CN108226002B - 基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法，包括：S1、建立次生孔隙度谱截止值计算公式：次生孔隙度谱截止值＝a×δ+孔隙度中值，a为固定系数，δ为电成像测井图像上所选取窗口中最小孔隙度与孔隙度中值范围内的孔隙度方差；S2、使用岩心核磁共振T2谱计算岩心次生孔隙度；S3、使用岩心核磁共振T2谱计算所得的岩心次生孔隙度刻度次生孔隙度谱截止值计算公式中固定系数a的数值，以获得刻度后次生孔隙度。本发明采用岩心核磁共振T2谱刻度，利用逐次逼近的方法获取次生孔隙度谱截止值计算公式中的固定系数a，增加了次生孔隙度谱截止值计算结果的可靠性，进而获得准确性高的次生孔隙度获取方法。
Description
技术领域
本发明涉及碳酸盐岩储层次生孔隙度获取技术领域，尤其涉及一种基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法。
背景技术
碳酸盐岩储层具有基质孔隙(原生孔隙)和次生孔隙同时发育、孔喉结构复杂、储集空间多样、储层非均质性强等储层特征。由于成岩作用等影响，原生孔隙往往难以有效保存，而次生孔隙的孔径通常比原生孔隙的孔径大，渗透性也好于原生孔隙，为碳酸盐岩储层中油气的主要储集空间和运输通道，因此开展碳酸盐岩储层次生孔隙度测井评价方法研究，尤其是准确计算次生孔隙度，对于碳酸盐岩储层有效性评价具有重要的意义，亦能够为油田开发方案制定和调整、有效提高采收率提供理论依据。
由于次生孔隙的形成受到溶蚀作用、胶结作用、成岩作用、生物作用等一系列因素的控制，单一测井参数与次生孔隙度的响应关系一般较差，使用常规测井资料无法有效评价次生孔隙度，因此目前国内外均采用电成像测井资料进行次生孔隙度测井评价研究，其中计算次生孔隙度的方法主要分为以下3个步骤：
(1)利用电成像测井资料计算储层孔隙度谱：首先选取一个电成像测井图像窗口，将窗口内的井壁冲洗带电导率值转换为井壁冲洗带电阻率值，利用阿尔奇公式将井壁冲洗带电阻率矩阵转换为每个成像测井像素点的孔隙度大小，再对储层某一深度范围内的孔隙度值在不同的孔隙度值区间内进行频数统计，并将统计后的结果在坐标系内绘制成频率直方图，该频率直方图即地层的电成像孔隙度谱。
(2)计算孔隙度谱中区分原生孔隙和次生孔隙的截止值：斯伦贝谢公司的B.M.Newberry等在1996年提出的基于孔隙度中值的Newberry孔隙度谱截止值计算方法和T.S.Ramakrishnan等在1997年提出的基于标准线性判别式分析的判别式孔隙度谱截止值计算方法是目前的主流计算方法，这两种孔隙度谱截止值计算方法均为基于孔隙度的数学计算方法，既能够反映出储层孔隙性特征，又不受孔隙度谱形态特征的影响，但孔隙度谱截止值计算精度取决于地区经验系数的取值，计算方法适用性和计算结果可靠性不高，直接影响到下个步骤中次生孔隙度的计算精度。国内的史飞洲等人为了解决这些问题，提出了基于孔隙度谱形状的高斯函数拟合孔隙度谱截止值法计算方法，但该方法的计算精度与孔隙度谱形状关系密切，不适用于孔隙度谱中双峰间距较大的情况，在碳酸盐岩储层中的应用受到局限。
(3)基于次生孔隙度谱截止值的储层次生孔隙度计算：依据孔隙度谱截止值计算结果在孔隙度谱中确定原生孔隙和次生孔隙的分界线，对该分界线后侧的次生孔隙谱包络线所包围的面积进行积分，积分计算结果即为次生孔隙度。
依据以上计算碳酸盐岩储层次生孔隙度的方法和步骤，借助电成像测井资料，有效解决了无法使用常规测井计算碳酸盐岩次生孔隙度的难题。但在次生孔隙度计算环节，或者计算精度过度依赖地区经验参数，参数选择缺乏理论根据。此外，计算精度也会受到孔隙度谱形态影响，方法适用性受到限制。
因此，有必要需要建立新的次生孔隙度获取方法，以达到提高次生孔隙度精度的需求。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于，提供一种提高可靠性和准确性的基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法，包括以下步骤：
S1、建立次生孔隙度谱截止值计算公式：
次生孔隙度谱截止值＝a×δ+孔隙度中值
其中，a为固定系数，δ为电成像测井图像上所选取窗口中最小孔隙度与孔隙度中值范围内的孔隙度方差，孔隙度中值为所选取窗口中的孔隙度中值；
S2、使用岩心核磁共振T2谱计算岩心次生孔隙度；
S3、使用岩心核磁共振T2谱计算所得的岩心次生孔隙度刻度次生孔隙度谱截止值计算公式中固定系数a的数值：
采用步骤S1中的次生孔隙度谱截止值计算公式，在1-3之间调整固定系数a的数值，控制次生孔隙度谱截止值计算结果，对截止值之后的孔隙度谱包络线所包围的面积进行积分计算次生孔隙度，获得孔隙度谱次生孔隙度；将逐次计算的孔隙度谱次生孔隙度与步骤S2获得的次生孔隙度进行误差分析，误差最小时对应的a值为刻度后确定值，对应的孔隙度谱次生孔隙度计算结果为刻度后次生孔隙度。
优选地，步骤S1中，在电成像测井图像上选取窗口，计算窗口内最小孔隙度与孔隙度中值范围内的孔隙度计数率之和；求取该范围内每个孔隙度的计数率占总计数率的百分比，据此计算最小孔隙度与孔隙度中值范围内的孔隙度方差δ；设置一个固定系数a乘以该方差，得到次生孔隙度谱截止值，获得次生孔隙度谱截止值计算公式。
优选地，步骤S2中，根据岩心次生孔隙度的大小等于离心后排出的大孔径孔隙流体体积，依据岩心核磁共振T2谱分布图中峰值特征，得到离心前孔隙度分量中弛豫时间最长的峰开始时间，该开始时间对应次生孔隙度谱T2截止值，获得岩心次生孔隙度＝离心前累积总孔隙度-次生孔隙度谱T2截止值对应的离心前累积孔隙度。
优选地，还包括以下步骤：
S4、计算铸体薄片次生孔隙度；
S5、利用铸体薄片次生孔隙度验证步骤S3中获取的孔隙度谱次生孔隙度的精度。
优选地，步骤S4中，取步骤S1中电成像测井图像上所选取窗口位置对应的储层，制备铸体薄片；
根据铸体薄片鉴定结果，获得铸体薄片次生孔隙类型及对应的相对含量，拟合铸体薄片总面孔率与总孔隙度的关系，得出铸体薄片总面孔率与总孔隙度的转换关系式，将次生孔隙面孔率换算为铸体薄片次生孔隙度。
优选地，所述铸体薄片次生孔隙类型包括粒间溶孔、粒内溶孔、基质溶孔、构造溶蚀缝。
优选地，步骤S5中，通过铸体薄片次生孔隙度和孔隙度谱计算次生孔隙度之间的平均绝对误差，验证获取的孔隙度谱次生孔隙度的准确性。
优选地，步骤S5中，所述平均绝对误差小于5％
本发明提供另一种基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法，包括以下步骤：
S1、建立次生孔隙度谱截止值计算公式：
次生孔隙度谱截止值＝a+平均孔隙度
其中，a为固定系数，平均孔隙度是电成像测井图像上所选取窗口中所有孔隙度的算数平均值；
S2、使用岩心核磁共振T2谱计算岩心次生孔隙度；
S3、使用岩心核磁共振T2谱计算所得的岩心次生孔隙度刻度次生孔隙度谱截止值计算公式中固定系数a的数值：
采用步骤S1中的次生孔隙度谱截止值计算公式，在1-3之间调整固定系数a的数值，控制次生孔隙度谱截止值计算结果，对截止值之后的孔隙度谱包络线所包围的面积进行积分计算次生孔隙度，获得孔隙度谱次生孔隙度；将逐次计算的孔隙度谱次生孔隙度与步骤S2获得的次生孔隙度进行误差分析，误差最小时对应的a值为刻度后确定值，对应的孔隙度谱次生孔隙度计算结果为刻度后次生孔隙度。
优选地，步骤S2中，根据岩心次生孔隙度的大小等于离心后排出的大孔径孔隙流体体积，依据岩心核磁共振T2谱分布图中峰值特征，得到离心前孔隙度分量中弛豫时间最长的峰开始时间，该开始时间对应次生孔隙度谱T2截止值，获得岩心次生孔隙度＝离心前累积总孔隙度-次生孔隙度谱T2截止值对应的离心前累积孔隙度。
本发明的有益效果：采用岩心核磁共振T2谱刻度，利用逐次逼近的方法获取次生孔隙度谱截止值计算公式中的固定系数a，极大增加了次生孔隙度谱截止值计算结果的可靠性，进而获得准确性高的次生孔隙度获取方法。
利用铸体薄片次生孔隙度验证孔隙度谱次生孔隙度获取的结果，有效保障了次生孔隙度获取结果的准确性。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：
图1是本发明第一实施例的基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法的流程示意图；
图2是本发明中的碳酸盐岩储层岩心核磁共振T2谱分布图；
图3是本发明中铸体薄片总面孔(缝)率与总孔隙度的拟合关系图。
具体实施方式
参考图1，本发明第一实施例的基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法，包括以下步骤：
S1、建立次生孔隙度谱截止值计算公式：
次生孔隙度谱截止值＝a×δ+孔隙度中值
其中，a为固定系数；δ为电成像测井图像上所选取窗口中最小孔隙度与孔隙度中值范围内的孔隙度方差；孔隙度中值为所选取窗口中孔隙度中值，累计孔隙度分布百分数达到50％时所对应的孔隙度，其物理意义是大于它的孔隙度占50％，小于它的孔隙度也占50％。
具体地，步骤S1中，在电成像测井图像上选取窗口，计算窗口内最小孔隙度与孔隙度中值范围内的孔隙度计数率之和；求取窗口内最小孔隙度和孔隙度中值范围内每个孔隙度的计数率占总计数率的百分比，据此计算最小孔隙度与孔隙度中值范围内的孔隙度方差δ；设置一个固定系数a乘以该方差，得到次生孔隙度谱截止值，获得次生孔隙度谱截止值计算公式。
S2、使用岩心核磁共振T2谱计算岩心次生孔隙度。
具体地，根据岩心次生孔隙度的大小等于(或近似等于)离心后排出的大孔径孔隙流体体积，依据岩心核磁共振T2谱分布图中峰值特征，得到离心前孔隙度分量中弛豫时间最长的峰开始时间，该开始时间对应次生孔隙度谱T2截止值，获得岩心次生孔隙度＝离心前累积总孔隙度-次生孔隙度谱T2截止值对应的离心前累积孔隙度。
S3、使用岩心核磁共振次生孔隙度刻度次生孔隙度谱截止值计算公式中固定系数a的数值：
采用步骤S1中的次生孔隙度谱截止值计算公式，在1-3之间调整固定系数a的数值，控制次生孔隙度谱截止值计算结果，对截止值之后的孔隙度谱包络线所包围的面积进行积分计算次生孔隙度，获得孔隙度谱次生孔隙度；将逐次计算的孔隙度谱次生孔隙度与步骤S2获得的次生孔隙度进行误差分析，误差最小时对应的a值为刻度后确定值，对应的孔隙度谱次生孔隙度计算结果为刻度后次生孔隙度。
进一步地，本发明第一实施例的基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法还包括以下步骤：
S4、计算铸体薄片次生孔隙度。
其中，对应步骤S1中电成像测井图像上所选取窗口，制备铸体薄片。
根据铸体薄片鉴定结果，获得铸体薄片次生孔隙类型和相对含量，拟合铸体薄片总面孔率与总孔隙度的关系，得出铸体薄片总面孔率与总孔隙度的转换关系式，将次生孔隙面孔率换算为铸体薄片次生孔隙度。铸体薄片次生孔隙类型包括粒间溶孔、粒内溶孔、基质溶孔、构造溶蚀缝。上述的铸体薄片总面孔率包括铸体薄片中孔状和缝状孔的总面孔率。
S5、利用铸体薄片次生孔隙度验证步骤S3中获取的孔隙度谱次生孔隙度的精度：
通过铸体薄片次生孔隙度和孔隙度谱计算次生孔隙度之间的平均绝对误差，验证获取的孔隙度谱次生孔隙度的准确性(即精度)。
若验证结果符合相关要求的精度，则输出次生孔隙度获取结果；若否，则返回步骤S3对次生孔隙度谱截止值再次确定，直至符合获取精度。
本发明第二实施例的基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法，包括以下步骤：
S1、建立次生孔隙度谱截止值计算公式：
次生孔隙度谱截止值＝a+平均孔隙度
其中，a为固定系数，平均孔隙度是电成像测井图像上所选取窗口中所有孔隙度的算数平均值。
S2、使用岩心核磁共振T2谱计算岩心次生孔隙度。
具体地，根据岩心次生孔隙度的大小等于(或近似等于)离心后排出的大孔径孔隙流体体积，依据岩心核磁共振T2谱分布图中峰值特征，得到离心前孔隙度分量中弛豫时间最长的峰开始时间，该开始时间对应次生孔隙度谱T2截止值，获得岩心次生孔隙度＝离心前累积总孔隙度-次生孔隙度谱T2截止值对应的离心前累积孔隙度。
S3、使用岩心核磁共振T2谱计算所得的岩心次生孔隙度刻度次生孔隙度谱截止值计算公式中固定系数a的数值：
采用步骤S1中的次生孔隙度谱截止值计算公式，在1-3之间调整固定系数a的数值，控制次生孔隙度谱截止值计算结果，对截止值之后的孔隙度谱包络线所包围的面积进行积分计算次生孔隙度，获得孔隙度谱次生孔隙度；将逐次计算的孔隙度谱次生孔隙度与步骤S2获得的次生孔隙度进行误差分析，误差最小时对应的a值为刻度后确定值，对应的孔隙度谱次生孔隙度计算结果为刻度后次生孔隙度。
进一步地，本发明第二实施例的基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法还包括以下步骤：
S4、计算铸体薄片次生孔隙度。
S5、利用铸体薄片次生孔隙度验证步骤S3中获取的孔隙度谱次生孔隙度的精度。
步骤S4和S5具体操作可参照上述第一实施例相关所述。
下面以珠江口盆地流花11-1生物礁灰岩油田为例，以LH11-1-D5P1井进行目的层段次生孔隙度获取为例详细阐述本发明：
步骤1、建立次生孔隙度谱截止值计算公式：在电成像测井图像上选取窗口，窗口大小根据实际情况决定。计算窗口内最小孔隙度与孔隙度中值范围内的孔隙度计数率之和，求取该范围内每个孔隙度的计数率占总计数率的百分比，据此计算最小孔隙度与孔隙度中值范围内的孔隙度方差，设置一个固定系数a乘以该方差，得到次生孔隙度谱截止值。计算公式为：
次生孔隙度谱截止值＝a×δ+孔隙度中值
式中：δ—最小孔隙度与孔隙度中值范围内的孔隙度方差；
a—固定系数，该系数决定次生孔隙度谱截止值计算精度。
步骤2、使用岩心核磁共振T2谱计算岩心次生孔隙度：如图2所示，其为碳酸盐岩储层岩心核磁共振T2谱分布图，曲线1为岩样离心前孔隙度分量，呈现出明显的三峰特征，一般认为弛豫时间较长的第三个峰表示大孔径孔隙，即次生孔隙；曲线2为岩样离心后孔隙度分量，呈现明显的双峰特征，离心前孔隙度分量中弛豫时间最长的第三个峰消失，说明大孔径孔隙里的流体因为离心作用排出。曲线3和曲线4分别为离心前累积和离心后累积。
次生孔隙度大小近似等于离心后排出的大孔径孔隙流体体积。找到离心前孔隙度分量中弛豫时间最长的第三个峰开始时间，该时间对应次生孔隙度谱T2截止值，离心前累积总孔隙度减去次生孔隙度谱T2截止值对应的离心前累积孔隙度即为次生孔隙度。
步骤3、使用岩心核磁共振次生孔隙度刻度次生孔隙度计算公式中的固定系数a值：采用步骤1中的次生孔隙度谱截止值计算公式，通过调整计算公式中的固定系数a的数值(1-3之间)控制次生孔隙度谱截止值计算结果，对截止值之后的孔隙度谱包络线所包围的面积进行积分计算次生孔隙度。
将LH11-1-D5P1井目的层段逐次计算的孔隙度谱次生孔隙度与核磁共振T2谱计算次生孔隙度进行误差分析，当a取1.01时，计算得到的次生孔隙度与核磁共振T2谱计算次生孔隙度误差最小，由此确定次生孔隙度谱截止值公式中的固定系数a为1.01，完成对次生孔隙度的刻度。
步骤4、计算铸体薄片次生孔隙度：根据LH11-1-D5P1井1399.5m位置铸体薄片鉴定结果，得出薄片粒间溶孔、粒内溶孔、基质溶孔、构造溶蚀缝分别为2％、5％、2％、3％，即次生面孔(缝)率为12％。
图3为铸体薄片总面孔(缝)率与总孔隙度的拟合关系图，由此得出铸体薄片面孔(缝)率与总孔隙度的一个实施例的转换关系式y＝0.61x+6.75，将次生孔隙面孔(缝)率换算为铸体薄片次生孔隙度。
步骤5、利用铸体薄片次生孔隙度验证孔隙度谱次生孔隙度的精度：如下表1所示计算LH11-1-D5P1井1389-1470m目的层段内铸体薄片次生孔隙度和孔隙度谱计算次生孔隙度之间的平均绝对误差和平均相对误差分别为0.86％和7.7％，证明获取的次生孔隙度谱的精度较高。
表1次生孔隙度精度分析
通过将铸体薄片和核磁共振两种刻度方法获取次生孔隙度进行对比，孔隙度谱获取次生孔隙度与铸体薄片次生孔隙度、核磁共振T2谱计算次生孔隙度吻合关系好。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (7)
1.一种基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、建立次生孔隙度谱截止值计算公式：
次生孔隙度谱截止值=a×δ+孔隙度中值
其中，a为固定系数，δ为电成像测井图像上所选取窗口中最小孔隙度与孔隙度中值范围内的孔隙度方差，孔隙度中值为所选取窗口中的孔隙度中值；
S2、使用岩心核磁共振T2谱计算岩心次生孔隙度；
S3、使用岩心核磁共振T2谱计算所得的岩心次生孔隙度刻度次生孔隙度谱截止值计算公式中固定系数a的数值：
采用步骤S1中的次生孔隙度谱截止值计算公式，在1-3之间调整固定系数a的数值，控制次生孔隙度谱截止值计算结果，对截止值之后的孔隙度谱包络线所包围的面积进行积分计算次生孔隙度，获得孔隙度谱次生孔隙度；将逐次计算的孔隙度谱次生孔隙度与步骤S2获得的次生孔隙度进行误差分析，误差最小时对应的a值为刻度后确定值，对应的孔隙度谱次生孔隙度计算结果为刻度后次生孔隙度；
S4、计算铸体薄片次生孔隙度：取步骤S1中电成像测井图像上所选取窗口位置对应的储层，制备铸体薄片；根据铸体薄片鉴定结果，获得铸体薄片次生孔隙类型及对应的相对含量，拟合铸体薄片总面孔率与总孔隙度的关系，得出铸体薄片总面孔率与总孔隙度的转换关系式，将次生孔隙面孔率换算为铸体薄片次生孔隙度；
S5、利用铸体薄片次生孔隙度验证步骤S3中获取的孔隙度谱次生孔隙度的精度：通过铸体薄片次生孔隙度和孔隙度谱计算次生孔隙度之间的平均绝对误差，验证获取的孔隙度谱次生孔隙度的准确性。
2.根据权利要求1所述的基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法，其特征在于，步骤S1中，在电成像测井图像上选取窗口，计算窗口内最小孔隙度与孔隙度中值范围内的孔隙度计数率之和；求取该范围内每个孔隙度的计数率占总计数率的百分比，据此计算最小孔隙度与孔隙度中值范围内的孔隙度方差δ；设置一个固定系数a乘以该方差，得到次生孔隙度谱截止值，获得次生孔隙度谱截止值计算公式。
3.根据权利要求1所述的基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法，其特征在于，步骤S2中，根据岩心次生孔隙度的大小等于离心后排出的大孔径孔隙流体体积，依据岩心核磁共振T2谱分布图中峰值特征，得到离心前孔隙度分量中弛豫时间最长的峰开始时间，该开始时间对应次生孔隙度谱T2截止值，获得岩心次生孔隙度=离心前累积总孔隙度-次生孔隙度谱T2截止值对应的离心前累积孔隙度。
4.根据权利要求1所述的基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法，其特征在于，所述铸体薄片次生孔隙类型包括粒间溶孔、粒内溶孔、基质溶孔、构造溶蚀缝。
5.根据权利要求1所述的基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法，其特征在于，步骤S5中，所述平均绝对误差小于5%。
6.一种基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、建立次生孔隙度谱截止值计算公式：
次生孔隙度谱截止值= a+平均孔隙度
其中，a为固定系数，平均孔隙度是电成像测井图像上所选取窗口中所有孔隙度的算数平均值；
S2、使用岩心核磁共振T2谱计算岩心次生孔隙度；
S3、使用岩心核磁共振T2谱计算所得的岩心次生孔隙度刻度次生孔隙度谱截止值计算公式中固定系数a的数值：
采用步骤S1中的次生孔隙度谱截止值计算公式，在1-3之间调整固定系数a的数值，控制次生孔隙度谱截止值计算结果，对截止值之后的孔隙度谱包络线所包围的面积进行积分计算次生孔隙度，获得孔隙度谱次生孔隙度；将逐次计算的孔隙度谱次生孔隙度与步骤S2获得的次生孔隙度进行误差分析，误差最小时对应的a值为刻度后确定值，对应的孔隙度谱次生孔隙度计算结果为刻度后次生孔隙度；
S4、计算铸体薄片次生孔隙度：取步骤S1中电成像测井图像上所选取窗口位置对应的储层，制备铸体薄片；根据铸体薄片鉴定结果，获得铸体薄片次生孔隙类型及对应的相对含量，拟合铸体薄片总面孔率与总孔隙度的关系，得出铸体薄片总面孔率与总孔隙度的转换关系式，将次生孔隙面孔率换算为铸体薄片次生孔隙度；
S5、利用铸体薄片次生孔隙度验证步骤S3中获取的孔隙度谱次生孔隙度的精度：通过铸体薄片次生孔隙度和孔隙度谱计算次生孔隙度之间的平均绝对误差，验证获取的孔隙度谱次生孔隙度的准确性。
7.根据权利要求6所述的基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法，其特征在于，步骤S2中，根据岩心次生孔隙度的大小等于离心后排出的大孔径孔隙流体体积，依据岩心核磁共振T2谱分布图中峰值特征，得到离心前孔隙度分量中弛豫时间最长的峰开始时间，该开始时间对应次生孔隙度谱T2截止值，获得岩心次生孔隙度=离心前累积总孔隙度-次生孔隙度谱T2截止值对应的离心前累积孔隙度。
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