CN108037365A - 一种并联电抗器测试台 - Google Patents

Abstract

本申请属于检测设备领域，提供了一种并联电抗器测试台，包括：单片机、继电器组、接线转换电路、接线端子及至少两个测试装置；所述单片机连接所述继电器组，所述继电器组连接所述接线转换电路，所述接线转换电路分别连接所述接线端子和所述测试装置，所述接线端子外接所述并联电抗器；所述单片机发出测试指令控制所述继电器组开关动作，所述继电器组将自身开关动作传送给所述接线转换电路，所述接线转换电路将所述接线端子在所述接线转换电路内部的试验引线连接在所述测试指令对应的测试装置上并进行测试。所述并联电抗器测试台测试并联电抗器的过程无需更换引线，实现了快速安全方便地完成并联电抗器的各项电气试验。

Description

一种并联电抗器测试台

技术领域

本申请属于电力检测设备技术领域，尤其涉及一种并联电抗器测试台。

背景技术

电网的远距离传输过程中，由于特高压交流输电线路存在巨大的容性充电功率、剧烈的潮流变化，以及有限的绝缘裕度，从而给电网***的无功调节和过电压抑制提出了较高的要求；特别是高压并联电抗器等无功补偿装置对电网的电压抑制和无功调节具有重要且广泛的推广价值。

并联电抗器的相关参数性能直接关系到所在电网的充电容性无功的无功功率、电压抑制。然而，现有的并联电抗器的相关参数的测试必须针对不同的参数选择不同的测试设备，测试过程繁琐、效率低。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供一种并联电抗器测试台，以解决现有的并联电抗器的相关参数的测试必须针对不同的参数选择不同的测试设备，测试过程繁琐、效率低的问题。

本申请实施例第一方面提供一种并联电抗器测试台，包括：

单片机、继电器组、接线转换电路、接线端子及至少两个测试装置；

所述单片机连接所述继电器组，所述继电器组连接所述接线转换电路，所述接线转换电路分别连接所述接线端子和所述测试装置，所述接线端子用于外接所述并联电抗器；

所述单片机发出测试指令控制所述继电器组开关动作，所述继电器组将所述开关动作传送给所述接线转换电路，所述接线转换电路将所述接线端子在所述接线转换电路内部的试验引线连接在所述测试指令对应的测试装置上并进行测试。

进一步地，所述测试装置包括：

直流电阻测试仪、绝缘电阻表及介损测试仪；

所述直流电阻测试仪用于测试并联电抗器的电抗器直流电阻；

所述绝缘电阻表用于测试并联电抗器的本体绝缘电阻、套管绝缘电阻；

所述介损测试仪用于测试并联电抗器的本体介质损耗因数和电容量、套管介质损耗因数和电容量。

进一步地，所述并联电抗器测试台还包括：

鼠标、显示器；

所述鼠标连接所述单片机，所述显示器连接所述单片机；

所述单片机通过鼠标和显示器接收用户发出的测试指令。

进一步地，所述的继电器组包括：

25个结构相同的继电器支路；

所述单片机控制所述25个结构相同的继电器支路中的继电器分别开关动作。

进一步地，所述继电器支路包括：

电阻、三极管、继电器；

所述电阻连接在所述单片机和所述三极管基极之间，所述继电器的线圈连接在所述三极管集电极和外接电源之间，所述三极管发射极接地；

所述单片机输出高电平的测试指令时，所述三极管基极电平变高，所述三极管集电极和发射极导通，所述继电器的线圈通电，所述继电器开关动作。

进一步地，所述接线转换电路还包括：

高压隔离专用开关组和测试装置接口；

所述高压隔离专用开关组连接所述继电器组，所述测试装置接口连接所述测试装置；

所述高压隔离专用开关组接收所述继电器组的开关动作，并通过所述开关动作控制所述试验引线连接在所述测试指令对应的所述测试装置接口上。

进一步地，所述接线端子包括:

并联电抗器绕组引出线端子及并联电抗器套管末屏引出线端子。

进一步地，所述测试装置接口包括：

所述直流电阻测试仪测试接口，所述绝缘电阻表测试接口及所述介损测试仪测试接口。

进一步地，所述高压隔离专用开关组包括：

25个结构相同的高压隔离专用开关高压隔离专用开关；

所述高压隔离专用开关与所述继电器组内的所述继电器支路一一对应连接。

进一步地，所述高压隔离专用开关高压隔离专用开关包括：

直流电机、齿轮、齿条、第一开关接线端子、第二开关接线端子、动触点、静触点、第一微动开关、第二微动开关和开关外壳；

所述齿轮、所述齿条和所述开关外壳均采用绝缘材料，所述直流电机的转轴与所述齿轮联动，所述动触点与所述齿条连接，所述静触点与所述第二微动开关连接，所述齿轮带动所述齿条在所述第一微动开关和所述静触点之间运动；所述动触点和所述静触点分别用导线连接所述第一开关接线端子和所述第二开关接线端子；

当所述电机正向转动，通过带动所述齿轮驱动所述齿条向右移动，当所述动触点接触所述静触点后，所述静触点触动所述第二微动开关微动，所述电机失电停止转动，合闸完毕，所述第一接线端子和所述第二接线端子之间导通；当所述电机反向转动，通过带动所述齿轮驱动所述齿条向左移动，当所述齿条触动所述第一微动开关后，所述电机失电，分闸完毕，所述第一接线端子和所述第二接线端子断开。

本申请实施例技术方案与现有技术相比存在的有益效果是：

本申请实施例提供的并联电抗器测试台包括：单片机、继电器组、接线转换电路、接线端子及至少两个测试装置；所述单片机连接所述继电器组，所述继电器组连接所述接线转换电路，所述接线转换电路分别连接所述接线端子和所述测试装置，所述接线端子外接所述并联电抗器；所述单片机发出测试指令控制所述继电器组开关动作，所述继电器组将自身开关动作传送给所述接线转换电路，所述接线转换电路选通连接在所述测试指令对应的测试装置上并进行测试。所述并联电抗器测试台测试并联电抗器的过程无需更换引线，实现了快速安全方便地完成并联电抗器的各项电气试验。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请一实施例提供的并联电抗器测试台的示意框图；

图2是本申请一实施例提供的继电器支路控制部分的电路图；

图3是本申请一实施例提供的高压隔离专用开关高压隔离专用开关的结构图；

图4是本申请又一实施例提供的并联电抗器测试台的示意框图；

图5是本申请一实施例提供的接线转换电路中高压隔离专用开关高压隔离专用开关的相互位置与连接关系示意图；

图6是本申请一实施例提供的A相介损测试的等效电路；

图7是本申请一实施例提供的A相绝缘电阻测试的等效电路；

图8是本申请一实施例提供的A相高压套管介损测试的等效电路；

图9是本申请一实施例提供的A相高压套管绝缘电阻测试的等效电路；

图10是本申请一实施例提供的A相直流电阻测试的等效电路。

其中，图中各附图标记：

1-开关外壳；2-齿轮；3-直流电机；4-齿条；5-动触点；6-静触点；7-第一微动开关；8-第二微动开关；9-第一开关接线端子；10-第二开关接线端子。

具体实施方式

以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定***结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的***、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。

为了说明本申请所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。

请参阅图1所示，是本申请一实施例提供的并联电抗器测试台的示意框图，包括：

单片机、继电器组、接线转换电路、接线端子及至少两个测试装置；

所述单片机连接所述继电器组，所述继电器组连接所述接线转换电路，所述接线转换电路分别连接所述接线端子和所述测试装置，所述接线端子用于外接所述并联电抗器；

所述单片机发出测试指令控制所述继电器组开关动作，所述继电器组将所述开关动作传送给所述接线转换电路，所述接线转换电路将所述接线端子在所述接线转换电路内部的试验引线连接在所述测试指令对应的测试装置上并进行测试。

在本申请实施例中，所述单片机(Microcontrollers)是一种集成电路芯片，是采用超大规模集成电路技术把具有数据处理能力的中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、随机存储器(Random Access Memory，RAM)、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、多种I/O口和中断***、定时器/计数器等功能(可能还包括显示驱动电路、脉宽调制电路、模拟多路转换器、A/D转换器等电路)集成到一块硅片上构成的一个小而完善的微型计算机***。

在本申请实施例中，所述继电器组包括：25个结构相同的继电器支路和所述继电器支路控制的继电器；所述单片机控制所述25个结构相同的继电器支路中的继电器分别开关动作。

进一步地，所述继电器支路包括：电阻、三极管、继电器；所述继电器支路通过所述单片机控制所述继电器的线圈电压变化，控制所述继电器的开关动作。

进一步地，请参阅图2所示，是本申请一实施例提供的继电器支路的控制部分的电路图。

所述继电器支路控制部分由单片机、电阻R1、三极管VT1、继电器的线圈KA1组成，所述电阻R1连接在所述单片机和所述三极管VT1的基极之间，所述继电器的线圈KA1接在外接电源和所述三极管VT1的集电极之间，所述三极管VT1的发射极接地。

当所述单片机输出高电平的测试指令时，所述三极管VT1的基极电平变高，所述三极管VT1的集电极和所述三极管VT1的发射极导通，所述继电器的线圈KA1通电，所述继电器的开关动作。

进一步地，所述外接电源为24V直流电源。

进一步地，相应的继电器组由电阻R1-R25、三极管VT1-VT25、继电器KA1-KA25组成。

在本申请实施例中，所述接线转换电路包括：试验引线、高压隔离专用开关组和测试装置接口；所述试验引线通过所述高压隔离专用开关组外接所述接线端子，所述试验引线通过所述高压隔离专用开关组连接所述测试装置接口；所述高压隔离专用开关组连接所述继电器组，所述测试装置接口连接所述测试装置；所述高压隔离专用开关组接收所述继电器组的开关动作，并通过所述开关动作控制所述试验引线连接所述测试指令对应的所述测试装置接口和外接的所述接线端子。

进一步地，所述接线端子包括:并联电抗器绕组引出线端子及并联电抗器套管末屏引出线端子。

所述并联电抗器绕组引出线端子用于连接所述并联电抗器绕组引出线；所述并联电抗器绕组引出线即为所述并联电抗器内绕组的线圈间的引出线，所述并联电抗器绕组引出线用来测量并联电抗器的本体介质损耗因数和电容量、并联电抗器的本体绝缘电阻和并联电抗器的电抗器直流电阻。

所述并联电抗器套管末屏引出线又叫试验抽头，用来测量套管介质损耗因数和电容量、套管绝缘电阻。

进一步地，所述测试装置包括：直流电阻测试仪、绝缘电阻表及介损测试仪；

所述直流电阻测试仪用于测试并联电抗器的电抗器直流电阻；

所述绝缘电阻表用于测试并联电抗器的本体绝缘电阻、套管绝缘电阻；

所述介损测试仪用于测试并联电抗器的本体介质损耗因数和电容量、套管介质损耗因数和电容量。

所述直流电阻测试仪直流电阻测量是变压器、电抗器、容抗器等高压器件制造过程中的半成品、成品出厂的试验、安装、交接试验及电力部门预防性试验的必测项目，能有效发现绕组、线圈的选材、焊接、连接部位松动、缺股、断线等制造缺陷和运行后存在的隐患。

所述绝缘电阻表主要是由三部分组成；第一是直流高压发生器，用以产生直流高压；第二是测量回路；第三是显示。用来测量最大电阻值、绝缘电阻、吸收比以及极化指数的专用仪表，它的标度单位是兆欧，它本身带有高压电源。

所述介损测试仪主要用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗和电容容量。

在本申请实施例中，所述接线转换电路连接至少两个测试装置；

所述测试装置可以是所述直流电阻测试仪、所述绝缘电阻表和所述介损测试仪中的任意两个；还可以是其他可以测量所述并联电抗器性能指标的测量用仪器仪表。

所述接线转换电路可以将所述直流电阻测试仪、所述绝缘电阻表和所述介损测试仪全部连接，还可以同时连接其他可以测量所述并联电抗器性能指标的测量用仪器仪表。

进一步地，请参阅图3所示，是本申请一实施例提供的高压隔离专用开关高压隔离专用开关的结构图。

所述高压隔离专用开关高压隔离专用开关包括：直流电机3、齿轮2、齿条4、第一开关接线端子9、第二开关接线端子10、动触点5、静触点6、第一微动开关7、第二微动开关8和开关外壳1；

所述齿轮2、所述齿条4和所述开关外壳1均采用绝缘材料，所述直流电机3的转轴与所述齿轮2联动，所述动触点5与所述齿条4连接，所述静触点6与所述第二微动开关8连接，所述齿轮2带动所述齿条4在所述第一微动开关7和所述静触点6之间运动；所述动触点5和所述静触点6分别用导线连接所述第一开关接线端子9和所述第二开关接线端子10；

当所述直流电机3正向转动，通过带动所述齿轮2驱动所述齿条4向右移动，当所述动触点5接触所述静触点6后，所述静触点6触动所述第二微动开关微动8，所述直流电机3失电停止转动，合闸完毕，所述第一接线端子9和所述第二接线端子10之间导通；当所述直流电机3反向转动，通过带动所述齿轮2驱动所述齿条4向左移动，当所述齿条4触动所述第一微动开关7后，所述直流电机3失电，分闸完毕，所述第一接线端子9和所述第二接线端子10断开。

进一步地，所述高压隔离专用开关组包括：25个结构相同的高压隔离专用开关高压隔离专用开关；所述高压隔离专用开关高压隔离专用开关与所述继电器组内的所述继电器支路一一对应连接。

所述高压隔离专用开关高压隔离专用开关以及对应的所述继电器支路在所述单片机内进行编号排序，并将所述完成编号排序的高压隔离专用开关高压隔离专用开关的位置进行逻辑判断：将所述高压隔离专用开关高压隔离专用开关处于合闸位置，同时所述继电器支路内继电器开关闭合状态编码为1；将所述高压隔离专用开关处于分闸位置，同时所述继电器支路内继电器开关断开状态编码为0。

本申请实施例提供的并联电抗器测试台包括：单片机、继电器组、接线转换电路、接线端子及至少两个测试装置；所述单片机连接所述继电器组，所述继电器组连接所述接线转换电路，所述接线转换电路分别连接所述接线端子和所述测试装置，所述接线端子外接所述并联电抗器；所述单片机发出测试指令控制所述继电器组开关动作，所述继电器组将自身开关动作传送给所述接线转换电路，所述接线转换电路选通连接在所述测试指令对应的测试装置上进行测试。所述并联电抗器测试台测试并联电抗器的过程无需更换引线，实现了快速安全方便地完成并联电抗器的各项电气试验。

进一步地，所述并联电抗器测试台还包括：鼠标、显示器；

所述鼠标连接所述单片机，所述显示器连接所述单片机；

所述单片机通过鼠标和显示器接收用户发出的测试指令。

请参阅图4所示，是本申请又一实施例提供的并联电抗器测试台的示意框图，包括：

单片机、鼠标、显示器、继电器组、接线转换电路、接线端子、直流电阻测试仪、绝缘电阻表及介损测试仪；

所述鼠标连接所述单片机，所述显示器连接所述单片机，所述单片机连接所述继电器组，所述继电器组连接所述接线转换电路，所述接线转换电路分别连接所述接线端子、所述直流电阻测试仪、所述绝缘电阻表及所述介损测试仪，所述接线端子用于外接所述并联电抗器；

所述单片机通过鼠标和显示器接收用户发出的测试指令，所述单片机发出测试指令控制所述继电器组开关动作，所述继电器组将所述开关动作传送给所述接线转换电路，所述接线转换电路将所述接线端子在所述接线转换电路内部的试验引线连接在所述测试指令对应的所述直流电阻测试仪、所述绝缘电阻表或所述介损测试仪上进行测试。

在本申请实施例中，所述并联电抗器测试台对并联电抗器进行测试时，首先通过鼠标在显示器上选择具体测试项目，所述单片机根据所述具体测试项目，控制相应的引脚输出高电平，驱动所述继电器组开关动作，所述继电器组驱动所述高压隔离专用开关组内对应的所述高压隔离专用开关合闸，完成所述接线转换电路内所述试验引线的接线切换，同时所述单片机通过接收相应有开关动作的高压隔离专用开关内微动开关的开关信号来判断所述接线转换电路是否切换完毕。未切换完毕，所述显示器提示“正在切换请勿测试”；切换完毕，所述显示器提示“A相介损测试可以进行”(进行A相介损测试时)。测试结果可以通过所述测试装置：所述直流电阻测试仪、所述绝缘电阻表及所述介损测试仪直接得到。

在本申请实施例中，所述并联电抗器测试台通过鼠标操作、显示器显示完成并联电抗器相关指标的测试，并且可以实现不更换相关接线引线，一次完成不同指标的测试，测试过程、测试结果均有直接清楚的提示和指示；实现了快速安全便捷地完成并联电抗器的各项电气试验。

在本申请实施例中，所述单片机对25个高压隔离专用开关进行位置编号排序；所述25个高压隔离专用开关由25个所述继电器支路内继电器开关一一对应；所述25个所述继电器支路组成所述继电器组。

请参阅图5所示，是本申请一实施例提供的接线转换电路中高压隔离专用开关组的相互位置与连接关系示意图。

所述高压隔离专用开关的位置编号从编号K1到编号K25；所述高压隔离专用开关组的相互位置与连接关系存储在所述单片机。

根据具体测试项目，所述接线转换电路中所述高压隔离专用开关组具体开闸合闸由所述单片机输出的高电平指令控制。所述单片机在编码所述高压隔离专用开关的开关信号时，对所述高压隔离专用开关的位置信号进行逻辑判断：每个编号对应的高压隔离专用开关的合闸状态为1，分闸状态为0；所述单片机将所述高压隔离专用开关的位置信号采集回传，同时将所述采集的回传信号作为编码下一高压隔离专用开关动作时所述单片机发出对应提示，同时通过所述显示器进行显示。

在本申请实施例中，所述并联电抗器测试台测试并联电抗器的具体测试指标包括：A相介损测试、B相介损测试、C相介损测试、A相绝缘电阻测试、B相绝缘电阻测试、C相绝缘电阻测试、A相高压套管介损测试、B相高压套管介损测试、C相高压套管介损测试、A相中性点套管介损测试、B相中性点套管介损测试、C相中性点套管介损测试、A相高压套管绝缘电阻测试、B相高压套管绝缘电阻测试、C相高压套管绝缘电阻测试、A相中性点套管绝缘电阻测试、B相中性点套管绝缘电阻测试、C相中性点套管绝缘电阻测试、A相直流电阻测试、B相直流电阻测试及C相直流电阻测试。

请参阅表1所示，是本申请一实施例提供的具体测试项目与高压隔离专用开关组开关状态对应表。

表1

所述单片机内存储的所述高压隔离专用开关组动作参照上述具体测试项目与高压隔离专用开关组开关状态对应表内的对应关系。

在本发明实施例中，进行A相介损测试时，25个高压隔离专用开关的状态编码如表2：

开关编号K(KX)	1	2	3	4	5	6	7	8	9	10	11	12	13	14	15	16	17	18	19	20	21	22	23	24	25
																										A相介损测试	1	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1	0	0	0	0	0	1	1	1	1	1	1	1

表2

进一步地，请参阅图6所示，是本申请一实施例提供的A相介损测试的等效电路。

具体的，进行A相介损测试时，用所述鼠标在所述显示器上选择A相介损测试，所述单片机参照存储的所述高压隔离专用开关组动作，通过控制所述继电器组，控制所述接线转换电路：控制相应编号的继电器组内的继电器支路开关闭合，输出高电平，控制与所述继电器支路编号相同的高压隔离专用开关合闸。具体为：编号K1高压隔离专用开关、编号K13高压隔离专用开关、编号K19高压隔离专用开关、编号K20高压隔离专用开关、编号K21高压隔离专用开关、编号K22高压隔离专用开关、编号K23高压隔离专用开关、编号K24高压隔离专用开关及编号K25高压隔离专用开关均合闸动作。

电桥高压线反接A相绕组两端，并连接到所述介损测试仪；所述单片机根据存储的具体测试项目与高压隔离专用开关组开关状态对应表读取的表2对比，检测相应编号高压隔离专用开关的状态信息来判断所述接线转换电路是否切换完毕。切换完毕后，所述单片机在所述显示器上控制显示“A相介损测试可以进行”。操作所述介损测试仪用反接线方法给绕组加10kV电压产生高压电桥完成A相介损测试。

在本发明实施例中，进行A相绝缘电阻测试时，25个高压隔离专用开关的状态编码如表3：

开关编号K(KX)	1	2	3	4	5	6	7	8	9	10	11	12	13	14	15	16	17	18	19	20	21	22	23	24	25
																										A相绝缘电阻测试	1	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1	0	0	0	1	1	1	1	1	1	1	1

表3

进一步地，请参阅图7所示，是本申请一实施例提供的A相绝缘电阻测试的等效电路。

具体的，进行A相绝缘电阻测试时，用所述鼠标在所述显示器上选择A相绝缘电阻测试，所述单片机参照存储的所述高压隔离专用开关组动作，通过控制所述继电器组，控制所述接线转换电路：控制相应编号的继电器组内的继电器支路开关闭合，输出高电平，控制与所述继电器支路编号相同的高压隔离专用开关合闸。具体为：编号K1高压隔离专用开关、编号K13高压隔离专用开关、编号K17高压隔离专用开关、编号K20高压隔离专用开关、编号K21高压隔离专用开关、编号K22高压隔离专用开关、编号K23高压隔离专用开关、编号K24高压隔离专用开关及编号K25高压隔离专用开关均合闸动作。

所述绝缘电阻表一端接到了A相绕组两端短接线，另一端接地；所述单片机根据存储的具体测试项目与高压隔离专用开关组开关状态对应表读取的表3对比，检测相应编号高压隔离专用开关的状态信息来判断所述接线转换电路是否切换完毕。切换完毕后，所述单片机在所述显示器上控制显示“A相绝缘电阻试验可以进行测试”。操作所述绝缘电阻表完成A相绕组的绝缘电阻测试。

在本发明实施例中，进行A相高压套管介损测试时，25个高压隔离专用开关的状态编码如表4：

开关编号K(KX)	1	2	3	4	5	6	7	8	9	10	11	12	13	14	15	16	17	18	19	20	21	22	23	24	25
																										A相高压套管介损测试	1	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1	0	0	0	1	0	0	1	1	1	1	1	1

表4

进一步地，请参阅图8所示，是本申请一实施例提供的A相高压套管介损测试的等效电路。

具体的，进行A相高压套管介损测试时，用所述鼠标在所述显示器上选择A相高压套管介损测试，所述单片机参照存储的所述高压隔离专用开关组动作，通过控制所述继电器组，控制所述接线转换电路：控制相应编号的继电器组内的继电器支路开关闭合，输出高电平，控制与所述继电器支路编号相同的高压隔离专用开关合闸。具体为：编号K1高压隔离专用开关、编号K13高压隔离专用开关、编号K17高压隔离专用开关、编号K20高压隔离专用开关、编号K21高压隔离专用开关、编号K22高压隔离专用开关、编号K23高压隔离专用开关、编号K24高压隔离专用开关及编号K25高压隔离专用开关均合闸动作。

所述介损测试仪高压线接A相绕组高压套管引出线、信号线接A相高压套管末屏引出线；所述单片机根据存储的具体测试项目与高压隔离专用开关组开关状态对应表读取的表4对比，检测相应编号高压隔离专用开关的状态信息来判断所述接线转换电路是否切换完毕。切换完毕后，所述单片机在所述显示器上控制显示“A相高压套管介损测试可以进行试验”。操作所述介损测试仪完成A相高压套管介损测试。

在本发明实施例中，进行A相高压套管绝缘电阻测试时，25个高压隔离专用开关的状态编码如表5：

开关编号K(KX)	1	2	3	4	5	6	7	8	9	10	11	12	13	14	15	16	17	18	19	20	21	22	23	24	25
																										A相高压套管绝缘电阻测试	1	0	0	0	0	0	1	0	0	0	0	0	0	1	0	0	0	1	0	1	1	1	1	1	1

表5

进一步地，请参阅图9所示，是本申请一实施例提供的A相高压套管绝缘电阻测试的等效电路。

具体的，进行A相高压套管绝缘电阻测试时，用所述鼠标在所述显示器上选择A相高压套管绝缘电阻测试，所述单片机参照存储的所述高压隔离专用开关组动作，通过控制所述继电器组，控制所述接线转换电路：控制相应编号的继电器组内的继电器支路开关闭合，输出高电平，控制与所述继电器支路编号相同的高压隔离专用开关合闸。具体为：编号K1高压隔离专用开关、编号K7高压隔离专用开关、编号K14高压隔离专用开关、编号K18高压隔离专用开关、编号K20高压隔离专用开关、编号K21高压隔离专用开关、编号K22高压隔离专用开关、编号K23高压隔离专用开关、编号K24高压隔离专用开关及编号K25高压隔离专用开关均合闸动作。

所述绝缘电阻表两端分别接A相绕组高压套管引出线和A相高压套管末屏引出线；所述单片机根据存储的具体测试项目与高压隔离专用开关组开关状态对应表读取的表5对比，检测相应编号高压隔离专用开关的状态信息来判断所述接线转换电路是否切换完毕。切换完毕后，所述单片机在所述显示器上控制显示“A相高压套管绝缘电阻测试可以进行测试”。操作所述绝缘电阻表完成A相高压套管绝缘电阻测试。

在本发明实施例中，进行A相直流电阻试验时，25个高压隔离专用开关的状态编码如表6：

开关编号K(KX)	1	2	3	4	5	6	7	8	9	10	11	12	13	14	15	16	17	18	19	20	21	22	23	24	25
																										A相直流电阻测试	1	0	0	1	0	0	0	0	0	0	0	0	0	0	1	1	0	0	1	1	1	1	1	1	0

表6

进一步地，请参阅图10所示，是本申请一实施例提供的A相直流电阻测试的等效电路。

具体的，进行A相直流电阻测试时，用所述鼠标在所述显示器上选择A相直流电阻测试，所述单片机参照存储的所述高压隔离专用开关组动作，通过控制所述继电器组，控制所述接线转换电路：控制相应编号的继电器组内的继电器支路开关闭合，输出高电平，控制与所述继电器支路编号相同的高压隔离专用开关合闸。具体为：编号K1高压隔离专用开关、编号K4高压隔离专用开关、编号K15高压隔离专用开关、编号K16高压隔离专用开关、编号K19高压隔离专用开关、编号K20高压隔离专用开关、编号K21高压隔离专用开关、编号K22高压隔离专用开关、编号K23高压隔离专用开关及编号K24高压隔离专用开关均合闸动作。

所述直阻测试仪两端分别接A相绕组高压套管引出线和A相绕组中性点引出线；所述单片机根据存储的具体测试项目与高压隔离专用开关组开关状态对应表读取的表6对比，检测相应编号高压隔离专用开关的状态信息来判断所述接线转换电路是否切换完毕。切换完毕后，所述单片机在所述显示器上控制显示“A相直流电阻测试可以进行测试”。操作所述直流电阻测试仪完成A相直流电阻测试。

上述实施例仅说明了所述并联电抗器A相的测试过程，剩余B相、C相测试过程与A相相同，仅所述接线转换电路中外接所述并联电抗器A相、B相和C相的所述并联电抗器绕组引出线端子或所述并联电抗器套管末屏引出线端子对应的高压隔离专用开关的编号不同。

以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种并联电抗器测试台，其特征在于，包括：

单片机、继电器组、接线转换电路、接线端子及至少两个测试装置；

所述单片机连接所述继电器组，所述继电器组连接所述接线转换电路，所述接线转换电路分别连接所述接线端子和所述测试装置，所述接线端子用于外接所述并联电抗器；

所述单片机发出测试指令控制所述继电器组开关动作，所述继电器组将所述开关动作传送给所述接线转换电路，所述接线转换电路将所述接线端子在所述接线转换电路内部的试验引线连接在所述测试指令对应的测试装置上并进行测试。

2.如权利要求1所述的并联电抗器测试台，其特征在于，所述测试装置包括：

直流电阻测试仪、绝缘电阻表及介损测试仪；

所述直流电阻测试仪用于测试并联电抗器的电抗器直流电阻；

所述绝缘电阻表用于测试并联电抗器的本体绝缘电阻、套管绝缘电阻；

所述介损测试仪用于测试并联电抗器的本体介质损耗因数和电容量、套管介质损耗因数和电容量。

3.如权利要求1所述的并联电抗器测试台，其特征在于，还包括：

鼠标、显示器；

所述鼠标连接所述单片机，所述显示器连接所述单片机；

所述单片机通过鼠标和显示器接收用户发出的测试指令。

4.如权利要求1所述的并联电抗器测试台，其特征在于，所述的继电器组包括：

25个结构相同的继电器支路；

所述单片机控制所述25个结构相同的继电器支路中的继电器分别开关动作。

5.如权利要求4所述的并联电抗器测试台，其特征在于，所述继电器支路包括：

电阻、三极管、继电器；

所述电阻连接在所述单片机和所述三极管基极之间，所述继电器的线圈连接在所述三极管集电极和外接电源之间，所述三极管发射极接地；

所述单片机输出高电平的测试指令时，所述三极管基极电平变高，所述三极管集电极和发射极导通，所述继电器的线圈通电，所述继电器开关动作。

6.如权利要求1所述并联电抗器测试台，其特征在于，所述接线转换电路还包括：

高压隔离专用开关组和测试装置接口；

所述高压隔离专用开关组连接所述继电器组，所述测试装置接口连接所述测试装置；

所述高压隔离专用开关组接收所述继电器组的开关动作，并通过所述开关动作控制所述试验引线连接在所述测试指令对应的所述测试装置接口上。

7.如权利要求6所述的并联电抗器测试台，其特征在于，所述接线端子包括:

并联电抗器绕组引出线端子及并联电抗器套管末屏引出线端子。

8.如权利要求6所述的并联电抗器测试台，其特征在于，所述测试装置接口包括：

所述直流电阻测试仪测试接口，所述绝缘电阻表测试接口及所述介损测试仪测试接口。

9.如权利要求6所述的并联电抗器测试台，其特征在于，所述高压隔离专用开关组包括：

25个结构相同的高压隔离专用开关高压隔离专用开关；

所述高压隔离专用开关高压隔离专用开关与所述继电器组内的所述继电器支路一一对应连接。

10.如权利要求9所述的并联电抗器测试台，其特征在于，所述高压隔离专用开关高压隔离专用开关包括：

直流电机、齿轮、齿条、第一开关接线端子、第二开关接线端子、动触点、静触点、第一微动开关、第二微动开关和开关外壳；

所述齿轮、所述齿条和所述开关外壳均采用绝缘材料，所述直流电机的转轴与所述齿轮联动，所述动触点与所述齿条连接，所述静触点与所述第二微动开关连接，所述齿轮带动所述齿条在所述第一微动开关和所述静触点之间运动；所述动触点和所述静触点分别用导线连接所述第一开关接线端子和所述第二开关接线端子；

当所述电机正向转动，通过带动所述齿轮驱动所述齿条向右移动，当所述动触点接触所述静触点后，所述静触点触动所述第二微动开关微动，所述电机失电停止转动，合闸完毕，所述第一接线端子和所述第二接线端子之间导通；当所述电机反向转动，通过带动所述齿轮驱动所述齿条向左移动，当所述齿条触动所述第一微动开关后，所述电机失电，分闸完毕，所述第一接线端子和所述第二接线端子断开。