CN107991278B - 基于荧光猝灭技术痕量***探测器的加热进样结构 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于荧光猝灭技术痕量***探测器的加热进样结构,包括进样结构、加热结构和耗材,所述加热结构活动套在进样结构的外壁上;所述耗材活动***加热结构内;所述进样结构内贯通设置有三孔环形通道,三孔环形通道的底部设置有导流汇聚结构;所述进样结构的底部设置有用于配合耗材***的凹台;所述进样结构和加热结构之间设置有螺纹紧固结构;所述耗材的中间位置贯通设置有耗材通道,且耗材通道与三孔环形通道错开。本发明的加热进样结构安装、清洗、维护简单高效,增加了***分子的收集面积,大大提高了***分子的收集效率;消除了环境光线直接射入耗材通道的风险;提高了***分子对耗材的猝灭效率,间接提高了检测的探测限度。
Description
技术领域
本发明涉及一种加热进样结构,尤其涉及一种基于荧光猝灭技术痕量***探测器的加热进样结构。
背景技术
现有的加热进样结构存在一些不足之处:1)进样的孔径较小,使得可收集的***分子数量少;2)存在光学漏光的风险;3)清洗维护困难;4)缺少气路缓冲结构。因此,需要一种改进的加热进样结构以解决上述不足之处。
发明内容
为解决上述技术问题,本发明提出一种基于荧光猝灭技术痕量***探测器的加热进样结构,其解决了现有加热进样结构的缺陷。
为了达到上述目的,本发明的技术方案如下:一种基于荧光猝灭技术痕量***探测器的加热进样结构,包括进样结构、加热结构和耗材,所述加热结构活动套在进样结构的外壁上;所述耗材活动***加热结构内;所述进样结构内贯通设置有三孔环形通道,三孔环形通道的底部设置有导流汇聚结构;所述进样结构的底部设置有用于配合耗材***的凹台。
作为优选,所述进样结构和加热结构之间设置有螺纹紧固结构。
作为优选,所述凹台底部的内壁上设置有一圈密封“O”型圈。
作为优选,所述加热结构的底部设置有用于加热的加热片。
作为优选,所述耗材从下方活动***加热结构的中间位置,并穿过密封“O”型圈***凹台内。
作为优选,所述耗材的中间位置贯通设置有耗材通道,且耗材通道与三孔环形通道错开,不在同一垂直线上。
作为优选,所述进样结构通过螺纹紧固结构从上方活动旋进加热结构的中间位置。
加热过程中,加热片工作,对加热结构进行加热,通过螺纹紧固结构将热量传递给进样结构,使三孔环形通道被加热,进入正常的工作状态。进样过程中,被蒸发出来的***气体经过三孔环形通道进入进样结构中,在导流汇聚结构处缓冲***气体,并将该气体汇聚到耗材通道中进行检测。
本发明的有益效果:本发明的基于荧光猝灭技术痕量***探测器的加热进样结构在进样结构中采用三孔环形通道均匀分布设计,增加了***分子的收集面积,并大大提高了***分子的收集效率;进样结构的三孔环形通道和耗材通道采用交错结构设计,消除了环境光线通过进样结构的三孔环形通道直接射入耗材通道的风险;进样结构底部采用导流汇聚结构,形成气流缓冲通道,提高了***分子对耗材的猝灭效率,间接提高了检测的探测限度;加热结构和进样结构采用分离式设计,使得安装、清洗、维护更简单高效。
附图说明
图1为本发明的结构示意图;
图2为本发明截面的结构示意图;
图3为本发明进样结构的结构示意图;
图4为本发明进样结构的仰视结构示意图;
其中:1.进样结构,11三孔环形通道,12.导流汇聚结构,2.加热结构,3.耗材,31.耗材通道,4.螺纹紧固结构,5.加热片,6.密封“O”型圈。
具体实施方式
下面结合具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
如图1所示,为本发明的一种基于荧光猝灭技术痕量***探测器的加热进样结构,包括进样结构1、加热结构2和耗材3,所述加热结构2活动套在进样结构1的外壁上;所述耗材3活动***加热结构2内;如图3和4所示,所述进样结构1内贯通设置有三孔环形通道11,三孔环形通道11的底部设置有导流汇聚结构12;所述进样结构1的底部设置有用于配合耗材3***的凹台13。
如图2所示,所述进样结构1和加热结构2之间设置有螺纹紧固结构4。
所述凹台13底部的内壁上设置有一圈密封“O”型圈6。
所述加热结构2的底部设置有用于加热的加热片5。
所述耗材3从下方活动***加热结构2的中间位置,并穿过密封“O”型圈6***凹台13内。
所述耗材3的中间位置贯通设置有耗材通道31,且耗材通道31与三孔环形通道11错开,不在同一垂直线上,以此切断了环境光进入耗材通道31的光路,隔绝了环境光对检测的影响。
所述进样结构1通过螺纹紧固结构4从上方活动旋进加热结构2的中间位置。通过螺纹紧固结构4可方便地使进样结构1从加热结构2中拆卸出来,方便了清洗和维护。
本发明的基于荧光猝灭技术痕量***探测器的加热进样结构的工作过程包括加热过程和进样过程,具体工作过程如下:
加热过程中,加热结构2底部的加热片5工作,并对加热结构2进行加热,加热结构2通过螺纹紧固结构4将热量传递给进样结构1,使进样结构1中的三孔环形通道11也被加热,进入正常的工作状态。
进样过程中,待三孔环形通道11加热并进入工作状态后,被蒸发出来的***气体将经过三孔环形通道11进入进样结构1中,在三孔环形通道11底部的导流汇聚结构12处缓冲***气体,并将该气体汇聚到耗材3中的耗材通道31中进行检测。在此过程中,被蒸发出来的***气体经过三孔环形通道11后,大大提高了被蒸发出来的***气体的利用率;***蒸汽在导流汇聚结构12处缓冲后再汇聚到耗材3中的耗材通道31中,降低了***蒸汽的流速,提高了***蒸汽对耗材的猝灭效率,间接提高了检测的探测限度。
本发明的加热进样结构增加了***分子的收集面积,并大大提高了***分子的收集效率;消除了环境光线直接射入耗材通道的风险;提高了***分子对耗材的猝灭效率,间接提高了检测的探测限度;并使安装、清洗、维护更简单高效。
Claims (4)
1.一种基于荧光猝灭技术痕量***探测器的加热进样结构,其特征在于,包括进样结构(1)、加热结构(2)和耗材(3),所述加热结构(2)活动套在进样结构(1)的外壁上;所述耗材(3)活动***加热结构(2)内;所述进样结构(1)内贯通设置有三孔环形通道(11),三孔环形通道(11)的底部设置有导流汇聚结构(12);所述进样结构(1)的底部设置有用于配合耗材(3)***的凹台(13);
所述进样结构(1)和加热结构(2)之间设置有螺纹紧固结构(4);
所述耗材(3)从下方活动***加热结构(2)的中间位置,并穿过密封“O”型圈(6)***凹台(13)内;
所述耗材(3)的中间位置贯通设置有耗材通道(31),且耗材通道(31)与三孔环形通道(11)错开,不在同一垂直线上。
2.根据权利要求1所述的基于荧光猝灭技术痕量***探测器的加热进样结构,其特征在于,所述凹台(13)底部的内壁上设置有一圈密封“O”型圈(6)。
3.根据权利要求1所述的基于荧光猝灭技术痕量***探测器的加热进样结构,其特征在于,所述加热结构(2)的底部设置有用于加热的加热片(5)。
4.根据权利要求1所述的基于荧光猝灭技术痕量***探测器的加热进样结构,其特征在于,所述进样结构(1)通过螺纹紧固结构(4)从上方活动旋进加热结构(2)的中间位置。
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Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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