cosθ1+ΔY2sinθ1-ΔR2…(式5)。

另外，成为L22＝-ΔX2cosθ1-ΔY2sinθ1-ΔR2-G1＝-ΔX2cosθ1-ΔY2sinθ1-ΔR2-(G1S+ΔX1+ΔX2-ΔR1-ΔR2)…(式6)。

再者，由第1传感器和第2传感器测定的L11、L21、L12、L22的值，以基准位置为0，将与基准位置相比对于第2辊径向靠内侧(辊中心侧)设为“正的值”、与基准位置相比对于第2辊径向靠外侧设为“负的值”。

在此，第1间隙目标值G1T(第1间隙的间隙尺寸的目标值)与第1初期检测工序中测定L11和L21时的第1间隙的间隙尺寸G1相等，所以根据所述(式1)、(式2)和(式3)，成为G1T＝G1S+ΔX1+ΔX2＝L11-L21+2(ΔX2cosθ1+ΔY2sinθ1)…(式7)。

另外，第1辊的半径由于热膨胀而增加ΔR1并且第2辊的半径由于热膨胀而增加ΔR2时的第1间隙的间隙尺寸G1N，与第1期间结束时检测工序中测定L12和L22时的第1间隙的间隙尺寸G1相等，所以根据所述(式4)、(式5)和(式6)，成为G1N＝G1S+ΔX1+ΔX2-ΔR1-ΔR2＝L12-L22+2(ΔX2cosθ1+ΔY2sinθ1)…(式8)。

此外，由于热膨胀而在各个检测期间内产生的第1间隙的变动量即ΔG1，可以根据(式7)和(式8)，作为ΔG1＝G1N-G1T＝(L12-L22)-(L11-L21)推导。因此，上述的制造方法中，在第1辊移动工序中，以将该变动量ΔG1＝(L12-L22)-(L11-L21)抵消的方式使第1辊移动，由此能够将第1间隙的间隙尺寸调整为(回到)第1间隙目标值。

上述的任一项所述的带有糊层的片的制造方法，可以为：所述第1传感器和所述第2传感器包括隔着所述第2辊的第1端部相对配置的第1侧第1传感器和第1侧第2传感器、以及隔着所述第2辊的第2端部相对配置的第2侧第1传感器和第2侧第2传感器，所述第1辊移动机构包括使所述第1辊的第1端部沿所述第1方向移动的第1侧第1辊移动机构、以及使所述第1辊的第2端部沿所述第1方向移动的第2侧第1辊移动机构，所述检测工序中，使用所述第1侧第1传感器和所述第1侧第2传感器检测所述第1间隙之中第1端部的间隙尺寸的变动量，使用所述第2侧第1传感器和所述第2侧第2传感器检测所述第1间隙之中第2端部的间隙尺寸的变动量，所述第1辊移动工序中，使用所述第1侧第1辊移动机构，以将检测出的所述第1间隙之中所述第1端部的所述间隙尺寸的变动量抵消的方式使所述第1辊的所述第1端部移动，使用所述第2侧第1辊移动机构，以将检测出的所述第1间隙之中所述第2端部的所述间隙尺寸的变动量抵消的方式使所述第1辊的所述第2端部移动。

该带有糊层的片的制造方法中，将第1传感器、第2传感器、第1辊移动机构在第2辊的第1端部和第2端部分别设置一对，对于第2辊的第1端部和第2端部分别实行检测工序和第1辊移动工序。因此，每个检测期间，能够使随着第1间隙的变动而产生的第2辊上涂膜的厚度的变动，遍及第2辊的轴线方向整体地消失。由此，根据该制造方法，能够制造以下带有糊层的片，其抑制第1辊和第2辊的热膨胀造成的、对在基材片上形成的糊层的厚度、密度的影响，无论在基材片的宽度方向还是长度方向，糊层的变动都被抑制。

上述的任一项所述的带有糊层的片的制造方法，可以为：所述涂布装置具有：

第3传感器，其对被转印到卷在所述第3辊上的所述基材片上的所述糊层的层表面的第3径向位置进行检测，所述第3径向位置是所述糊层的所述层表面之中、从所述第2间隙在所述第3辊的第3辊表面上沿着第3辊旋转方向旋转第3角度的第3角度位置，所述第3角度大于0°且小于90°，

第4传感器，其隔着所述第3辊与所述第3传感器相对配置，且对所述第3辊的所述第3辊表面或卷在所述第3辊上的所述基材片的径向外侧表面的第4径向位置进行检测，所述第4径向位置是所述第3辊表面或所述径向外侧表面之中、从所述第3角度位置沿着第3辊旋转方向退回180°的第4角度位置，以及

第3辊移动机构，其使所述第3辊沿着将所述第2辊与所述第3辊连结的第2方向移动，

所述制造方法包括：

根据由所述第3传感器检测出的所述第3径向位置以及由所述第4传感器检测出的所述第4径向位置，在每个所述检测期间检测所述第2间隙的间隙尺寸的变动量，所述第2间隙的所述变动量是由于所述第2辊和所述第3辊产生的热膨胀而在所述检测期间中产生的，

使用所述第3辊移动机构，以将检测出的所述第2间隙的所述变动量抵消的方式，使所述第3辊沿着所述第2方向移动，

上次的所述检测期间结束之后，结束由所述第1辊移动机构进行的所述第1辊的移动，并且结束由所述第3辊移动机构进行的所述第3辊的移动，然后经过所述第2辊旋转1/4圈的第2辊1/4旋转时间，且经过所述第3辊旋转所述第3角度的第3辊旋转时间以后，开始新的所述检测期间。

上述带有糊层的片的制造方法中，如上所述，使用将第1辊和第3辊以第2辊为中心配置的涂布装置。因此，该涂布装置中，即使为了调整第2间隙的间隙尺寸而使第3辊沿第2方向移动，也难以对第1间隙的间隙尺寸产生影响。因此，可以不用考虑对第1间隙的影响，将第2辊和第3辊的热膨胀造成的第2间隙的间隙尺寸的变动抵消并适当地保持第2间隙的大小，使第3辊移动。因此，使用如上所述地配置的第3传感器和第4传感器，在每个检测期间，检测第2辊和第3辊的热膨胀造成的第2间隙的变动量，使用第3辊移动机构，以将检测出的第2间隙的变动量抵消的方式使第3辊沿第2方向移动。由此，在每个检测期间，没有随着第2间隙的变动产生的在基材片上转印的糊层的厚度变动，能够防止第2间隙的变动积累。由此，根据该制造方法，能够制造也抑制第2辊和第3辊的热膨胀造成的、对在基材片上形成的糊层的厚度的影响，对于长度方向的糊层变动被进一步抑制了的带有糊层的片。

再者，将检测期间的始期设为上次的检测期间结束之后，由第1、第3辊移动机构进行的第1、第3辊的移动分别结束，然后，经过比第2辊旋转时间长的第2辊1/4旋转时间，进而经过第3辊旋转时间以后。因此，在由于第1、第3辊的移动而使第1间隙和第2间隙成为新的大小，且穿过具有该新的大小的第1间隙形成的第2辊上涂膜到达第2间隙，而且从第2间隙起的糊层能够用第3传感器检测的定时以后，开始下一次的检测期间。因此，可以从检测期间的最开始，使用第1传感器和第3传感器的输出。

另外，对于在第3辊表面、卷在第3辊上的基材片的径向外侧表面、糊层的层表面的径向位置，是指以第3辊中心轴为基准的第3辊的径向的位置。第3传感器和第4传感器是对于糊层的层表面或者第3辊表面、卷在第3辊上的基材片的径向外侧表面的径向位置进行检测的位移传感器，例如，可以使用非接触地检测糊层的层表面或者第3辊表面、基材片的径向外侧表面的径向位置的静电容量式、光学式、激光式等的位移计。另外，这些传感器中，例如可以在将基材片向第3辊卷绕的同时将糊向第1间隙供给之前(在第2辊表面未涂布糊，也未形成糊层的状态)下，以在各辊没有发生热膨胀的状态(带有糊层的片的制造开始前)的基材片的径向外侧表面、第3辊表面的径向位置为基准，对糊层的层表面或者第3辊表面、基材片的径向外侧表面的径向位置进行检测。

第3传感器检测糊层的层表面的第3径向位置的第3角度位置，是从第2间隙在第3辊表面上沿着第3辊旋转方向旋转第3角度θ3的位置，从θ3＝0～90°的范围中选择。优选将第3角度θ3设为θ3＝25～65°的范围、进而可以从θ3＝25～50°的范围中选择。这是因为容易将第3传感器与第2辊和第3辊不干涉地配置。另外，第4传感器如上所述，对第3辊表面或基材片的径向外侧表面的第4径向位置进行检测，所述第3辊表面或基材片的径向外侧表面的第4径向位置是第3辊表面或基材片的径向外侧表面之中的、从第3角度位置相对于第3辊旋转方向退回180°的第4角度位置、即与第3角度位置隔着第3辊中心轴正相反侧的第4角度位置。

因此，例如，可以由通过第3传感器的输出检测出的糊层的层表面的第3径向位置，检测在基材片上形成的糊层的厚度。此外，可以由检测期间内产生的第3传感器和第4传感器的输出的变化，检测该检测期间产生的糊层的厚度的变动量，因此能够检测第2间隙的间隙尺寸的变动量。

进而对一例具体说明。

某一检测期间产生的第2辊的半径R2的变动量：ΔR2、

该检测期间产生的第3辊的半径R3的变动量：ΔR3、

该检测期间产生的第2间隙KG2的变动量：ΔG2、

该检测期间产生的由第3传感器检测出的糊层的层表面的第3径向位置PR6s的变动量：ΔPR6s、

该检测期间产生的由第4传感器检测出的第3辊表面或基材片的径向外侧表面的第4径向位置PR13s或PR2s的变动量：ΔPR13s或ΔPR2s。

在此，可知基材片的厚度在长度方向上是一定的，基材片和在该径向外侧表面形成的糊层的总厚度与该糊层形成的时间点的第2间隙的间隙尺寸相等。另外由此，某一检测期间中(该检测期间的从始期到终期)产生的基材片和糊层的总厚度的变动量，与该检测期间的第2间隙的间隙尺寸的变动量相等。

检测期间中，如果第3辊的半径R3由于热膨胀而膨胀变动量ΔR3，则由第4传感器检测的第3辊表面的第4径向位置PR13s、或者卷在第3辊上的基材片的径向外侧表面的第4径向位置PR2s向径向外侧移动。具体而言，发生变动量ΔPR13s＝ΔR3(或ΔPR2s＝ΔR3)的变动。因此，可以由第4传感器，检测第3辊的热膨胀造成的半径R3的变动量ΔR3。另一方面，第3传感器中，检测糊层的层表面的第3径向位置PR6s。该糊层的层表面的第3径向位置PR6s也是对第3辊的半径R3加上第2间隙的间隙尺寸G2的位置。这也与第2间隙的第2辊的第2辊表面的径向位置对应。因此，如果第2辊的半径R2由于热膨胀而增加变动量ΔR2，则由第3传感器检测的糊层的层表面的第3径向位置PR6s相应地减少(向中心侧移动)。即，由第3传感器检测的第3径向位置PR6s的变动量ΔPR6s，与该检测期间产生的第2辊的热膨胀造成的半径R2的变动量ΔR2的相反数相等(ΔPR6s＝-ΔR2)。如果忽视该检测期间的第2辊中心轴和第3辊中心轴的移动，则第2间隙的间隙尺寸G2在该检测期间变小第2辊和第3辊产生的热膨胀的量。即，间隙尺寸G2的变动量ΔG2，与在第2辊和第3辊产生的半径R2、R3的变动量ΔR2、ΔR3之和的相反数相当(ΔG2＝-(ΔR2+ΔR3))。因此，从由第3传感器检测出的变动量ΔPR6s和由第4传感器检测出的变动量ΔPR13s，能够检测间隙尺寸G2的变动量ΔG2。

再者，如上所述，由第3传感器检测的第3径向位置PR6s的变动量ΔPR6s，与该检测期间产生的第2辊的热膨胀造成的半径R2的变动量ΔR2的相反数相等(ΔPR6s＝-ΔR2)。另一方面如上所述，由第2传感器检测的第2辊表面的第2径向位置PR12s的变动量ΔPR12s，与第2辊的热膨胀造成的半径R2的变动量ΔR2相等。由此，可以将由第2传感器和第3传感器的输出得到的半径R2的变动量ΔR2彼此进行比较、平均，来得到半径R2的变动量ΔR2。

此外，上述的带有糊层的片的制造方法，可以为：所述检测工序根据所述检测期间产生的、由所述第3传感器检测出的所述糊层的所述层表面的第3径向位置的变动量以及由所述第4传感器检测出的所述第3辊表面或所述径向外侧表面的所述第4径向位置的变动量之差，取得由于所述第2辊和所述第3辊的热膨胀而在该检测期间内产生的所述第2间隙的所述变动量。

该带有糊层的片的制造方法中，检测工序中，由检测期间产生的、糊层的层表面的第3径向位置PR6s的变动量ΔPR6s以及第3辊表面或基材片的径向外侧表面的所述第4径向位置PR13s、PR2s的变动量ΔPR13s、ΔPR2s之差，取得该检测期间内产生的第2间隙的间隙尺寸G2的变动量ΔG2，所以能够容易取得第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动量ΔG2。即，ΔG2＝-(ΔR2+ΔR3)＝ΔPR6s-ΔPR13s(或者＝ΔPR6s-ΔPR2s)，所以由变动量ΔPR6s和变动量ΔPR13s或者ΔPR2s的差容易取得间隙尺寸G2的变动量ΔG2。

另外，所述的带有糊层的片的制造方法，可以为：所述第3传感器是对所述糊层的所述层表面的初期第3径向位置进行测定的传感器，所述初期第3径向位置以所述第3角度位置的所述第3辊表面的开始前第3径向位置为基准位置，所述开始前第3径向位置是在向所述第1间隙开始所述糊的供给之前由所述第3传感器测定的，

所述第4传感器是对所述基材片的所述径向外侧表面或所述第3辊表面的初期第4径向位置进行测定的传感器，所述初期第4径向位置以所述第4角度位置的所述第3辊表面的开始前第4径向位置为基准位置，所述开始前第4径向位置是在向所述第1间隙开始所述糊的供给之前由所述第4传感器测定的，

从反复设置的所述检测期间之中最初的检测期间开始时的、所述第2辊上涂膜最初到达所述第2间隙时起算，在所述第3辊旋转所述第3角度以上之后、并且所述第3辊旋转预定数之前，由所述第3传感器测定所述糊层的所述层表面的初期第3径向位置，所述初期第3径向位置以所述开始前第3径向位置为基准位置，并由所述第4传感器测定所述基材片的所述径向外侧表面或所述第3辊表面的初期第4径向位置，所述初期第4径向位置以所述开始前第4径向位置为基准位置，

测定了所述初期第3径向位置和所述初期第4径向位置之后，在各个所述检测期间的结束时，由所述第3传感器测定所述糊层的所述层表面的结束时第3径向位置，所述结束时第3径向位置以所述开始前第3径向位置为基准位置，并由所述第4传感器测定所述基材片的所述径向外侧表面或所述第3辊表面的结束时第4径向位置，所述结束时第4径向位置以所述开始前第4径向位置为基准位置，以及

使用ΔG2＝(L42-L32)-(L41-L31)的关系式，算出由于所述热膨胀而在各个所述检测期间内产生的所述第2间隙的所述变动量即ΔG2的值。

如果第2辊上涂膜到达第2间隙，在第2辊和第3辊之间对涂膜压缩形成糊层的加工开始，则其加工反作用力作用于第2辊和第3辊。加工刚开始后，对第2辊和第3辊急剧地施加大的加工反作用力，因此由于该加工反作用力，以第2辊和第3辊之间的第2间隙放大的方式使第2辊和第3辊沿第2方向移动(第2辊的旋转轴向离开第3辊的方向错位，第3辊的旋转轴向离开第2辊的方向错位)。尤其是作为糊使用了固体成分比率高的(溶剂量少的)湿润造粒体构成的涂布材料的情况下，加工反作用力变大，容易发生第2辊和第3辊的错位。由此，第2辊和第3辊之间的第2间隙的间隙尺寸会变动。

另外，在第2辊和第3辊之间对涂膜压缩并且形成糊层的加工开始后不久，由于在第2间隙附近产生的摩擦热，第2辊和第3辊热膨胀。尤其是作为糊使用了固体成分比率高的(溶剂量少的)湿润造粒体构成的涂布材料的情况下，摩擦热的产生量变大，容易发生第2辊和第3辊的热膨胀。由于该热膨胀，第2辊和第3辊之间的第2间隙的间隙尺寸也会变动。

然而，加工反作用力造成的第2辊和第3辊的错位，其大多数在加工刚开始后(例如，从加工开始时起算第3辊旋转1圈为止)产生，然后在第2辊和第3辊的热膨胀发生前后(例如，从加工开始时起算第3辊的旋转数超过30圈时)不产生(即使产生也为能够忽视的程度的错位)。因此，可以认为第2间隙的间隙尺寸随着加工反作用力造成的第2辊和第3辊的错位而变动之后，第2间隙的间隙尺寸随着第2辊和第3辊的热膨胀而变动。

因此，上述的制造方法中，将第2间隙随着加工反作用力造成的第2辊和第3辊的错位而变动之后(第2辊和第3辊热膨胀之前)的第2间隙的间隙尺寸设为目标的第2间隙的间隙尺寸(第2间隙目标值)，然后在检测期间中，将从第2间隙目标值随着第2辊和第3辊的热膨胀而变动的变动量作为变动量ΔG2，算出第2间隙的间隙尺寸。然后，在第3辊移动工序中，以将该变动量ΔG2抵消的方式使第3辊移动，由此使第2间隙的间隙尺寸调整(回到)第2间隙目标值。

即，上述的制造方法中，将第2间隙随着加工反作用力造成的第2辊和第3辊的错位而变动之后(第2辊和第3辊热膨胀之前)的第2间隙的间隙尺寸设为目标的第2间隙的间隙尺寸(第2间隙目标值)，制造期间中进行反馈控制，以使第2间隙的间隙尺寸成为第2间隙目标值。由此，能够遍及制造期间整体地，使穿过第2辊和第3辊之间形成的带有糊层的片的厚度成为第2间隙目标值或与其接近的尺寸。因此，能够遍及制造期间整体地，使糊层的厚度成为从第2间隙目标值减去基材片厚度的尺寸、或者与其接近的尺寸。

具体而言，上述的制造方法中，从第2辊上涂膜最初到达第2间隙时起算，第3辊旋转第3角度θ3以上之后、并且第3辊旋转预定数之前，由第3传感器和第4传感器测定初期第3径向位置和初期第4径向位置。

更具体而言，由第3传感器，作为糊层的层表面的径向位置，测定以“向第1间隙开始糊的供给之前由第3传感器测定出的、第3角度位置的第3辊表面的径向位置即开始前第3径向位置”为基准位置(0基准)的、糊层的层表面的第3径向位置(换句话说，是从作为基准位置的开始前第3径向位置起的层表面的第3辊径向距离)。

此外，由第4传感器，作为基材片的径向外侧表面或第3辊表面的径向位置，测定以“向第1间隙开始糊的供给之前由第4传感器测定出的、第4角度位置的第3辊表面的径向位置即开始前第4径向位置”为基准位置(0基准)的、基材片的径向外侧表面或第3辊表面的第4径向位置(换句话说，是从作为基准位置的开始前第4径向位置起的所述径向外侧表面或第3辊表面的第3辊径向距离)。

再者，从第2辊上涂膜最初到达第2间隙时起算，第3辊旋转第3角度θ3以上时，糊层的顶端部(在第3辊的周向的顶端部)到达“第3传感器检测糊层的层表面的第3径向位置的第3角度位置”。另外，从第2辊上涂膜最初到达第2间隙时起算，第3辊旋转预定数为止，在第2辊和第3辊不发生热膨胀，或者即使发生热膨胀，其膨胀量也为极其微小的能够忽视的程度。

因此，由第3传感器测定的L31，成为第2间隙随着加工反作用力造成的第2辊和第3辊的错位而变动之后，并且第2辊和第3辊热膨胀之前(或者即使发生热膨胀，其膨胀量也为极其微小的可以忽视的程度时)的、糊层的层表面的径向位置(换句话说，从作为基准位置的开始前第3径向位置起的层表面的第3辊径向距离)。

另外，在前述的第2初期检测工序中由第4传感器测定的L41，成为第2间隙随着加工反作用力造成的第2辊和第3辊的错位而变动之后，并且第2辊和第3辊热膨胀之前(或者，即使发生热膨胀，其膨胀量也为极其微小的可以忽视的程度时)的、基材片的径向外侧表面或第3辊表面的径向位置(换句话说，是从作为基准位置的开始前第4径向位置起的径向外侧表面或第3辊表面的第3辊径向距离)。

此外，上述的制造方法中，测定了所述初期第3径向位置和所述初期第4径向位置之后，在各个检测期间的结束时，由第3传感器和第4传感器，测定结束时第3径向位置和结束时第4径向位置。

更具体而言，由第3传感器，作为糊层的层表面的径向位置，测定以所述开始前第3径向位置为基准位置(0基准)的、糊层的层表面的结束时第3径向位置(换句话说，是从作为基准位置的开始前第3径向位置起的层表面的第3辊径向距离)。

此外，由第4传感器，作为基材片的径向外侧表面或第3辊表面的径向位置，测定以所述开始前第4径向位置为基准位置(0基准)的、基材片的径向外侧表面或第3辊表面的第4径向位置(换句话说，是从作为基准位置的开始前第4径向位置起的所述径向外侧表面或第3辊表面的第3辊径向距离)。

再者，认为各个检测期间的结束时，第2辊和第3辊显著热膨胀。因此，在第2期间结束时检测工序中由第3传感器测定的L32，成为第2间隙随着加工反作用力造成的第2辊和第3辊的错位而变动之后并且第2辊和第3辊热膨胀之后的、糊层的层表面的径向位置(换句话说，是从作为基准位置的开始前第3径向位置起的层表面的第3辊径向距离)。

另外，在第2期间结束时检测工序中由第4传感器测定的L42，成为第2间隙随着加工反作用力造成的第2辊和第3辊的错位而变动之后并且第2辊和第3辊热膨胀之后的、基材片的径向外侧表面或第3辊表面的径向位置(换句话说，是从作为基准位置的开始前第4径向位置起的径向外侧表面或第3辊表面的第3辊径向距离)。

此外，上述的制造方法中，使用ΔG2＝(L42-L32)-(L41-L31)的关系式，算出由于热膨胀而在各个检测期间内产生的第2间隙的变动量即ΔG2。

在此，对于导出所述关系式的方法进行说明。在此，对于第4传感器检测基材片的径向外侧表面的第4径向位置的情况进行说明。再者，当第4传感器检测第3辊表面的第4径向位置的情况下也可以同样地导出所述关系式。

首先，将第2间隙的间隙尺寸的设定值(开始制造之前的第2间隙的间隙尺寸)设为G2S。另外，将由于加工反作用力而沿第2方向移动(错位)的第3辊的错位量设为ΔY3。另外，将第3辊的热膨胀造成的半径的增加量设为ΔR3。另外，将由于在第1辊和第2辊之间产生的加工反作用力而沿第1方向移动(错位)的第2辊的错位量设为ΔX2。另外，将由于在第2辊和第3辊之间产生的加工反作用力而沿第2方向移动(错位)的第2辊的错位量设为ΔY2。另外，将第2辊的热膨胀造成的半径的增加量设为ΔR2。另外，将基材片的厚度设为TH。

如果如上所述地设定，则在第2初期检测工序中测定L31和L41时的第2间隙的间隙尺寸G2，成为G2＝G2S+ΔY2+ΔY3-TH…(式11)。

另外，成为L31＝ΔY3cosθ3-TH-G2＝ΔY3cosθ3-TH-(G2S+ΔY2+ΔY3-TH)…(式12)。另外，成为L41＝-ΔY3cosθ3-TH…(式13)。而且，在第2期间结束时检测工序中测定L32和L42时的第2间隙的间隙尺寸G2，成为G2＝G2S+ΔY2+ΔY3-TH-ΔR2-ΔR3…(式14)。

另外，成为L32＝ΔY3cosθ3-TH-ΔR3-G2＝ΔY3cosθ3-TH-ΔR3-(G2S+ΔY2+ΔY3-TH-ΔR2-ΔR3)…(式15)。另外，成为L42＝-ΔY3cosθ3-TH-ΔR3…(式16)。再者，由第2传感器和第3传感器测定的L31、L41、L32、L42的值，以基准位置为0，将与基准位置相比对于第3辊径向靠内侧(辊中心侧)设为“正的值”，将与基准位置相比对于第3辊径向靠外侧设为“负的值”。

在此，第2间隙目标值G2T(第2间隙的间隙尺寸的目标值)，与第2初期检测工序中测定L31和L41时的第2间隙的间隙尺寸G2相等，所以根据所述(式11)、(式12)和(式13)，成为G2T＝G2S+ΔY2+ΔY3-TH＝L41-L31+2ΔY3cosθ3…(式17)。

另外，第2辊的半径由于热膨胀而增加ΔR2同时第3辊的半径由于热膨胀而增加ΔR3时的第2间隙的间隙尺寸G2N，与第2期间结束时检测工序中测定L32和L42时的第2间隙的间隙尺寸G2相等，所以根据所述(式14)、(式15)和(式16)，成为G2N＝G2S+ΔY2+ΔY3-TH-ΔR2-ΔR3＝L42-L32+2ΔY3cosθ3…(式18)。

此外，由于热膨胀而在各个检测期间内产生的第2间隙的变动量即ΔG2，可以根据(式17)和(式18)，作为ΔG2＝G2N-G2T＝(L42-L32)-(L41-L31)推导。因此，上述的制造方法中，在第3辊移动工序中，以将该变动量ΔG2＝(L42-L32)-(L41-L31)抵消的方式使第3辊移动，由此可以使第2间隙的间隙尺寸调整(回到)第2间隙目标值。

此外，前述任一项所述的带有糊层的片的制造方法，可以为：多个所述第3传感器和所述第4传感器包括：隔着所述第3辊的第1端部相对配置的第1侧第3传感器和第1侧第4传感器、以及隔着所述第3辊的第2端部相对配置的第2侧第3传感器和第2侧第4传感器，

所述第3辊移动机构包括：使所述第3辊的所述第1端部沿所述第2方向移动的第1侧第3辊移动机构、以及使所述第3辊的所述第2端部沿所述第2方向移动的第2侧第3辊移动机构，

使用所述第1侧第3传感器和所述第1侧第4传感器，检测所述第2间隙之中第1端部的间隙尺寸的变动量，并使用所述第2侧第3传感器和所述第2侧第4传感器，检测所述第2间隙之中第2端部的间隙尺寸的变动量，

通过所述第1侧第3辊移动机构使所述第3辊的所述第1端部移动，以抵消检测出的所述第2间隙之中所述第1端部的所述间隙尺寸的变动量，

并通过所述第2侧第3辊移动机构使所述第3辊的所述第2端部移动，以抵消检测出的所述第2间隙之中所述第2端部的所述间隙尺寸的变动量。

该带有糊层的片的制造方法中，将第3传感器、第4传感器、第3辊移动机构在第3辊的第1端部和第2端部分别设置一对，对于第3辊的第1端部和第2端部分别实行检测工序和第3辊移动工序。因此，在每个检测期间，能够遍及第2辊的轴线方向整体地，使随着第2间隙的变动产生的基材片上的糊层的厚度的变动消失。由此，根据该制造方法，能够制造一种带有糊层的片，其抑制第2辊和第3辊的热膨胀造成的、对在基材片上形成的糊层厚度的影响，无论在基材片的宽度方向还是长度方向都可抑制糊层厚度的变动。

其他解决手段是一种涂布装置，在带状基材片上设置由糊形成的带状糊层，包括：

第1辊，

第2辊，其相对于所述第1辊隔着第1间隙平行配置，且沿着与所述第1辊旋转方向相反的第2辊旋转方向旋转，

第3辊，其相对于所述第2辊隔着第2间隙平行配置，沿着与所述第2辊旋转方向相反的方向旋转，且对穿过所述第2间隙的所述基材片进行传送，

所述第1辊、所述第2辊和所述第3辊被配置为以下形态，将所述第2辊的第2辊中心轴与所述第1辊的第1辊中心轴连结的第1假想面以及将所述第2辊的所述第2辊中心轴与所述第3辊的第3辊中心轴连结的第2假想面在所述第2辊中心轴正交，并且所述第2间隙在以下部位形成，所述部位是从所述第1间隙在所述第2辊的第2辊表面上沿着所述第2辊旋转方向旋转1/4圈的部位，

第1传感器，其对在所述第2辊表面涂布的由所述糊形成的第2辊上涂膜的涂膜表面的第1径向位置进行检测，所述第1径向位置是所述第2辊上涂膜的所述涂膜表面之中、从所述第1间隙在所述第2辊表面上沿着所述第2辊旋转方向旋转第1角度的第1角度位置，所述第1角度大于0°且小于90°，

第2传感器，其隔着所述第2辊与所述第1传感器相对配置，且对所述第2辊的第2辊表面的第2径向位置进行检测，所述第2径向位置是所述第2辊表面之中、从所述第1角度位置沿着所述第2辊旋转方向旋转180°的第2角度位置，

第1辊移动机构，其使所述第1辊沿着将所述第2辊与所述第1辊连结的第1方向移动，

第1间隙变动检测部，其使用由所述第1传感器检测出的第1径向位置、以及由所述第2传感器检测出的第2径向位置，在每个所述检测期间检测所述第1间隙的间隙尺寸的变动量，所述第1间隙的间隙尺寸的变动量是由于热膨胀而在反复设置的检测期间中产生的，所述热膨胀是随着向所述第1间隙供给所述糊，使在所述第2辊表面涂布的所述第2辊上涂膜穿过所述第2间隙而向所述第3辊传送的所述基材片上转印，在所述基材片上持续形成所述糊层而在所述第1辊和所述第2辊产生的，

第1辊移动指示部，其对所述第1辊移动机构发出使所述第1辊向所述第1方向移动的指示，以将由所述第1间隙变动检测部检测出的所述第1间隙的所述变动量抵消，以及

调整部，其在上次的所述检测期间结束之后，结束由所述第1辊移动机构进行的所述第1辊的移动，然后在经过所述第2辊旋转所述第1角度的第2辊旋转时间以后，开始新的所述检测期间。

上述的涂布装置中，将第1辊和第3辊以第2辊为中心彼此呈直角配置。因此，即使为了调整第1间隙的间隙尺寸而使第1辊沿第1方向移动，也难以对位于与其正交的第2方向上的第2间隙的间隙尺寸产生影响。因此，能够不用考虑对第2间隙的影响地使第1辊移动。再者，可知第2辊上涂膜的厚度与该第2辊上涂膜形成的时间点的第1间隙的大小相等。该涂布装置中，由第1间隙变动检测部，使用由第1、第2传感器检测出的第2辊上涂膜的涂膜表面和第2辊表面的径向位置，在每个检测期间检测在检测期间中产生的第1间隙的间隙尺寸的变动量。另外，由第1辊移动指示部，对第1辊移动机构发出使第1辊向第1方向移动的指示，以将检测出的第1间隙的变动量抵消。由此，在每个检测期间，没有随着第1间隙的变动产生的第2辊上涂膜的厚度的变动，能够防止第1间隙的变动积累。由此，根据该涂布装置，能够抑制第1辊和第2辊的热膨胀造成的第2辊上涂膜厚度的变动，进而能够在基材片上涂布对于基材片的长度方向的厚度、密度的变动被抑制了的糊层。

再者，由调整部，在上次的检测期间结束之后，结束由第1辊移动机构进行的第1辊的移动，然后，经过第2辊旋转第1角度θ1的第2辊θ1旋转时间以后，开始新的检测期间。由此，第1间隙由于第1辊的移动而形成新的大小，在该新的第1间隙中的第2辊上涂膜能够由第1传感器检测的定时以后，开始下一次检测期间，因此能够从检测期间的最开始，使用第1传感器的输出。

上述的涂布装置可以是：所述第1间隙变动检测部根据所述检测期间产生的、由所述第1传感器检测出的所述第2辊上涂膜的所述涂膜表面的第1径向位置的变动量以及由所述第2传感器检测出的所述第2辊的所述第2辊表面的第2径向位置的变动量之差，取得由于所述第1辊和所述第2辊的所述热膨胀而在该检测期间内产生的所述第1间隙的所述变动量。

该涂布装置中，由第1间隙变动检测部，根据检测期间产生的、第2辊上涂膜的涂膜表面的第1径向位置的变动量以及第2辊的辊表面的第2径向位置的变动量之差，取得该检测期间内产生的第1间隙的间隙尺寸的变动量，所以能够容易取得第1间隙的间隙尺寸的变动量。

另外，所述的涂布装置可以是以下涂布装置，所述第1传感器是检测所述涂膜表面的所述第1径向位置的传感器，所述第1径向位置以所述第1角度位置的所述第2辊表面的开始前第1径向位置为基准位置，所述开始前第1径向位置是在向所述第1间隙开始所述糊的供给之前由所述第1传感器测定出的，

所述第2传感器是测定所述第2辊表面的所述第2径向位置的传感器，所述第2径向位置以所述第2角度位置的所述第2辊表面的开始前第2径向位置为基准位置，所述开始前第2径向位置是在向所述第1间隙开始所述糊的供给之前由所述第2传感器测定出的，

所述第1间隙变动检测部从反复设置的所述检测期间之中最初的检测期间开始时的、向所述第1间隙开始所述糊的供给时起算，在所述第2辊旋转所述第1角度θ1以上之后、并且所述第2辊旋转预定数之前，由所述第1传感器测定以所述开始前第1径向位置为基准位置的所述涂膜表面的初期第1径向位置，并由所述第2传感器测定以所述开始前第2径向位置为基准位置的所述第2辊表面的初期第2径向位置，由此取得所述涂膜表面的所述初期第1径向位置的值和所述第2辊表面的所述初期第2径向位置的值，

然后，在各个所述检测期间的结束时，由所述第1传感器测定以所述开始前第1径向位置为基准位置的所述涂膜表面的结束时第1径向位置，并由所述第2传感器测定以所述开始前第2径向位置为基准位置的所述第2辊表面的结束时第2径向位置，由此取得所述涂膜表面的结束时第1径向位置的值和所述第2辊表面的所述结束时第2径向位置的值，

将所述初期第1径向位置的值设为L11、将所述初期第2径向位置的值设为L21、将所述结束时第1径向位置的值设为L12、并将所述结束时第2径向位置的值设为L22时，使用ΔG1＝(L12-L22)-(L11-L21)的关系式，算出由于所述热膨胀而在各个所述检测期间内产生的所述第1间隙的所述变动量即ΔG1的值。

上述的涂布装置中，第1间隙变动检测部取得由第1传感器测定出的所述涂膜表面的所述初期第1径向位置L11的值、以及由第2传感器测定出的所述第2辊表面的所述初期第2径向位置L21的值。而且，第1间隙变动检测部取得由第1传感器测定出的涂膜表面的所述结束时第1径向位置L12的值、以及由第2传感器测定出的第2辊表面的所述结束时第2径向位置L22的值。而且，第1间隙变动检测部使用ΔG1＝(L12-L22)-(L11-L21)的关系式，算出由于热膨胀而在各个检测期间内产生的第1间隙的变动量即ΔG1的值。再者，导出该关系式的方法如前述的制造方法中说明的那样。

因此，上述的涂布装置中，与前述的制造方法同样地，由第1辊移动机构，以将该变动量ΔG1＝(L12-L22)-(L11-L21)抵消的方式使第1辊移动，由此能够使第1间隙的间隙尺寸调整为(回到)第1间隙目标值。由此，能够遍及制造期间整体地，使通过第1辊和第2辊之间形成的涂膜的厚度成为第1间隙目标值或与其接近的尺寸。

上述的任一项所述的涂布装置可以是以下涂布装置，所述第1传感器和所述第2传感器包括：隔着所述第2辊的第1端部相对配置的第1侧第1传感器和第1侧第2传感器、以及隔着所述第2辊的第2端部相对配置的第2侧第1传感器和第2侧第2传感器，

所述第1辊移动机构包括：使所述第1辊的第1端部沿所述第1方向移动的第1侧第1辊移动机构、以及使所述第1辊的第2端部沿所述第1方向移动的第2侧第1辊移动机构，

所述第1间隙变动检测部使用所述第1侧第1传感器和所述第1侧第2传感器检测所述第1间隙之中第1端部的间隙尺寸的变动量，并使用所述第2侧第1传感器和所述第2侧第2传感器检测所述第1间隙之中第2端部的间隙尺寸的变动量，

所述第1辊移动指示部对所述第1侧第1辊移动机构发出使所述第1辊的所述第1端部移动的指示，以将检测出的所述第1间隙之中所述第1端部的所述间隙尺寸的变动量抵消，并对所述第2侧第1辊移动机构发出使所述第1辊的所述第2端部移动的指示，以将检测出的所述第1间隙之中所述第2端部的所述间隙尺寸的变动量抵消。

该涂布装置中，将第1传感器、第2传感器、第1辊移动机构在第2辊的第1端部和第2端部分别设置一对，由第1间隙变动检测部分别检测第1间隙之中第1端部和第2端部的间隙尺寸的变动量，由第1辊移动指示部向一对第1辊移动机构发送使第1辊的第1端部和第2端部移动的指示。因此，在每个检测期间，能够遍及第2辊的轴线方向整体地，使随着第1间隙的变动产生的第2辊上涂膜的厚度的变动消失。由此，根据该涂布装置，能够抑制第1辊和第2辊的热膨胀造成的、对第2辊上涂膜的厚度的影响，无论在基材片的宽度方向还是长度方向，能够在基材片上涂布抑制了厚度、密度的变动的糊层。

前述的任一项所述的涂布装置可以是以下涂布装置，还具备：第3传感器，其对被转印到卷在所述第3辊上的所述基材片上的所述糊层的层表面的第3径向位置进行检测，所述第3径向位置是所述糊层的所述层表面之中、从所述第2间隙在所述第3辊的第3辊表面上沿着所述第3辊旋转方向旋转第3角度的第3角度位置，所述第3角度大于0°且小于90°，

第4传感器，其隔着所述第3辊与所述第3传感器相对配置，且对所述第3辊的所述第3辊表面或卷在所述第3辊上的所述基材片的径向外侧表面的第4径向位置进行检测，所述第4径向位置是所述第3辊表面或所述径向外侧表面之中、从所述第3角度位置沿着第3辊旋转方向退回180°的第4角度位置，

第3辊移动机构，其使所述第3辊沿着将所述第2辊与所述第3辊连结的第2方向移动，

第2间隙变动检测部，其使用由所述第3传感器检测出的所述第3径向位置以及由所述第4传感器检测出的所述第4径向位置，在每个所述检测期间检测所述第2间隙的间隙尺寸的变动量，所述第2间隙的所述变动量是由于所述第2辊和所述第3辊产生的热膨胀而在所述检测期间中产生的，

第3辊移动指示部，其对所述第3辊移动机构发出使所述第3辊向所述第2方向移动的指示，以将由所述第2间隙变动检测部检测出的所述第2间隙的所述变动量抵消，其中，

所述调整部在上次的所述检测期间结束之后，结束由所述第1辊移动机构进行的所述第1辊的移动，并且结束由所述第3辊移动机构进行的所述第3辊的移动，然后经过所述第2辊1/4旋转时间，进而经过所述第3辊旋转所述第3角度θ3的第3辊θ3旋转时间以后，开始新的所述检测期间。

上述的涂布装置中，如上所述，将第1辊和第3辊以第2辊为中心配置。因此，即使为了调整第2间隙的间隙尺寸而使第3辊沿第2方向移动，也难以对位于与其正交的第1方向上的第1间隙的间隙尺寸产生影响。因此，可以不用考虑对第1间隙的影响，使第3辊移动。该涂布装置中，由第2间隙变动检测部，使用由第3、第4传感器检测出的糊层的层表面和第3辊表面或基材片的径向外侧表面的径向位置，在每个检测期间监测检测期间中产生的第2间隙的间隙尺寸的变动量。另外，由第3辊移动指示部向第3辊移动机构发送使第3辊向第2方向移动的指示，以将检测出的第2间隙的变动量抵消。由此，在每个检测期间，能够使随着第2间隙的变动产生的糊层的厚度的变动消失，防止第2间隙的变动积累。由此，根据该涂布装置，不仅是第1辊和第2辊的热膨胀造成的影响，还能够抑制第3辊的热膨胀造成的影响，能够对于基材片的长度方向，在基材片上涂布厚度的变动被抑制了的糊层。

再者，利用调整部，在上次的检测期间结束之后，分别结束由第1、第3辊移动机构进行的第1、第3辊的移动，然后，经过比第2辊θ1旋转时间长的第2辊1/4旋转时间，进而经过第3辊θ3旋转时间以后，开始新的检测期间。由此，第1间隙和第2间隙由于第1、第3辊的移动而形成新的大小，穿过具有该新的大小的第1间隙形成的第2辊上涂膜到达第2间隙，而且，来自第2间隙的糊层能够由第3传感器检测的定时以后，开始下一次检测期间。因此，能够从检测期间的最开始，使用第1传感器和第3传感器的输出。

此外，上述的涂布装置可以是以下涂布装置，所述第2间隙变动检测部，根据所述检测期间产生的、由所述第3传感器检测出的所述糊层的所述层表面的所述第3径向位置的变动量以及由所述第4传感器检测出的所述第3辊表面或所述径向外侧表面的所述第4径向位置的变动量之差，取得由于所述第2辊和所述第3辊的所述热膨胀而在该检测期间内产生的所述第2间隙的所述变动量。

该涂布装置中，由第2间隙变动检测部，根据检测期间产生的、糊层的层表面的第3径向位置的变动量以及第3辊表面或基材片的径向外侧表面的径向位置的变动量之差，取得该检测期间内产生的第2间隙的间隙尺寸的变动量，所以能够容易取得第2间隙的间隙尺寸的变动量。

另外，所述的涂布装置可以是以下涂布装置，所述第3传感器是测定所述糊层的所述层表面的所述第3径向位置的传感器，所述第3径向位置以所述第3角度位置的所述第3辊表面的开始前第3径向位置为基准位置，所述开始前第3径向位置是在向所述第1间隙开始所述糊的供给之前由所述第3传感器测定出的，

所述第4传感器是测定所述基材片的所述径向外侧表面或所述第3辊表面的所述第4径向位置的传感器，所述第4径向位置以所述第4角度位置的所述第3辊表面的开始前第4径向位置为基准位置，所述开始前第4径向位置是在向所述第1间隙开始所述糊的供给之前由所述第4传感器测定出的，

所述第2间隙变动检测部从反复设置的所述检测期间之中最初的检测期间开始时的、所述第2辊上涂膜最初到达所述第2间隙时起算，在所述第3辊旋转所述第3角度以上之后、并且所述第3辊旋转预定数之前，由所述第3传感器测定以所述开始前第3径向位置为基准位置的所述糊层的所述层表面的初期第3径向位置，进而由所述第4传感器测定以所述开始前第4径向位置为基准位置的所述基材片的所述径向外侧表面或所述第3辊表面的初期第4径向位置，由此取得所述糊层的所述层表面的所述初期第3径向位置的值和所述基材片的所述径向外侧表面或所述第3辊表面的所述初期第4径向位置的值，

然后，在各个所述检测期间的结束时，由所述第3传感器测定以所述开始前第3径向位置为基准位置的所述糊层的所述层表面的结束时第3径向位置，进而由所述第4传感器测定以所述开始前第4径向位置为基准位置的所述基材片的所述径向外侧表面或所述第3辊表面的结束时第4径向位置，由此取得所述糊层的所述层表面的所述结束时第3径向位置的值和所述基材片的所述径向外侧表面或所述第3辊表面的所述结束时第4方向位置的值，将所述初期第3径向位置的值设为L31、将所述初期第4径向位置的值设为L41、将所述结束时第3径向位置的值设为L32、并将所述结束时第4径向位置的值设为L42时，使用ΔG2＝(L42-L32)-(L41-L31)的关系式，算出由于所述热膨胀而在各个所述检测期间内产生的所述第2间隙的所述变动量即ΔG2的值。

上述的涂布装置中，第2间隙变动检测部取得由第3传感器测定出的糊层的层表面的初期第3径向位置L31的值、以及由第4传感器测定出的基材片的径向外侧表面或第3辊表面的初期第4径向位置L41的值。而且，第2间隙变动检测部取得由第3传感器测定出的糊层的层表面的结束时第3径向位置L32的值、以及由第4传感器测定出的基材片的径向外侧表面或第3辊表面的结束时第4径向位置L42的值。而且，第2间隙变动检测部使用ΔG2＝(L42-L32)-(L41-L31)的关系式，算出由于热膨胀而在各个检测期间内产生的第2间隙的变动量即ΔG2的值。再者，导出该关系式的方法如前述的制造方法中说明的那样。

因此，上述的涂布装置中，与前述的制造方法同样地，通过第3辊移动机构，以将该变动量ΔG2＝(L42-L32)-(L41-L31)抵消的方式使第3辊移动，由此能够使第2间隙的间隙尺寸调整为(回到)第2间隙目标值。由此，能够遍及制造期间整体地，使穿过第2辊和第3辊之间形成的涂膜的厚度成为第2间隙目标值或与其接近的尺寸。

此外，所述任一项所述的涂布装置可以是以下涂布装置，所述第3传感器和所述第4传感器包括：隔着所述第3辊的第1端部相对配置的第1侧第3传感器和第1侧第4传感器、以及隔着所述第3辊的第2端部相对配置的第2侧第3传感器和第2侧第4传感器，

所述第3辊移动机构包括：使所述第3辊的所述第1端部沿所述第2方向移动的第1侧第3辊移动机构、以及使所述第3辊的所述第2端部沿所述第2方向移动的第2侧第3辊移动机构，

所述第2间隙变动检测部使用所述第1侧第3传感器和所述第1侧第4传感器检测所述第2间隙之中第1端部的间隙尺寸的变动量，并使用所述第2侧第3传感器和所述第2侧第4传感器检测所述第2间隙之中第2端部的间隙尺寸的变动量，

所述第3辊移动指示部对所述第1侧第3辊移动机构发出使所述第3辊的所述第1端部移动的指示，以将检测出的所述第2间隙之中所述第1端部的所述间隙尺寸的变动量抵消，并对所述第2侧第3辊移动机构发出使所述第3辊的所述第2端部移动的指示，以将检测出的所述第2间隙之中所述第2端部的所述间隙尺寸的变动量抵消。

该涂布装置中，将第3传感器、第4传感器、第3辊移动机构在第3辊的第1端部和第2端部分别设置一对，由第2间隙变动检测部分别检测第2间隙之中第1端部和第2端部的间隙尺寸的变动量，由第3辊移动指示部向一对第3辊移动机构发送第3辊的第1端部和第2端部的移动指示。因此，能够在每个检测期间，遍及第2辊的轴线方向整体地使随着第2间隙的变动产生的糊层的厚度的变动消失。由此，根据该涂布装置，不能够抑制第1辊和第2辊的热膨胀造成的影响，还能够抑制第3辊的热膨胀造成的对在基材片上形成的糊层厚度的影响，无论在基材片的宽度方向还是长度方向，都能够在基材片上涂布抑制了厚度变动的糊层。

附图说明

以下，参考附图描述本发明的示例性实施例的特征、优点以及技术和产业意义，附图中相同的标记表示相同的元件，其中：

图1是表示实施方式中的制造电极板(带有干燥糊层的片)的涂布装置和干燥装置的概要的说明图。

图2是表示实施方式中的制造电极板的工序的流程图。

图3是表示涂布工序的内容的流程图。

图4是表示实施方式中的包含3根辊的涂布装置、以及使用该涂布装置的未干燥电极板的制造的样子的说明图。

图5是实施方式中，对于第2辊轴线方向，表示第2辊和第2辊上涂膜以及第1传感器和第2传感器的关系的说明图。

图6是表示实施方式中的第1辊、以及使该第1辊的一方端部和另一方端部分别沿第1方向移动的一对第1辊移动机构的说明图。

图7是实施方式中，对于第3辊轴线方向，表示第3辊、集电箔和未干燥电极板以及第3传感器和第4传感器的关系的说明图。

图8是表示实施方式中的第3辊、以及使该第3辊的一方端部和另一方端部分别沿第2方向移动的一对第3辊移动机构的说明图。

图9是表示实施方式中的图5所示的涂布装置的3根辊分别发生了热膨胀时各辊表面、第2辊上涂膜和未干燥电极板的变化的说明图。

图10是将实施方式中的图9之中的第1辊表面、第2辊表面和第2辊上涂膜的变化、以及第1传感器的测定位置放大表示的放大说明图。

图11是将实施方式中的图9之中的第2辊表面、第3辊表面和未干燥电极板的变化、以及第3传感器的测定位置放大表示的放大说明图。

图12是表示实施方式中的涂布装置的控制部、第1～第4传感器和第1、第3辊移动机构的关系的说明图。

图13是表示实施方式中的第1间隙的间隙尺寸的时间变动的坐标图，实线表示每个检测期间将第1、第2辊的热膨胀造成的变动抵消了的情况，虚线表示没有抵消的情况。

图14是表示实施方式中的第2间隙的间隙尺寸的时间变动的坐标图，实线表示每个检测期间将第2、第3辊的热膨胀造成的变动抵消了的情况，虚线表示没有抵消的情况。

图15是表示变形方式1中的包含3根辊的涂布装置、以及使用该涂布装置的未干燥电极板的制造的样子的说明图。

图16是变形方式2中的涂布装置、以及使用该涂布装置的未干燥电极板的制造方法的说明图。

图17是表示变形方式2中的涂布工序的内容的流程图的一部分。

图18是表示变形方式2中的涂布工序的内容的流程图的一部分。

图19是变形方式2中的第1辊移动机构和第1辊驱动机构的说明图。

图20是变形方式2中的第3辊移动机构和第3辊驱动机构的说明图。

图21是表示变形方式2中的第1间隙的间隙尺寸的时间变动的坐标图。

图22是表示变形方式2中的第2间隙的间隙尺寸的时间变动的坐标图。

具体实施方式

(实施方式)

以下，参照附图对本发明的实施方式进行说明。图1表示使用本实施方式中的涂布装置10和干燥装置30制造电极板1的样子。另外，图2、图3表示制造电极板1的工序的流程图，图4～图14表示涂布装置10的详情以及使用各辊11、12、13形成第2辊上涂膜5和未干燥活性物质层6的样子。

如图1所示，本实施方式中，使用涂布装置10，在由带状铝箔构成且从集电箔辊2RL供给的集电箔2的表面2s上，形成涂布了未干燥活性物质层6的未干燥电极板7。而且，用干燥装置30的加热器将该未干燥电极板7加热使其干燥，形成在集电箔2上以带状设置活性物质层3而成的电极板1，并将其作为电极板辊1RL卷绕。再者，活性物质层3包含公知的正极活性物质粒子、导电剂粒子和粘结剂。

使用图2的流程图，具体地说明电极板1的制造方法。首先，在步骤S1的涂布工序中，使用涂布装置10，在集电箔2的一方表面2sa上涂布未干燥活性物质层6，制造未干燥电极板7。接着，在步骤S2的干燥工序中，使用干燥装置30将涂布了的未干燥活性物质层6干燥，形成活性物质层3，暂且将形成的电极板1作为电极板辊1RL卷绕。接着，在步骤S3的涂布工序中，将该电极板辊1RL作为集电箔辊2RL再次向涂布装置10供给(在反面形成有活性物质层3的)集电箔2，在集电箔2的另一方表面(背面)2sb上涂布未干燥活性物质层6，制造未干燥电极板7。在步骤S4的干燥工序中，使用干燥装置30将涂布了的未干燥活性物质层6干燥，将电极板1作为电极板辊1RL卷绕。由此，完成在集电箔2的两面2sa、2sb分别具有活性物质层3、3的电极板1。

涂布装置10如图4所示，具有：半径R1的第1辊11、与该第1辊11隔着第1间隙KG1平行配置的半径R2的第2辊12、以及与该第2辊12隔着第2间隙KG2平行配置的半径R3的第3辊13。此外，如后所述，在第2辊12和第3辊13具备四对位移传感器，即第1传感器21(21a、21b)～第4传感器24(24a、24b)(参照图4、图5、图7)。而且，在第1辊11和第3辊13分别具备一对使它们移动的第1辊移动机构25(25a、25b)和第3辊移动机构26(26a、26b)。再者，第1～第4传感器21～24的输出(信号)的检测、处理和第1、第3辊移动机构25，26的控制在控制部27(参照图1、图12)进行。

第1～第3辊11、12、13以第2辊12为中心，第1辊11和第3辊13呈直角配置。详细而言，第1～第3辊11、12、13，以将第2辊12的第2辊中心轴12ax和第1辊11的第1辊中心轴11ax连结的第1假想面PL21、以及将上述第2辊12的第2辊中心轴12ax和第3辊13的第3辊中心轴13ax连结的第2假想面PL23在第2辊中心轴12ax正交的形态配置。而且，配置为上述第2间隙KG2形成于以下部位的形态，所述部位是从第1间隙KG1在第2辊12的第2辊表面12s上沿着第2辊旋转方向RL2旋转1/4圈的部位。

第1～第3辊11、12、13如图4所示，第1辊11的第1辊旋转方向RL1和第3辊13的第3辊旋转方向RL3为同向(本图中为顺时针)，仅第2辊12的第2辊旋转方向RL2以逆向(本图中为逆时针)旋转。另外，圆周速度以第1辊11、第2辊12、第3辊13的顺序变大。

另外，在第1辊11和第2辊12的第1间隙KG1的上方，设置有将活性物质糊4保持并向第1间隙KG1供给的糊保持部14。

如果向该糊保持部14供给活性物质糊4，则穿过第1间隙KG1，在第2辊12的第2辊表面12s形成第2辊上涂膜5。集电箔2卷到第3辊13上，在其旋转的同时穿过第2间隙KG2传送。因此，第2辊表面12s上的第2辊上涂膜5在第2间隙KG2中向第3辊13侧的集电箔2转印，制造在集电箔2的表面2s上形成有未干燥活性物质层6的未干燥电极板7。然后，如上所述，送至干燥装置30，未干燥活性物质层6被干燥从而成为活性物质层3，形成带状电极板1。再者，当在集电箔2的两面设置活性物质层3的情况下，如上所述，将在单面形成了活性物质层3的电极板1卷绕而成的电极板辊1RL作为集电箔辊2RL，用涂布装置10在集电箔2的另一方表面2s形成未干燥活性物质层6，制造未干燥电极板7，用干燥装置30使其干燥即可。

在涂布装置10之中的第2辊12的周围，配置有作为位移传感器的第1传感器21和第2传感器22。第1传感器21和第2传感器22是激光位移计(例如，Keyence公司制型号LK-H022)。其中第1传感器21被配置为：对在第2辊表面12s涂布的由活性物质糊4构成的第2辊上涂膜5的涂膜表面5s的第1径向位置PR5s进行检测，第1径向位置PR5s是第2辊上涂膜5的涂膜表面5s之中的、从第1间隙KG1在第2辊表面12s上沿着第2辊旋转方向RL2旋转第1角度θ1(其中0°<θ1<90°，本实施方式中θ1＝45°)的第1角度位置AG1。

另一方面，第2传感器22隔着第2辊12与第1传感器21相对配置。即，其被配置为：对第2辊12的第2辊表面12s的第2径向位置PR12s进行检测，第2径向位置PR12s是第2辊表面12s之中的、从第1角度位置AG1沿着第2辊旋转方向RL2旋转180°的第2角度位置AG2。

另外，在第3辊13的周围配置有第3传感器23和第4传感器24。第3传感器23和第4传感器24也是与第1，第2传感器21、22相同的激光位移计。其中第3传感器被配置为：对被转印到卷在第3辊13上的集电箔2上的未干燥活性物质层6的层表面6s的第3径向位置PR6s进行检测，第3径向位置PR6s是未干燥活性物质层6的层表面6s之中的、从第2间隙KG2在第3辊13的第3辊表面13s上沿着第3辊旋转方向RL3旋转第3角度θ3(其中，0°<θ3<90°，本实施方式中，θ3＝45°)的第3角度位置AG3。

此外，第4传感器24隔着第3辊13与第3传感器23相对配置。即，其被配置为：对卷在第3辊13上的集电箔2的朝向径向外侧的径向外侧表面2sa的第4径向位置PR2s进行检测，第4径向位置PR2s是集电箔2的径向外侧表面2sa之中的、从第3角度位置AG3沿着第3辊旋转方向RL3退回180°的第4角度位置AG4。

第1传感器21和第2传感器22以第2辊表面12s为基准，检测第2辊上涂膜5的涂膜表面5s的第1径向位置PR5s或者第2辊表面12s的第2径向位置PR12s的位移，第2辊表面12s是没有向糊保持部14供给活性物质糊4并且在第1、第2辊11、12没有发生后述的热膨胀的状态下分别测定的。另外，第3传感器23和第4传感器24以卷在第3辊13上的集电箔2的径向外侧表面2sa为基准，检测未干燥活性物质层6的层表面6s的第3径向位置PR6s或者集电箔2的径向外侧表面2sa的第4径向位置PR2s的位移，径向外侧表面2sa是在没有向糊保持部14供给活性物质糊4而使集电箔2卷在第3辊上的状态、并且在第1～第3辊11～13没有发生后述的热膨胀的状态下测定的。

这样，能够从第1传感器21的输出检测第2辊上涂膜5的厚度TH5。另外，能够从第3传感器23的输出检测未干燥活性物质层6的厚度TH6或者未干燥电极板7的厚度TH7。

然而如上所述，该涂布装置10中，如果向长带状集电箔2持续涂布未干燥活性物质层6，则各辊11～13因在第1间隙KG1、第2间隙KG2附近产生的摩擦热等而升温，各辊11～13的半径R1～R3由于热膨胀而逐渐变大。即，如图9～图11所示，用两点划线示出的各辊11～13由于热膨胀逐渐变大，成为用实线示出的那样。于是，由图9、图10能够容易理解，随着第1辊11和第2辊12的半径R1、R2因热膨胀而逐渐变大，第1间隙KG1的间隙尺寸G1逐渐变小。因此，在第2辊表面12s上形成的第2辊上涂膜5的厚度TH5也逐渐变薄。于是，在集电箔2上形成的未干燥活性物质层6的厚度TH6也逐渐变薄。

另外，随着第2辊12和第3辊13的半径R2、R3因热膨胀而逐渐变大，第2间隙KG2的间隙尺寸G2也变小。由此，在集电箔2的径向外侧表面2sa上形成的未干燥活性物质层6的厚度TH6也逐渐变薄。

此外，由于某一检测期间内(该检测期间的从始期到终期)产生的热膨胀，该检测期间中各辊的半径R1、R2、R3以R1→R1+ΔR1、R2→R2+ΔR2、R3→R3+ΔR3变化。另外，第1间隙KG1的间隙尺寸G1以G1→G1-ΔG1减少。于是，由图9、图10能够容易理解，该间隙尺寸G1的变动量ΔG1与第1辊11的半径R1的变动量ΔR1以及第2辊12的半径R2的变动量ΔR2之和的相反数相等(ΔG1＝-(ΔR1+ΔR2))。

同样地，由图9、图11能够容易理解，随着第2、第3辊12、13的热膨胀，第2间隙KG2的间隙尺寸G2以G2→G2-ΔG2减少。另一方面，该间隙尺寸G2的变动量ΔG2与第2辊12的半径R2的变动量ΔR2以及第3辊13的半径R3的变动量ΔR3之和的相反数相等(ΔG2＝-(ΔR2+ΔR3))。

另外，由图9能够容易理解，由第2传感器22检测的第2辊表面12s的第2径向位置PR12s在某一检测期间产生的变动量ΔPR12s，与该检测期间中产生的第2辊12的半径R2的变动量ΔR2相等(ΔPR12s＝ΔR2)。另一方面，由图9、图10能够容易理解，由第1传感器21检测的第2辊上涂膜5的涂膜表面5s的第1径向位置PR5s在相同检测期间产生的变动量ΔPR5s，与该检测期间中产生的第1辊11的半径R1的变动量ΔR1的相反数-ΔR1相等(ΔPR5s＝-ΔR1)。

因此，使用第1传感器21和第2传感器22的输出，能够算出该检测期间产生的第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动量ΔG1。具体而言，可知ΔG1＝-(ΔR1+ΔR2)＝ΔPR5s-ΔPR12s，所以根据由第1传感器21的输出得到的变动量ΔPR5s、以及由第2传感器22的输出得到的变动量ΔPR12s之差(ΔPR5s-ΔPR12s)，可得到间隙尺寸G1的变动量ΔG1。

另外，由图9、图11能够容易理解，由第4传感器24检测的集电箔2的径向外侧表面2sa的第4径向位置PR2s在某一检测期间产生的变动量ΔPR2s，与该检测期间产生的第3辊13的半径R3的变动量ΔR3相等(ΔPR2s＝ΔR3)。另一方面，由第3传感器23检测的未干燥活性物质层6的层表面6s的第3径向位置PR6s在相同检测期间产生的变动量ΔPR6s，与该检测期间产生的第2辊12的半径R2的变动量ΔR2的相反数-ΔR2相等(ΔPR6s＝-ΔR2)。

因此，使用第3传感器23和第4传感器24的输出，能够算出在该检测期间产生的第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动量ΔG2。具体而言，可知ΔG2＝-(ΔR2+ΔR3)＝ΔPR6s-ΔPR2s，所以根据由第3传感器23的输出得到的变动量ΔPR6s、以及由第4传感器24的输出得到的变动量ΔPR2s之差(ΔPR6s-ΔPR2s)，可得到间隙尺寸G2的变动量ΔG2。

此外，本实施方式的涂布装置10中，如图5所示，在第2辊12之中沿着第2辊中心轴12ax的第2辊轴线方向HX12的一方侧HX12A(图5中，左侧)的一方端部12A、以及第2辊轴线方向HX12的另一方侧HX12B(图5中，右侧)的另一方端部12B，分别设置一对第1传感器21和第2传感器22。即，涂布装置10具有：隔着第2辊12的一方端部12A相对配置的一方侧第1传感器21a和一方侧第2传感器22a、以及隔着第2辊12的另一方端部12B相对配置的另一方侧第1传感器21b和另一方侧第2传感器22b。这是为了遍及第2辊轴线方向HX12的整体地检测第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动。

因此，本实施方式中，使用一方侧第1传感器21a和一方侧第2传感器22a的输出，算出该检测期间产生的第1间隙KG1的一方端部KG1A的间隙尺寸G1A(参照图4、图6)的变动量ΔG1A。具体而言，成为ΔG1A＝-(ΔR1+ΔR2)＝ΔPR5sa-ΔPR12sa，所以根据由一方侧第1传感器21a检测出的变动量ΔPR5sa和由一方侧第2传感器22a检测出的变动量ΔPR12sa之差(ΔPR5sa-ΔPR12sa)，可得到第1间隙KG1的一方端部KG1A的间隙尺寸G1A的变动量ΔG1A。

另外，使用另一方侧第1传感器21b和另一方侧第2传感器22b的输出，算出该检测期间产生的第1间隙KG1的另一方端部KG1B的间隙尺寸G1B的变动量ΔG1B。具体而言，成为ΔG1B＝-(ΔR1+ΔR2)＝ΔPR5sb-ΔPR12sb，所以根据由另一方侧第1传感器21b检测出的变动量ΔPR5sb和由另一方侧第2传感器22b检测出的变动量ΔPR12sb之差(ΔPR5sb-ΔPR12sb)，可得到第1间隙KG1的另一方端部KG1B的间隙尺寸G1B的变动量ΔG1B。

另外，如图7所示，涂布装置10在第3辊13之中沿着第3辊中心轴13ax的第3辊轴线方向HX13的一方侧HX13A(图7中，左侧)的一方端部13A、以及第3辊轴线方向HX13的另一方侧HX13B(图7中，右侧)的另一方端部13B，分别设置有一对第3传感器23和第4传感器24。即，涂布装置10具有：隔着第3辊13的一方端部13A相对配置的一方侧第3传感器23a和一方侧第4传感器24a、以及隔着第3辊13的另一方端部13B相对配置的另一方侧第3传感器23b和另一方侧第4传感器24b。

因此，使用一方侧第3传感器23a和一方侧第4传感器24a的输出，算出该检测期间产生的第2间隙KG2的一方端部KG2A的间隙尺寸G2A(参照图4、图8)的变动量ΔG2A。具体而言，成为ΔG2A＝-(ΔR2+ΔR3)＝ΔPR6sa-ΔPR2sa，所以根据由一方侧第3传感器23a检测出的变动量ΔPR6sa和由一方侧第4传感器24a检测出的变动量ΔPR2sa之差(ΔPR6sa-ΔPR2sa)，可得到第2间隙KG2的一方端部KG2A的间隙尺寸G2A的变动量ΔG2A。

另外，使用另一方侧第3传感器23b和另一方侧第4传感器24b的输出，算出该检测期间产生的第2间隙KG2的另一方端部KG2B的间隙尺寸G2B的变动量ΔG2B。具体而言，成为ΔG2B＝-(ΔR2+ΔR3)＝ΔPR6sb-ΔPR2sb，所以根据由另一方侧第3传感器23b检测出的变动量ΔPR6sb和由另一方侧第4传感器24b检测出的变动量ΔPR2sb之差(ΔPR6sb-ΔPR2sb)，可得到第2间隙KG2的另一方端部KG2B的间隙尺寸G2B的变动量ΔG2B。

因此，本实施方式的涂布装置10(参照图1、图12)中，在控制部27中，利用各传感器21～24的输出，使用第1、第3辊移动机构25、26，使第1辊11或者第3辊13间歇地移动，进行将各辊11～13的热膨胀造成的第1间隙KG1或者第2间隙KG2的变动抵消的控制。

在说明控制的内容之前，对于第1、第3辊移动机构25、26进行说明。如图6所示，本实施方式的涂布装置10具有使第1辊11沿第1方向H21(图6中为上下方向，图4中为左右方向)移动的第1辊移动机构25(25a、25b)。具体而言，具有一方侧第1辊移动机构25a，其使第1辊11之中沿着第1辊中心轴11ax的第1辊轴线方向HX11的一方侧HX11A(图6中，左侧)的一方端部11A沿第1方向H21移动。另外，具有另一方侧第1辊移动机构25b，其使第1辊轴线方向HX11的另一方侧HX11B(图6中，右侧)的另一方端部11B沿第1方向H21移动。

另外，如图8所示，本实施方式的涂布装置10具有第3辊移动机构26(26a、26b)，其使第3辊13沿第2方向H23(图8、图4中为上下方向)移动。具体而言，具有一方侧第3辊移动机构26a，其使第3辊13之中沿着第3辊中心轴13ax的第3辊轴线方向HX13的一方侧HX13A(图8中，左侧)的一方端部13A沿第2方向H23移动。另外，具有另一方侧第3辊移动机构26b，其使第3辊轴线方向HX13的另一方侧HX13B(图8中，右侧)的另一方端部13B沿第2方向H23移动。

另一方面，涂布装置10的控制部27如图12所示，是具有CPU(中央运算装置)281、存储了预定程序的ROM282、RAM283、输入输出电路285以及连接它们的母线284的计算机。母线284除了输入来自各传感器21a、21b～24a、24b的各输出以外，还向各辊移动机构25a～26b发送指示它们的移动量的输出信号。另外，CPU281在控制的各阶段，作为后述的第1间隙变动检测部271、第2间隙变动检测部272、第1辊移动指示部273、第3辊移动指示部274和调整部275发挥功能。

本实施方式的涂布装置10中，以将如上所述算出的、对于第1间隙KG1的一方端部KG1A的间隙尺寸G1A的变动量ΔG1A抵消的方式，使用一方侧第1辊移动机构25a，使第1辊11的一方端部11A沿第1方向H21移动。由此，对于第1间隙KG1的一方端部KG1A的间隙尺寸G1A保持为大致恒定。并且同样地，以将如上所述算出的、对于第1间隙KG1的另一方端部KG1B的间隙尺寸G1B的变动量ΔG1B抵消的方式，使用另一方侧第1辊移动机构25b，使第1辊11的另一方端部11B沿第1方向H21移动。由此，对于第1间隙KG1的另一方端部KG1B的间隙尺寸G1B也保持为大致恒定。因此，能够遍及第2辊轴线方向HX12的整体地，通过第1辊11向第1方向H21的移动来抵消由于第1辊11和第2辊12的热膨胀而产生的第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动，将第1间隙KG1的间隙尺寸G1保持为大致恒定，能够防止热膨胀引起的第1间隙KG1的变动积累。

另外，以将如上所述算出的、对于第2间隙KG2的一方端部KG2A的间隙尺寸G2A的变动量ΔG2A抵消的方式，使用一方侧第3辊移动机构26a，使第3辊13的一方端部13A沿第2方向H23移动。由此，对于第2间隙KG2的一方端部KG2A的间隙尺寸G2A保持为大致恒定。并且同样地，以将如上所述算出的、对于第2间隙KG2的另一方端部KG2B的间隙尺寸G2B的变动量ΔG2B抵消的方式，使用另一方侧第3辊移动机构26b，使第3辊13的另一方端部13B沿第2方向H23移动。由此，对于第2间隙KG2的另一方端部KG2B的间隙尺寸G2B也保持为大致恒定。因此，能够遍及第3辊轴线方向HX13的整体地，通过第3辊13向第2方向H23的移动来抵消由于第2辊12和第3辊13的热膨胀而产生的第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动，将第2间隙KG2的间隙尺寸G2保持为大致恒定，能够防止热膨胀引起的第2间隙KG2的变动积累。

具体而言，在由集电箔辊2RL供给的集电箔2的一方表面2s(2sa)上涂布未干燥活性物质层6从而形成未干燥电极板7的步骤S1的涂布工序(参照图2)中，进行以下的各步骤S11～S15的处理(参照图3)。再者，本实施方式的涂布装置10中，如上所述，无论对于各传感器21～24还是各辊移动机构25、26都在一方侧和另一方侧设置一对，进行同样的处理，将第1间隙KG1的一方侧和另一方侧的间隙尺寸G1A、G1B以及第2间隙KG2的一方侧和另一方侧的间隙尺寸G2A、G2B分别独立地保持一定。因此，为了避免重复说明，以下将一方侧和另一方侧不加区别地说明。

首先，作为检测工序的步骤S11中，在每个检测期间DT(n)，检测由于第1辊11和上述第2辊12产生的热膨胀而在反复设置的检测期间DT(n)中产生的第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动量ΔG1(ΔG1A、ΔG1B)。另外，在每个检测期间DT(n)，检测由于第2辊12和第3辊13产生的热膨胀而在该检测期间DT(n)中产生的第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动量ΔG2(ΔG2A、ΔG2B)。再者，n是自然数。另外，检测期间DT(n)的长度在本实施方式中为预定长度，具体而言为1分钟。

该检测工序(步骤S11)中，进行图3所示的处理。具体而言，首先，在步骤S111中开始新的检测期间DT(n)。步骤S112中，使用通过输入输出电路285输入的第1传感器21和第2传感器22的输出(第1径向位置PR5s、第2径向位置PR12s)，包括检测期间DT(n)的最开始的时间点在内，算出各时间点的第1间隙KG1的间隙尺寸G1。另外，步骤S113中，使用通过输入输出电路285输入的第3传感器23和第4传感器的输出(第3径向位置PR6s、第4径向位置PR2s)，包括检测期间DT(n)的最开始的时间点在内，算出各时间点的第2间隙KG2的间隙尺寸G2。

步骤S114中，判断该检测期间DT(n)是否结束，当结束前(否)的情况下，重复步骤S112、S113。当该检测期间DT(n)结束了(是)的情况下，进入步骤S115。

步骤S115中，使用步骤S112中检测出的各时间点的第1间隙KG1的间隙尺寸G1，算出在该检测期间产生的第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动量ΔG1(ΔG1A、ΔG1B)。具体而言，根据检测期间DT(n)的开始时和即将结束前检测出的间隙尺寸G1算出变动量ΔG1。另外，步骤S116中，使用在步骤S113检测出的各时间点的第2间隙KG2的间隙尺寸G2，算出该检测期间产生的第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动量ΔG2(ΔG2A、ΔG2B)。具体而言，由检测期间DT(n)的开始时和即将结束前检测出的间隙尺寸G2算出变动量ΔG2。

接着，在作为第1辊移动工序的步骤S12中，基于在步骤S11(步骤S115)检测出的检测期间DT(n)产生的第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动量ΔG1，以将其抵消的方式使第1辊移动机构25移动，进入步骤S14。另外，与上述的步骤S12并行地，在作为第3辊移动工序的步骤S13中，基于在步骤S11(步骤S116)检测出的第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动量ΔG2，以将其抵消的方式使第3辊移动机构26移动，进入步骤S14。

此外，在作为调整工序的步骤S14中，上次的检测期间DT(n)结束后，结束由第1辊移动机构25进行的第1辊11的移动，并且结束由第3辊移动机构26进行的第3辊13的移动，然后判断是否经过第2辊12旋转1/4圈的第2辊1/4旋转时间TQ，进而是否经过第3辊13旋转第3角度θ3的第3辊θ3旋转时间Tθ3。当经过第3辊θ3旋转时间Tθ3前的情况下(在步骤S14中为否的情况下)，重复步骤S14等待时间经过。另一方面，当步骤S14中成为是的情况下，经过步骤S15，回到步骤S11(S111)，开始新的检测期间DT(n+1)。

设置该调整工序是出于以下理由。通过完成第1辊11的移动，第1间隙KG1的间隙尺寸G1成为预定的目标尺寸。另外，通过完成第3辊13的移动，第2间隙KG2的间隙尺寸G2成为预定的目标尺寸。但是，要使由经过尺寸变更的第1间隙KG1形成的(具有目标尺寸的厚度TH5的)第2辊上涂膜5到达第2间隙KG2，还需要经过第2辊12旋转1/4圈所花费的第2辊1/4旋转时间TQ。然后，要使由经过尺寸变更的第2间隙KG2形成的(具有目标尺寸的厚度TH6的)未干燥活性物质层6能够由第3传感器检测，需要经过第3辊13旋转第3角度θ3的第3辊θ3旋转时间Tθ3。该调整工序(步骤S14)中，等待经过上述期间，回到步骤S111开始新的检测期间DT(n+1)，所以新的检测期间DT(n+1)中，能够从其最开始，使用第1传感器21和第3传感器23的输出，得到间隙尺寸G1、G2的变动量ΔG1、ΔG2。

再者，该调整工序(步骤S14)中，回到检测工序(步骤S11)开始新的检测期间DT(n+1)的定时(timing，时机)，是结束由第1辊移动机构25进行的第1辊11的移动，由经过尺寸变更的第1间隙KG1形成的(具有目标尺寸的厚度TH5的)第2辊上涂膜5能够由第1传感器21检测之后，即经过了第2辊12旋转第1角度θ1的第2辊θ1旋转时间Tθ1之后。

接着，步骤S15中，检测未干燥活性物质层6向集电箔2的涂布是否结束。当没有结束的情况下(否)，回到步骤S11(步骤S111)。另一方面，当涂布完成了的情况下(是)，完成步骤S1(涂布工序)回到主程序(参照图2)。

再者，如上所述，当在集电箔2的两面设置活性物质层3的情况下，步骤S3的涂布工序中，再次通过涂布装置10，在集电箔2的另一方表面(背面)2sb上涂布未干燥活性物质层6，形成未干燥电极板7。在该情况下也进行与上述同样的工序，进而在步骤S4使背面侧也干燥。

这样，将第1间隙KG1的间隙尺寸G1保持为大致恒定，能够防止热膨胀引起的第1间隙KG1的变动积累。另外，将第2间隙KG2的间隙尺寸G2保持为大致恒定，能够防止热膨胀引起的第2间隙KG2的变动积累。参照图13、图14具体说明。图13是表示第1间隙KG1的间隙尺寸G1的时间变动的坐标图。第1间隙KG1的间隙尺寸G1最开始成为预定的目标间隙尺寸G10。并且，活性物质糊4向第1间隙KG1供给，从时刻t1开始检测期间DT(1)。另外，图14是表示第2间隙KG2的间隙尺寸G2的时间变动的坐标图。第2间隙KG2的间隙尺寸G2最开始是预定的目标间隙尺寸G20。

第1、第2辊11、12随着时间经过由于摩擦而热膨胀。因此，如图13中用虚线所示，第1间隙KG1的间隙尺寸G1随着时间经过逐渐变小。即，第1、第2辊11、12的热膨胀的影响会积累。于是，随着时间经过，在第2辊12上形成的第2辊上涂膜5的厚度TH5也减少(变薄)，因此不优选。

另外，第3辊13也随着时间经过由于摩擦而热膨胀。因此，如图14中用虚线所示，第2间隙KG2的间隙尺寸G2也随着时间经过逐渐变小。即，第2、第3辊12、13的热膨胀的影响会积累。于是，随着时间经过，在集电箔2上形成的未干燥活性物质层6的厚度TH6也减少(变薄)，因此不优选。

另一方面，本实施方式的涂布装置10中，如上所述，使用第1传感器21和第2传感器22的输出，在每个检测期间DT(n)将第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动量ΔG1抵消。如果从时刻t1经过预定时间，在时刻t2结束检测期间DT(1)，则算出变动量ΔG1，使用第1辊移动机构25使第1辊11移动，将第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动抵消。即，如图13中用实线所示，使间隙尺寸G1回到目标间隙尺寸G10(G1＝G10)。再者，其后，第1、第2辊11、12的热膨胀继续，因此间隙尺寸G1再次随着时间减少。

另外，本实施方式的涂布装置10中，使用第3传感器23和第4传感器24的输出，在每个检测期间DT(n)将第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动量ΔG2抵消。如果从时刻t1经过预定时间，在时刻t2结束检测期间DT(1)，则算出变动量ΔG2，使用第3辊移动机构26使第3辊13移动，将第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动抵消。即，如图14中用实线所示，使间隙尺寸G2回到目标间隙尺寸G20(G2＝G20)。再者，第2、第3辊12、13的热膨胀继续，因此间隙尺寸G2再次随着时间减少。

然后，如对前述步骤S14说明的那样(参照图3)，结束由第1辊移动机构25进行的第1辊11的移动，并且结束由第3辊移动机构26进行的第3辊13的移动，然后在经过第2辊1/4旋转时间TQ，进而经过第3辊θ3旋转时间Tθ3后的时刻t3，开始下一次新的检测期间DT(2)。即，如图13、图14所示，在2个检测期间DT(1)和DT(2)之间，设置调整期间CT(1)。

以后同样地，交替地设置检测期间DT(n)和调整期间CT(n)，在每个检测期间DT(n)，以将第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动量ΔG1抵消的方式使第1辊11移动。由此，本实施方式的涂布装置10中，如图13中用实线所示，在任一时刻，第1间隙KG1的间隙尺寸G1都被保持为与目标间隙尺寸G10近似的大致恒定值，能够防止热膨胀引起的第1间隙KG1的变动积累。由此，能够将在第2辊12上形成的第2辊上涂膜5的厚度TH5保持为大致恒定的值。

另外，同样地在每个检测期间DT(n)，以将第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动量ΔG2抵消的方式使第3辊13移动。本实施方式的涂布装置10中，如图14中用实线所示，在任一时刻，第2间隙KG2的间隙尺寸G2都被保持为与目标间隙尺寸G20近似的大致恒定的值，能够防止热膨胀引起的第2间隙KG2的变动积累。由此，无论在集电箔2的宽度方向WH还是长度方向EH，都能够将在集电箔2上形成的未干燥活性物质层6的厚度TH6保持为大致恒定的值。由此，使未干燥活性物质层6干燥的活性物质层3的厚度也无论在集电箔2的宽度方向WH还是长度方向EH都能够保持为大致恒定。

再者，在检测工序(步骤S11)中，使用由第1传感器21检测出的第2辊上涂膜5的涂膜表面5s的第1径向位置PR5s、以及由第2传感器22检测出的第2辊表面12s的第2径向位置PR12s，在每个检测期间DT(n)检测由于第1辊11和第2辊12产生的热膨胀而在检测期间DT(n)中产生的第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动量ΔG1的CPU281，相当于第1间隙变动检测部271。

同样在检测工序(步骤S11)中，使用由第3传感器23检测出的未干燥活性物质层6(糊层)的层表面6s的第3径向位置PR6s、以及由第4传感器24检测出的集电箔2的径向外侧表面2sa的第4径向位置PR2s，在每个检测期间DT(n)检测由于第2辊12和第3辊13产生的热膨胀而在检测期间DT(n)中产生的第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动量ΔG2的CPU281，相当于第2间隙变动检测部272。

另外，对第1辊移动机构25发出使第1辊11向第1方向H21移动的指示，以将由第1间隙变动检测部271检测出的第1间隙KG1的变动量ΔG1抵消的CPU281，相当于第1辊移动指示部273。

同样地，对第3辊移动机构26发出使第3辊13向第2方向H23移动的指示，以将由第2间隙变动检测部272检测出的第2间隙KG2的变动量ΔG2抵消的CPU281，相当于第3辊移动指示部274。

另外，上次的检测期间DT(n)结束后，结束由第1辊移动机构25进行的第1辊11的移动，并且结束由第3辊移动机构26进行的第3辊13的移动，然后经过第2辊1/4旋转时间TQ，进而经过第3辊θ3旋转时间Tθ3以后，开始新的检测期间DT(n+1)的CPU281，相当于调整部275。再者，本实施方式中的调整部275中，上次的检测期间DT(n)结束后，结束由第1辊移动机构25进行的第1辊11的移动，然后经过第2辊12旋转第1角度θ1的第2辊θ1旋转时间Tθ1以后，开始新的上述检测期间DT(n+1)。

(变形方式1)

接着，对于上述实施方式的变形方式1中的涂布装置110、以及使用该涂布装置的未干燥电极板7的制造，参照图15进行说明。在实施方式的涂布装置10中，由第4传感器24(24a、24b)检测了卷在第3辊13上的集电箔2的径向外侧表面2sa的第4径向位置PR2s(参照图4)。相对于此，本变形方式1的涂布装置110中，如图15所示，集电箔2对第3辊13的卷绕形态不同，由第4传感器24(24a、24b)检测第3辊13的第3辊表面13s的第4径向位置PR13s，仅这点不同。

并且从图15能够容易理解，本变形方式1的涂布装置110中，由第4传感器24检测的第3辊13的第3辊表面13s的第4径向位置PR13s在某一检测期间产生的变动量ΔPR13s，与该检测期间中产生的第3辊13的半径R3的变动量ΔR3相等(ΔPR13s＝ΔR3)。这表示可同样地认为，在实施方式中，由第4传感器24检测的集电箔2的径向外侧表面2sa的第4径向位置PR2s在某一检测期间产生的变动量ΔPR2s，与该检测期间中产生的第3辊13的半径R3的变动量ΔR3相等。

因此，能够使用第3传感器23和第4传感器24的输出，算出该检测期间产生的第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动量ΔG2。具体而言，与实施方式同样地，可知成为ΔG2＝-(ΔR2+ΔR3)＝ΔPR6s-ΔPR13s，所以根据由第3传感器23的输出得到的变动量ΔPR6s、以及由第4传感器24的输出得到的变动量ΔPR13s之差(ΔPR6s-ΔPR13s)，可得到间隙尺寸G2的变动量ΔG2。并且，以后可以与实施方式的涂布装置10同样地考虑。

因此，本变形方式1的涂布装置110中也使用第3传感器23和第4传感器24的输出得到间隙尺寸G2的变动量ΔG2，在每个检测期间DT(n)，以将第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动量ΔG2抵消的方式使第3辊13移动。由此，能够防止热膨胀引起的第2间隙KG2的变动积累。从而能够将在集电箔2上形成的未干燥活性物质层6的厚度TH6，无论在集电箔2的宽度方向WH还是长度方向EH，都保持为大致恒定的值。另外，能够将使未干燥活性物质层6干燥的活性物质层3的厚度，无论在集电箔2的宽度方向WH还是长度方向EH，都保持为大致恒定。

(变形方式2)

接着，对于变形方式2中的涂布装置310、以及使用该涂布装置的未干燥电极板7的制造方法进行说明。本变形方式2的涂布装置310与实施方式的涂布装置10相比，控制部不同，其他相同。另外，本变形方式2的未干燥电极板7的制造方法与实施方式相比，检测工序不同，其他相同。因此，在此以不同于实施方式的点为中心进行说明，对于相同点将说明省略或简化。

本变形方式2的涂布装置310与实施方式同样地，具备：第1辊11、第2辊12、第3辊13、第1传感器21(21a、21b)～第4传感器24(24a、24b)、第1辊移动机构25(25a、25b)和第3辊移动机构26(26a、26b)。而且，本变形方式2的涂布装置310与实施方式不同，具备控制部327(参照图1、图12和图16)。该控制部327是具有CPU(中央运算装置)381、存储了预定程序的ROM382、RAM383、输入输出电路285以及连接它们的母线284的计算机。CPU381在控制的各阶段，作为第1间隙变动检测部371、第2间隙变动检测部372、第1辊移动指示部373、第3辊移动指示部374和调整部375发挥功能(参照图12)。

再者，本变形方式2中也与实施方式同样地，作为活性物质糊4，使用混合有溶质即活性物质粒子和粘结剂、以及溶剂的涂布材料，所述涂布材料由多个湿润造粒体构成。在此，所谓湿润造粒体，是指在溶剂被溶质的粒子保持(吸收)的状态下，使它们聚集(结合)的物质(粒状体)。构成活性物质糊4的湿润造粒体是将活性物质粒子、粘结剂和溶剂混合造粒而得到的。该湿润造粒体是在溶剂被活性物质粒子和粘结剂保持(吸收)的状态下，使它们聚集(结合)得到的物质(粒状体)。

另外，本变形方式2中，将“开始电极板1的制造之前，预先由第1传感器21(一方侧第1传感器21a和另一方侧第1传感器21b)测定出的、第1角度位置AG1的第2辊表面12s的第2径向位置PR12s(PR12sa和PR12sb)即开始前径向位置”，设定为第1传感器21(一方侧第1传感器21a和另一方侧第1传感器21b)的测定基准位置(0基准)。而且，将“开始电极板1的制造之前，预先由第2传感器22(一方侧第2传感器22a和另一方侧第2传感器22b)测定出的、第2角度位置AG2的第2辊表面12s的第2径向位置PR12s(PR12sa和PR12sb)即开始前径向位置”，设定为第2传感器22(一方侧第2传感器22a和另一方侧第2传感器22b)的测定基准位置(0基准)(参照图16)。

此外，本变形方式2中，将“开始电极板1的制造之前，预先由第3传感器23(一方侧第3传感器23a和另一方侧第3传感器23b)测定出的、第3角度位置AG3的第3辊表面13s的第3径向位置PR6s(PR6sa和PR6sb)即开始前径向位置”，设定为第3传感器23(一方侧第3传感器23a和另一方侧第3传感器23b)的测定基准位置(0基准)。而且，将“开始电极板1的制造之前，预先由第4传感器24(一方侧第4传感器24a和另一方侧第4传感器24b)测定出的、第4角度位置AG4的第3辊表面13s的第4径向位置PR13s(PR13sa和PR13sb)即开始前径向位置”，设定为第4传感器24(一方侧第4传感器24a和另一方侧第4传感器24b)的测定基准位置(0基准)(参照图16)。

另外，如果向第1间隙KG1开始活性物质糊4的供给，开始在第1辊11和第2辊12之间对活性物质糊4进行压缩并成膜(形成涂膜)的加工，则其加工反作用力(在第1辊11和第2辊12之间对活性物质糊4进行压缩并成膜时作用于活性物质糊4的压缩力的反作用力)会作用于第1辊11和第2辊12。加工刚开始后，对第1辊11和第2辊12急剧地施加大的加工反作用力，因此由于该加工反作用力，有时第1辊11和第2辊12以第1辊11和第2辊12之间的第1间隙KG1的间隙尺寸G1放大的方式沿第1方向H21(图16中为左右方向)移动。

具体而言，有时第1辊11的中心轴11ax向远离第2辊12的方向(图16中为左方向)错位，第2辊12的中心轴12ax向远离第1辊11的方向(图16中为右方向)错位。尤其是当作为活性物质糊4，使用了固体成分比率高(溶剂量少)的湿润造粒体构成的涂布材料的情况下，加工反作用力变大，容易发生第1辊11和第2辊12的错位。由此，第1辊11和第2辊12之间的第1间隙KG1的间隙尺寸G1会变动。

另外，开始在第1辊11和第2辊12之间对活性物质糊4进行压缩并成膜的加工后不久，由于在第1间隙附近产生的摩擦热，第1辊和第2辊会热膨胀。尤其是当作为活性物质糊4，使用了固体成分比率高(溶剂量少)的湿润造粒体构成的涂布材料的情况下，摩擦热的产生量变大，容易发生第1辊11和第2辊12的热膨胀。由于该热膨胀，第1辊11和第2辊12之间的第1间隙KG1的间隙尺寸G1也会变动。

另外，加工反作用力造成的第1辊11和第2辊12的错位大多数是在加工刚开始后(例如，从开始加工时起算第2辊12旋转1圈为止)发生，然后，在第1辊11和第2辊12的热膨胀发生前后(例如，从加工开始时起算第2辊12的旋转数超过30圈时)不发生(即使发生，也是能够忽视的程度的错位)。因此，可以认为第1间隙KG1的间隙尺寸G1随着加工反作用力造成的第1辊11和第2辊12的错位而变动之后，第1间隙KG1的间隙尺寸G1随着第1辊11和第2辊12的热膨胀而变动。

因此，本变形方式2中，将第1间隙KG1的间隙尺寸G1随着加工反作用力造成的第1辊11和第2辊12的错位而变动之后(第1辊11和第2辊12的热膨胀开始之前)的第1间隙KG1的间隙尺寸G1，设为目标的第1间隙KG1的间隙尺寸G1(第1间隙目标值G1T)，然后，在检测期间DT(n)中，将第1间隙KG1的间隙尺寸G1从第1间隙目标值G1T随着第1辊11和第2辊12的热膨胀而变动的变动量，作为变动量ΔG1算出。然后，通过第1辊移动机构25，以将该变动量ΔG1抵消的方式使第1辊11移动，由此将第1间隙KG1的间隙尺寸G1调整为第1间隙目标值G1T。

即，本变形方式2中，将第1间隙KG1的间隙尺寸G1随着加工反作用力造成的第1辊11和第2辊12的错位而变动之后(第1辊11和第2辊12热膨胀之前)的间隙尺寸G1设为间隙尺寸G1的调整目标值(第1间隙目标值G1T)，制造期间中，以第1间隙KG1的间隙尺寸G1成为第1间隙目标值G1T的方式进行反馈控制。由此，能够遍及制造期间整体地，使穿过第1辊11和第2辊12之间形成的涂膜(第2辊上涂膜5)的厚度TH5，成为第1间隙目标值G1T或与其接近的尺寸。

另外，以上说明的内容对于第2间隙KG2的间隙尺寸G2也是同样的。因此，本变形方式2中，将第2间隙KG2的间隙尺寸G2随着加工反作用力造成的第2辊12和第3辊13的错位而变动之后(第2辊12和第3辊13热膨胀之前)的第2间隙KG2的间隙尺寸G2，设为目标的第2间隙KG2的间隙尺寸G2(第2间隙目标值G2T)，在检测期间DT(n)中，将第2间隙KG2的间隙尺寸G2从第2间隙目标值G2T随着第2辊12和第3辊13的热膨胀而变动的变动量，作为变动量ΔG2算出。并且，通过第3辊移动机构26，以将该变动量ΔG2抵消的方式使第3辊13移动，由此将第2间隙KG2的间隙尺寸G2调整为第2间隙目标值G2T。

即，本变形方式2中，将第2间隙KG2随着加工反作用力造成的第2辊12和第3辊13的错位而变动之后(第2辊12和第3辊13热膨胀之前)的第2间隙KG2的间隙尺寸G2，设为间隙尺寸G2的调整目标值(第2间隙目标值G2T)，制造期间中，以第2间隙KG2的间隙尺寸G2成为第2间隙目标值G2T的方式进行反馈控制。由此，能够遍及制造期间整体地，使穿过第2辊12和第3辊13之间形成的带有糊层的片(未干燥电极板7)的厚度TH7成为第2间隙目标值G2T或与其接近的尺寸。因此，能够遍及制造期间整体地，使糊层(未干燥活性物质层6)的厚度TH6成为第2间隙目标值G2T减去基材片(集电箔2)的厚度TH2得到的尺寸(TH6＝G2T-TH2)、或者与其接近的尺寸。

在此，对于本变形方式2中的电极板的制造方法进行说明。首先，如图1和图2所示，在步骤T1(涂布工序)中，在由集电箔辊2RL供给的集电箔2的一方表面2s(2sa)上涂布未干燥活性物质层6，从而形成未干燥电极板7。具体而言，如果向第1间隙KG1开始活性物质糊4的供给，则首先，进行步骤T11(检测工序)的处理(参照图17)。更具体而言，如图17所示，首先，在步骤T111中，第2间隙变动检测部372判断第3辊13的旋转扭矩是否成为规定值以上。再者，第3辊13的旋转扭矩由未图示的扭矩传感器计测，第2间隙变动检测部372取得该计测值，判断是否为规定值以上。

在此，第3辊13的旋转扭矩的规定值被设定为在第2间隙KG2不存在第2辊上涂膜5和未干燥活性物质层6时(空转状态)的旋转扭矩的值、以及第2辊上涂膜5的顶端部到达(进入)第2间隙KG2时的旋转扭矩的值之间的值。因此，在第3辊13的旋转扭矩达到了规定值以上时，能够判断第2辊上涂膜5的顶端部到达(进入)了第2间隙KG2。

在步骤T111中，判断出第3辊13的旋转扭矩达到了规定值以上(是)后，进入步骤T112，第2间隙变动检测部372开始第3辊13的旋转数的检测。再者，第3辊13的旋转数由驱动第3辊13的旋转的马达47(参照图20)的旋转数的计测取得。然后，进入步骤T113，开始第3辊13的旋转数的检测后(即，未干燥活性物质层6的顶端部到达第2间隙KG2后)，判断第3辊13是否旋转了一圈。

再者，从向第1间隙KG1开始活性物质糊4的供给时起算，第3辊13的旋转扭矩达到了规定值以上之后，在第3辊13旋转了一圈时，是“从向第1间隙KG1开始活性物质糊4的供给时起算，第2辊12旋转了第1角度θ1以上之后，并且第2辊12旋转预定数之前”，并且是“从第2辊上涂膜5最初到达第2间隙KG2时起算，第3辊13旋转了第3角度θ3以上之后，并且第3辊13旋转预定数之前”。

然后，判断为第3辊13旋转了一圈(是)后，进入步骤T114，基于第1间隙变动检测部371的指令，由第1传感器21和第2传感器22测定第2辊径向位置L11和L21。而且，进入步骤T115，基于第2间隙变动检测部372的指令，由第3传感器23和第4传感器24测定第3辊径向位置L31和L41。

具体而言，由第1传感器21(一方侧第1传感器21a和另一方侧第1传感器21b)，作为第2辊上涂膜5的涂膜表面5s的第1径向位置PR5s(PR5sa和PR5sb)，测定以前述开始前径向位置为基准位置(0基准)的、涂膜表面5s的第2辊径向位置L11(换句话说，是从作为基准位置的开始前径向位置起的涂膜表面5s的第2辊径向距离)。再者，将由一方侧第1传感器21a得到的测定值设为L11A，并将由另一方侧第1传感器21b得到的测定值设为L11B。

此外，由第2传感器22(一方侧第2传感器22a和另一方侧第2传感器22b)，作为第2辊12的第2辊表面12s的第2径向位置PR12s，测定以前述开始前径向位置为基准位置(0基准)的、第2辊表面12s的第2辊径向位置L21(换句话说，是从作为基准位置的开始前径向位置起的第2辊表面12s的辊径向距离L21)。再者，将由一方侧第2传感器22a得到的测定值设为L21A，并将由另一方侧第2传感器22b得到的测定值设为L21B。

此外，由第3传感器23(一方侧第3传感器23a和另一方侧第3传感器23b)，作为未干燥活性物质层6(糊层)的层表面6s的第3径向位置PR6s，测定以前述开始前径向位置为基准位置(0基准)的、未干燥活性物质层6的层表面6s的第3辊径向位置L31(换句话说，是从作为基准位置的开始前径向位置起的层表面6s的第3辊径向距离)。再者，将由一方侧第3传感器23a得到的测定值设为L31A，并将由另一方侧第3传感器23b得到的测定值设为L31B。

此外，由第4传感器24(一方侧第4传感器24a和另一方侧第4传感器24b)，作为集电箔2(基材片)的径向外侧表面2sa的第4径向位置PR2s，测定以前述开始前径向位置为基准位置(0基准)的、集电箔2的径向外侧表面2sa的第3辊径向位置L41(换句话说，是从作为基准位置的开始前径向位置起的径向外侧表面2sa的第3辊径向距离)。再者，将由一方侧第4传感器24a得到的测定值设为L41A，并将由另一方侧第4传感器24b得到的测定值设为L41B。

在此，向第1间隙KG1开始活性物质糊4的供给，在第3辊13的旋转扭矩达到了规定值以上时，是第2辊上涂膜5的顶端部进入第2辊12和第3辊13之间的第2间隙KG2的时刻。此时，开始在第2辊12和第3辊13之间压缩第2辊上涂膜5并在集电箔2的径向外侧表面2sa上形成未干燥活性物质层6的加工，同时其加工反作用力作用于第2辊12和第3辊13。由于该加工反作用力，发生第2辊12和第3辊13的错位，第2间隙KG2的间隙尺寸G2变动(放大)。而且，此时，已经开始在第1辊11和第2辊12之间对活性物质糊4压缩并成膜(形成第2辊上涂膜5)的加工，由于其加工反作用力，发生第1辊11和第2辊12的错位，第1间隙KG1的间隙尺寸G1变动(放大)。

另外，从向第1间隙KG1开始活性物质糊4的供给时起算，第3辊13的旋转扭矩达到了规定值以上之后，第3辊13旋转了1圈时，在第1辊11、第2辊12和第3辊13尚未发生热膨胀，或者即使发生热膨胀，其膨胀量也为极微量的可以忽视的程度。

因此，由第1传感器21测定的L11和由第2传感器22测定的L21的值，成为第1间隙KG1的间隙尺寸G1随着加工反作用力造成的第1辊11和第2辊12的错位而变动之后，并且第1辊11和第2辊12热膨胀之前(或者即使发生热膨胀，其膨胀量也是极微量的可以忽视的程度时)的测定值。

此外，由第3传感器23测定的L31和由第4传感器24测定的L41的值，成为第2间隙KG2的间隙尺寸G2随着加工反作用力造成的第2辊12和第3辊13的错位而变动之后，并且第2辊12和第3辊13热膨胀之前(或者，即使发生热膨胀，其膨胀量也为极微量的可以忽视的程度时)的测定值。

接着，进入步骤T116，由第1间隙变动检测部371取得L11和L21的值，并由第2间隙变动检测部372取得L31和L41的值。然后，进入步骤T117，开始预定长度(例如1分钟)的检测期间DT(n)。然后，进入步骤T118，判断检测期间DT(n)是否结束。

在步骤T118中判断为检测期间DT(n)结束(是)后，进入步骤T119，基于第1间隙变动检测部371的指令，在检测期间DT(n)的结束时，由第1传感器21和第2传感器22测定第2辊径向位置L12和L22。而且，在步骤T120中，基于第2间隙变动检测部372的指令，在检测期间DT(n)的结束时，由第3传感器23和第4传感器24测定第3辊径向位置L32和L42。

具体而言，由第1传感器21(一方侧第1传感器21a和另一方侧第1传感器21b)，作为第2辊上涂膜5的涂膜表面5s的第1径向位置PR5s(PR5sa和PR5sb)，测定以前述开始前径向位置为基准位置(0基准)的、涂膜表面5s的第2辊径向位置L12(换句话说，是从作为基准位置的开始前径向位置起的涂膜表面5s的第2辊径向距离)。再者，将由一方侧第1传感器21a得到的测定值设为L12A，并将由另一方侧第1传感器21b得到的测定值设为L12B。

此外，由第2传感器22(一方侧第2传感器22a和另一方侧第2传感器22b)，作为第2辊12的第2辊表面12s的第2径向位置PR12s，测定以前述开始前径向位置为基准位置(0基准)的、第2辊表面12s的第2辊径向位置L22(换句话说，是从作为基准位置的开始前径向位置起的第2辊表面12s的第2辊径向距离)。再者，将由一方侧第2传感器22a得到的测定值设为L22A，并将由另一方侧第2传感器22b得到的测定值设为L22B。

此外，由第3传感器23(一方侧第3传感器23a和另一方侧第3传感器23b)，作为未干燥活性物质层6(糊层)的层表面6s的第3径向位置PR6s，测定以前述的开始前径向位置为基准位置(0基准)的、未干燥活性物质层6的层表面6s的第3辊径向位置L32(换句话说，是从作为基准位置的开始前径向位置起的层表面6s的第3辊径向距离)。再者，将由一方侧第3传感器23a得到的测定值设为L32A，并将由另一方侧第3传感器23b得到的测定值设为L32B。

此外，由第4传感器24(一方侧第4传感器24a和另一方侧第4传感器24b)，作为集电箔2(基材片)的径向外侧表面2sa的第4径向位置PR2s，测定以前述开始前径向位置设为基准位置(0基准)的、集电箔2的径向外侧表面2sa的第3辊径向位置L42(换句话说，是从作为基准位置的开始前径向位置起的径向外侧表面2sa的第3辊径向距离)。再者，将由一方侧第4传感器24a得到的测定值设为L42A，并将由另一方侧第4传感器24b得到的测定值设为L42B。

再者，认为检测期间DT(n)的结束时，即L12、L22、L32、L42的测定时，第1辊11、第2辊12和第3辊13的热膨胀非常大。因此，由第1传感器21测定的L12的值和由第2传感器22测定的L22的值，成为第1间隙KG1的间隙尺寸G1随着加工反作用力造成的第1辊11和第2辊12的错位而变动之后，并且第1辊11和第2辊12热膨胀之后的值。而且，由第3传感器23测定的L32的值和由第4传感器24测定的L42的值，成为第2间隙KG2的间隙尺寸G2随着加工反作用力造成的第2辊12和第3辊13的错位而变动之后，并且第2辊12和第3辊13热膨胀之后的值。

接着，进入步骤T121，由第1间隙变动检测部371取得L12和L22的值，并由第2间隙变动检测部372取得L32和L42的值。然后，在步骤T122(变动量ΔG1算出工序)中，由第1间隙变动检测部371算出由于热膨胀而在检测期间DT(n)内产生的第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动量ΔG1。详细而言，作为变动量ΔG1，算出第1间隙KG1的一方端部KG1A的间隙尺寸G1A的变动量ΔG1A、以及第1间隙KG1的另一方端部KG1B的间隙尺寸G1B的变动量ΔG1B。

再者，本变形方式2中，使用ΔG1＝(L12-L22)-(L11-L21)的关系式计算。详细而言，使用ΔG1A＝(L12A-L22A)-(L11A-L21A)的关系式算出第1间隙KG1的一方端部KG1A的间隙尺寸G1A的变动量ΔG1A。而且，使用ΔG1B＝(L12B-L22B)-(L11B-L21B)的关系式算出第1间隙KG1的另一方端部KG1B的间隙尺寸G1B的变动量ΔG1B。

再者，上述关系式是如下那样导出的。首先，将第1间隙KG1的间隙尺寸G1的设定值(开始电极板1的制造之前的第1间隙KG1的间隙尺寸G1)设为G1S。另外，将由于加工反作用力而沿第1方向H21移动(错位)的第1辊11的错位量设为ΔX1(参照图16)。详细而言，将第1辊11的一方端部11A的错位量设为ΔX1A，并将另一方端部11B的错位量设为ΔX1B。另外，将第1辊11的热膨胀造成的半径R1的增加量设为ΔR1(参照图9)。详细而言，将第1辊11的一方端部11A的增加量设为ΔR1A，并将另一方端部11B的增加量设为ΔR1B。

另外，将由于加工反作用力而沿第1方向H21移动(错位)的第2辊12的错位量设为ΔX2。详细而言，将第2辊12的一方端部12A的错位量设为ΔX2A，并将另一方端部12B的错位量设为ΔX2B。另外，将由于在第2辊12和第3辊13之间产生的加工反作用力而沿第2方向H23移动(错位)的第2辊12的错位量设为ΔY2。详细而言，将第2辊12的一方端部12A的错位量设为ΔY2A，并将另一方端部12B的错位量设为ΔY2B。另外，将第2辊12的热膨胀造成的半径R2的增加量设为ΔR2。详细而言，将第2辊12的一方端部12A的增加量设为ΔR2A，并将另一方端部12B的增加量设为ΔR2B(参照图9和图16)。

如果如上所述地设定，则在步骤T114(第1初期检测工序)中测定L11和L21时的第1间隙KG1的间隙尺寸G1成为G1＝G1S+ΔX1+ΔX2…(式1)。另外，成为L11＝ΔX2cosθ1+ΔY2sinθ1…(式2)。另外，成为L21＝-ΔX2cosθ1-ΔY2sinθ1-G1＝-ΔX2cosθ1-ΔY2sinθ1-(G1S+ΔX1+ΔX2)…(式3)。而且，在步骤T119(第1期间结束时检测工序)中测定L12和L22时的第1间隙KG1的间隙尺寸G1成为G1＝G1S+ΔX1+ΔX2-ΔR1-ΔR2…(式4)。

另外，成为L12＝ΔX2cosθ1+ΔY2sinθ1-ΔR2…(式5)。另外，成为L22＝-ΔX2cosθ1-ΔY2sinθ1-ΔR2-G1＝-ΔX2cosθ1-ΔY2sinθ1-ΔR2-(G1S+ΔX1+ΔX2-ΔR1-ΔR2)…(式6)。再者，由第1传感器21和第2传感器22测定的L11、L21、L12、L22的值，以基准位置为0，与基准位置相比对于第2辊径向靠内侧(辊中心侧)为“正的值”，与基准位置相比对于第2辊径向靠外侧为“负的值”。

在此，第1间隙目标值G1T(第1间隙KG1的间隙尺寸G1的目标值)，与步骤T114中测定L11和L21时的第1间隙KG1的间隙尺寸G1相等，所以根据所述(式1)、(式2)和(式3)，成为G1T＝G1S+ΔX1+ΔX2＝L11-L21+2(ΔX2cosθ1+ΔY2sinθ1)…(式7)。

另外，第1辊11的半径R1由于热膨胀而增加ΔR1并且第2辊12的半径R2由于热膨胀而增加ΔR2时的第1间隙KG1的间隙尺寸G1N，与步骤T119中测定L12和L22时的第1间隙KG1的间隙尺寸G1相等，所以根据所述(式4)、(式5)和(式6)，成为G1N＝G1S+ΔX1+ΔX2-ΔR1-ΔR2＝L12-L22+2(ΔX2cosθ1+ΔY2sinθ1)…(式8)。

此外，由于热膨胀而在各个检测期间DT(n)内产生的第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动量ΔG1，可以根据(式7)和(式8)，作为ΔG1＝G1N-G1T＝(L12-L22)-(L11-L21)推导。因此，对于第1间隙KG1的一方端部KG1A的间隙尺寸G1A的变动量ΔG1A，可以得到ΔG1A＝(L12A-L22A)-(L11A-L21A)的关系式。而且，对于第1间隙KG1的另一方端部KG1B的间隙尺寸G1B的变动量ΔG1B，可以得到ΔG1B＝(L12B-L22B)-(L11B-L21B)的关系式。

此外，在步骤T123(变动量ΔG2算出工序)中，由第2间隙变动检测部372算出由于热膨胀而在检测期间DT(n)内产生的第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动量ΔG2。再者，本变形方式2中，使用ΔG2＝(L42-L32)-(L41-L31)的关系式计算。

再者，上述关系式是如下导出的。首先，将第2间隙KG2的间隙尺寸G2的设定值(开始电极板1的制造之前的第2间隙KG2的间隙尺寸G2)设为G2S。另外，将由于加工反作用力而沿第2方向H23移动(错位)的第3辊13的错位量设为ΔY3。详细而言，将第3辊13的一方端部13A的错位量设为ΔY3A，并将另一方端部13B的错位量设为ΔY3B。另外，将第3辊13的热膨胀造成的半径R3的增加量设为ΔR3。详细而言，将第3辊13的一方端部13A的增加量作为ΔR3A，并将另一方端部13B的增加量设为ΔR3B(参照图9和图16)。

另外，将由于在第1辊11和第2辊12之间产生的加工反作用力而沿第1方向H21移动(错位)的第2辊12的错位量设为ΔX2。详细而言，将第2辊12的一方端部12A的错位量设为ΔX2A，并将另一方端部12B的错位量设为ΔX2B。另外，将由于在第2辊12和第3辊13之间产生的加工反作用力而沿第2方向H23移动(错位)的第2辊12的错位量设为ΔY2。详细而言，将第2辊12的一方端部12A的错位量设为ΔY2A，并将另一方端部12B的错位量设为ΔY2B。另外，将第2辊12的热膨胀造成的半径R2的增加量设为ΔR2。详细而言，将第2辊12的一方端部12A的增加量设为ΔR2A，并将另一方端部12B的增加量设为ΔR2B。另外，将集电箔2(基材片)的厚度设为TH2(参照图9和图16)。

如果如上所述地设定，则在步骤T115(第2初期检测工序)中测定L31和L41时的第2间隙KG2的间隙尺寸G2成为G2＝G2S+ΔY2+ΔY3-TH2…(式11)。

另外，成为L31＝ΔY3cosθ3-TH2-G2＝ΔY3cosθ3-TH2-(G2S+ΔY2+ΔY3-TH2)…(式12)。另外，成为L41＝-ΔY3cosθ3-TH2…(式13)。而且，在步骤T120(第2期间结束时检测工序)中测定L32和L42时的第2间隙KG2的间隙尺寸G2成为G2＝G2S+ΔY2+ΔY3-TH2-ΔR2-ΔR3…(式14)。

另外，成为L32＝ΔY3cosθ3-TH2-ΔR3-G2＝ΔY3cosθ3-TH2-ΔR3-(G2S+ΔY2+ΔY3-TH2-ΔR2-ΔR3)…(式15)。另外，成为L42＝-ΔY3cosθ3-TH2-ΔR3…(式16)。再者，由第2传感器22和第3传感器23测定的L31、L41、L32、L42的值，以基准位置为0，与基准位置相比对于第3辊径向靠内侧(辊中心侧)为“正的值”，与基准位置相比对于第3辊径向靠外侧为“负的值”。

在此，第2间隙目标值G2T(第2间隙KG2的间隙尺寸G2的目标值)，与步骤T115中测定L31和L41时的第2间隙KG2的间隙尺寸G2相等，所以根据所述(式11)、(式12)和(式13)，成为G2T＝G2S+ΔY2+ΔY3-TH2＝L41-L31+2ΔY3cosθ3…(式17)。

另外，第2辊12的半径R2由于热膨胀而增加ΔR2并且第3辊13的半径R3由于热膨胀而增加ΔR3时的第2间隙KG2的间隙尺寸G2N，与步骤T120中测定L32和L42时的第2间隙KG2的间隙尺寸G2相等，所以根据所述(式14)、(式15)和(式16)，成为G2N＝G2S+ΔY2+ΔY3-TH2-ΔR2-ΔR3＝L42-L32+2ΔY3cosθ3…(式18)。

此外，由于热膨胀而在各个检测期间DT(n)内产生的第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动量ΔG2，可以根据(式17)和(式18)，作为ΔG2＝G2N-G2T＝(L42-L32)-(L41-L31)推导。因此，对于第2间隙KG2的一方端部KG2A的间隙尺寸G2A的变动量ΔG2A，可以得到ΔG2A＝(L42A-L32A)-(L41A-L31A)的关系式。而且，对于第2间隙KG2的另一方端部KG2B的间隙尺寸G2B的变动量ΔG2B，可以得到ΔG2B＝(L42B-L32B)-(L41B-L31B)的关系式。

接着，如图18所示，进入步骤T12，基于在步骤T11(步骤T122)检测出的、检测期间DT(n)产生的第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动量ΔG1，以将其抵消的方式通过第1辊移动机构25使第1辊11沿第1方向H21移动。详细而言，基于第1辊移动指示部373的指令，通过一方侧第1辊移动机构25a，以将变动量ΔG1A抵消的方式使第1辊11的一方端部11A沿第1方向H21移动。进而，基于第1辊移动指示部373的指令，通过另一方侧第1辊移动机构25b，以将变动量ΔG1B抵消的方式使第1辊11的另一方端部11B沿第1方向H21移动。

再者，一方侧第1辊移动机构25a如图19所示，具有：厚度随着趋向第1辊轴线方向HX11的另一方侧X11B(图19中为右侧)而变薄的楔形的第1部位25a1、以及厚度随着趋向第1辊轴线方向HX11的一方侧X11A(图19中为左侧)而变薄的楔形的第2部位25a2。第1部位25a1被构成为：通过未图示的马达的驱动，沿第1辊轴线方向HX11(图19中为左右方向)移动。而且，在使第1部位25a1沿第1辊轴线方向HX11(图19中为左右方向)移动时，第1部位25a1的斜面25a3不会与第2部位25a2的斜面25a4离开，而是以沿着斜面25a4的方式沿第1辊轴线方向HX11移动，由此第1部位25a1的斜面25a3和第2部位25a2的斜面25a4被可动地连结。另外，第2部位25a2的一方侧(第1方向H21的一方侧H21A，图19中为上侧)被固定于一方侧轴承部31，一方侧轴承部31支持位于第1辊11的旋转轴部35之中一方侧(第1辊轴线方向HX11的一方侧HX11A，图19中为左侧)的部位。

因此，通过未图示的马达的驱动，使第1部位25a1沿第1辊轴线方向HX11(图19中为左右方向)移动时，第1部位25a1的斜面25a3沿第1辊轴线方向HX11(在图19中为左右方向)移动，由此第2部位25a2的斜面25a4沿第1方向H21(图19中为上下方向)移动，由此，第1辊11的一方端部11A沿第1方向H21(图19中为上下方向)移动。例如，从图19所示的状态，使第1部位25a1向第1辊轴线方向HX11的另一方侧HX11B(图19中为右侧)移动时，第2部位25a2的斜面25a4被第1部位25a1的斜面25a3向第1方向H21的一方侧H21A(图19中为上侧)挤出，由此，第1辊11的一方端部11A向第1方向H21的一方侧H21A(图19中为上侧)移动。

另外，对于另一方侧第1辊移动机构25b，也具有与上述的一方侧第1辊移动机构25a同样的结构。因此，与上述的一方侧第1辊移动机构25a同样地，使第1部位25b1沿第1辊轴线方向HX11(图19中为左右方向)移动时，第1部位25b1的斜面25b3沿第1辊轴线方向HX11(图19中为左右方向)移动，由此第2部位25b2的斜面25b4沿第1方向H21(图19中为上下方向)移动，由此，第1辊11的另一方端部11B沿第1方向H21(图19中为上下方向)移动。

这样，通过一方侧第1辊移动机构25a，以将变动量ΔG1A抵消的方式使第1辊11的一方端部11A沿第1方向H21移动(即，使第1辊11的一方端部11A沿第1方向H21移动ΔG1A)。而且，通过另一方侧第1辊移动机构25b，以将变动量ΔG1B抵消的方式使第1辊11的另一方端部11B沿第1方向H21移动(即，使第1辊11的另一方端部11B沿第1方向H21移动ΔG1B)。

由此，能够使第1间隙KG1的间隙尺寸G1调整为(回到)第1间隙目标值G1T。详细而言，能够使第1间隙KG1的一方端部KG1A的间隙尺寸G1A(参照图19)调整为(回到)一方侧第1间隙目标值G1TA。而且，能够使第1间隙KG1的另一方端部KG1B的间隙尺寸G1B(参照图19)调整到(回到)另一方侧第1间隙目标值G1TB。再者，一方侧第1间隙目标值G1TA，与步骤T114中测定L11A和L21A时的第1间隙KG1的一方端部KG1A的间隙尺寸G1A相等。另外，另一方侧第1间隙目标值G1TB，与步骤T114中测定L11B和L21B时的第1间隙KG1的另一方端部KG1B的间隙尺寸G1B相等。

另外，如图19所示，第1辊11的旋转轴部35、以及使第1辊11旋转的驱动马达37的旋转轴37b，通过施密特联轴器(Schmidt coupling)36连结。另外，驱动马达37通过未图示的托架保持固定。通过形成这样的结构，能够使第1辊11(旋转轴部35)与驱动马达37分别独立地沿第1方向H21(图19中为上下方向)移动。而且，即使由于第1辊11的旋转轴部35的移动，第1辊中心轴11ax与驱动马达37的旋转轴37b的中心错位的情况下，也能够通过驱动马达37使第1辊11适当地旋转。

此外，在步骤T13中，基于在步骤T11(步骤T123)检测出的、检测期间DT(n)产生的第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动量ΔG2，以将其抵消的方式通过第3辊移动机构26使第3辊13沿第2方向H23移动。详细而言，基于第3辊移动指示部374的指令，通过一方侧第3辊移动机构26a，以将变动量ΔG2A抵消的方式使第3辊13的一方端部13A沿第2方向H23移动。而且，基于第3辊移动指示部374的指令，通过另一方侧第3辊移动机构26b，以将变动量ΔG2B抵消的方式使第3辊13的另一方端部13B沿第2方向H23移动(参照图20)。

再者，一方侧第3辊移动机构26a具有与前述的一方侧第1辊移动机构25a同样的结构。因此，与上述的一方侧第1辊移动机构25a同样地，使第1部位26a1沿第3辊轴线方向HX13(图20中为左右方向)移动时，第1部位26a1的斜面26a3沿第3辊轴线方向HX13(图20中为左右方向)移动，由此第2部位26a2的斜面26a4沿第2方向H23(图20中为上下方向)移动，由此，第3辊13的一方端部13A沿第2方向H23(图20中为上下方向)移动。

此外，另一方侧第3辊移动机构26b也具有与前述的另一方侧第1辊移动机构25b同样的结构。因此，与上述的另一方侧第1辊移动机构25b同样地，使第1部位26b1沿第3辊轴线方向HX13(图20中为左右方向)移动时，第1部位26b1的斜面26b3沿第3辊轴线方向HX13(图20中为左右方向)移动，由此第2部位26b2的斜面26b4沿第2方向H23(图20中为上下方向)移动，由此，第3辊13的另一方端部13B沿第2方向H23(图20中为上下方向)移动。

这样，通过一方侧第3辊移动机构26a，以将变动量ΔG2A抵消的方式使第3辊13的一方端部13A沿第2方向H23移动(即，使第3辊13的一方端部13A沿第2方向H23移动ΔG2A)。而且，通过另一方侧第3辊移动机构26b，以将变动量ΔG2B抵消的方式使第3辊13的另一方端部13B沿第2方向H23移动(即，使第3辊13的另一方端部13B沿第2方向H23移动ΔG2B)。

由此，能够使第2间隙KG2的间隙尺寸G2调整为(回到)第2间隙目标值G2T。详细而言，能够使第2间隙KG2的一方端部KG2A的间隙尺寸G2A(参照图20)调整(回到)一方侧第2间隙目标值G2TA。而且，能够使第2间隙KG2的另一方端部KG2B的间隙尺寸G2B(参照图20)调整为(回到)另一方侧第2间隙目标值G2TB。再者，一方侧第2间隙目标值G2TA，与步骤T115中测定了L31A和L41A时的第2间隙KG2的一方端部KG2A的间隙尺寸G2A相等。另外，另一方侧第2间隙目标值G2TB，与步骤T115中测定了L31B和L41B时的第2间隙KG2的另一方端部KG2B的间隙尺寸G2B相等。

另外，如图20所示，第3辊13的旋转轴部45、以及使第3辊13旋转的马达47的旋转轴47b，通过施密特联轴器46连结。另外，马达47通过未图示的托架保持固定。通过形成这样的结构，能够使第3辊13(旋转轴部45)与马达47分别独立地沿第2方向H23(图20中为上下方向)移动。而且，即使由于第3辊13的旋转轴部45的移动，第3辊中心轴13ax与马达47的旋转轴47b的中心错位的情况下，也能够通过马达47使第3辊13适当地旋转。

然后，进入步骤T14(调整工序)，通过调整部375，与实施方式的步骤S14同样地，结束由第1辊移动机构25进行的第1辊11的移动，并且结束由第3辊移动机构26进行的第3辊13的移动，然后判断是否经过第2辊12旋转1/4圈的第2辊1/4旋转时间TQ，进而是否经过第3辊13旋转第3角度θ3的第3辊θ3旋转时间Tθ3。当判断为没有经过第3辊θ3旋转时间Tθ3(否)的情况下，反复进行步骤T14的处理等待时间经过。另一方面，当步骤T14中判断为是的情况下，进入步骤T15，通过调整部375与实施方式的步骤S15同样地，检测未干燥活性物质层6向集电箔2的涂布是否结束。

当涂布没有结束(否)的情况下，回到步骤T117(参照图17)，开始新的检测期间DT(n+1)。另一方面，当涂布完成了的情况下(是)，完成步骤T1(涂布工序)回到主程序(参照图2)。接着，在步骤S2的干燥工序中，与实施方式同样地，使用干燥装置30使未干燥活性物质层6干燥从而形成活性物质层3，并且暂且将通过形成活性物质层3而得到的电极板作为电极板辊1RL卷绕。

由此，能够遍及步骤T1(涂布工序)的整个期间地，将第1间隙KG1的间隙尺寸G1和第2间隙KG2的间隙尺寸G2保持为大致恒定，防止第1辊11～第3辊13的热膨胀引起的第1间隙KG1的变动和第2间隙KG2的变动积累。

在此，参照图21和图22具体说明。图21是表示第1间隙KG1的间隙尺寸G1的时间变动的坐标图。另外，图22是表示第2间隙KG2的间隙尺寸G2的时间变动的坐标图。如图21和图22所示，活性物质糊4向第1间隙KG1的供给开始之后，从时刻t1开始检测期间DT(1)。再者，如图21所示，时刻t1的第1间隙KG1的间隙尺寸G1是第1间隙目标值G1T。另外，如图22所示，时刻t1的第2间隙KG2的间隙尺寸G2是第2间隙目标值G2T。

检测期间DT(1)开始后，第1辊11、第2辊12和第3辊13随着时间经过由于摩擦而热膨胀。因此，如图21中用虚线所示，第1间隙KG1的间隙尺寸G1随着时间经过而逐渐变小。而且，如图22中用虚线所示，第2间隙KG2的间隙尺寸G2也随着时间经过而逐渐变小。

但是，本变形方式2中，如上所述，使用第1传感器21和第2传感器22的测定值，在每个检测期间DT(n)将第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动量ΔG1抵消。具体而言，从时刻t1经过预定时间，在时刻t2检测期间DT(1)结束后，算出变动量ΔG1，使用第1辊移动机构25使第1辊11移动，将第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动抵消。即，如图21中用实线所示，使间隙尺寸G1回到第1间隙目标值G1T。

此外，如上所述，使用第3传感器23和第4传感器24的测定值，在每个检测期间DT(n)将第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动量ΔG2抵消。具体而言，从时刻t1经过预定时间，在时刻t2检测期间DT(1)结束后，算出变动量ΔG2，使用第3辊移动机构26使第3辊13移动，将第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动抵消。即，如图22中用实线所示，使间隙尺寸G2回到第2间隙目标值G2T。

然后，在时刻t3，开始下一次新的检测期间DT(2)。以后同样地，在每个检测期间DT(n)，以将第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动量ΔG1抵消的方式使第1辊11移动。由此，如图21中用实线所示，在任一时刻，第1间隙KG1的间隙尺寸G1都被保持为第1间隙目标值G1T或与其近似的大致恒定的值，能够防止热膨胀引起的第1间隙KG1的变动积累。由此，能够将在第2辊12上形成的第2辊上涂膜5的厚度TH5保持为大致恒定的值。

与此同样地，在每个检测期间DT(n)，以将第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动量ΔG2抵消的方式使第3辊13移动。由此，如图22中用实线所示，在任一时刻，第2间隙KG2的间隙尺寸G2都被保持为第2间隙目标值G2T或与其近似的大致恒定的值，能够防止热膨胀引起的第2间隙KG2的变动积累。由此，能够将在集电箔2上形成的未干燥活性物质层6的厚度TH6保持为大致恒定的值。

接着，进入步骤T3(参照图2)，在集电箔2的另一方表面(背面)2sb上涂布未干燥活性物质层6，制造未干燥电极板7。具体而言，如图17和图18所示，与之前进行的步骤T11～T15的处理同样地进行步骤T31～T35的处理。再者，步骤T31(检测工序)中，与之前进行的步骤T111～T123的处理同样地进行步骤T311～T323的处理。具体而言，步骤T322中，使用ΔG1＝(L12-L22)-(L11-L21)的关系式算出第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动量ΔG1，在步骤T32中，以将变动量ΔG1抵消的方式使第1辊11移动。而且，步骤T323中，使用ΔG2＝(L42-L32)-(L41-L31)的关系式算出第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动量ΔG2，在步骤T33中，以将变动量ΔG2抵消的方式使第3辊13移动。

然后，在步骤S4的干燥工序中，与实施方式同样地使用干燥装置30将未干燥活性物质层6干燥，将电极板1作为电极板辊1RL卷绕。由此，完成在集电箔2的两面2sa、2sb分别具有活性物质层3、3的电极板1。

根据以上说明过的实施方式或者变形方式1、2的制造方法，能够无需考虑对第2间隙KG2的影响，将第1辊11和第2辊12的热膨胀造成的第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动量ΔG1抵消，适当确保第1间隙KG1的间隙尺寸G1地使第1辊11移动。而且，在每个检测期间DT(n)，没有随着第1间隙KG1的变动而产生的第2辊上涂膜5的厚度TH5的变动，能够防止第1间隙KG1的间隙尺寸G1的变动积累。由此，能够抑制第1辊11和第2辊12的热膨胀造成的、对在集电箔2上形成的未干燥活性物质层6的厚度TH6、密度的影响，制造对于集电箔2的长度方向EH的未干燥活性物质层6的厚度TH6等的变动被抑制了的未干燥电极板7。另外，根据涂布装置10、110，能够抑制第1辊11和第2辊12的热膨胀造成的、第2辊上涂膜5的厚度TH5的变动，进而在集电箔2上涂布对于集电箔2的长度方向EH的厚度TH6等的变动被抑制了的未干燥活性物质层6。

另外，根据实施方式或者变形方式1、2的制造方法，能够无需考虑对第1间隙KG1的影响，将第2辊12和第3辊13的热膨胀造成的第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动量ΔG2抵消，适当确保第2间隙KG2的间隙尺寸G2地使第3辊13移动。并且，能够在每个检测期间DT(n)，没有随着第2间隙KG2的变动而产生的未干燥活性物质层6的厚度TH6的变动，防止第2间隙KG2的间隙尺寸G2的变动积累。由此，能够抑制第2辊12和第3辊13的热膨胀造成的、对在集电箔2上形成的未干燥活性物质层6的厚度TH6的影响，制造对于集电箔2的长度方向EH的未干燥活性物质层6的厚度TH6的变动被抑制了的未干燥电极板7。另外，根据涂布装置10、110，能够在集电箔2上涂布对于集电箔2的长度方向EH的第2辊12和第3辊13的热膨胀造成的厚度TH6的变动被抑制了的未干燥活性物质层6。

以上，基于实施方式和变形方式1、2说明了本发明，但本发明不限定于上述的实施方式等，在不脱离其要旨的范围，当然可以适当变更后应用。例如，实施方式和变形方式1、2中，示出了将第1～第4传感器21～24分别在第2辊12或者第3辊13的一方侧和另一方侧设置一对的例子。但是，也可以将第1～第4传感器21～24以检测第2辊12或者第3辊13的中央部分的方式，分别使用1个。另外，实施方式等中，在集电箔2上涂布未干燥活性物质层6并使其干燥而得到了电极板1，但不限于电极板的制造，可以适用于在基材片涂布糊层得到的带有糊层的片的制造。

另外，变形方式2中，通过第4传感器24(24a、24b)，检测了在第3辊13卷绕的集电箔2的径向外侧表面2sa的第4径向位置PR2s(参照图16)。但是，与变形方式1同样地，也可以变更集电箔2对第3辊13的卷绕形态，通过第4传感器24(24a、24b)检测第3辊13的第3辊表面13s的第4径向位置PR13s(参照图15)。即使在形成这样的形态的情况下，也能够与变形方式2同样地，进行步骤T11～T15(步骤T31～T35)的处理，由此将第1间隙KG1的间隙尺寸G1和第2间隙KG2的间隙尺寸G2保持为大致恒定，防止第1辊11～第3辊13的热膨胀引起的第1间隙KG1的变动和第2间隙KG2的变动积累。

Claims (18)

1.一种带有糊层的片的制造方法，所述带有糊层的片在带状基材片上设置有由糊形成的带状糊层，所述制造方法的特征在于，包括：

使用涂布装置在所述基材片上形成所述糊层，所述涂布装置具有：

第1辊，

第2辊，其相对于所述第1辊隔着第1间隙平行配置，且沿着与所述第1辊旋转方向相反的第2辊旋转方向旋转，

第3辊，其相对于所述第2辊隔着第2间隙平行配置，沿着与所述第2辊旋转方向相反的方向旋转，且对穿过所述第2间隙的所述基材片进行传送，

所述第1辊、所述第2辊和所述第3辊被配置为以下形态，将所述第2辊的第2辊中心轴与所述第1辊的第1辊中心轴连结的第1假想面以及将所述第2辊的所述第2辊中心轴与所述第3辊的第3辊中心轴连结的第2假想面在所述第2辊中心轴正交，并且所述第2间隙在以下部位形成，所述部位是从所述第1间隙在所述第2辊的第2辊表面上沿着所述第2辊旋转方向旋转1/4圈的部位，

第1传感器，其对在所述第2辊表面涂布的由所述糊形成的第2辊上涂膜的涂膜表面的第1径向位置进行检测，所述第1径向位置是所述第2辊上涂膜的所述涂膜表面之中、从所述第1间隙在所述第2辊表面上沿着所述第2辊旋转方向旋转第1角度的第1角度位置，所述第1角度大于0°且小于90°，

第2传感器，其隔着所述第2辊与所述第1传感器相对配置，且对所述第2辊的第2辊表面的第2径向位置进行检测，所述第2径向位置是所述第2辊表面之中、从所述第1角度位置沿着所述第2辊旋转方向旋转180°的第2角度位置，以及

第1辊移动机构，其使所述第1辊沿着将所述第2辊与所述第1辊连结的第1方向移动，

在形成所述糊层的过程中，向所述第1间隙供给所述糊，使在所述第2辊表面涂布的所述第2辊上涂膜穿过所述第2间隙，向所述第3辊传送的所述基材片上转印；

根据由所述第1传感器检测出的所述第1径向位置、以及由所述第2传感器检测出的所述第2径向位置，在每个检测期间检测所述第1间隙的间隙尺寸的变动量，所述第1间隙的所述变动量是由于所述第1辊和所述第2辊产生的热膨胀而在反复设置的检测期间中产生的；

使用所述第1辊移动机构，以将检测出的所述第1间隙的所述变动量抵消的方式使所述第1辊沿所述第1方向移动；

在上次的所述检测期间结束之后，结束由所述第1辊移动机构进行的所述第1辊的移动，然后在经过所述第2辊旋转所述第1角度的第2辊旋转时间以后，开始新的所述检测期间的检测。

2.根据权利要求1所述的带有糊层的片的制造方法，其特征在于，

在检测所述第1间隙的间隙尺寸的变动量时，根据所述检测期间产生的、由所述第1传感器检测出的所述第2辊上涂膜的所述涂膜表面的所述第1径向位置的变动量以及由所述第2传感器检测出的所述第2辊的所述第2辊表面的所述第2径向位置的变动量之差，取得由于所述热膨胀而在该检测期间内产生的所述第1间隙的所述变动量。

3.根据权利要求1所述的带有糊层的片的制造方法，其特征在于，

所述第1传感器是对所述涂膜表面的所述第1径向位置进行检测的传感器，所述第1径向位置以所述第1角度位置的所述第2辊表面的开始前第1径向位置为基准位置，所述开始前第1径向位置是在向所述第1间隙开始所述糊的供给之前由所述第1传感器测定的，

所述第2传感器是对所述第2辊表面的所述第2径向位置进行测定的传感器，所述第2径向位置以所述第2角度位置的所述第2辊表面的开始前第2径向位置为基准位置，所述开始前第2径向位置是在向所述第1间隙开始所述糊的供给之前由所述第2传感器测定的，

所述制造方法包括：

从反复设置的所述检测期间之中最初的检测期间开始时的、向所述第1间隙开始所述糊的供给时起算，在所述第2辊旋转所述第1角度以上之后、并且所述第2辊旋转第1预定数之前，由所述第1传感器测定所述第2辊上涂膜的所述涂膜表面的初期第1径向位置，所述初期第1径向位置以所述开始前第1径向位置为基准位置，

从反复设置的所述检测期间之中最初的检测期间开始时的、向所述第1间隙开始所述糊的供给时起算，在所述第2辊旋转所述第1角度以上之后、并且所述第2辊旋转第1预定数之前，由所述第2传感器测定所述第2辊表面的初期第2径向位置，所述初期第2径向位置以所述开始前第2径向位置为基准位置，

测定了所述初期第1径向位置和所述初期第2径向位置之后，在各个所述检测期间的结束时，由所述第1传感器测定所述第2辊上涂膜的所述涂膜表面的结束时第1径向位置，所述结束时第1径向位置以所述开始前第1径向位置为基准位置，

测定了所述初期第1径向位置和所述初期第2径向位置之后，在各个所述检测期间的结束时，由所述第2传感器测定所述第2辊表面的结束时第2径向位置，所述结束时第2径向位置以所述开始前第2径向位置为基准位置，

在将所述初期第1径向位置的值设为L11、将所述初期第2径向位置的值设为L21、将所述结束时第1径向位置的值设为L12、并将所述结束时第2径向位置的值设为L22时，使用ΔG1＝(L12-L22)-(L11-L21)的关系式，算出由于所述热膨胀而在各个所述检测期间内产生的所述第1间隙的所述变动量即ΔG1的值。

4.根据权利要求1～3的任一项所述的带有糊层的片的制造方法，其特征在于，

所述第1传感器和所述第2传感器包括：隔着所述第2辊的第1端部相对配置的第1侧第1传感器和第1侧第2传感器、以及隔着所述第2辊的第2端部相对配置的第2侧第1传感器和第2侧第2传感器，

所述第1辊移动机构包括：使所述第1辊的第1端部沿所述第1方向移动的第1侧第1辊移动机构、以及使所述第1辊的第2端部沿所述第1方向移动的第2侧第1辊移动机构，

在检测所述第1间隙的间隙尺寸的变动量时，

使用所述第1侧第1传感器和所述第1侧第2传感器，检测所述第1间隙之中第1端部的间隙尺寸的变动量，

并使用所述第2侧第1传感器和所述第2侧第2传感器，检测所述第1间隙之中第2端部的间隙尺寸的变动量，

在使所述第1辊沿所述第1方向移动时，

使用所述第1侧第1辊移动机构，以将检测出的所述第1间隙之中所述第1端部的所述间隙尺寸的变动量抵消的方式，使所述第1辊的所述第1端部移动，

并使用所述第2侧第1辊移动机构，以将检测出的所述第1间隙之中所述第2端部的所述间隙尺寸的变动量抵消的方式，使所述第1辊的所述第2端部移动。

5.根据权利要求1～3的任一项所述的带有糊层的片的制造方法，其特征在于，

所述涂布装置具有：

第3传感器，其对被转印到卷在所述第3辊上的所述基材片上的所述糊层的层表面的第3径向位置进行检测，所述第3径向位置是所述糊层的所述层表面之中、从所述第2间隙在所述第3辊的第3辊表面上沿着第3辊旋转方向旋转第3角度的第3角度位置，所述第3角度大于0°且小于90°，

第4传感器，其隔着所述第3辊与所述第3传感器相对配置，且对所述第3辊的所述第3辊表面或卷在所述第3辊上的所述基材片的径向外侧表面的第4径向位置进行检测，所述第4径向位置是所述第3辊表面或所述径向外侧表面之中、从所述第3角度位置沿着第3辊旋转方向退回180°的第4角度位置，以及

第3辊移动机构，其使所述第3辊沿着将所述第2辊与所述第3辊连结的第2方向移动，

所述制造方法包括：

根据由所述第3传感器检测出的所述第3径向位置以及由所述第4传感器检测出的所述第4径向位置，在每个所述检测期间检测所述第2间隙的间隙尺寸的变动量，所述第2间隙的所述变动量是由于所述第2辊和所述第3辊产生的热膨胀而在所述检测期间中产生的，

使用所述第3辊移动机构，以将检测出的所述第2间隙的所述变动量抵消的方式，使所述第3辊沿着所述第2方向移动，

上次的所述检测期间结束之后，结束由所述第1辊移动机构进行的所述第1辊的移动，并且结束由所述第3辊移动机构进行的所述第3辊的移动，然后经过所述第2辊旋转1/4圈的第2辊1/4旋转时间，且经过所述第3辊旋转所述第3角度的第3辊旋转时间以后，开始新的所述检测期间。

6.根据权利要求5所述的带有糊层的片的制造方法，其特征在于，

在检测第2间隙的间隙尺寸的变动量时，根据所述检测期间产生的、由所述第3传感器检测出的所述糊层的所述层表面的所述第3径向位置的变动量以及由所述第4传感器检测出的所述第3辊表面或所述径向外侧表面的所述第4径向位置的变动量之差，取得由于所述第2辊和所述第3辊的热膨胀而在该检测期间内产生的所述第2间隙的所述变动量。

7.根据权利要求5所述的带有糊层的片的制造方法，其特征在于，

所述第3传感器是对所述糊层的所述层表面的所述第3径向位置进行测定的传感器，所述第3径向位置以所述第3角度位置的所述第3辊表面的开始前第3径向位置为基准位置，所述开始前第3径向位置是在向所述第1间隙开始所述糊的供给之前由所述第3传感器测定的，

所述第4传感器是对所述基材片的所述径向外侧表面或所述第3辊表面的所述第4径向位置进行测定的传感器，所述第4径向位置以所述第4角度位置的所述第3辊表面的开始前第4径向位置为基准位置，所述开始前第4径向位置是在向所述第1间隙开始所述糊的供给之前由所述第4传感器测定的，

从反复设置的所述检测期间之中最初的检测期间开始时的、所述第2辊上涂膜最初到达所述第2间隙时起算，在所述第3辊旋转所述第3角度以上之后、并且所述第3辊旋转第2预定数之前，由所述第3传感器测定所述糊层的所述层表面的初期第3径向位置，所述初期第3径向位置以所述开始前第3径向位置为基准位置，

从反复设置的所述检测期间之中最初的检测期间开始时的、所述第2辊上涂膜最初到达所述第2间隙时起算，在所述第3辊旋转所述第3角度以上之后、并且所述第3辊旋转第2预定数之前，由所述第4传感器测定所述基材片的所述径向外侧表面或所述第3辊表面的初期第4径向位置，所述初期第4径向位置以所述开始前第4径向位置为基准位置，

测定了所述初期第3径向位置和所述初期第4径向位置之后，在各个所述检测期间的结束时，由所述第3传感器测定所述糊层的所述层表面的结束时第3径向位置，所述结束时第3径向位置以所述开始前第3径向位置为基准位置，

测定了所述初期第3径向位置和所述初期第4径向位置之后，在各个所述检测期间的结束时，由所述第4传感器测定所述基材片的所述径向外侧表面或所述第3辊表面的结束时第4径向位置，所述结束时第4径向位置以所述开始前第4径向位置为基准位置，以及

将所述初期第3径向位置的值设为L31、将所述初期第4径向位置的值设为L41、将所述结束时第3径向位置的值设为L32、并将所述结束时第4径向位置的值设为L42时，使用ΔG2＝(L42-L32)-(L41-L31)的关系式，算出由于所述热膨胀而在各个所述检测期间内产生的所述第2间隙的所述变动量即ΔG2的值。

8.根据权利要求5所述的带有糊层的片的制造方法，其特征在于，

多个所述第3传感器和所述第4传感器包括：隔着所述第3辊的第1端部相对配置的第1侧第3传感器和第1侧第4传感器、以及隔着所述第3辊的第2端部相对配置的第2侧第3传感器和第2侧第4传感器，

所述第3辊移动机构包括：使所述第3辊的所述第1端部沿所述第2方向移动的第1侧第3辊移动机构、以及使所述第3辊的所述第2端部沿所述第2方向移动的第2侧第3辊移动机构，

在检测第2间隙的间隙尺寸的变动量时，

使用所述第1侧第3传感器和所述第1侧第4传感器，检测所述第2间隙之中第1端部的间隙尺寸的变动量，

并使用所述第2侧第3传感器和所述第2侧第4传感器，检测所述第2间隙之中第2端部的间隙尺寸的变动量，

在使所述第3辊沿所述第2方向移动时，

通过所述第1侧第3辊移动机构使所述第3辊的所述第1端部移动，以抵消检测出的所述第2间隙之中所述第1端部的所述间隙尺寸的变动量，

并通过所述第2侧第3辊移动机构使所述第3辊的所述第2端部移动，以抵消检测出的所述第2间隙之中所述第2端部的所述间隙尺寸的变动量。

9.根据权利要求3所述的带有糊层的片的制造方法，其特征在于，

所述第1预定数为30。

10.根据权利要求7所述的带有糊层的片的制造方法，其特征在于，

所述第2预定数为30。

11.一种涂布装置，在带状基材片上设置由糊形成的带状糊层，所述涂布装置的特征在于，包括：

第1辊，

第2辊，其相对于所述第1辊隔着第1间隙平行配置，且沿着与所述第1辊旋转方向相反的第2辊旋转方向旋转，

第3辊，其相对于所述第2辊隔着第2间隙平行配置，沿着与所述第2辊旋转方向相反的方向旋转，且对穿过所述第2间隙的所述基材片进行传送，

所述第1辊、所述第2辊和所述第3辊被配置为以下形态，将所述第2辊的第2辊中心轴与所述第1辊的第1辊中心轴连结的第1假想面以及将所述第2辊的所述第2辊中心轴与所述第3辊的第3辊中心轴连结的第2假想面在所述第2辊中心轴正交，并且所述第2间隙在以下部位形成，所述部位是从所述第1间隙在所述第2辊的第2辊表面上沿着所述第2辊旋转方向旋转1/4圈的部位，

第1传感器，其对在所述第2辊表面涂布的由所述糊形成的第2辊上涂膜的涂膜表面的第1径向位置进行检测，所述第1径向位置是所述第2辊上涂膜的所述涂膜表面之中、从所述第1间隙在所述第2辊表面上沿着所述第2辊旋转方向旋转第1角度的第1角度位置，所述第1角度大于0°且小于90°，

第2传感器，其隔着所述第2辊与所述第1传感器相对配置，且对所述第2辊的第2辊表面的第2径向位置进行检测，所述第2径向位置是所述第2辊表面之中、从所述第1角度位置沿着所述第2辊旋转方向旋转180°的第2角度位置，

第1辊移动机构，其使所述第1辊沿着将所述第2辊与所述第1辊连结的第1方向移动，

第1间隙变动检测部，其使用由所述第1传感器检测出的所述第2辊上涂膜的所述涂膜表面的所述第1径向位置、以及由所述第2传感器检测出的所述第2辊表面的所述第2径向位置，在每个检测期间检测所述第1间隙的间隙尺寸的变动量，所述第1间隙的间隙尺寸的变动量是由于热膨胀而在反复设置的检测期间中产生的，所述热膨胀是随着向所述第1间隙供给所述糊，使在所述第2辊表面涂布的所述第2辊上涂膜穿过所述第2间隙而向所述第3辊传送的所述基材片上转印，在所述基材片上持续形成所述糊层而在所述第1辊和所述第2辊产生的，

第1辊移动指示部，其对所述第1辊移动机构发出使所述第1辊向所述第1方向移动的指示，以将由所述第1间隙变动检测部检测出的所述第1间隙的所述变动量抵消，以及

调整部，其在上次的所述检测期间结束之后，结束由所述第1辊移动机构进行的所述第1辊的移动，然后在经过所述第2辊旋转所述第1角度的第2辊旋转时间以后，开始新的所述检测期间。

12.根据权利要求11所述的涂布装置，其特征在于，

所述第1间隙变动检测部，根据所述检测期间产生的、由所述第1传感器检测出的所述第2辊上涂膜的所述涂膜表面的所述第1径向位置的变动量以及由所述第2传感器检测出的所述第2辊的所述第2辊表面的所述第2径向位置的变动量之差，取得由于所述第1辊和所述第2辊的所述热膨胀而在该检测期间内产生的所述第1间隙的所述变动量。

13.根据权利要求11所述的涂布装置，其特征在于，

所述第1传感器是检测所述涂膜表面的所述第1径向位置的传感器，所述第1径向位置以所述第1角度位置的所述第2辊表面的开始前第1径向位置为基准位置，所述开始前第1径向位置是在向所述第1间隙开始所述糊的供给之前由所述第1传感器测定出的，

所述第2传感器是测定所述第2辊表面的所述第2径向位置的传感器，所述第2径向位置以所述第2角度位置的所述第2辊表面的开始前第2径向位置为基准位置，所述开始前第2径向位置是在向所述第1间隙开始所述糊的供给之前由所述第2传感器测定出的，

所述第1间隙变动检测部从反复设置的所述检测期间之中最初的检测期间开始时的、向所述第1间隙开始所述糊的供给时起算，在所述第2辊旋转所述第1角度以上之后、并且所述第2辊旋转第1预定数之前，由所述第1传感器测定以所述开始前第1径向位置为基准位置的所述涂膜表面的初期第1径向位置，并由所述第2传感器测定以所述开始前第2径向位置为基准位置的所述第2辊表面的初期第2径向位置，由此取得所述涂膜表面的所述初期第1径向位置的值和所述第2辊表面的所述初期第2径向位置的值，

然后，在各个所述检测期间的结束时，由所述第1传感器测定以所述开始前第1径向位置为基准位置的所述涂膜表面的结束时第1径向位置，并由所述第2传感器测定以所述开始前第2径向位置为基准位置的所述第2辊表面的结束时第2径向位置，由此取得所述涂膜表面的所述结束时第1径向位置的值和所述第2辊表面的所述结束时第2径向位置的值，

将所述初期第1径向位置的值设为L11、将所述初期第2径向位置的值设为L21、将所述结束时第1径向位置的值设为L12、并将所述结束时第2径向位置的值设为L22时，使用ΔG1＝(L12-L22)-(L11-L21)的关系式，算出由于所述热膨胀而在各个所述检测期间内产生的所述第1间隙的所述变动量即ΔG1的值。

14.根据权利要求11～13的任一项所述的涂布装置，其特征在于，

多个所述第1传感器和所述第2传感器包括：隔着所述第2辊的第1端部相对配置的第1侧第1传感器和第1侧第2传感器、以及隔着所述第2辊的第2端部相对配置的第2侧第1传感器和第2侧第2传感器，

所述第1辊移动机构包括：使所述第1辊的第1端部沿所述第1方向移动的第1侧第1辊移动机构、以及使所述第1辊的第2端部沿所述第1方向移动的第2侧第1辊移动机构，

所述第1间隙变动检测部使用所述第1侧第1传感器和所述第1侧第2传感器检测所述第1间隙之中第1端部的间隙尺寸的变动量，并使用所述第2侧第1传感器和所述第2侧第2传感器检测所述第1间隙之中第2端部的间隙尺寸的变动量，

所述第1辊移动指示部对所述第1侧第1辊移动机构发出使所述第1辊的所述第1端部移动的指示，以将检测出的所述第1间隙之中所述第1端部的所述间隙尺寸的变动量抵消，并对所述第2侧第1辊移动机构发出使所述第1辊的所述第2端部移动的指示，以将检测出的所述第1间隙之中所述第2端部的所述间隙尺寸的变动量抵消。

15.根据权利要求11～13的任一项所述的涂布装置，其特征在于，还包括：

第3传感器，其对被转印到卷在所述第3辊上的所述基材片上的所述糊层的层表面的第3径向位置进行检测，所述第3径向位置是所述糊层的所述层表面之中、从所述第2间隙在所述第3辊的第3辊表面上沿着第3辊旋转方向旋转第3角度的第3角度位置，所述第3角度大于0°且小于90°，

第4传感器，其隔着所述第3辊与所述第3传感器相对配置，且对所述第3辊的所述第3辊表面或卷在所述第3辊上的所述基材片的径向外侧表面的第4径向位置进行检测，所述第4径向位置是所述第3辊表面或所述径向外侧表面之中、从所述第3角度位置沿着第3辊旋转方向退回180°的第4角度位置，

第3辊移动机构，其使所述第3辊沿着将所述第2辊与所述第3辊连结的第2方向移动，

第2间隙变动检测部，其使用由所述第3传感器检测出的所述第3径向位置以及由所述第4传感器检测出的所述第4径向位置，在每个所述检测期间检测所述第2间隙的间隙尺寸的变动量，所述第2间隙的所述变动量是由于所述第2辊和所述第3辊产生的热膨胀而在所述检测期间中产生的，

第3辊移动指示部，其对所述第3辊移动机构发出使所述第3辊向所述第2方向移动的指示，以将由所述第2间隙变动检测部检测出的所述第2间隙的所述变动量抵消，其中，

所述调整部在上次的所述检测期间结束之后，结束由所述第1辊移动机构进行的所述第1辊的移动，并且结束由所述第3辊移动机构进行的所述第3辊的移动，然后经过所述第2辊1/4旋转时间，进而经过所述第3辊旋转所述第3角度的第3辊旋转时间以后，开始新的所述检测期间。

16.根据权利要求15所述的涂布装置，其特征在于，

所述第2间隙变动检测部，根据所述检测期间产生的、由所述第3传感器检测出的所述糊层的所述层表面的所述第3径向位置的变动量以及由所述第4传感器检测出的所述第3辊表面或所述径向外侧表面的所述第4径向位置的变动量之差，取得由于所述第2辊和所述第3辊的所述热膨胀而在该检测期间内产生的所述第2间隙的所述变动量。

17.根据权利要求15所述的涂布装置，其特征在于，

所述第3传感器是测定所述糊层的所述层表面的所述第3径向位置的传感器，所述第3径向位置以所述第3角度位置的所述第3辊表面的开始前第3径向位置为基准位置，所述开始前第3径向位置是在向所述第1间隙开始所述糊的供给之前由所述第3传感器测定出的，

所述第4传感器是测定所述基材片的所述径向外侧表面或所述第3辊表面的所述第4径向位置的传感器，所述第4径向位置以所述第4角度位置的所述第3辊表面的开始前第4径向位置为基准位置，所述开始前第4径向位置是在向所述第1间隙开始所述糊的供给之前由所述第4传感器测定出的，

所述第2间隙变动检测部从反复设置的所述检测期间之中最初的检测期间开始时的、所述第2辊上涂膜最初到达所述第2间隙时起算，在所述第3辊旋转所述第3角度以上之后、并且所述第3辊旋转第2预定数之前，由所述第3传感器测定以所述开始前第3径向位置为基准位置的所述糊层的所述层表面的初期第3径向位置，进而由所述第4传感器测定以所述开始前第4径向位置为基准位置的所述基材片的所述径向外侧表面或所述第3辊表面的初期第4径向位置，由此取得所述糊层的所述层表面的所述初期第3径向位置的值和所述基材片的所述径向外侧表面或所述第3辊表面的所述初期第4径向位置的值，

然后，在各个所述检测期间的结束时，由所述第3传感器测定以所述开始前第3径向位置为基准位置的所述糊层的所述层表面的结束时第3径向位置，进而由所述第4传感器测定以所述开始前第4径向位置为基准位置的所述基材片的所述径向外侧表面或所述第3辊表面的结束时第4径向位置，由此取得所述糊层的所述层表面的所述结束时第3径向位置的值和所述基材片的所述径向外侧表面或所述第3辊表面的所述结束时第4方向位置的值，将所述初期第3径向位置的值设为L31、将所述初期第4径向位置的值设为L41、将所述结束时第3径向位置的值设为L32、并将所述结束时第4径向位置的值设为L42时，使用ΔG2＝(L42-L32)-(L41-L31)的关系式，算出由于所述热膨胀而在各个所述检测期间内产生的所述第2间隙的所述变动量即ΔG2的值。

18.根据权利要求15所述的涂布装置，其特征在于，

多个所述第3传感器和所述第4传感器包括：隔着所述第3辊的第1端部相对配置的第1侧第3传感器和第1侧第4传感器、以及隔着所述第3辊的第2端部相对配置的第2侧第3传感器和第2侧第4传感器，

所述第3辊移动机构包括：使所述第3辊的所述第1端部沿所述第2方向移动的第1侧第3辊移动机构、以及使所述第3辊的所述第2端部沿所述第2方向移动的第2侧第3辊移动机构，

所述第2间隙变动检测部使用所述第1侧第3传感器和所述第1侧第4传感器检测所述第2间隙之中第1端部的间隙尺寸的变动量，并使用所述第2侧第3传感器和所述第2侧第4传感器检测所述第2间隙之中第2端部的间隙尺寸的变动量，

所述第3辊移动指示部对所述第1侧第3辊移动机构发出使所述第3辊的所述第1端部移动的指示，以将检测出的所述第2间隙之中所述第1端部的所述间隙尺寸的变动量抵消，并对所述第2侧第3辊移动机构发出使所述第3辊的所述第2端部移动的指示，以将检测出的所述第2间隙之中所述第2端部的所述间隙尺寸的变动量抵消。