CN107632721A - 调校光传感器取样精度值的方法、光传感器及主控装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种能够用来调校追踪用的光传感器的取样精度的值的方法，包括：自一内存装置读取一精度变异与一精度设定值；于正常模式时量测光传感器的取样精度，产生一实际量测的精度值；根据该精度变异、该实际量测的精度值及该精度设定值，计算正比于该实际量测的精度值的一正规化值；以及通过使用该正规化值以调校该实际量测的精度值。这使得光传感器所回报的分辨率值可以被调校而逼近于或位于实际所设定的分辨率值，调校程序的操作步骤可部分或全部由光传感器及/或远程主控装置所运行。

Description

调校光传感器取样精度值的方法、光传感器及主控装置
技术领域
本发明涉及一种光学感测机制，特别有关于一种能够用来调校追踪用的光传感器的取样精度的值(或称为分辨率值)的方法、光传感器及远程主控装置。
背景技术
一般来说，现有的传统机制使用一光传感器来追踪并感测一可移动电子装置(例如鼠标装置)的位移，该光传感器系被安排用来基于自一反射表面所反射的光线来追踪并感测位移结果，然而，实际上在每一种状况，均不可能保证自光传感器至相对应反射表面的距离为固定距离以及不可能保证镜头的放大参数没有发生变动，而一旦在镜头的放大参数及距离发生一个细微的变动，都可能造成该光传感器所追踪感测到的移动/位移结果有明显的差异，而这会导致即使在每一种状况下的实际感测位移是相同的，自光传感器所回报的取样精度的值也会有所不同。
发明内容
因此本发明的目的之一在于公开一种用来调校追踪用的光传感器的取样精度的值的机制，以解决上述的难题。
根据本发明实施例，公开了一种能够用来调校追踪用的光传感器的一取样精度的值的方法。该方法包含：自一内存装置读取一精度变异与一精度设定值；于一正常模式时量测该光传感器的该取样精度，产生一实际量测的精度值；根据该精度变异、该实际量测的精度值及该精度设定值，计算正比于该实际量测的精度值的一正规化值；以及通过使用该正规化值以调校该实际量测的精度值。
根据本发明的实施例，公开了一种光传感器。该光传感器能够用来调校该光传感器自身的取样精度的值，并包含一内存装置、一侦测电路及一控制器，内存装置储存有一精度变异及一精度设定值，侦测电路系用来于一正常模式时量测该光传感器的该取样精度，产生一实际量测的精度值，以及控制器系耦接至内存装置与侦测电路，并用来根据该精度变异、该实际量测的精度值及该精度设定值来计算正比于该实际量测的精度值的一正规化值，以及通过使用该正规化值来调校该实际量测的精度值。
根据本发明的实施例，公开了一种远程连接至一光传感器并能够用来调校该光传感器的一取样精度的值的主控装置。主控装置包含有一内存装置及一控制器，内存装置系用来储存一精度变异及一精度设定值，控制器系耦接至内存装置并用来控制该光传感器于一正常模式时量测该光传感器的该取样精度以产生一实际量测的精度值，根据该精度变异、该实际量测的精度值及该精度设定值来计算正比于该实际量测的精度值的一正规化值，以及通过使用该正规化值来调校该实际量测的精度值。
根据本发明的实施例，其所能够公开的优点之一在于光传感器所回报的分辨率值(也就是上述取样精度的值)可以被调校而逼近于或位于实际所设定的分辨率值，该调校程序的操作步骤可部分或全部由光传感器及/或远程主控装置所运行。
附图说明
图1是本发明实施例能够用来调校追踪用的一光传感器的一取样精度的值的方法流程图。
图2是能够调校光传感器自身的取样精度的值的光传感器的方块示意图。
图3是远程连接至一光传感器并能够调校光传感器的取样精度的值的主控装置的方块示意图。
其中，附图标记说明如下：
105～130 步骤
200、301 光传感器
205、305 内存装置
210 侦测电路
215、310 控制器
300 主控装置
具体实施方式
请参照图1，图1为本发明实施例能够用来调校追踪用的一光传感器的一取样精度(sampling precision，也就是分辨率值)的值的方法流程图。该光传感器可用来追踪一鼠标装置的移动/位移、一打印机头(printer head)的移动/位移、或一可移动电子装置的移动/位移等，并且该光传感器基于一表面的反射光来追踪、感测该鼠标装置的移动/位移、该打印机头的移动/位移、或该可移动电子装置的移动/位移等，而产生、回报该移动/位移的一追踪感测结果，并且该追踪感测结果可由该取样精度的值(也就是分辨率值)表示，而该取样精度可以通过使用每一英吋的测量次数(counts per inch，CPI)或每一英吋的点数量(dots per inch，DPI)来表示。然而，实际上在每一种状况，均不可能保证自光传感器至相对应反射表面的距离为固定距离以及不可能保证镜头放大参数(lens magnification)没有发生变动，而一旦在镜头放大参数及距离中发生细微的变动，均可能导致该光传感器所追踪感测到的移动/位移结果有明显的差异，而此会导致即使在每一种状况下的实际感测位移是相同的，自光传感器所回报的取样精度的值将会有所不同，为了解决这个问题，本发明的实施例所公开的方法能够用来调校或校正光传感器的取样精度的值，调校、调整或维持该取样精度的值于一精度设定值或位于该精度设定值所对应的一可容忍范围内，该方法、以下的步骤及/或其中至少一个步骤均可由设置于鼠标装置内、打印机头内或可移动电子装置内的光传感器所运行，并且亦可由远程耦接至鼠标装置、远程耦接至打印机头或远程耦接至可移动电子装置的一主控装置所运行。图1的步骤描述于下：
步骤105：开始；
步骤110：自一内存装置读取一精度变异与一精度设定值；
步骤115：于一正常模式时量测该光传感器的该取样精度以产生一实际量测的精度值；
步骤120：根据该精度变异、该实际量测的精度值及该精度设定值，计算正比于该实际量测的精度值的一正规化值(normalized value)；
步骤125：通过使用该正规化值来调校该实际量测的精度值；以及
步骤130：结束。
举例来说，该精度设定值系设置为1000CPI/DPI，该数值可以自该光传感器及/或远程连接于该光传感器的一主控装置所获得，该光传感器被安排进入一测试模式，并且在该测试模式时该光传感器被安排用来量测该光传感器的该取样精度以产生一精度测试值，该量测操作可由该主控装置或该光传感器自身所触发或运行，在本例中，在该测试模式时该光传感器的实际回报的取样精度(分辨率)的值例如是1088CPI/DPI(也就是该精度测试值)，该主控装置或该光传感器被安排用来计算该精度设定值(例如1000CPI/DPI)与该精度测试值(例如1088CPI/DPI)之间的差值，以获得该精度变异，因此该精度变异在经过计算后被决定为88CPI/DPI，而该精度设定值与该精度变异可被储存在上述的内存装置中，例如是一可程序化内存中或一缓存器电路中，例如该精度变异(例如实际数值为88)可通过以十六进制数的数值结果形式(58)而储存在该缓存器电路中。
在步骤110中，该精度设定值(例如1000CPI/DPI)及该精度变异(例如88CPI/DPI)从上述的内存装置中读出，该光传感器接着进入一正常模式，在步骤115中，在该正常模式时，进行测量该光传感器的该取样精度以产生该实际量测的精度值(例如1091CPI/DPI)，接着在步骤120中，该主控装置或该光传感器被安排用来根据精度变异(88CPI/DPI)、该实际量测的精度值(1091CPI/DPI)及该精度设定值(1000CPI/DPI)来计算正比于该实际量测的精度值(1091CPI/DPI)的一正规化值，该正规化值可通过下列方程式表示：
其中NR代表该光传感器的该取样精度(分辨率)的正规化值，AR代表实际上所回报的精度值，SR代表该精度设定值，以及V代表该精度变异。举例来说，以上述所举的数值为例，光传感器的分辨率的正规化值在经过计算之后被决定为1003CPI/DPI，因此等效上通过使用该正规化值NR可校正及调整该实际上所回报的精度值AR。
另外，该精度变异V可能包括有负号，例如，于该测试模式时该精度变异V在计算之后系被决定为-63CPI/DPI，在正常模式时实际上所回报的精度值AR等于1011CPI/DPI，则分辨率的正规化值NR在计算之后被决定为1079CPI/DPI，等效上也是通过使用上述的正规化值NR来校正或调整实际量测的精度值AR。
另外，在另一实施例中，上述的内存装置被设置位于光传感器内，而上述的方法及对应的步骤可以由该光传感器所运行。请参照图2，图2为能够用来调校光传感器200自身的取样精度的值的光传感器200的方块示意图，光传感器200包含有一内存装置205、一侦测电路210以及一控制器215，内存装置205被安排用来储存该精度变异V及该精度设定值SR，侦测电路210被安排在正常模式时用来量测光传感器200的取样精度来产生实际量测的精度值AR，控制器215耦接至内存装置205与侦测电路210并被安排用来根据精度变异V、实际量测的精度值AR及精度设定值SR来计算正比于实际量测的精度值AR的正规化值NR，以及用来通过使用该正规化值NR来调校该实际量测的精度值AR，此外，侦测电路210及控制器215可于测试模式时运行对应的运作来获得精度变异V，相关的描述在此省略以节省篇幅。
另外，在其他实施例中，内存装置被设置位于一远程主控装置内，且该光传感器耦接至该远程主控装置，该方法以及对应的步骤系可由该远程主控装置所运行。请参照图3，图3为远程连接至一光传感器301并能够调校光传感器301的取样精度的值的主控装置300的方块示意图，主控装置300包含有一内存装置305与一控制器310，内存装置305被安排用来储存精度变异V与精度设定值SR，控制器310耦接至该内存装置305并被安排在一正常模式时用来控制光传感器301来量测光传感器301的取样精度以产生实际量测的精度值AR，根据精度变异V、实际量测的精度值AR及精度设定值SR来计算正比于实际量测的精度值AR的正规化位NR，以及通过使用该正规化值NR调校实际量测的精度值AR，此外，控制器310可在测试模式时运行对应运作而获得精度变异V，相关操作内容不再赘述。
再者，应注意的是，上述的方法及对应的步骤可在每次光传感器开机启动时被触发及运行，或是由光传感器或主控装置所触发，此外，光传感器可用来追踪打印机头的移动/位移、光学鼠目标移动/位移、及/或雷射鼠目标移动/位移等，凡此均为本发明的可能实施例。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (17)

1.一种用来调校追踪用的光传感器的取样精度的值的方法，包含：
自内存装置读取精度变异与精度设定值；
于正常模式时量测所述光传感器的所述取样精度，产生实际量测的精度值；
根据所述精度变异、所述实际量测的精度值及所述精度设定值，计算正比于所述实际量测的精度值的正规化值；以及
通过使用所述正规化值来调校所述实际量测的精度值。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的方法另包含：
获取所述精度设定值；
于测试模式时量测所述光传感器的所述取样精度，产生精度测试值；
计算所述精度设定值与所述精度测试值之间的差值，得到所述精度变异；
以及储存所述精度变异及所述精度设定值于所述内存装置。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述内存装置位于所述光传感器内，以及所述方法由所述光传感器所运行。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光传感器耦接于远程主控装置，所述内存装置位于所述远程主控装置内，以及所述方法由所述远程主控装置所运行。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光传感器用来追踪打印机头的移动。
6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光传感器用来追踪光学鼠目标移动或雷射鼠目标移动。
7.如权利要求1项所述的方法，其特征在于每次所述光传感器开机启动时运行。
8.一种光传感器，能够用来调校所述光传感器的取样精度的值，包含：
一内存装置，储存有精度变异及精度设定值；
一侦测电路，用来于正常模式时量测所述光传感器的所述取样精度，产生实际量测的精度值；以及
一控制器，耦接至所述内存装置与所述侦测电路，用来根据所述精度变异、所述实际量测的精度值及所述精度设定值来计算正比于所述实际量测的精度值的正规化值，以及通过使用所述正规化值来调校所述实际量测的精度值。
9.如权利要求8所述的光传感器，其特征在于，所述侦测电路系用来于测试模式时量测所述光传感器的所述取样精度以产生精度测试值，所述控制器用来计算所述精度设定值与所述精度测试值之间的差值，以及所述控制器储存所述精度变异与所述精度设定值至所述内存装置中。
10.如权利要求8所述的光传感器，其特征在于，所述光传感器用来追踪打印机头的移动。
11.如权利要求8所述的光传感器，其特征在于，所述光传感器系用来追踪光学鼠目标移动或雷射鼠目标移动。
12.如权利要求8所述的光传感器，其特征在于，所述控制器于每次所述光传感器开机启动时调校所述实际量测的精度值。
13.一种远程连接至光传感器并能够用来调校所述光传感器的取样精度的值的主控装置，包含：
一内存装置，用来储存精度变异及精度设定值；
一控制器，耦接至所述内存装置，用来控制所述光传感器于正常模式时量测所述光传感器的所述取样精度以产生实际量测的精度值，根据所述精度变异、所述实际量测的精度值及所述精度设定值来计算正比于所述实际量测的精度值的正规化值，以及通过使用所述正规化值来调校所述实际量测的精度值。
14.如权利要求13所述的主控装置，其特征在于，所述控制器用来控制所述光传感器于测试模式时量测所述光传感器的所述取样精度以产生精度测试值，以及所述控制器用来计算所述精度设定值与所述精度测试值之间的差值，并储存所述精度变异与所述精度设定值至所述内存装置中。
15.如权利要求13所述的主控装置，其特征在于，所述主控装置系设置于打印机***内，以及所述光传感器设置用来追踪打印机头的移动。
16.如权利要求13所述的主控装置，其特征在于，所述光传感器用来追踪光学鼠目标移动或雷射鼠目标移动。
17.如权利要求13所述的主控装置，其特征在于，所述控制器于每次所述光传感器开机启动时调校所述实际量测的精度值。
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