CN107290578B - 最终发生时触发 - Google Patents

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Abstract

提供了最终发生时触发。本公开总地涉及测试和测量仪器,所述测试和测量仪器被结构化为检测一系列事件已发生,并且被结构化为响应于检测到所述一系列事件中的最终事件已发生而生成触发信号。可以基于超时信号,或者基于另一事件、触发或信号,来生成触发。可以相对于最终事件的检测来标记在采集存储器中存储的数据。外部强制超时信号可以控制一系列事件中的哪个事件被标记为最终事件。在满足另一触发之后可以使能最终事件时触发,并且最终事件时触发可以用作许多不同类型触发之一。

Description

最终发生时触发
相关申请的交叉引用
本申请是2016年2月5号提交的、题为TRIGGER ON FINAL OCCURRENCE的美国临时专利申请62/292,085的非临时申请并且要求该美国临时专利申请的权益,该临时申请的内容通过引用并入本文。
技术领域
本公开总地涉及诸如数字示波器的测试和测量仪器,并且更具体地,涉及这样的仪器中的触发模式。
背景技术
近年来,诸如PCIe和以太网的若干高速串行数据通信标准已经定义了在数据通道上的节点之间的一组发起序列,用于优化通过数据通道的通信的最大速度。这些发起或训练序列具有定义的协议,该定义的协议具有确切的起始点但是具有宽可变持续时间,该宽可变持续时间主要取决于串行通道中的衰减量。对于100Gbps以太网,训练序列的范围可以在从200ms到500ms的持续时间中。用户具有这样的期望:能够确定训练序列中最终动作的结果,例如确定协定协议的最终结果,但是目前没有直接捕捉这样的结果的方式。
尽管在目前的示波器中使用非常长的数据记录长度,但是当发起高速数据通道时,示波器往往不能完全捕捉到完整训练序列。即便是示波器中的数据采集存储器可以存储足够长的记录来捕捉整个训练序列,处理这样的大记录所需的时间量是许多分钟,并且将负面影响仪器的吞吐量。因此,搜索最终序列的软件也未满足用户的需要,这归因于处理这样的长记录中的长延迟。
本发明的实施例解决现有技术的这些和其他限制。
附图说明
图1是根据本发明实施例的在重复样式的最终发生时生成触发的示例。
图2是图示本发明的实施例可以如何结合多个触发器使用的训练序列的示例图。
图3是根据本发明实施例的在最终发生时触发的示例实现的信号流图。
图4是在其中实现最终发生时触发的一个实施例的测试和测量***的示例的框图。
具体实施方式
各种已知触发技术在“触发基本原则(Triggering Fundamentals)”——www.Tektronix.com/oscilloscopes,Tektronix版权2011中有描述,特此通过引用并入该“触发基本原则”。
本发明的实施例涉及在事件最终发生时触发。如在触发基本原则参考文档中所描述的,已知的是在新事件时触发——例如,如果在示波器的特定输入通道上的信号从HIGH改变为LOW,或者当输入信号穿过预设阈值水平时。而且,触发事件不需要一定是基于正被示波器的输入通道接收而是代之以可以来自不同源的数据,诸如时间段期满或者其他外部事件。触发事件可以导致在示波器中或上发生很多事,诸如阻止来自输入通道的数据在从触发事件的某个触发后延迟之后被存储在采集存储器中,以及后续被显示、分析、存储到非易失性存储器,等等。
然而,有时存在捕捉与一系列事件中的事件的“最终”发生有关的数据。在目前的示波器中,没有区分与事件的最终发生有关的输入数据的方式。相反,本发明的实施例有意地在每个事件之后继续将数据存储在采集存储器中,并且然后,在最终触发事件发生时,将先前存储的数据中的某个位置标记为关注数据的开始。下文详细地阐述该概念的许多细节和变型。
为了在事件“最终”发生时触发,假定存在可以忽略的非最终事件。例如,如果特定数据样式重复八次,则前七次样式重复是非最终事件,而第八次重复是最终发生。当重现的次数是已知的时候,这可以相对容易地跟踪,但是当重现的次数是未知的时候,探明最终发生要困难得多,或者可变时更加困难。因此,本发明的实施例使用多种不同方法和技术来确定事件的特定发生何时是最终发生。然后,在标识最终发生之后,例如,可以检索和分析关于最终发生的数据。
图1是示例波形图,其示出在诸如示波器的测试仪器中的最终发生时触发的简化示例。
在该示例中,在波形100中存在一系列宽脉冲104A-104D以及多个窄脉冲102。示波器正在尝试确定波形100中的哪个宽脉冲104是宽脉冲的最终发生。在该示例中,计时器帮助确定宽脉冲104的最终发生。参照波形100,存在跟随在每个宽脉冲104之后的重复时段106。例如,重复时段106A是介于宽脉冲104A与104B之间的时间。下一重复时段106B跟随在宽脉冲104B之后,等等。每个重复时段106具有最大持续时间,该最大持续时间可以通过计时器(未图示,但是在示波器上非常常见)来测量。一种确定最后宽脉冲104D是波形100中的最终发生的方式是:设置计时器为在重复时段106的最大持续时间处超时。如果事件还未在超时时段结束前重复,则示波器先前接收的最后事件被确定为系列中的最后一个。该确定可以用于阻止在采集存储器中的数据存储和发起显示、分析、非易失性存储等等。在所说明的示例中,超时时段108超过重复时段106的最大长度。因此,由于在跟随在106C之后的超时时段内没有发生宽脉冲104,示波器确定宽脉冲104D是宽脉冲104在波形100中的最后或最终发生。在该示例中,在超时点110处做出该确定,该超时点110是通过将超时时段108添加到最后重复时段106C的结尾来确定的。因此,最后宽脉冲104是在超时时段108之前已发生的宽脉冲,如所图示的,该宽脉冲是宽脉冲104D。
超时时段108可以以各种方式来确定。例如,如果重复时段106的最大持续时间是已知的,则其可以被预设。其也可以通过测量重复时段的平均数、然后添加超时余量来自动计算。例如,如果平均重复时段106在经验上确定为15μs,则超时时段108可以被设置在17μs、20μs或者长于15μs的任何其他时间,这例如取决于期望平均重复时段的容限有多紧。超时时段还可以被设置为恰好在测试时段期间观察到的多个重复时段的最大持续时间之上。例如,如果在采样时段之后最大重复时段已被确定为88ms,则超时时段可以被设置在90ms。当然,设置超时时段的其他方法也是可能的,并且本发明的实施例可以与任何这样的方法一起工作。
在已经确定了重复事件的最终发生之后,示波器确定触发位置,例如对于波形100的触发位置115。在现有技术触发操作中,可以通过从所获取的记录的结束减去触发后延迟来确定所获取的记录内的触发位置。然而,由于触发事件的最终发生可能未在发生时被确定,所以要求不同的方法。确定最终发生的触发位置的一种方法是从超时点110减去超时时段108,在超时点110中超时已发生并且采集已结束。因此,从超时点110减去超时时段108给出在最后宽脉冲104D的下降沿处(104D被标识为宽脉冲但是刚好在其可以被确定为最终宽脉冲之前的时间)的触发位置115。关于波形100的数据或者波形100自身被存储在示波器的采集存储器中,这在触发位置115之前开始。实践中,关于波形100的数据可以已经被存储在采集存储器中,该采集存储器被设置为如循环缓冲区那样操作。换言之,在触发事件之前,采集存储器可以在波形数据100正被提供给示波器时正存***形数据100,但是由于仅存在有限可用量的采集存储器,所以当波形100继续时通过新数据来覆写最旧波形数据100。通常,循环缓冲区被设置大小为既在触发事件之前也在触发事件之后捕捉期望量的数据,并且触发后延迟被设置为仅在触发事件之后的期望数据的持续时间内继续采集。然而,本发明的实施例将循环缓冲区设置大小为在超时时段期间继续存储数据,而不覆写期望预触发数据,于是在建立触发点之后,有效地“检索”先前存储在采集缓冲区中的信息,未使循环缓冲区大小增加的情况下所述信息将已被覆写。换言之,本发明的实施例计算来自采集缓冲区的什么数据需要被保存,并且将围绕计算得到的最终发生时间的这样的数据标记为触发关注的数据。在一些上下文中,对关注数据的这种标记已知为加时间戳或者在数据采集存储器中生成时间戳。在图1中图示的示例中,假设波形100正被获取并且保存在采集存储器中。直到绊住(trip)触发为止,采集存储器中没有数据被标记为是重要的或需要被保存。在超时点110之后,示波器然后将采集存储器中已经获取的数据标记或加时间戳为是重要的,这在触发位置115之前期望预触发时间开始。下面给出该操作的更多细节。包括诸如示波器中的晶控时钟的非常准确超时计时器向使用以上过程确定的触发点给出非常准确的位置。如果超时计时器不是极其准确的,则在计算得到的触发点之前的附加数据可以被包括作为加时间戳后经触发数据的部分,以确保重要数据不会从采集存储器丢失。
图2图示了基于事件的最终发生来确定触发的一种更复杂的方法。图1中图示的示例仅仅牵涉到单个因子,即超时,而图2中的示例图示了二阶段确定。具体地,图2中的示例图表示用于建立100Gbps以太网的数据通信速度的训练序列。用户关注的数据被总地图示为关注数据142。本发明的实施例允许这样的关注数据142以直接方式被隔离,而目前隔离这样的数据是非常困难的。
该以太网训练信号120的协议包括第一初始化阶段,其后跟随重复训练阶段。通常但不是必要地,训练信号120中的初始化信号是模拟信号。如上文所描述的,各种输入可以用于触发。对于100G以太网标准,首先针对初始化信号122分析训练信号120,这被认为是“A”触发。在初始化阶段之后的长脉冲指示接收到初始化信号122之后,满足A触发,并且示波器针对“B”触发开始评估训练信号120。在该示例中,B触发是一系列B事件中的最终B事件,这类似于上文描述的超时示例。在图2中图示的示例中,在A触发处建立独特起始点126,这继而使能B触发。起始点126开始一时段,在该时段期间,示波器确定训练数据信号120中的“B”事件的最终发生。尽管可能存在跟随在起始点126之后的大量时间段,但是使用在延迟时间之后的B触发(B trigger-after-delay-by-time)使得示波器能够通过以下有效地丢弃或跳过训练信号120的部分128:不在A触发与B触发之间的部分128期间以及在B时间150期间重复的不重要时段期间捕捉(或者至少不保持,即通过在采集存储器缓冲区中覆写来不保持)训练数据信号120。这种触发配置允许设置B触发,以找到用于100Gbps以太网设置的训练序列期间重复的控制数据的首部,该首部的最后发生情况(incidence)是用户的关注数据142的区段。
在该示例中,B触发是脉宽模式,其搜索相对长的脉冲130以指示B事件150。“B”事件150在图2中指示为训练信号120中的脉冲130。B事件150还图示为在图2底部附近的隔离脉冲。B事件150大约每100μs重复,该大约每100μs用作重复时段124。在图2中,第一B事件150在指示为130A的时间段结束时发生,而第二B事件恰好在时间段130B之后发生。然后,许多B事件150重复,如训练信号120和B事件150中的虚线所指示的。在实际测试情况中,B事件150可以重复成百上千次,这说明了有效地跳过重复事件以选择最终事件的本发明的实施例为何是非常有用的。B事件150继续,直到在时间段130Y结束时图示的最终B事件为止。
超时电路测量跟随在每个脉冲130之后的时间量,并且仅在B事件150之后训练信号120已进展到长于超时时段时确定超时140发生。换言之,参照图2,超时时段图示为134,而重复时段图示为124。在时间段130Y处开始,计时电路确定训练信号120已继续到长于超时时段134而未生成另一B脉冲。因此,超时已被确定为在点140处发生,并且跟随在时间段130Y之后的B事件150已被确定为B脉冲的最终发生。然后,如上文所描述的,通过从超时已在140处发生处减去超时时段134,来确定用于捕捉最终B事件150的适当触发位置145。因此,触发位置被设置为时间段130Y的开始,其是当定位采集存储器内的关注数据142时参考为触发点的正确位置。
图3图示根据本发明实施例的可以如何使用触发来评估图2的训练信号120的示例流程图。参照图2和图3,输入接收训练信号120,并且然后,评估操作162确定触发A是否已经发生。在图2中,触发A是特定模拟信号122,但是本发明的实施例可以使用任何类型的触发作为触发A。例如,触发A可以是任何触发类型,诸如低频干扰(glitch)、系列、矮波(runt)、脉宽、超时等,或者任何其他已知类型的触发,或者根据本发明实施例的最终事件触发。
如果A触发是被评估的***中的仅有触发,则可以通过改变控制输入来将复用器168设置为仅评估A触发,并且不考虑B触发。在这样的实例中,流程的剩余部分继续,如下文更详细地描述的。
如果取代仅评估A触发,正考虑A触发和B触发二者,则一从操作162接收到A触发,触发状态机166就使得B触发能够在B触发评估操作164中被评估。触发状态机166还可以切换复用器168以针对B事件进行评估。在图2中,B触发评估是最终B事件,如上文所描述的那样。然而,本发明的实施例可以与任何类型的触发一起工作。
如参照图2所描述的,事件计时器170被设置为在特定时间超时,以确定最后B事件何时发生。或者,如果已通过使得复用器168能够评估A触发而已将***设置为监视最后A事件,则图3中图示的***可以针对最后A事件而搜索数据流。无论图3中图示的***正搜索哪个“最终事件”,事件计时器170都监视***以确定自最后B(或A,如果被复用器168选择的话)事件后是否已经经过了超时时间。如果B事件在超时时段内重现,则有效地没有事情发生并且没有B触发被触发。如果代之以没有B事件在超时时段内发生,则满足B触发,这是因为“最终”B事件已经发生。当满足B触发时,数据的采集在操作180中停止,这意味着防止新数据存储在示波器的采集存储器中,或者采集存储器的至少一部分被标记为被保存。然后,在操作182中,从超时事件的时间减去超时值,并且在采集存储器中的最后B事件发生所在的数据点处生成触发时间戳。这已通过以下在图2中图示:从超时140的确定减去超时时段134,以标记适当的触发位置145。然后,可以由用户评估关注数据,例如图2中的关注数据142。
在一些实施例中,事件计时器170可以不止包括简单超时。例如,在一些实施例中,事件计时器可以被设置为跳过介于一对两个时间值之间的中间时间值,但是基于在该对两个时间值外部的时间值来确定最终事件。例如,计时器170可以被设置为使用最大计时器来在即便是在超时之前没有事件发生的情况下触发最终B事件,如上文所描述的。也可以采用最小计时器来确保(可设置)时间在两个相邻脉冲之间经过。并且,如果两个相邻脉冲在最小时间内发生,则这两个相邻脉冲中的任一个可以被选择为关注脉冲,并且生成合适的时间戳来标记关注的采集数据。
事件计时器170可以包括任何类型的计时器,诸如倒计时、正计时、间隔、移位寄存器、模拟斜坡(ramp)或其他类型计时器。
沿着相同的线,强制超时信号184可以结合事件计时器170操作,以向用户提供附加控制。例如,强制超时184信号可以用于防止事件计时器170中的超时计时器在任何新输入事件时被重置,并因此迫使计时器170声明在强制超时信号184已被断言为最终事件之前已经过的最终事件,而无论附加事件是否在强制超时信号184被断言之后在数据中实际发生。在用户希望研究数据流的特定部分的情形中,可以由用户断言强制超时信号184。在这样的配置中,在使用强制超时184的情况下,时间戳相减操作182仍然操作,并且在强制超时信号184的断言之前将采集存储器中的数据触发时间戳设置为最终事件。
在另一模式中,强制超时信号184可以用于立即停止采集存储器中的数据采集,这是因为用户知道最终发生已经被捕捉到并存储在采集存储器中。在该实施例中,如果当每一个事件发生时针对采集存储器生成临时时间戳,则可以省略时间戳相减操作182。例如,参照图2,如果每次B事件150发生都已生成最终发生临时时间戳,则强制超时信号可以使得示波器立即将最后发生的临时时间戳标记为最终发生时间戳,以及将围绕这样的时间戳的数据标记为关注数据。
尽管图2中示出的示例专门针对100Gbps以太网链路训练,但是本发明的实施例可以在关注数据在事件的最后发生附近的许多情形中使用。例如,用于设置通道速度的许多数据协商协议包括以规则间隔重复或者重复直到重置事件为止的样式遵循的指定起始点,并且然后具有结束点。本发明的实施例可以用于搜索指定起始点(作为触发A),然后使用最终发生特征时的触发作为触发B,以捕捉并选择关注数据。对于某些样式或序列,可以不需要A-B序列触发,因此一些实施例可以被设置为仅评估A触发,如图1中所图示的。
图4是图示了测试和测量***的示例部件的框图,该测试和测量***包括经由测试探针402耦合到被测设备(DUT)404的测试和测量仪器400。测量和测量仪器400可以是示波器或其他类型的仪器。测试和测量仪器包括用户接口410、耦合到处理器存储器422的处理器420,以及耦合到显示存储器432的显示器430。处理器420可以被编程为基于存储在处理器存储器422上的指令来操作,处理器存储器422可以是只读存储器、随机存取存储器、闪速存储器、存储在FPGA或其他可重新编程电路上的代码,或者其他形式的存储器。
测试和测量仪器400包括输入电路,用于经由探针402从DUT 404接收输入信号并向处理器输出数字信号。输入信号典型地是模拟信号,但通过仪器400内的模数(A/D)转换器460被转换成数字形式。处理器420操作地接收并处理数字信号以及输出从数字信号得出的一个或多个信号。
采集存储器450存储来自DUT 404的输入信号。如上文所描述的,采集存储器450可以被配置为循环缓冲区,其在滚动基础上用较新获取的信号来覆写最旧获取的信号。
触发子***440包括一个或多个触发事件解码器,所述一个或多个触发事件解码器操作地响应于输入信号或数字信号的一个或多个特征,或者基于诸如强制超时信号184(图3)的其他信号,来发起或结束信号采集并且控制数字信号在存储器中的存储。触发子***可以被配置为如图3的流程中所图示的那样操作,并且可以被配置为如上文参照以上图1和2所描述的那样分析输入信号。触发子***440可以包括最后事件分析器442,最后事件分析器442可以如上文所阐述的那样操作,以在一系列事件的最后事件已经在输入信号中发生时生成触发信号。基于来自最后事件分析器442的最后事件触发,或者基于其他触发事件,触发时间戳计算器确定已经存储在采集存储器450中的哪个数据被标记为关注数据。在其他实施例中,最后事件分析器442可以发起其他处理,诸如使得其他触发能够被测试和测量仪器400设置为主动触发。在再其他实施例中,触发子***440中的最后事件分析器442或其他功能可以发起或结束跟随在触发事件最后发生后的编程时间段之后的采集。时间戳计算器452然后操作地根据最后触发事件的发生时间,来定位存储在采集存储器中的数字信号。
示例
下面提供本文中公开的技术的说明性示例。这些技术的实施例可以包括下面描述的示例中的任何一个或多个以及任何组合。
示例1包括一种测试和测量仪器,包括:输入电路,用于接收输入信号;采集存储器,被结构化为存储与所述输入信号有关的数字信号;以及触发子***,具有一个或多个事件解码器,所述一个或多个事件解码器操作地响应于所述输入信号或所述数字信号的一个或多个特征而检测一系列事件已发生,并且被结构化为响应于检测到所述一系列事件中的最终事件已发生而生成触发信号。
示例2包括如示例1所述的测试和测量仪器,或者本文中描述的任何其他示例测试和测量仪器,其中所述触发子***包括用于存储最终事件持续时间的最终事件时触发(trigger-on-final-event)计时器,并且其中当在所述一系列事件中的最后先前确定的事件发生之后所述一系列事件中没有事件在所述最终事件持续时间内发生时,生成触发信号发生。
示例3包括如示例2所述的测试和测量仪器,或者本文中描述的任何其他示例测试和测量仪器,其中所述最终事件时触发计时器是当检测到事件时启动的计时器,并且其中当在所述最终事件时触发计时器期满之前检测到所述一系列事件中的事件时,抑制生成触发信号。
示例4包括如示例3所述的测试和测量仪器,或者本文中描述的任何其他示例测试和测量仪器,其中当检测到所述一系列事中的事件时,重置所述最终事件时触发计时器。
示例5包括如示例2所述的测试和测量仪器,或者本文中描述的任何其他示例测试和测量仪器,其中所述最终事件时触发计时器是晶控的。
示例6包括如示例1-5所述的测试和测量仪器,或者本文中描述的任何其他示例测试和测量仪器,还包括时间戳指示器,所述时间戳指示器被结构化为当生成所述触发信号时,指示与存储在所述采集存储器中的数据的特定部分相关联的时间戳。
示例7包括如示例6所述的测试和测量仪器,或者本文中描述的任何其他示例测试和测量仪器,其中所述时间戳与所述数据的和所述一系列事件中的最终事件有关的部分相关联。
示例8包括如示例6所述的测试和测量仪器,或者本文中描述的任何其他示例测试和测量仪器,其中所述触发子***包括用于存储最终事件持续时间的最终事件时触发计时器,并且其中通过从当已确定超时已经发生时的时间减去所述最终事件持续时间来生成所述时间戳。
示例9包括如示例6所述的测试和测量仪器,或者本文中描述的任何其他示例测试和测量仪器,其中所述时间戳指示器定位所述最终事件在所存储的数字数据中的大概位置,并且所述测试和测量仪器还包括校正设施,所述校正设施被结构化为分析所存储的数字数据以确定所述最终事件在所存储的数字数据中的特定位置。
示例10包括如示例1-9所述的测试和测量仪器,或者本文中描述的任何其他示例测试和测量仪器,其中所述触发子***包括被结构化为接收强制超时信号的输入,并且其中当接收到所述强制超时信号时,所述触发子***指示所述一系列事件中的最终事件是在已接收到所述强制超时信号之前最先前接收到的事件。
示例11包括如示例1-10所述的测试和测量仪器,或者本文中描述的任何其他示例测试和测量仪器,其中利用所述一系列事件中所检测到的事件处的临时时间戳来标记存储在所述采集存储器中的所述数字数据。
示例12包括如示例1-11所述的测试和测量仪器,或者本文中描述的任何其他示例测试和测量仪器,其中所述触发***被结构化为在使得能够检测所述一系列事件之前检测所述输入信号或所述数字信号中的第一触发事件。
示例13包括在测试和测量仪器中生成触发的处理器控制的方法,包括:接受输入信号;将所述输入信号数字化成数字信号;将所述数字信号存储在采集存储器中;针对一系列事件中的事件评估所述输入信号或所述数字信号;以及当检测到所述一系列事件中的最终事件时生成所述触发。
示例14包括示例13的处理器控制的方法,或者本文中描述的任何其他示例方法,其中生成所述触发包括:当检测到所述一系列事件中的事件时启动计时器;以及如果所述计时器在检测到所述一系列事件中的下一事件之前结束,则生成所述触发。
示例15包括示例13-14的处理器控制的方法,或者本文中描述的任何其他示例方法,其中所述计时器是晶控计时器。
示例16包括示例13-15的处理器控制的方法,或者本文中描述的任何其他示例方法,还包括:当所述一系列事件中的最终事件发生时,指示与所述采集存储器相关的时间戳。
示例17包括示例13-16的处理器控制的方法,或者本文中描述的任何其他示例方法,还包括:通过评估存储在所述采集存储器中的数据来精炼所述时间戳的位置。
示例18包括示例13-14的处理器控制的方法,或者本文中描述的任何其他示例方法,还包括:检测所述一系列事件中的最终事件;以及通过从当已检测到所述一系列事件中的最终事件时的时间点减去存储在所述计时器中的时间段,来生成所述采集存储器中的时间戳。
示例19包括示例13-18的处理器控制的方法,或者本文中描述的任何其他示例方法,还包括接收强制超时信号,并且其中在接收到所述强制超时信号之前接收到的所述一系列事件中的事件被认为是所述一系列事件中的最终事件。
示例20包括示例13-19的处理器控制的方法,或者本文中描述的任何其他示例方法,其中不针对最终事件评估所述一系列事件直到另一事件发生为止,所述另一事件与所述一系列事件无关。
另外,本书写的描述对特定特征做出参考。应理解的是,在本说明书中的公开包括那些特定特征的所有可能组合。例如,在特定方面的上下文中公开特定特征的情况下,在可能的范围内,还可以在其他方面的上下文中使用该特征。
而且,当在本申请中对具有两个或更多个定义的步骤或操作的方法做出参考时,可以按任何顺序或同时实行这些定义的步骤或操作,除非上下文排除这些可能性。
尽管已经出于如果说明的目的说明和描述了本发明的特定示例,但是将理解的是,可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下做出各种修改。

Claims (18)

1.一种测试和测量仪器,包括:
输入电路,用于接收输入信号;
采集存储器,被结构化为存储与所述输入信号有关的数字信号,其中将所述输入信号数字化成数字信号;以及
触发子***,具有一个或多个事件解码器,所述一个或多个事件解码器操作地响应于所述输入信号或所述数字信号的一个或多个特征而检测一系列事件已发生,并且被结构化为响应于检测到所述一系列事件中的最终事件已发生而生成触发信号,其中所述一系列事件是一系列重复事件并且所述一系列事件中重现的次数是未知的,
其中所述触发子***包括用于存储最终事件持续时间的最终事件时触发计时器,并且其中当在所述一系列事件中的最后先前确定的事件发生之后所述一系列事件中没有事件在所述最终事件持续时间内发生时,生成触发信号发生。
2.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中所述最终事件时触发计时器当检测到事件时启动,并且其中当在所述最终事件时触发计时器期满之前检测到所述一系列事件中的事件时,抑制生成触发信号。
3.根据权利要求2所述的测试和测量仪器,其中当检测到所述一系列事件中的事件时,重置所述最终事件时触发计时器。
4.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中所述最终事件时触发计时器是晶控的。
5.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,还包括时间戳指示器,所述时间戳指示器被结构化为当生成所述触发信号时,指示与存储在所述采集存储器中的数据的特定部分相关联的时间戳。
6.根据权利要求5所述的测试和测量仪器,其中所述时间戳与所述数据的部分相关联,所述部分和所述一系列事件中的最终事件有关。
7.根据权利要求5所述的测试和测量仪器,其中所述触发子***包括用于存储最终事件持续时间的最终事件时触发计时器,并且其中通过从当已确定超时已经发生时的时间减去所述最终事件持续时间来生成所述时间戳。
8.根据权利要求5所述的测试和测量仪器,其中所述时间戳指示器定位所述最终事件在所存储的数字信号中的大概位置,并且所述测试和测量仪器还包括校正设施,所述校正设施被结构化为分析所存储的数字信号以确定所述最终事件在所存储的数字信号中的特定位置。
9.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中所述触发子***包括被结构化为接收强制超时信号的输入,并且其中当接收到所述强制超时信号时,所述触发子***指示所述一系列事件中的最终事件是在已接收到所述强制超时信号之前最先前接收到的事件。
10.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中利用所述一系列事件中所检测到的事件处的临时时间戳来标记存储在所述采集存储器中的所述数字信号。
11.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中所述触发子***被结构化为在使得能够检测所述一系列事件之前检测所述输入信号或所述数字信号中的第一触发事件。
12.一种在测试和测量仪器中生成触发的处理器控制的方法,所述方法包括:
接收输入信号;
将所述输入信号数字化成数字信号;
将所述数字信号存储在采集存储器中;
针对一系列事件中的事件评估所述输入信号或所述数字信号;以及
当检测到所述一系列事件中的最终事件时生成所述触发,其中所述一系列事件是一系列重复事件并且所述一系列事件中重现的次数是未知的,
其中生成所述触发包括:
当检测到所述一系列事件中的事件时启动计时器;以及
如果所述计时器在检测到所述一系列事件中的下一事件之前结束,则生成所述触发。
13.根据权利要求12所述的方法,其中所述计时器是晶控计时器。
14.根据权利要求12所述的方法,还包括:当所述一系列事件中的最终事件发生时,指示与所述采集存储器相关的时间戳。
15.根据权利要求14所述的方法,还包括:通过评估存储在所述采集存储器中的数据来改进所述时间戳的位置。
16.根据权利要求12所述的方法,还包括:
检测所述一系列事件中的最终事件;以及
通过从当已检测到所述一系列事件中的最终事件时的时间点减去存储在所述计时器中的时间段,来生成所述采集存储器中的时间戳。
17.根据权利要求12所述的方法,还包括接收强制超时信号,并且其中在接收到所述强制超时信号之前接收到的所述一系列事件中的事件被认为是所述一系列事件中的最终事件。
18.根据权利要求12所述的方法,其中不针对最终事件评估所述一系列事件直到另一事件发生为止,所述另一事件与所述一系列事件无关。
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10416203B2 (en) * 2017-03-31 2019-09-17 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Test and measurement system, differential logic probe, single ended logic probe and method for operating a test and measurement system
US11609246B2 (en) * 2017-05-18 2023-03-21 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Test and measurement device as well as method for applying a trigger
DE102018221534A1 (de) * 2017-12-18 2019-06-19 Robert Bosch Engineering And Business Solutions Private Limited System und Verfahren zum Messen der Reaktionszeit von Ereignisketten
US11307061B2 (en) * 2018-03-08 2022-04-19 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Electrical measurement device
US10641820B1 (en) * 2018-10-19 2020-05-05 Teradyne, Inc. Automated test equipment with relay hot-switch detection
CN110763888B (zh) * 2019-11-15 2021-12-07 北京普源精电科技有限公司 自动识别触发类型的方法、装置及示波器
WO2022017591A1 (en) * 2020-07-21 2022-01-27 Advantest Corporation Automated test equipment and method using a trigger generation
WO2023078572A1 (en) * 2021-11-08 2023-05-11 Advantest Corporation Automated test equipment, device under test, test setup methods using a trigger line

Citations (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4386322A (en) * 1979-12-21 1983-05-31 Dipl.-Ing. Bruno Richter Method and apparatus for producing a trigger signal
JPS63277975A (ja) * 1987-04-30 1988-11-15 Yokogawa Hewlett Packard Ltd トリガー事象捕促装置
US5067130A (en) * 1989-09-29 1991-11-19 Tektronix, Inc. Method for acquiring data in a logic analyzer
JP2003344455A (ja) * 2002-05-24 2003-12-03 Yokogawa Electric Corp 波形測定装置
CN101034134A (zh) * 2006-02-28 2007-09-12 安捷伦科技有限公司 触发结构、测量***及使用方法
CN101063688A (zh) * 2006-03-24 2007-10-31 特克特朗尼克公司 长记录长度存储器中的数据管理
CN101086510A (zh) * 2006-03-24 2007-12-12 特克特朗尼克公司 改进型数字触发器
CN101281224A (zh) * 2008-04-18 2008-10-08 电子科技大学 数字示波器波形捕获率的测试方法
CN101526559A (zh) * 2008-03-04 2009-09-09 特克特朗尼克公司 用于无死区时间采集***的预触发和后触发采集
CN101551414A (zh) * 2008-03-26 2009-10-07 特克特朗尼克公司 用于无死区采集的改进的隔开算法
CN102012445A (zh) * 2009-09-04 2011-04-13 特克特朗尼克公司 用于提供采集后触发控制和呈现的测试与测量仪器和方法
CN102053189A (zh) * 2009-11-10 2011-05-11 北京普源精电科技有限公司 一种具有序列触发功能的数字示波器及其控制方法
CN102128962A (zh) * 2009-09-04 2011-07-20 特克特朗尼克公司 用于提供采集后触发控制和呈现的测试与测量仪器和方法
CN102128963A (zh) * 2009-12-07 2011-07-20 特克特朗尼克公司 采用大采集存储器高速显示波形的设备和方法
CN102346209A (zh) * 2010-06-30 2012-02-08 特克特朗尼克公司 用于测试和测量仪器中改进的边沿触发的设备和方法
CN102788892A (zh) * 2011-05-18 2012-11-21 北京普源精电科技有限公司 一种用于精确触发的数字示波器
CN103018512A (zh) * 2011-09-23 2013-04-03 北京普源精电科技有限公司 一种具有外触发功能的示波器
CN103308738A (zh) * 2013-05-10 2013-09-18 电子科技大学 一种高捕获率示波器的异常波形录制方法
CN103492905A (zh) * 2011-04-21 2014-01-01 株式会社东芝 信号处理***以及方法
CN103575950A (zh) * 2012-07-27 2014-02-12 特克特朗尼克公司 测试与测量仪器中的跨域触发
CN103675382A (zh) * 2012-09-25 2014-03-26 特克特朗尼克公司 用于生成波形显示的方法和***
CN103809001A (zh) * 2012-11-09 2014-05-21 江苏绿扬电子仪器集团有限公司 数字荧光示波器预触发装置
CN103995164A (zh) * 2013-02-19 2014-08-20 安捷伦科技有限公司 通过信号模式触发的数字测量仪器
CN104977448A (zh) * 2014-04-11 2015-10-14 特克特朗尼克公司 具有高级触发能力的测试和测量仪器

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57194362A (en) * 1981-05-26 1982-11-29 Iwatsu Electric Co Ltd Observing device for signal
US4755887A (en) * 1986-10-31 1988-07-05 Hewlett-Packard Company Triggering for waveform recording
JPH0627149A (ja) * 1992-07-09 1994-02-04 Meidensha Corp ロジックアナライザのトリガ方式
US7398175B2 (en) * 2002-12-18 2008-07-08 Tektronix, Inc. Method and apparatus providing multiple channel multiple instrument triggering
US7191079B2 (en) * 2004-03-23 2007-03-13 Tektronix, Inc. Oscilloscope having advanced triggering capability
GB2455052A (en) * 2007-09-21 2009-06-03 Agilent Technologies Inc Trigger event detection apparatus and method therefore
US9075696B2 (en) 2009-03-09 2015-07-07 Tektronix, Inc. Apparatus and method for performing burst triggering in a test and measurement instrument
US9069017B2 (en) 2009-12-04 2015-06-30 Tektronix, Inc. Serial bit stream regular expression engine
US9571156B2 (en) * 2013-03-14 2017-02-14 Cisco Technology, Inc. Burst triggered signal analysis
US9344301B2 (en) * 2014-05-30 2016-05-17 Guzik Technical Enterprises Acquisition device with multistage digital equalization
US9268321B2 (en) * 2014-06-24 2016-02-23 Keysight Technologies, Inc. Digital tiggering using finite state machines

Patent Citations (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4386322A (en) * 1979-12-21 1983-05-31 Dipl.-Ing. Bruno Richter Method and apparatus for producing a trigger signal
JPS63277975A (ja) * 1987-04-30 1988-11-15 Yokogawa Hewlett Packard Ltd トリガー事象捕促装置
US5067130A (en) * 1989-09-29 1991-11-19 Tektronix, Inc. Method for acquiring data in a logic analyzer
JP2003344455A (ja) * 2002-05-24 2003-12-03 Yokogawa Electric Corp 波形測定装置
CN101034134A (zh) * 2006-02-28 2007-09-12 安捷伦科技有限公司 触发结构、测量***及使用方法
CN101063688A (zh) * 2006-03-24 2007-10-31 特克特朗尼克公司 长记录长度存储器中的数据管理
CN101086510A (zh) * 2006-03-24 2007-12-12 特克特朗尼克公司 改进型数字触发器
CN101526559A (zh) * 2008-03-04 2009-09-09 特克特朗尼克公司 用于无死区时间采集***的预触发和后触发采集
CN101551414A (zh) * 2008-03-26 2009-10-07 特克特朗尼克公司 用于无死区采集的改进的隔开算法
CN101281224A (zh) * 2008-04-18 2008-10-08 电子科技大学 数字示波器波形捕获率的测试方法
CN102128962A (zh) * 2009-09-04 2011-07-20 特克特朗尼克公司 用于提供采集后触发控制和呈现的测试与测量仪器和方法
CN102012445A (zh) * 2009-09-04 2011-04-13 特克特朗尼克公司 用于提供采集后触发控制和呈现的测试与测量仪器和方法
CN102053189A (zh) * 2009-11-10 2011-05-11 北京普源精电科技有限公司 一种具有序列触发功能的数字示波器及其控制方法
CN102128963A (zh) * 2009-12-07 2011-07-20 特克特朗尼克公司 采用大采集存储器高速显示波形的设备和方法
CN102346209A (zh) * 2010-06-30 2012-02-08 特克特朗尼克公司 用于测试和测量仪器中改进的边沿触发的设备和方法
CN103492905A (zh) * 2011-04-21 2014-01-01 株式会社东芝 信号处理***以及方法
CN102788892A (zh) * 2011-05-18 2012-11-21 北京普源精电科技有限公司 一种用于精确触发的数字示波器
CN103018512A (zh) * 2011-09-23 2013-04-03 北京普源精电科技有限公司 一种具有外触发功能的示波器
CN103575950A (zh) * 2012-07-27 2014-02-12 特克特朗尼克公司 测试与测量仪器中的跨域触发
CN103675382A (zh) * 2012-09-25 2014-03-26 特克特朗尼克公司 用于生成波形显示的方法和***
CN103809001A (zh) * 2012-11-09 2014-05-21 江苏绿扬电子仪器集团有限公司 数字荧光示波器预触发装置
CN103995164A (zh) * 2013-02-19 2014-08-20 安捷伦科技有限公司 通过信号模式触发的数字测量仪器
CN103308738A (zh) * 2013-05-10 2013-09-18 电子科技大学 一种高捕获率示波器的异常波形录制方法
CN104977448A (zh) * 2014-04-11 2015-10-14 特克特朗尼克公司 具有高级触发能力的测试和测量仪器

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Shakeb A.Khan,etc.Advanced Oscilloscope Triggering.《IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement》.2007, *
曾浩 等.一种数字存储示波器智能触发技术研究.《仪表技术与传感器》.2010, *

Also Published As

Publication number Publication date
US10365300B2 (en) 2019-07-30
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EP3203244A1 (en) 2017-08-09
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