CN108196179A - 印制电路板、终端及基于共用测试点的电路测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种印制电路板、终端及基于共用测试点的电路测试方法，其中，该印制电路板包括：印制电路板本体，设置在所述印制电路板本体上的测试点、切换开关及N个功能电路；其中，所述测试点与所述切换开关的公共端连接，所述切换开关的第i个连接端与第i个功能电路的待测点连接；N为大于1的正整数，i为大于或等于1，且小于或等于N的正整数。由此，通过利用切换开关，将多个功能电路的待测点分别与同一测试点连接，可以实现通过一个测试点，分别测试多个功能电路的工作状态，节省了印制电路板的空间，节约了印制电路板的制造成本，有利于终端的小型化。

Description

印制电路板、终端及基于共用测试点的电路测试方法

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种印制电路板、终端及基于共用测试点的电路测试方法。

背景技术

近年来，随着电子技术的飞速发展，电子产品不断朝着小型化的方向发展，而电子产品中大多采用印制电路板实现电子元器件的电连接，这就要求印制电路板也要朝着小型化的方向发展。

现有技术，在硬件调试和生产过程中，需要在印制电路板上留测试点来调测硬件功能和性能，而现有的印制电路板上通常会留很多的测试点以满足对不同的功能电路或者不同位置的功能和性能测试，这就占用了印制电路板的大量空间，为了给测试点留出更多空间，印制电路板需要制作的较大，因而制造成本较高，且不利于终端的小型化。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决上述的技术问题之一。

本申请提出一种印制电路板，通过利用切换开关，将多个功能电路的待测点分别与同一测试点连接，可以实现通过一个测试点，分别测试多个功能电路的工作状态，节省了印制电路板的空间，节约了印制电路板的制造成本，有利于终端的小型化。

本申请还提出一种终端。

本申请还提出一种基于共用测试点的电路测试方法。

本申请还提出一种测试设备。

本申请还提出一种计算机可读存储介质。

本申请一方面提出一种印制电路板，包括：印制电路板本体，设置在所述印制电路板本体上的测试点、切换开关及N个功能电路；其中，所述测试点与所述切换开关的公共端连接，所述切换开关的第i个连接端与第i个功能电路的待测点连接；N为大于1的正整数，i为大于或等于1，且小于或等于N的正整数。

本申请第二方面提出一种终端，包括如第一方面所述的印制电路板。

本申请第三方面提出一种基于共用测试点的电路测试方法，包括：确定当前时刻切换开关的公共端与各连接端的连接状态，其中所述公共端与测试点连接；根据所述切换开关的连接状态，确定目标功能电路；通过所述测试点获取当前时刻的测试数据；根据所述测试数据，确定所述目标功能电路的工作状态。

本申请第四方面提出一种测试设备，包括：存储器、处理器及通信接口；所述存储器用于存储可执行程序代码；所述通信接口与设置在印制电路板上的测试点连接，用于通过所述测试点获取测试数据；所述处理器通过读取所述存储器中存储的可执行程序代码来运行与所述可执行程序代码对应的程序，以用于执行如第三方面所述的基于共用测试点的电路测试方法。

本申请第五方面提出一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如第三方面所述的基于共用测试点的电路测试方法。

本申请实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

通过利用切换开关，将多个功能电路的待测点分别与同一测试点连接，可以实现通过一个测试点，分别测试多个功能电路的工作状态，节省了印制电路板的空间，节约了印制电路板的制造成本，有利于终端的小型化。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本申请一个实施例的印制电路板的结构示意图；

图2是本申请另一个实施例的印制电路板的结构示意图；

图3是本申请一个实施例的终端的结构示意图；

图4是本申请一个实施例的基于共用测试点的电路测试方法的流程图；

图5是本申请一个实施例的测试设备的结构图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

下面参考附图描述本发明实施例的印制电路板、终端及基于共用测试点的电路测试方法。

本发明各实施例针对现有技术，在硬件调试和生产过程中，需要在印制电路板上留测试点来调测硬件功能和性能，而现有的印制电路板上通常会留很多的测试点以满足对不同的功能电路或者不同位置的功能和性能测试，这就占用了印制电路板的大量空间，为了给测试点留出更多空间，印制电路板需要制作的较大，因而制造成本较高，且不利于终端的小型化的问题，提出一种印制电路板。

本发明实施例提供的印制电路板，包括印制电路板本体，设置在印制电路板本体上的测试点、切换开关及N个功能电路，其中，测试点与切换开关的公共端连接，切换开关的第i个连接端与第i个功能电路的待测点连接，N为大于1的正整数，i为大于或等于1，且小于或等于N的正整数，通过利用切换开关，将多个功能电路的待测点分别与同一测试点连接，可以实现通过一个测试点，分别测试多个功能电路的工作状态，节省了印制电路板的空间，节约了印制电路板的制造成本，有利于终端的小型化。

首先结合附图，对本发明实施例提供的印制电路板进行具体说明。

图1是本申请一个实施例的印制电路板的结构示意图。

如图1所示，该印制电路板，包括印制电路板本体1，设置在印制电路板本体1上的测试点2、切换开关3及N个功能电路；

其中，测试点2与切换开关3的公共端连接，切换开关3的第i个连接端与第i个功能电路的待测点连接；

N为大于1的正整数，i为大于或等于1，且小于或等于N的正整数。图1以N＝3即印制电路板包括功能电路41、功能电路42和功能电路43三个功能电路为例进行示意。

其中，切换开关，可以为现有的任意类型的开关，此处不作限制。

功能电路，可以是能够实现任意功能的电路，比如提供特定电流、电压等。

需要说明的是，本发明实施例的N个功能电路中，任意两个功能电路为不需要同时测试的功能电路。

可以理解的是，图1所示的功能电路41、功能电路42和功能电路43的待测点，分别与切换开关3的第1个连接端、第2个连接端和第3个连接端连接。当需要测试功能电路41的工作状态时，可以控制切换开关3的公共端与切换开关3的第1个连接端连接；当需要测试功能电路42的工作状态时，可以控制切换开关3的公共端与切换开关3的第2个连接端连接；当需要测试功能电路43的工作状态时，可以控制切换开关3的公共端与切换开关3的第3个连接端连接，从而实现通过一个测试点，分别测试多个功能电路的工作状态，节省了印制电路板的空间，节约了印制电路板的制造成本，有利于终端的小型化。

进一步的，为了控制切换开关3的公共端与各连接端的连接状态，以实现对各功能电路的工作状态的测试，如图2所示，在本发明实施例提供的印制电路板中，还可以包括控制电路5。

其中，控制电路5的输入端与上位机连接，用于接收控制信号；

控制电路5的输出端与切换开关3的控制端连接，用于根据接收的控制信号，控制切换开关3的公共端与连接端的连接状态。

具体的，当需要测试第i个功能电路的工作状态时，上位机可以向控制电路5发送控制信号，控制电路5接收到控制信号后，可以根据控制信号，控制切换开关3的公共端与第i个连接端连接，从而测试设备可以根据从测试点获取的测试数据，确定待测试功能电路的工作状态是否正常。

另外，在实际运用中，静电、浪涌可能会通过印制电路板上的测试点进入印制电路板上的各个半导体元器件的管脚，造成半导体元器件的电损伤，为了降低印制电路板上各个元器件的损伤失效风险，在本发明实施例中，如图2所示，印制电路板还可以包括静电保护电路6及浪涌保护电路7。

其中，静电保护电路6及浪涌保护电路7与测试点连接。

具体的，静电保护电路6可以由静电防护芯片、放电二极管等任意静电防护器件构成。浪涌保护电路7可以由气体放电管、压敏电阻、TVS瞬态抑制二极管等任意浪涌保护器件构成。

需要说明的是，为了确保在切换开关3的公共端与各连接端分别连接，以分别测试各功能电路的工作状态是否正常时，静电保护电路6及浪涌保护电路7均能对各功能电路进行有效保护，在本发明实施例中，可以设置分别流过N个功能电路的N个信号间频率差值均小于第一阈值，即N个信号间的频率相同或相近。

其中，第一阈值，可以根据静电保护电路6、浪涌保护电路7及各功能电路等的性能参数确定。

本发明实施例提供的印制电路板，包括印制电路板本体，设置在印制电路板本体上的测试点、切换开关及N个功能电路，通过利用切换开关，将多个功能电路的待测点分别与同一测试点连接，可以实现通过一个测试点，分别测试多个功能电路的工作状态，节省了印制电路板的空间，节约了印制电路板的制造成本，有利于终端的小型化。

基于上述实施例，本发明实施例还提出一种终端。

图3是根据本发明一个实施例的终端的结构示意图。

如图3所示，终端30包括如上述实施例所述的印制电路板31。

其中，终端的类型很多，可以根据应用需要进行选择，例如：手机、IPAD、电脑、佩戴设备等。图3以终端为手机进行示意。

进一步的，终端还可以包括：壳体32、存储器33、处理器34、电源电路35。

其中，印制电路板31安置在壳体32围成的空间内部，处理器34和存储器33设置在印制电路板31上；电源电路35，用于为终端的各个电路或器件供电；存储器33用于存储可执行程序代码；处理器34通过读取存储器33中存储的可执行程序代码，来运行与可执行程序代码对应的程序。

需要说明的是，上述对印制电路板实施例的说明，也适用于本实施例提供的终端，此处不再赘述。

本发明实施例提供的终端中，印制电路板包括印制电路板本体，设置在印制电路板本体上的测试点、切换开关及N个功能电路，通过利用切换开关，将多个功能电路的待测点分别与同一测试点连接，可以实现通过一个测试点，分别测试多个功能电路的工作状态，节省了印制电路板的空间，节约了印制电路板的制造成本，有利于终端的小型化。

基于上述实施例，本发明实施例还提出一种基于共用测试点的电路测试方法。下面结合图4，对本申请提供的基于共用测试点的电路测试方法进行详细说明。

图4是根据本发明一个实施例的基于共用测试点的电路测试方法的流程图。

如图4所示，该方法，包括：

步骤401，确定当前时刻切换开关的公共端与各连接端的连接状态，其中公共端与测试点连接。

具体的，本发明实施例提供的基于共用测试点的电路测试方法，可以被配置在本发明实施例提供的测试设备中，以对印制电路板中的各功能电路进行功能和性能测试。

步骤402，根据切换开关的连接状态，确定目标功能电路。

其中，目标功能电路，为待测试的功能电路。

可以理解的是，切换开关的第i个连接端与第i个功能电路连接时，当需要测试第i个功能电路的工作状态时，上位机可以向控制电路发送控制信号，从而控制电路可以根据控制信号，控制切换开关的公共端与第i个连接端连接。相应的，在本发明实施例中，可以根据当前时刻与切换开关对应的控制信号，确定切换开关的公共端与哪个连接端连接，进而根据切换开关的各连接端与各个功能电路的连接关系，确定目标功能电路。即，步骤401具体可以包括：

根据当前时刻与切换开关对应的控制信号，确定切换开关的连接状态。

举例来说，假设根据当前时刻与切换开关对应的控制信号，确定切换开关的公共端与第1个连接端连接，而第1个连接端与第1个功能电路的待测点连接，则可以确定第1个功能电路为目标功能电路。

步骤403，通过测试点获取当前时刻的测试数据。

其中，测试数据，可以包括流过测试点的电流、测试点的电压等等任意能够通过测试点获取的数据。

步骤404，根据测试数据，确定目标功能电路的工作状态。

具体的，可以预先根据印制电路板中，各功能电路、切换开关等的性能参数，确定各功能电路的工作状态正常时，通过测试点应该获取的数据，并在确定目标功能电路后，获取与目标功能电路对应的应该获取的数据，从而在通过测试点获取当前时刻的测试数据后，可以将获取的测试数据，与预先确定的与目标功能电路对应的应该获取的数据进行对比。若获取的测试数据，和与目标功能电路对应的应该获取的数据一致，则可以确定目标功能电路的工作状态正常，否则，可以确定目标功能电路的工作状态异常。

需要说明的是，由于流过目标功能电路的信号频率较大时，切换开关对应的插损对目标功能电路的工作状态的影响较大，因此在本发明实施例中，为了在流过目标功能电路的信号频率较大时，准确确定目标功能电路的工作状态，需要考虑切换开关对应的插损。

即，在本发明实施例中，流过目标功能电路的信号频率大于第二阈值时，基于共用测试点的电路测试方法，还可以包括：

获取切换开关的插损参数。

相应的，步骤404可以通过以下方式实现：

根据插损参数及测试数据，确定目标功能电路的工作状态。

其中，第二阈值，可以根据需要设置。

插损参数，可以根据切换开关的性能参数确定。

具体的，若流过目标功能电路的信号频率小于或等于第二阈值，则切换开关对应的插损对目标功能电路的工作状态的影响较小，此时可以根据测试数据，确定目标功能电路的工作状态；若流过目标功能电路的信号频率大于第二阈值，则切换开关对应的插损对目标功能电路的工作状态的影响较大，此时可以根据插损参数及测试数据，确定目标功能电路的工作状态。

本发明实施例提供的基于共用测试点的电路测试方法，在确定当前时刻切换开关的公共端与各连接端的连接状态后，可以根据切换开关的连接状态，确定目标功能电路，从而在通过测试点获取当前时刻的测试数据后，可以根据测试数据，确定目标功能电路的工作状态。由此，实现了通过一个测试点，分别测试多个功能电路的工作状态，节省了印制电路板的空间，节约了印制电路板的制造成本，有利于终端的小型化。

本发明再一方面实施例还提出一种测试设备。

图5是本申请一个实施例的测试设备的结构示意图。其中，测试设备的类型很多，比如可以为电脑、计算机设备等，本实施例对此不作限定。

如图5所示，该测试设备50包括：存储器51、处理器52及通信接口53。

其中，存储器51用于存储可执行程序代码；

通信接口53与设置在印制电路板上的测试点连接，用于通过测试点获取测试数据；

处理器52通过读取存储器51中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序，以用于执行如前述实施例所述的基于共用测试点的电路测试方法。

需要说明的是，上述对基于共用测试点的电路测试方法实施例的说明，也适用于本实施例提供的测试设备，此处不再赘述。

本发明实施例提供的测试设备，在确定当前时刻切换开关的公共端与各连接端的连接状态后，可以根据切换开关的连接状态，确定目标功能电路，从而在通过测试点获取当前时刻的测试数据后，可以根据测试数据，确定目标功能电路的工作状态。由此，实现了通过一个测试点，分别测试多个功能电路的工作状态，节省了印制电路板的空间，节约了印制电路板的制造成本，有利于终端的小型化。

本申请实施例还提出一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，当该程序被处理器执行时实现如前述实施例中的基于共用测试点的电路测试方法。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行***、装置或设备(如基于计算机的***、包括处理器的***或其他可以从指令执行***、装置或设备取指令并执行指令的***)使用，或结合这些指令执行***、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行***、装置或设备或结合这些指令执行***、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(RAM)，只读存储器(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行***执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。

需要说明的是，在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种印制电路板，其特征在于，包括：印制电路板本体，设置在所述印制电路板本体上的测试点、切换开关及N个功能电路；

其中，所述测试点与所述切换开关的公共端连接，所述切换开关的第i个连接端与第i个功能电路的待测点连接；

N为大于1的正整数，i为大于或等于1，且小于或等于N的正整数。

2.如权利要求1所述的印制电路板，其特征在于，还包括：与所述测试点连接的静电保护电路及浪涌保护电路。

3.如权利要求2所述的印制电路板，其特征在于，分别流过所述N个功能电路的N个信号间频率差值均小于第一阈值。

4.如权利要求1所述的印制电路板，其特征在于，还包括：控制电路；

所述控制电路的输入端与上位机连接，用于接收控制信号；

所述控制电路的输出端与所述切换开关的控制端连接，用于根据接收的控制信号，控制所述切换开关的公共端与连接端的连接状态。

5.一种终端，其特征在于，包括如权利要求1-4任一所述的印制电路板。

6.一种基于共用测试点的电路测试方法，其特征在于，包括：

确定当前时刻切换开关的公共端与各连接端的连接状态，其中所述公共端与测试点连接；

根据所述切换开关的连接状态，确定目标功能电路；

通过所述测试点获取当前时刻的测试数据；

根据所述测试数据，确定所述目标功能电路的工作状态。

7.如权利要求6所述方法，其特征在于，流过所述目标功能电路的信号频率大于第二阈值；

所述方法，还包括：

获取所述切换开关对应的插损参数；

所述确定所述目标功能电路的工作状态，包括：

根据所述插损参数及所述测试数据，确定所述目标功能电路的工作状态。

8.如权利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述确定当前时刻切换开关的公共端与各连接端的连接状态，包括：

根据当前时刻与所述切换开关对应的控制信号，确定所述切换开关的连接状态。

9.一种测试设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及通信接口；

所述存储器用于存储可执行程序代码；

所述通信接口与设置在印制电路板上的测试点连接，用于通过所述测试点获取测试数据；

所述处理器通过读取所述存储器中存储的可执行程序代码来运行与所述可执行程序代码对应的程序，以用于执行如权利要求6-8中任一所述的基于共用测试点的电路测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求6-8中任一所述的基于共用测试点的电路测试方法。