CN107014273A - 测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具及其检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具及其检测方法，检测工具包括量块和量规，量块为扁平圆外形，其厚度根据键槽宽度而设计，其圆形直径按键槽内圆弧直径设计，当量块塞入键槽时，量块的圆弧与键槽内圆弧两侧接触实现V形定位，保证量块垂直方向中心线与键槽内圆弧中心线重合；量规为具有通端和止端的圆柱体，其通端和止端直径由半圆键槽、测量基准面及量块的外径决定，量块、量规通过相互配合使用即可以判定被测件半圆键槽中心至基准面的尺寸是否符合图纸要求。采用本发明的技术方案在测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的过程中测量成本低，测量精度高，操作方法简易，检测效率高。

Description

测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具及其检测方法

技术领域

本发明涉及一种曲轴加工检测工具，尤其涉及一种测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具，包括量块和塞规。

本发明还涉及一种使用上述测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具进行检测的方法。

背景技术

曲轴前端皮带轮安装轴颈处，通常需要加工半圆键槽。零件图纸上对半圆键槽的加工要求一般都有键槽的宽度、深度、对称度、轴向位置尺寸等要求。

目前对于半圆键槽的宽度、深度、对称度的检测，都有相关的检测方法，而对于半圆键槽的轴向位置尺寸检测，则没有便利的检测方法。最常用的测量方法就是：（1）采用三坐标检测方法。（2）采用平台与高度尺检测法：将曲轴坚起放在平台上，用高度尺划线找出半圆键槽开口上下两位置与轴颈外圆交线至基准面位置尺寸，然后采用槽口下方尺寸加上槽口宽度一半或槽上方尺寸减去槽开口宽度一半，可得出半圆键槽中心线至基准面的位置尺寸。

上述两种检测方法费时费力且测量误差较大：（1）三坐标检测，操作麻烦。半圆键槽底面是圆弧形状，空间较窄，测头在内圆弧上找点费时及操作很不方便。（2）平台与高度尺测量法，误差大，在槽开口上下两位置划线对比确定槽圆弧与轴颈外圆相交线的位置尺寸，测量误差比较大。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明要解决的技术问题是提供一种快速并且准确地测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸检测工具及其检测方法。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是一种测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具，包括量块和量规，所述量块为扁平圆外形，其厚度根据键槽宽度而设计，其圆形直径按键槽内圆弧直径设计，当量块塞入键槽时，量块的圆弧与键槽内圆弧两侧接触实现V形定位，保证量块垂直方向中心线与键槽内圆弧中心线重合；所述量规为具有通端和止端的圆柱体，其通端和止端直径由半圆键槽、测量基准面及量块的外径决定，所述量块、量规通过相互配合使用即可以判定被测件半圆键槽中心至基准面的尺寸是否符合图纸要求。

作为本发明的进一步改进，所述通端和止端直径分别为半圆键槽至测量基准面的尺寸公差以及量块的外径尺寸公差的最小值和最大值。

作为本发明的进一步改进，所述量块圆形直径比键槽内圆弧最大直径值大0.1mm；

作为本发明的进一步改进，为实现所述量块与键槽无间隙配合，把所述量块厚度设计成多组尺寸规格，每组按0.005mm分级，优选为5至7组，测量时根据键槽实际宽度选择对应厚度的量块。

使用上述测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具进行检测，包括如下步骤：

（1）根据半圆键槽宽度尺寸，选择一组对应厚度的辅助量块，使量块无侧隙塞入键槽时，无松动；

（2）使用量规检测量块外圆弧至基准面的距离尺寸，判定被测尺寸是否合格：

1)如果量规通端能通过而止端不能通过，则判定被测尺寸合格；

2)如果量规通端不通过，则判定被测位置尺寸过小，不合格；

3)如果量规止端能通过，则判定被测位置尺寸过大，不合格。

采用本发明的技术方案在测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的过程中测量成本低，测量精度高，操作方法简易，检测效率高。

附图说明

图1为半圆键槽轴向位置尺寸工艺图；

图2为本发明使用时结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明的具体实施方式作进一步的说明，但不是对本发明的限定。

图1示出半圆键槽轴向位置尺寸工艺图，用主视局部剖视图和左视图来表达。D是半圆键槽轴所在圆的直径，L是半圆键槽轴圆弧中心线到基准面的轴向距离。

图2示出本发明使用时结构示意，一种测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具，包括量块1和量规2，所述量块1为扁平圆外形，其厚度根据键槽宽度而设计，其圆形直径按键槽内圆弧直径设计，当量块1塞入键槽时，量块1的圆弧与键槽内圆弧两侧接触实现V形定位，保证量块1垂直方向中心线与键槽内圆弧中心线重合；所述量规2为具有通端和止端的圆柱体，其通端和止端直径由半圆键槽、测量基准面及量块1的外径决定，所述量块1、量规2通过相互配合使用即可以判定被测件3半圆键槽中心至基准面的尺寸是否符合图纸要求。

作为本发明的进一步改进，所述量规2的通端和止端直径分别为半圆键槽至测量基准面的尺寸公差以及量块1的外径尺寸公差的最小值和最大值。

作为本发明的进一步改进，所述量块1圆形直径比键槽内圆弧最大直径值大0.1mm；

作为本发明的进一步改进，为实现量块1与键槽无间隙配合，把量块1厚度设计成多组尺寸规格，每组按0.005mm分级，优选为5至7组，测量时根据键槽实际宽度选择对应厚度的量块1。

使用上述测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具进行检测，包括如下步骤：

（1）根据半圆键槽宽度尺寸，选择一组对应厚度的辅助量块，使量块无侧隙塞入键槽时，无松动；

（2）使用量规检测量块外圆弧至基准面的距离尺寸，判定被测尺寸是否合格：

1)如果量规通端能通过而止端不能通过，则判定被测尺寸合格；

2)如果量规通端不通过，则判定被测位置尺寸过小，不合格；

3)如果量规止端能通过，则判定被测位置尺寸过大，不合格。

采用本发明的技术方案在测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的过程中测量成本低，测量精度高，操作方法简易，检测效率高。

以上结合附图对本发明的实施方式做出了详细说明，但本发明不局限于所描述的实施方式。对于本领域技术人员而言，在不脱离本发明的原理和精神的情况下，对这些实施方式进行各种变化、修改、替换和变型仍落入本发明的保护范围内。

Claims (6)

1.一种测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具，包括量块(1)，所述量块(1)为扁平圆外形，其厚度根据键槽宽度而设计，其圆形直径按键槽内圆弧直径设计，其圆弧与键槽内圆弧两侧接触实现V形定位，其特征在于：还包括量规(2)，所述量规(2)为具有通端和止端的圆柱体，其通端和止端直径由半圆键槽、测量基准面及所述量块(1)的外径决定，所述量块(1)、量规(2)通过相互配合使用即可判定被测件(3)半圆键槽中心至基准面的尺寸是否符合图纸要求。

2.根据权利要求1所述的测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具，其特征在于：所述量规(2)的通端和止端直径分别为半圆键槽至测量基准面的尺寸公差以及量块(1)的外径尺寸公差的最小值和最大值。

3.根据权利要求1或2所述的测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具，其特征在于：所述量块(1)圆形直径比键槽内圆弧最大直径值大0.1 mm。

4.根据权利要求1或2所述的测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具，其特征在于：所述量块(1)厚度设计成不少于2组尺寸规格，每组按0.005mm分级。

5.根据权利要求4所述的测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具，其特征在于：所述量块(1)组数量为5至7组。

6.一种使用权利要求1或2所述的测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具的方法，其特征在于：包括如下步骤：

（1）根据半圆键槽宽度尺寸，选择一组对应厚度的辅助量块，使量块无侧隙塞入键槽时，无松动；

（2）使用量规检测量块外圆弧至基准面的距离尺寸，判定被测尺寸是否合格：

1)如果量规通端能通过而止端不能通过，则判定被测尺寸合格；

2)如果量规通端不通过，则判定被测位置尺寸过小，不合格；

3)如果量规止端能通过，则判定被测位置尺寸过大，不合格。