CN107452427A - 一种存储设备数据完整性的测试方法及*** - Google Patents
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Abstract
本发明涉及存储设备测试技术领域，提供一种存储设备数据完整性的测试方法及***，方法包括：控制在测试主机端和存储设备之间建立交互通讯通道；在测试主机端执行测试数据源写指令，并控制在所述存储设备上预先写入测试数据源；当判断测试数据源写动作完成时，对所述存储设备执行***破坏，并执行***恢复动作；当***恢复完成时，在所述测试主机端执行测试数据源验证指令，并控制在所述存储设备上读取数据预先写入的测试数据源；当判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配，若匹配则确定测试通过，从而实现对存储设备存储数据完整性的验证测试，测试流程简单，测试效率和准确率较高，给测试用户提供便利，也便于批量测试。
Description
技术领域
本发明属于存储设备测试技术领域，尤其涉及一种存储设备数据完整性的测试方法及***。
背景技术
在对存储设备进行读写数据的测试过程中，为了验证存储设备中读写的数据是否有丢失，数据是否完整，需要对已经进行读写的存储设备中的数据进行验证测试，需要通过测试来进行验证数据是否有丢失，从而验证存储设备的性能。在测试过程中，客户源数据是较为重要的数据，一旦存储端数据丢失，会对客户造成不可估量的经济损失，而且当存储设备中的源数据丢失时，会对客户造成严重的损失(例如金融、政府和医院等行业)，从而对存储产品质量造成不好的影响。
目前，存储设备存储数据完整性的验证一般通过查看代码或通过插件安装包命令检查的方式实现，但是这些验证方式耗时耗力，测试结果准确较低。
发明内容
本发明的目的在于提供一种存储设备数据完整性的测试方法，旨在解决现有技术中存储设备存储数据完整性的验证一般通过查看代码或通过插件安装包命令检查的方式实现，但是这些验证方式耗时耗力，测试结果准确较低的问题。
本发明是这样实现的，一种存储设备数据完整性的测试方法，所述方法包括下述步骤：
控制在测试主机端和存储设备之间建立交互通讯通道；
在测试主机端执行测试数据源写指令，并控制在所述存储设备上预先写入测试数据源；
当判断测试数据源写动作完成时，对所述存储设备执行***破坏，并执行***恢复动作；
当***恢复完成时，在所述测试主机端执行测试数据源验证指令，并控制在所述存储设备上读取数据预先写入的测试数据源；
当判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配，若匹配则确定测试通过。
作为一种改进的方案，所述在测试主机端和存储设备之间建立交互通讯通道的步骤包括下述步骤下述步骤：
在存储设备上创建卷，并通过映射机制映射给所述测试主机端；
在所述测试主机端，识别映射形成的卷其中，所述测试主机端采用多路径模式。
作为一种改进的方案，所述在测试主机端执行测试数据源写指令，并控制在所述存储设备上预先写入测试数据源的步骤之后，所述当判断测试数据源写动作完成时，对所述存储设备执行***破坏，并执行***恢复动作的步骤之前还包括下述步骤：
显示预先写入测试数据源的内容和第一最大存储设备磁盘卷值。
作为一种改进的方案，所述当***恢复完成时，在所述测试主机端执行测试数据源验证指令，并控制在所述存储设备上读取数据预先写入的测试数据源的步骤之后，所述当判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配的步骤之前还包括下述步骤：
显示读取测试数据源的内容和第二最大存储设备磁盘卷值。
作为一种改进的方案，所述当判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配的过程为判断所述第一最大存储设备磁盘卷值和第二最大存储设备磁盘卷值是否相等。
作为一种改进的方案，测试数据源写动作完成的判断依据是接收到测试用户的停止动作指令或写完预设容量大小的数据源。
本发明的另一目的在于提供一种存储设备数据完整性的测试***，所述***包括：
交互通讯通道建立模块，用于控制在测试主机端和存储设备之间建立交互通讯通道；
测试数据源写入模块，用于在测试主机端执行测试数据源写指令，并控制在所述存储设备上预先写入测试数据源；
存储设备***处理模块，用于当判断测试数据源写动作完成时，对所述存储设备执行***破坏，并执行***恢复动作；
测试数据源读取模块，用于当***恢复完成时，在所述测试主机端执行测试数据源验证指令，并控制在所述存储设备上读取数据预先写入的测试数据源；
测试验证模块，用于当判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配，若匹配则确定测试通过。
作为一种改进的方案，所述交互通讯通道建立模块包括：
卷映射模块，内置于存储设备，用于在存储设备上创建卷，并通过映射机制映射给所述测试主机端；
卷识别模块，内置于测试主机端内，用于在所述测试主机端，识别映射形成的卷其中，所述测试主机端采用多路径模式。
作为一种改进的方案，所述***还包括：
第一显示模块，用于显示预先写入测试数据源的内容和第一最大存储设备磁盘卷值；
第二显示模块，用于显示读取测试数据源的内容和第二最大存储设备磁盘卷值。
作为一种改进的方案，所述当判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配的过程为判断所述第一最大存储设备磁盘卷值和第二最大存储设备磁盘卷值是否相等。
在本发明实施例中，控制在测试主机端和存储设备之间建立交互通讯通道；在测试主机端执行测试数据源写指令，并控制在所述存储设备上预先写入测试数据源；当判断测试数据源写动作完成时，对所述存储设备执行***破坏，并执行***恢复动作；当***恢复完成时，在所述测试主机端执行测试数据源验证指令，并控制在所述存储设备上读取数据预先写入的测试数据源；当判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配，若匹配则确定测试通过，从而实现对存储设备存储数据完整性的验证测试，测试流程简单，测试效率和准确率较高，给测试用户提供便利，也便于批量测试。
附图说明
图1是本发明提供的存储设备数据完整性的测试方法的实现流程图；
图2是本发明提供的存储设备数据完整性的测试***的结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
图1示出了本发明提供的存储设备数据完整性的测试方法的实现流程图，其具体包括下述步骤：
在步骤S101中，控制在测试主机端和存储设备之间建立交互通讯通道。
在步骤S102中，在测试主机端执行测试数据源写指令，并控制在所述存储设备上预先写入测试数据源。
在步骤中，在写入测试数据源的过程中，在主机端的显示界面上显示写入测试数据源的内容和第一最大存储设备磁盘卷值，其中，该第一最大存储设备磁盘卷值可以是起始卷值到最大卷值的显示过程，即起始和最终，下述给出具体的实现，在此不再赘述。
在步骤S103中，当判断测试数据源写动作完成时，对所述存储设备执行***破坏，并执行***恢复动作。
在该步骤中，测试数据源写动作完成的标志，可以采用如下方式：
(1)在跑IO若干时间后，在测试主机端执行Ctrl+C组合键，然后该测试数据源写动作就停止，然后显示界面输出上述测试数据源的最后存储设备磁盘卷值；
(2)也可以预先设置一写动作卷值阈值，当在写测试数据源时，到达该卷值阈值时，则写动作停止；
当然也可以采用其他方式，在此不再赘述。
其中，该存储设备***破坏和恢复的执行均为现有技术实现，在此不再赘述，但不用以限制本发明。
在步骤S104中，当***恢复完成时，在所述测试主机端执行测试数据源验证指令，并控制在所述存储设备上读取数据预先写入的测试数据源。
在该步骤中，当***恢复后，在测试主机端执行读取预先写入的测试数据源的步骤，进行测试数据源验证，其中，上述测试数据源的写入和读取动作可以通过相应的测试工具的测试指令完成，下述有详细的说明，在此不再赘述。
在步骤S105中，当判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配，若匹配则确定测试通过。
在该步骤中，该判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配，可以通过判断所述第一最大存储设备磁盘卷值和第二最大存储设备磁盘卷值是否相等来实现，当然也可以采用其他方法，在此不再赘述。
其中，通过上述方法可以对存储设备存储数据的完整性进行验证测试，其测试过程可以根据程序设计自动实现验证测试，其测试过程相对于现有技术通过插件安装包命令检查方式或者查看代码的方式，其测试过程耗时较短，而且测试效率和测试准确率较高，从而给测试人员提供测试便利，同时也提升了存储设备的产品良率，给用户更好的使用体验。
在本发明实施例中，上述步骤在测试主机端和存储设备之间建立交互通讯通道的步骤包括下述步骤下述步骤：
(1)在存储设备上创建卷，并通过映射机制映射给所述测试主机端；
其中，该创建的卷的大小可以是500G，并通过FC映射给测试主机端，该测试主机端运行有Centos7.2***。
(2)在所述测试主机端，识别映射形成的卷其中，所述测试主机端采用多路径模式；
其中，主机端开启多路径服务模式，通过命令multipath–ll查看映射到的卷，并且卷的名字为dm-2。
在本发明实施例中，执行上述测试数据源的读、写的流程可以通过预先生成的或者现有的测试工具完成，例如iod测试工具，其中：
在测试主机端安装该iod测试工具包，然后该iod测试工具对dm-2进行数据读写，iod可以写入特定模式的数据源，例如pattern 3模式的，也可以控制写入数据源的大小，其通过控制存储设备的磁盘的逻辑块寻址模式(简称Lba)来实现的，例如500G的Lba值等于500G*1024*1024*1024/512＝1048576000，如果想写入10G的特定模式的数据源，就把maxlba设置为：
10G*1024*1024*1024/512＝20971520；
iod测试工具的写入命令为：iod-blockdevice-oper packwrite-pattern 3-minlba 0x0-maxlba 0x-xfrlen 64；
验证数据源的执行命令为：iod-blockdevice-oper packcompare-pattern 3-minlba 0x0-maxlba 0x-xfrlen 64；
其中：packwrite为数据写入，pattern 3为数据模式，minlba为磁盘卷设置的最小lba值，maxlba为磁盘卷设置的最大lba值，packcompare为写入数据的比较；
那么往磁盘卷里写入10G的pattern 3模式的测试数据源的执行命令为：iod-blockdevice-oper packwrite-pattern 3-minlba 0x00000000-maxlba 0x20971520-xfrlen 64；
写入10GB的测试数据源后就会停止IO读写；
执行命令iod-blockdevice-oper packcompare-pattern 3-minlba 0x00000000-maxlba 0x20971520-xfrlen 64，对写入的pattern 3模式的测试数据源进行验证比较，如果输出刚好到最大lba值20971520，那么该磁盘卷的数据源完整没有丢失。
综上可知，在使用iod测试工具进行存储设备数据完整性测试时，需要首先在测试主机端上进行安装，在存储设备将预先创建的卷映射给测试主机端，使用iod测试工具的写命令往卷里写入设置好的pattern 3模式的测试数据源，然后在存储设备进行容灾或者***恢复后，对该写入pattern 3模式的测试数据源进行完整性验证。
上述仅仅给出本发明其中的一个具体实现工具事例，在此不用限制本发明。
图2示出了本发明提供的存储设备数据完整性的测试***的结构框图，为了便于说明，图中仅给出了与本发明实施例相关的部分。
该存储设备数据完整性的测试***包括：
交互通讯通道建立模块11，用于控制在测试主机端和存储设备之间建立交互通讯通道；
测试数据源写入模块12，用于在测试主机端执行测试数据源写指令，并控制在所述存储设备上预先写入测试数据源；
存储设备***处理模块13，用于当判断测试数据源写动作完成时，对所述存储设备执行***破坏，并执行***恢复动作；
测试数据源读取模块14，用于当***恢复完成时，在所述测试主机端执行测试数据源验证指令，并控制在所述存储设备上读取数据预先写入的测试数据源；
测试验证模块15，用于当判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配，若匹配则确定测试通过。
其中，第一显示模块16，用于显示预先写入测试数据源的内容和第一最大存储设备磁盘卷值；
第二显示模块17，用于显示读取测试数据源的内容和第二最大存储设备磁盘卷值。
当然，在该测试界面上还可以显示其他内容，在此不再赘述，可根据具体的测试要求进行设置和布局。
在该实施例中，交互通讯通道建立模块11包括：
卷映射模块18，内置于存储设备，用于在存储设备上创建卷，并通过映射机制映射给所述测试主机端；
卷识别模块19，内置于测试主机端内，用于在所述测试主机端，识别映射形成的卷其中，所述测试主机端采用多路径模式。
在本发明实施例中，上述各个模块的功能如上述方法实施例所记载，在此不再赘述。
在本发明实施例中，控制在测试主机端和存储设备之间建立交互通讯通道；在测试主机端执行测试数据源写指令，并控制在所述存储设备上预先写入测试数据源；当判断测试数据源写动作完成时，对所述存储设备执行***破坏，并执行***恢复动作；当***恢复完成时，在所述测试主机端执行测试数据源验证指令，并控制在所述存储设备上读取数据预先写入的测试数据源；当判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配，若匹配则确定测试通过，从而实现对存储设备存储数据完整性的验证测试，测试流程简单，测试效率和准确率较高，给测试用户提供便利，也便于批量测试。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种存储设备数据完整性的测试方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：
控制在测试主机端和存储设备之间建立交互通讯通道；
在测试主机端执行测试数据源写指令，并控制在所述存储设备上预先写入测试数据源；
当判断测试数据源写动作完成时，对所述存储设备执行***破坏，并执行***恢复动作；
当***恢复完成时，在所述测试主机端执行测试数据源验证指令，并控制在所述存储设备上读取数据预先写入的测试数据源；
当判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配，若匹配则确定测试通过。
2.根据权利要求1所述的存储设备数据完整性的测试方法，其特征在于，所述在测试主机端和存储设备之间建立交互通讯通道的步骤包括下述步骤下述步骤：
在存储设备上创建卷，并通过映射机制映射给所述测试主机端；
在所述测试主机端，识别映射形成的卷其中，所述测试主机端采用多路径模式。
3.根据权利要求2所述的存储设备数据完整性的测试方法，其特征在于，所述在测试主机端执行测试数据源写指令，并控制在所述存储设备上预先写入测试数据源的步骤之后，所述当判断测试数据源写动作完成时，对所述存储设备执行***破坏，并执行***恢复动作的步骤之前还包括下述步骤：
显示预先写入测试数据源的内容和第一最大存储设备磁盘卷值。
4.根据权利要求3所述的存储设备数据完整性的测试方法，其特征在于，所述当***恢复完成时，在所述测试主机端执行测试数据源验证指令，并控制在所述存储设备上读取数据预先写入的测试数据源的步骤之后，所述当判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配的步骤之前还包括下述步骤：
显示读取测试数据源的内容和第二最大存储设备磁盘卷值。
5.根据权利要求4所述的存储设备数据完整性的测试方法，其特征在于，所述当判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配的过程为判断所述第一最大存储设备磁盘卷值和第二最大存储设备磁盘卷值是否相等。
6.根据权利要求5所述的存储设备数据完整性的测试方法，其特征在于，测试数据源写动作完成的判断依据是接收到测试用户的停止动作指令或写完预设容量大小的数据源。
7.一种存储设备数据完整性的测试***，其特征在于，所述***包括：
交互通讯通道建立模块，用于控制在测试主机端和存储设备之间建立交互通讯通道；
测试数据源写入模块，用于在测试主机端执行测试数据源写指令，并控制在所述存储设备上预先写入测试数据源；
存储设备***处理模块，用于当判断测试数据源写动作完成时，对所述存储设备执行***破坏，并执行***恢复动作；
测试数据源读取模块，用于当***恢复完成时，在所述测试主机端执行测试数据源验证指令，并控制在所述存储设备上读取数据预先写入的测试数据源；
测试验证模块，用于当判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配，若匹配则确定测试通过。
8.根据权利要求7所述的存储设备数据完整性的测试***，其特征在于，所述交互通讯通道建立模块包括：
卷映射模块，内置于存储设备，用于在存储设备上创建卷，并通过映射机制映射给所述测试主机端；
卷识别模块，内置于测试主机端内，用于在所述测试主机端，识别映射形成的卷其中，所述测试主机端采用多路径模式。
9.根据权利要求8所述的存储设备数据完整性的测试***，其特征在于，所述***还包括：
第一显示模块，用于显示预先写入测试数据源的内容和第一最大存储设备磁盘卷值；
第二显示模块，用于显示读取测试数据源的内容和第二最大存储设备磁盘卷值。
10.根据权利要求9所述的存储设备数据完整性的测试***，其特征在于，所述当判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配的过程为判断所述第一最大存储设备磁盘卷值和第二最大存储设备磁盘卷值是否相等。
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Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN107452427B (zh) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109101378A (zh) * | 2018-07-20 | 2018-12-28 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种自动化测试存储设备历史报表工具的方法及*** |
| CN109151454A (zh) * | 2018-07-26 | 2019-01-04 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种测试异常断电丢失数据量的方法及*** |
| CN112285479A (zh) * | 2020-12-24 | 2021-01-29 | 北京中超伟业信息安全技术股份有限公司 | 一种保密介质完整性检测***和方法 |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101192185A (zh) * | 2006-11-30 | 2008-06-04 | 英业达股份有限公司 | 冗余式磁盘阵列存储数据可靠性测试方法及*** |
| CN102097133A (zh) * | 2010-12-31 | 2011-06-15 | 中国人民解放军装备指挥技术学院 | 一种海量存储***的可靠性测试***及测试方法 |
| CN102147770A (zh) * | 2011-03-28 | 2011-08-10 | 杭州电子科技大学 | 一种存储资源管理***及方法 |
| CN102520891A (zh) * | 2011-12-31 | 2012-06-27 | 曙光信息产业股份有限公司 | 存储映射方法 |
| CN104035839A (zh) * | 2014-06-12 | 2014-09-10 | 上海交通大学 | Android***隐私数据恢复实现方法 |
| CN105389230A (zh) * | 2015-10-21 | 2016-03-09 | 上海爱数信息技术股份有限公司 | 一种结合快照技术的持续数据保护***及方法 |
| US20160246672A1 (en) * | 2015-02-23 | 2016-08-25 | Sandisk Technologies Inc. | Method and apparatus for configuring a memory device |
| US20160266991A1 (en) * | 2014-04-30 | 2016-09-15 | Netapp Inc. | Preventing non-detectable data loss during site switchover |
-
2017
- 2017-08-03 CN CN201710657120.2A patent/CN107452427B/zh active Active
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101192185A (zh) * | 2006-11-30 | 2008-06-04 | 英业达股份有限公司 | 冗余式磁盘阵列存储数据可靠性测试方法及*** |
| CN102097133A (zh) * | 2010-12-31 | 2011-06-15 | 中国人民解放军装备指挥技术学院 | 一种海量存储***的可靠性测试***及测试方法 |
| CN102147770A (zh) * | 2011-03-28 | 2011-08-10 | 杭州电子科技大学 | 一种存储资源管理***及方法 |
| CN102520891A (zh) * | 2011-12-31 | 2012-06-27 | 曙光信息产业股份有限公司 | 存储映射方法 |
| US20160266991A1 (en) * | 2014-04-30 | 2016-09-15 | Netapp Inc. | Preventing non-detectable data loss during site switchover |
| CN104035839A (zh) * | 2014-06-12 | 2014-09-10 | 上海交通大学 | Android***隐私数据恢复实现方法 |
| US20160246672A1 (en) * | 2015-02-23 | 2016-08-25 | Sandisk Technologies Inc. | Method and apparatus for configuring a memory device |
| CN105389230A (zh) * | 2015-10-21 | 2016-03-09 | 上海爱数信息技术股份有限公司 | 一种结合快照技术的持续数据保护***及方法 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 刘凯: "《存储技术基础》", 31 December 2011 * |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109101378A (zh) * | 2018-07-20 | 2018-12-28 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种自动化测试存储设备历史报表工具的方法及*** |
| CN109151454A (zh) * | 2018-07-26 | 2019-01-04 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种测试异常断电丢失数据量的方法及*** |
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