CN107402346A - 电路板测试*** - Google Patents

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    • G—PHYSICS
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Abstract

本发明提供一种电路板测试***，包括一电脑主机以及电性连接至该电脑主机的一电表。电脑主机内设置一测试程序且该测试程序于该电脑主机的一屏幕显示一测试接口。当使用者于该测试接口输入一电路板的电路板编号时，该测试程序于该测试接口显示对应该电路板的至少一测试点名称，并于该电表传送该测试点的一电性数值至该电脑主机时将该电性数值记录于一测试结果记录表。本发明不需要治具即可自动记录电路板的测试结果。

Description

电路板测试***
技术领域
本发明涉及一种测试***，尤其涉及一种电路板的测试***。
背景技术
在电子产品的制造过程中，需要对电子产品内的电路板进行测试。测试的项目则依据客户的要求而定。一般而言，客户会指定对电路板上的几个区域进行电阻值或电压值的测量。依据所测量的电阻值或电压值是否位于预定的规格范围内，而判断电路板是否正常运作。
在现有技术中，工厂会先针对要测量的电路板以及电路板上的预定测试点制作测试治具。使用治具对电路板进行测试而获得电路板的测试结果数据。
然而，在实际的情况中，在已经确定电路板测试点的情况下，依然有可能临时需要再增加其它的测试点。此时便需要为了新增的测试点而制作新的治具。然而，治具的制作通常需要二至三天的时间，造成无法符合预定的测试时程的问题。此时便需要由作业员以人工方式用电表测出新增测试点的电阻/电压值，再用人工记录所获得的数值并自行判断是否符合规格。
使用人工测量及记录测试结果的方式不但效率不佳，且容易因为人工作业的疏失而产生错误的记录。因此需要一种新颖的电路板的测试***来解决现有技术的问题。
发明内容
本发明的主要目的在提供一种不需要治具即可自动记录电路板的测试结果的电路板测试***。
于本发明的较佳实施例中提供一种电路板测试***，包括：一电脑主机，包括一电路板规格表以及一测式程序，其中该电路板规格表包括一电路板编号，对应该电路板编号的至少一测试点名称以及对应该测试点名称的一规格范围；一屏幕，电性连接于该电脑主机，用以显示一测试接口且该测试接口由该测试程序产生，其中该测试接口包括一电路板编号栏位；一电表，电性连接于该电脑主机，用以测量一电路板上的至少一测试点的电性数值；其中，于该电路板编号被输入该电路板编号栏位时，该测试接口显示对应该电路板编号的一该测试点名称，并于该电表传送该测试点的一电性数值至该电脑主机时，该测试程序将该电性数值记录于一测试结果记录表。
附图说明
图1是本发明电路板测试***的示意图。
图2是使用本发明测试***的一电路板的一实施例示意图。
图3是本发明测试结果记录表的一实施例示意图。
图4A-4D是本发明测试接口于测试过程的画面的一实施例示意图。
附图标记说明：
10电脑主机 61二维条码栏位
20屏幕 70电路板
30电表 71二维条码
40探针 80测试结果记录表
50测试程序 TP1-TP6测试点
60测试接口 A,B,C,D,E测试结果记录表栏位
具体实施方式
请参照图1及图2。图1是本发明电路板测试***的一较佳实施例示意图。图2是使用本发明测试***的电路板的一实施例示意图。图1显示本发明***包括一电脑主机10，一屏幕20以及一电表30。电脑主机10设置有一测试程序50且测试程序50于屏幕20显示一测试接口60。探针40则连接于电表30。电路板70具有多个电子元件以及线路布局。于图2电路板70预设了6个测试点TP1-TP6。图2还显示了电路板70被贴附二维条码71做为该电路板70的参考编号。
电表30用以测量每一测试点的电性数值，例如电阻值或电压值。将探针40与测试点接触即可于电表30显示该测试点的电阻/电压值。电表30电性连接于电脑主机10以便将所获得的测试点的数值传送至电脑主机10。测试接口60具有一电路板编号栏位61。
请参照图3及图4A-4D。图3显示本发明测试结果记录表的一实施例示意图。图3的测试结果记录表80包括一编号栏位A，测试结果栏位B，测试点名称栏位C，电路板的测试时间D以及测试该电路板所花费的时间E。编号栏位A记录电路板的二维条码。测试结果栏位B记录了每一测试点的电压值的规格范围，亦即电压值的上限值及下限值。测试点的数值落于上限值及下限值之间者，测试结果为通过测试(PASS)。若数值不在上限值与下限值之间者，测试结果为未通过测试(FAIL)。测试时间栏位D则用以记录电路板被测试的时间，以便日后查询。而测试花费时间栏位E则记录电路板被测试完成所花费的时间，可用以评估测试的速度。
以下通过图4A-4D详细说明本案电路板测试***的操作方法。首先，测试接口60显示一二维条码栏位61，如图4A所示。作业员将电路板70的二维条码输入二维条码栏位61。电脑主机10具有一电路板数据库，于该数据库中储存多个待测试电路板的二维条码以及对应每一电路板的测试点名称及相关的电路布局数据。电脑主机10的程序50依据该电路板数据库及作业员输入的电路板的二维条码而在测试接口60显示电路板70的测试点的名称。于图4B中以测试点TP1为例。接着，作业员对测试接口60显示的测试点TP1进行测量。亦即，作业员将电表30的探针40与电路板70的测试点TP1接触，因此获得测试点TP1的电性数值，例如电压值。该电压值由电表30传送至电脑主机10。测试程序50则判断电表传送的数值是否落入规格范围内。于此判断过程中，测试接口60显示”测试中”的讯息，提供作业员目前的测试进度讯息。特别说明的是，于一较佳实施例中，程序50于作业员输入电路板的二维条码时开始计时，若于一预定时间长度内未收到来自电表30传送的测试点的数值，则程序50将显示”未通过测试”讯息。此计时的设定在于防止电表无法测量测试点的数值时，例如因为测试点因焊接不良而未与电路板的线路形成导通，作业员不会一直空等，而能够立即发现问题。
当测试点TP1的电压值落于规格范围内时，测试程序50于测试接口60显示测试点TP1的电压值以及“通过测试”讯息，如图4C所示。当然，若测试点TP1的电压值未落于规格范围内，则测试程序50将显示“未通过测试”讯息，如图4D所示。如前面关于图3的说明，于测试的过程中，测试程序50将被测试的电路板70的二维条码记录于测试结果记录表80的栏位A，将测式点TP1的电压值记录于栏位C，并且记录电路板70的测试时间以及该次测试所花费的时间。电路板70的其余测试点的测试流程与测试点TP1相同，于此不再赘述。
换言之，在测试的过程中，作业员只需在测试接口输入电路板的二维条码，便可于测试接口得知将被测试的测试点名称。接着只需将电表的探针接触测试点，电表即可测量测试点的数值并传送至电脑主机。电脑主机的测试程序可主动记录测试点的数值并自动判断测试是否通过。此外，程序也主动记录每一测试点的数值，测试的结果，测试的时间及所花费的时间。亦即，在不需要治具的情况下，作业员仅需要输入电路板的二维条码并依据测试接口显示的信息进行测试点数据的测量，即可由程序主动产生测试结果记录表，而不需要由人工进行是否通过测试以及记录相关的数值。因此提升了增加电路板测试的效率。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，并非用以限定本发明的权利要求，因此凡其它未脱离本发明所公开的精神下所完成的等效改变或修饰，均应包含于本案的权利要求内。

Claims (9)

1.一种电路板测试***，包括：
一电脑主机，包括一电路板规格表以及一测式程序，其中该电路板规格表包括一电路板编号，对应该电路板编号的至少一测试点名称以及对应该测试点名称的一规格范围；
一屏幕，电性连接于该电脑主机，用以显示一测试接口且该测试接口由该测试程序产生，其中该测试接口包括一电路板编号栏位；以及，
一电表，电性连接于该电脑主机，用以测量一电路板上的至少一测试点的电性数值；其中，于该电路板编号被输入该电路板编号栏位时，该测试接口显示对应该电路板编号的一该测试点名称，并于该电表传送该测试点的一电性数值至该电脑主机时，该测试程序将该电性数值记录于一测试结果记录表。
2.如权利要求1的电路板测试***，其中该电性数值是电阻值或电压值。
3.如权利要求1的电路板测试***，其中该测式程序于接收该电路板编号后，于该测试接口显示该测试点名称。
4.如权利要求1的电路板测试***，其中该测试程序于该电路板编号被输入该电路板编号栏位时开始计时一预定时间长度，当测试程序于该预定时间长度内未接收到该电表传送该测试点的该电性数值时，于该测式接口显示一未通过测试讯息。
5.如权利要求1的电路板测试***，其中该测试结果记录表还包括记录该电路板编号，该至少一测试点，该至少一测试点的测试结果以及该至少一测试点的一测试时间。
6.如权利要求5的电路板测试***，其中该测试结果是通过测试或未通过测试。
7.如权利要求6的电路板测试***，其中该测试程序于该电表传送的该测试点的该电性数值位于该规格范围内时，于该测试接口显示一通过测试讯息并记录于该测试结果记录表内，而于该电表传送的该测试点的该电性数值位不在该规格范围内时，于该测试接口显示一未通过测试讯息并记录于该测试结果记录表内。
8.如权利要求1的电路板测试***，其中该测试程序于接收该电表传送的该测试点的该电性数值时，将该电性数值显示于该测试接口。
9.如权利要求1的电路板测试***，其中该电路板编号是一二维条码。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110473797A (zh) * 2019-07-08 2019-11-19 盐城华旭光电技术有限公司 半导体集成电路装置的检查***及方法
CN113030692A (zh) * 2019-12-09 2021-06-25 新唐科技股份有限公司 测试***和测试方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101571569A (zh) * 2008-04-29 2009-11-04 光纤电脑科技股份有限公司 元件检测的***及其方法
CN101769986A (zh) * 2009-01-06 2010-07-07 名硕电脑(苏州)有限公司 测试装置及其测试方法
US20110113298A1 (en) * 2009-11-10 2011-05-12 Van Den Eijnden Petrus Marinus Cornelis Maria Method of and an arrangement for testing connections on a printed circuit board
CN102590730A (zh) * 2012-01-16 2012-07-18 中冶南方（武汉）自动化有限公司 模块化开放性pcba功能测试平台、测试***及方法
CN203981835U (zh) * 2014-07-04 2014-12-03 深圳市普兰电子技术有限公司 一种适用于pcba测试的便携式自动测试设备
CN104730446A (zh) * 2013-12-19 2015-06-24 致伸科技股份有限公司 电路板的测试***

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101571569A (zh) * 2008-04-29 2009-11-04 光纤电脑科技股份有限公司 元件检测的***及其方法
CN101769986A (zh) * 2009-01-06 2010-07-07 名硕电脑(苏州)有限公司 测试装置及其测试方法
US20110113298A1 (en) * 2009-11-10 2011-05-12 Van Den Eijnden Petrus Marinus Cornelis Maria Method of and an arrangement for testing connections on a printed circuit board
CN102590730A (zh) * 2012-01-16 2012-07-18 中冶南方（武汉）自动化有限公司 模块化开放性pcba功能测试平台、测试***及方法
CN104730446A (zh) * 2013-12-19 2015-06-24 致伸科技股份有限公司 电路板的测试***
CN203981835U (zh) * 2014-07-04 2014-12-03 深圳市普兰电子技术有限公司 一种适用于pcba测试的便携式自动测试设备

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110473797A (zh) * 2019-07-08 2019-11-19 盐城华旭光电技术有限公司 半导体集成电路装置的检查***及方法
CN113030692A (zh) * 2019-12-09 2021-06-25 新唐科技股份有限公司 测试***和测试方法
CN113030692B (zh) * 2019-12-09 2024-04-09 新唐科技股份有限公司 测试***和测试方法

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