CN107316659A - 存储器掉电时间段定位方法及***掉电保护方法 - Google Patents
存储器掉电时间段定位方法及***掉电保护方法 Download PDFInfo
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Abstract
本发明公开了一种存储器掉电时间段定位方法，包括：以第一时间段为步长，对指令过程进行逐步掉电测试，定位出所述指令过程中在存储器中编程的编程时间段；逐次在所述编程时间段中进行逐步掉电测试，定位出所述存储器的掉电时间段，在各次定位中，下一次逐步掉电测试采用的掉电测试步长小于上一次逐步掉电测试采用的掉电测试步长，下一次逐步掉电测试在上一次逐步掉电测试所定位出的掉电时间段中进行。对指令过程进行逐次定位，在各次定位中依次减小掉电测试的测试步长时间段，来逐次定位出存储器编程过程中掉电时间段，能够实现对存储器掉电时间段的准确定位。本发明还公开一种采用上述存储器掉电时间段定位方法的***掉电保护方法。
Description
技术领域
本发明涉及掉电测试技术领域，特别是涉及一种存储器掉电时间段定位方法。本发明还涉及一种***掉电保护方法。
背景技术
现有技术中，对***中存储器进行掉电时间段的定位测试中，对整条指令过程进行掉电测试，如果测试时间步长设置过小，会导致整个掉电测试所消耗的时间过长，而测试时间步长设置较大，又会降低存储器掉电时间段的命中率。
因此，如何能实现对存储器掉电时间段的快速准确定位，克服现有技术存在的缺点，就成为本领域技术人员需要解决的技术问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种存储器掉电时间段定位方法，能够实现对存储器掉电时间段的准确定位。本发明还提供一种***掉电保护方法。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种存储器掉电时间段定位方法，包括：
以第一时间段为步长，对指令过程进行逐步掉电测试，定位出所述指令过程中在存储器中编程的编程时间段；
逐次在所述编程时间段中进行逐步掉电测试，定位出所述存储器的掉电时间段，在各次定位中，下一次逐步掉电测试采用的掉电测试步长小于上一次逐步掉电测试采用的掉电测试步长，下一次逐步掉电测试在上一次逐步掉电测试所定位出的掉电时间段中进行。
可选地，所述以第一时间段为步长，对指令过程进行逐步掉电测试，定位出所述指令过程中在存储器中编程的编程时间段包括：
逐步读取在指令过程中所述存储器存储区域内的值，将所述存储器存储区域内的值为被修改值的时间段以及为其它值的时间段，确定为所述编程时间段，其它值指区别于未修改值和被修改值的值。
可选地，进行逐步掉电测试包括：
卡片上电，并接收所述存储器发送的用于读取存储器存储区域内的值的读取指令，在经过预设时间段后卡片掉电；
卡片再次上电，读取到所述存储器存储区域内的值。
可选地，在所述读取到所述存储器存储区域内的值之后还包括：
判断所读取出的值是否为未修改值、被修改值或者其它值，其它值指区别于未修改值和被修改值的值；
若所读取出的值为未修改值，表明掉电时间点未到达所述存储器的编程过程；
若所读取出的值为被修改值，表明掉电时间点在所述存储器的编程过程之后；
若所读取出的值为其它值，表明掉电时间点处于所述存储器的编程过程中。
可选地，所述逐次在所述编程时间段中进行逐步掉电测试，定位出所述存储器的掉电时间段包括：
以第二时间段为步长，在所述编程时间段中进行逐步掉电测试，定位出所述存储器存储区域内的值为其它值的时间段，其它值指区别于未修改值和被修改值的值；
以第三时间段为步长，在所定位出的所述存储器存储区域内的值为其它值的时间段中进行逐步掉电测试，定位出掉电时间段；
所述第二时间段小于所述第一时间段，所述第三时间段小于所述第二时间段。
一种***掉电保护方法，包括：
在识别到所述***平台出现掉电时，触发掉电保护开始并进行记录；
将旧数据写入备份区；
将新数据写入目标区；
在掉电保护完成后标记掉电保护完成；
采用以上所述的存储器掉电时间段定位方法，依次对掉电保护开始标记过程、备份旧数据过程、写入新数据过程、掉电保护完成标记过程进行掉电时间段定位。
可选地，对掉电保护开始标记过程、备份旧数据过程、写入新数据过程、掉电保护完成标记过程进行掉电时间段定位，在数据回滚机制启用之前进行。
由上述技术方案可知，本发明所提供的存储器掉电时间段定位方法，首先以第一时间段为步长，对指令过程进行逐步掉电测试，定位出指令过程中在存储器中编程的编程时间段，然后在所定位出的编程时间段中进行逐步掉电测试，在各次定位中，下一次逐步掉电测试采用的掉电测试步长小于上一次逐步掉电测试采用的掉电测试步长，下一次逐步掉电测试在上一次逐步掉电测试所定位出的掉电时间段中进行。本发明存储器掉电时间段定位方法，对指令过程进行逐次定位，在各次定位中依次减小掉电测试的测试步长时间段，来逐次定位出存储器编程过程中掉电时间段，能够实现对存储器掉电时间段的准确定位。
本发明所提供的***掉电保护方法，在识别到***平台出现掉电时，触发掉电保护开始并进行记录，将旧数据写入备份区；然后将新数据写入目标区，在掉电保护完成后标记掉电保护完成。通过采用存储器掉电时间段定位方法对各个过程依次进行掉电时间段的定位测试，能够实现对***各个过程中掉电时间段的准确定位。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种存储器掉电时间段定位方法的流程图；
图2为本发明实施例提供的一种***掉电保护方法的流程图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
请参考图1，本发明实施例提供的一种存储器掉电时间段定位方法，包括步骤：
S10：以第一时间段为步长，对指令过程进行逐步掉电测试，定位出所述指令过程中在存储器中编程的编程时间段。
具体本步骤中，以第一时间段为步长，逐步读取在指令过程中所述存储器存储区域内的值，将所述存储器存储区域内的值为被修改值的时间段以及为其它值的时间段，确定为所述编程时间段，其它值指区别于未修改值和被修改值的值。
卡片与***存储器交易过程中，若存在对存储器的编程过程，编程过程为先擦后写，相应的，存储器存储区域内值的存储持续时间段包括：初始值阶段、编程值阶段、其它值阶段。
初始值阶段：卡片接收指令，应用进行逻辑处理。此阶段过程中存储区域内值未被修改。
编程值阶段：应用修改数据完成，卡片响应数据，此阶段过程中存储区域内值已被修改。
其它值阶段：包括擦除过程，编程过程。
因此本步骤中，读取存储器存储区域内的值，判断读取到的值是否为未修改值、被修改值或者其它值，来定位编程过程。
本步骤中，进行逐步掉电测试的过程包括：以第一时间段为步长重复进行以下过程：
S100：卡片上电，并接收所述存储器发送的、用于读取存储器存储区域内的值的读取指令，在经过第一时间段后卡片掉电；
S101：卡片再次上电，读取到所述存储器存储区域内的值。
进一步还包括步骤S102：判断所读取出的值是否为未修改值、被修改值或者其它值，其它值指区别于未修改值和被修改值的值。
通过以上逐步掉电测试过程，将所述存储器存储区域内的值为被修改值的时间段以及为其它值的时间段，确定为所述编程时间段。
比如，以第一时间段为20ms进行掉电测试，则依次进行以下过程：
卡片上电，接收读取指令，20ms后卡片掉电。
卡片上电，读取到存储区域内的值，得到结果为未修改值。
卡片上电，接收读取指令，40ms后卡片掉电。
卡片上电，读取到存储区域内的值，得到结果为未修改值。
......
卡片上电，接收读取指令，140ms后卡片掉电。
卡片上电，读取到存储区域内的值，得到结果为其它值。
卡片上电，接收读取指令，160ms后卡片掉电。
卡片上电，读取到存储区域内的值，得到结果为被修改值。
得到卡片的编程时间段在120ms-160ms之间。
S11：逐次在所述编程时间段中进行逐步掉电测试，定位出所述存储器的掉电时间段，在各次定位中，下一次逐步掉电测试采用的掉电测试步长小于上一次逐步掉电测试采用的掉电测试步长，下一次逐步掉电测试在上一次逐步掉电测试所定位出的掉电时间段中进行。
其中，每次在定位出的时间段中进行逐步掉电测试的过程包括：以预设时间段为步长重复进行以下过程：
S110：卡片上电，并接收所述存储器发送的、用于读取存储器存储区域内的值的读取指令，在经过预设时间段后卡片掉电。
其中，每次在定位出的时间段中进行逐步掉电测试时，采用相应的预设时间段为步长。
S111：卡片再次上电，读取到所述存储器存储区域内的值。
S112：判断所读取出的值是否为未修改值、被修改值或者其它值，其它值指区别于未修改值和被修改值的值。
若所读取出的值为未修改值，表明掉电时间点未到达所述存储器的编程过程；若所读取出的值为被修改值，表明掉电时间点在所述存储器的编程过程之后；若所读取出的值为其它值，表明掉电时间点处于所述存储器的编程过程中。
通过本方法在每次定位出的时间段中进行逐步掉电测试。
在一种具体实施方式中，本步骤中包括：
S110：以第二时间段为步长，在所述编程时间段中进行逐步掉电测试，定位出所述存储器存储区域内的值为其它值的时间段，其它值指区别于未修改值和被修改值的值，所述第二时间段小于所述第一时间段。
比如，降低时间精度，以第二时间段为2ms为步长，对定位出的120ms-160ms时间段范围进行逐步掉电测试。具体测试过程可参考上述方法描述过程，定位出编程时间段在138ms-142ms之间。
S111：以第三时间段为步长，在所定位出的所述存储器存储区域内的值为其它值的时间段中进行逐步掉电测试，定位出掉电时间段，所述第三时间段小于所述第二时间段。
比如，再降低时间精度，以第三时间段为500us为步长，对定位出的138ms-142ms时间段范围进行逐步掉电测试，同样方法得到编程时间段在139ms-141ms之间。
进一步的，使用最低级别的时间精度，比如以10us为步长，在139ms-141ms时间段范围内进行逐步掉电测试，定位出掉电时间点。
可以看出，本实施例存储器掉电时间段定位方法，对指令过程进行逐次定位，在各次定位中依次减小掉电测试的测试步长时间段，来逐次定位出存储器编程过程中掉电时间段，能够实现对存储器掉电时间段的准确定位。
请参考图2，本发明实施例还提供一种***掉电保护方法，包括步骤：
S20：在识别到所述***平台出现掉电时，触发掉电保护开始并进行记录；
S21：将旧数据写入备份区；
S22：将新数据写入目标区；
S23：在掉电保护完成后标记掉电保护完成；
S24：采用如上所述的存储器掉电时间段定位方法，依次对掉电保护开始标记过程、备份旧数据过程、写入新数据过程、掉电保护完成标记过程进行掉电时间段定位。
可以看出，本实施例***掉电保护方法，在识别到***平台出现掉电时，触发掉电保护开始并进行记录，将旧数据写入备份区；然后将新数据写入目标区，在掉电保护完成后标记掉电保护完成。通过采用存储器掉电时间段定位方法对各个过程依次进行掉电时间段的定位测试，能够实现对***各个过程中掉电时间段的准确定位。
进一步的，本实施例方法中，对掉电保护开始标记过程、备份旧数据过程、写入新数据过程、掉电保护完成标记过程进行掉电时间段定位，在数据回滚机制启用之前进行。
***进行掉电保护过程中对应的会存在数据回滚过程。会使存储区域内数据恢复到初始值或者编程值，本方法中对各过程的掉电时间段的定位在数据回滚机制启用之前进行，这样避免在进行掉电时间段定位时读取存储区域内的数据，数据已被恢复，而导致不能准确定位。
以上对本发明所提供的一种存储器掉电时间段定位方法及***掉电保护方法进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。
Claims (7)
1.一种存储器掉电时间段定位方法，其特征在于，包括：
以第一时间段为步长，对指令过程进行逐步掉电测试，定位出所述指令过程中在存储器中编程的编程时间段；
逐次在所述编程时间段中进行逐步掉电测试，定位出所述存储器的掉电时间段，在各次定位中，下一次逐步掉电测试采用的掉电测试步长小于上一次逐步掉电测试采用的掉电测试步长，下一次逐步掉电测试在上一次逐步掉电测试所定位出的掉电时间段中进行。
2.根据权利要求1所述的存储器掉电时间段定位方法，其特征在于，所述以第一时间段为步长，对指令过程进行逐步掉电测试，定位出所述指令过程中在存储器中编程的编程时间段包括：
逐步读取在指令过程中所述存储器存储区域内的值，将所述存储器存储区域内的值为被修改值的时间段以及为其它值的时间段，确定为所述编程时间段，其它值指区别于未修改值和被修改值的值。
3.根据权利要求1所述的存储器掉电时间段定位方法，其特征在于，进行逐步掉电测试包括：
卡片上电，并接收所述存储器发送的用于读取存储器存储区域内的值的读取指令，在经过预设时间段后卡片掉电；
卡片再次上电，读取到所述存储器存储区域内的值。
4.根据权利要求3所述的存储器掉电时间段定位方法，其特征在于，在所述读取到所述存储器存储区域内的值之后还包括：
判断所读取出的值是否为未修改值、被修改值或者其它值，其它值指区别于未修改值和被修改值的值；
若所读取出的值为未修改值，表明掉电时间点未到达所述存储器的编程过程；
若所读取出的值为被修改值，表明掉电时间点在所述存储器的编程过程之后；
若所读取出的值为其它值，表明掉电时间点处于所述存储器的编程过程中。
5.根据权利要求1-4任一项所述的存储器掉电时间段定位方法，其特征在于，所述逐次在所述编程时间段中进行逐步掉电测试，定位出所述存储器的掉电时间段包括：
以第二时间段为步长，在所述编程时间段中进行逐步掉电测试，定位出所述存储器存储区域内的值为其它值的时间段，其它值指区别于未修改值和被修改值的值；
以第三时间段为步长，在所定位出的所述存储器存储区域内的值为其它值的时间段中进行逐步掉电测试，定位出掉电时间段；
所述第二时间段小于所述第一时间段，所述第三时间段小于所述第二时间段。
6.一种***掉电保护方法，其特征在于，包括：
在识别到所述***平台出现掉电时，触发掉电保护开始并进行记录；
将旧数据写入备份区；
将新数据写入目标区；
在掉电保护完成后标记掉电保护完成；
采用权利要求1-5任一项所述的存储器掉电时间段定位方法，依次对掉电保护开始标记过程、备份旧数据过程、写入新数据过程、掉电保护完成标记过程进行掉电时间段定位。
7.根据权利要求6所述的***掉电保护方法，其特征在于，对掉电保护开始标记过程、备份旧数据过程、写入新数据过程、掉电保护完成标记过程进行掉电时间段定位，在数据回滚机制启用之前进行。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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