CN106896311B - 测量治具 - Google Patents

测量治具 Download PDF

Info

Publication number
CN106896311B
CN106896311B CN201510957705.7A CN201510957705A CN106896311B CN 106896311 B CN106896311 B CN 106896311B CN 201510957705 A CN201510957705 A CN 201510957705A CN 106896311 B CN106896311 B CN 106896311B
Authority
CN
China
Prior art keywords
slot
processing unit
mainboard
connecting end
measuring tool
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201510957705.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106896311A (zh
Inventor
李延霖
黄劲勋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Giga Byte Technology Co Ltd
Original Assignee
Giga Byte Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Giga Byte Technology Co Ltd filed Critical Giga Byte Technology Co Ltd
Priority to CN201510957705.7A priority Critical patent/CN106896311B/zh
Publication of CN106896311A publication Critical patent/CN106896311A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106896311B publication Critical patent/CN106896311B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

一种测量治具,适于插设于主机板的第一插槽。测量治具包含第一连接端、第二连接端与处理单元。第一连接端用以可插拔的插设于第一插槽。第二连接端用以可插拔的插设于第一插槽。处理单元电性连接第一连接端与第二连接端。当第一连接端或第二连接端插设于第一插槽时,处理单元用以通过第一插槽传送控制信号至主机板的控制单元。在测量时可通过本发明所提供的测量治具控制主机板的控制单元,从而控制主机板上的各元件作动以提供对应的电压、电流或信号。进而能在不用启动主机板的情况下,对主机板进行测量。

Description

测量治具
技术领域
本发明涉及一种测量治具,特别是一种电子元件的测量治具。
背景技术
作为电子产品中的各种电子元件的沟通媒介,主机板上搭载有所述的多种电子元件,以提供使用者多样化的功能。而为了因应不同的需求,对应电子产品因而需要不同等级或不同类型的运算效能。即使是同一类型的电子产品,厂商也会因客群的不同而推出不同系列的产品系列。
在以往的测量方式上,除了提供电源给主机板之外,还需要启动主机板,例如启动主机板的基本输入输出***(basic input output system,BIOS),才能令主机板对测量治具输出电流电压以进行测量。但是启动主机板需要不少的启动时间,因此这样的做法相当耗时,降低了测试过程的效率。
发明内容
本发明在于提供一种测量治具,以克服以往测量主机板时需要耗时启动主机板的问题。
本发明提供了一种测量治具,适于插设于一主机板的一第一插槽。所述测量治具包含第一连接端、第二连接端与处理单元。第一连接端用以可插拔的插设于第一插槽。第二连接端用以可插拔的插设于第一插槽。处理单元电性连接第一连接端与第二连接端。当第一连接端或第二连接端插设于第一插槽时,处理单元用以通过第一插槽传送控制信号至主机板的控制单元。
综上所述,本发明提供了一种测量治具。当第一连接端或第二连接端插设于主机板的第一插槽时,处理单元用以通过第一插槽传送控制信号至主机板的控制单元。藉此,在测量时可通过本发明所提供的测量治具控制主机板的控制单元,从而控制主机板上的各元件作动以提供对应的电压、电流或信号。进而能在不用启动主机板的情况下,对主机板进行测量。
以上的关于本公开内容的说明及以下的实施方式的说明是用以示范与解释本发明的精神与原理,并且提供本发明的权利要求更进一步的解释。
附图说明
图1A为根据本发明一实施例所绘示的测量治具的功能方块图。
图1B为根据本发明图1A所绘示的测量治具的立体示意图。
图2A为根据本发明另一实施例所绘示的测量治具的功能方块图。
图2B为根据本发明图2A所绘示的测量治具的立体示意图。
图3为根据本发明另一实施例所绘示的测量治具的功能方块图。
图4为根据本发明再一实施例所绘示的测量治具的功能方块图。
图5为根据本发明又一实施例所绘示的测量治具的功能方块图。
其中,附图标记说明如下:
1000 测量治具
1200 第一连接端
1300 存储媒介
1400 第二连接端
1600 处理单元
1800 控制连接端
1900 电源连接端
2000、2000’ 主机板
2200、2200’ 第一插槽
2400 电子元件
2600 第二插槽
2800 控制单元
3000 电脑
4000 电源供应器
具体实施方式
以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点,其内容足以使本领域技术人员了解本发明的技术内容并据以实施,且根据本说明书所公开的内容、申请专利范围及附图,本领域技术人员可轻易地理解本发明相关的目的及优点。以下的实施例是进一步详细说明本发明的观点,但非以任何观点限制本发明的范畴。
请先参照图1A、图1B、图2A与图2B,图1A为根据本发明一实施例所绘示的测量治具的功能方块图,图1B为根据本发明图1A所绘示的测量治具的立体示意图,图2A为根据本发明另一实施例所绘示的测量治具的功能方块图,图2B为根据本发明图2A所绘示的测量治具的立体示意图。如图所示,测量治具1000适于插设于主机板2000的第一插槽2200。测量治具1000包含第一连接端1200、第二连接端1400与处理单元1600。第一连接端1200用以可插拔的插设于第一插槽2200。第二连接端1400用以可插拔的插设于第一插槽2200’。处理单元1600电性连接第一连接端1200与第二连接端1400。主机板2000例如具有第一插槽2200、第二插槽2600、电子元件2400与控制单元2800。第一插槽2200或第一插槽2200’电性连接第二插槽2600与控制单元2800。
第一插槽2200或第一插槽2200’例如为外部连结标准(Peripheral ComponentInterconnect,PCI)的相关接口或快捷外部连结标准X1版本的相关接口(PeripheralComponent Interconnect Express X1,PCI-E X1)。在一实施例中,第一连接端1200与第二连接端1400不相同。第一连接端1200与第二连接端1400例如分别为外部连结标准的相关接口或快捷外部连结标准X1版本的相关接口。第二插槽2600例如为中央处理器(centralprocessing unit,CPU)的插槽。处理单元1600例如为微控制器(micro control unit,MCU)、专用集成电路(Application-specific integrated circuit,ASIC)或现场可程式化栅阵列(Field-programmable gate array,FPGA)。控制单元2800例如为主机板2000的南桥芯片或北桥芯片。电子元件2400例如为脉冲宽度调变集成电路(pulse width modulationintegrated circuit,PWM IC)或用以产生时钟脉冲信号或控制信号的相关电路。上述仅为举例示范,然实际上并不以此为限。
后续将以第一插槽2200与第一连接端1200为外部连结标准的相关接口,以及第一插槽2200’、第二连接端1400为快捷外部连结标准X1版本的相关接口的实施例进行说明。换句话说,在图1所对应的实施例中,第一插槽2200与第一连接端1200为外部连结标准的相关接口,测量治具1000以第一插槽2200电性连接主机板2000。而在图2所对应的实施例中,第一插槽2200’与第二连接端1400为外部连结标准的相关接口,测量治具1000以第二连接端1400电性连接主机板2000。
当第一连接端1200插设于第一插槽2200时或第二连接端1400插设于第一插槽2200’时,处理单元1600用以经由第一插槽2200或第一插槽2200’传送控制信号至主机板2000的控制单元2800,以指示控制单元2800控制主机板2000的其他元件。后续以图1A、图1B对应的实施例进行说明。在一实施例中,处理单元1600经由第一插槽2200指示控制单元2800控制主机板2000上的电子元件2400供电、提供时钟脉冲信号或提供控制信号给第二插槽2600。
在上述的架构下,第二插槽2600还可设置有另一类型的第二测量治具以测量第二插槽2600中的各接点上的电压准位是否符合要求。因此,在另一实施例中,第一插槽2200以主机板2000上的通道或者是以其他元件另外桥接的传输通道电性连接第二插槽2600。当测量治具1000指示控制单元2800控制主机板2000上的电子元件2400供电给第二插槽2600时,主机板2000上的第二测量治具测量得相关结果并经由第二插槽2600与前述的通道传输一回馈信号给第一插槽2200,使得测量治具1000经由第一插槽2200接收得回馈信号。前述的通道例如为***管理总线(system management bus,SMbus),但并不以此为限。而于另一实施例中,测量治具1000还依据接收得的回馈信号产生关于第二插槽2600的测量结果。所述的测量结果例如指示第二插槽2600的相关线路是否有短路或断路的情况发生,但并不以此为限。
此外,处理单元1600可依据收到的回馈信号进行更详细的判断。于一实施例中,处理单元1600还判读相关针脚上的电压准位的变化是否在可以忍受的范围或标准,以判断相关线路是否有异常。例如,处理单元1600可判读相关针脚上的电压准位是否大于一预设上限或小于一预设下限。或者,处理单元1600可判读相关针脚上的电压准位是否在一预设时间拉回所欲的电压准位。甚或,处理单元1600可判读相关针脚上在一预设时间内的平均电压是否符合要求。事实上,对应于第二插槽2600所收到的信号的类型,例如脉冲宽度调变信号或或直流电压信号,处理单元1600可进行对应的分析判断。上述仅为举例示范,在此并不限定处理单元1600如何依据相关针脚上的电压准位进行判断。
请接着参照图3,图3为根据本发明另一实施例所绘示的测量治具的功能方块图。相较于图1A、图1B,于图3所对应的实施例中,测量治具1000还具有存储媒介1300。存储媒介1300用以存储如前述的回馈信号或者是测量结果。而存储媒介1300例如是易失性存储器或非易失性存储器。当存储媒介1300为非易失性存储器时,即使不提供电能给测量治具1000或不提供电能给存储媒介1300,存储媒介1300还是可以存储有所述的回馈信号或测量结果。因此,在此实施例中,使用者可以将存储媒介1300自测量治具1000上卸下,并以其他的测试设备对存储媒介1300中所存储的资料进行分析判断。
请接着参照图4,图4为根据本发明再一实施例所绘示的测量治具的功能方块图。相较于图1A、图1B,于图4所对应的实施例中,测量治具1000还具有控制连接端1800。控制连接端1800用以可插拔地电性连接电脑3000。测量治具1000可通过控制连接端1800而自电脑3000接收控制信号。或者,测量治具1000亦可通过控制连接端1800将接收得的回馈信号或所产生的测量结果传输给电脑3000。使用者因而得以使用电脑指示测量治具1000以传输指令给主机板2000,或者使用者亦可使用电脑对自测量治具1000取得的回馈信号或测量结果进行处理。控制连接端1800例如为各个版本的通用串列总线(universal serial bus,USB)、RJ45网路传输接口,甚或是蓝牙(bluetooth,BT)、无线保真(wireless fidelity,WIFI)或第二代以至于***(2nd,3rd,4thgeneration,2G,3G,4G)的无线传输技术等的相关无线传输接口。电脑3000亦可以是任何具有运算功能的计算机设备。上述仅为举例示范,实际上并不以此为限。
请接着参照图5,图5为根据本发明又一实施例所绘示的测量治具的功能方块图。较于图1A、图1B,于图4所对应的实施例中,测量治具1000还具有电源连接端1900。电源连接端1900用以可插拔地电性连接电源供应器4000。在一实施例中,测量治具1000通过电源连接端1900而自电源供应器4000取得交流电能。而于另一实施例中,测量治具1000通过电源连接端1900而自电源供应器4000取得直流电能。测量治具1000的相关供电规格为本领域技术人员经详阅本说明书后能依实际所需而自由规划,在此并不加以限制。而于另一实施例中,当测量治具1000并不具有电源连接端1900时,测量治具1000亦可经由第一插槽2200而自主机板2000取得所需的电能。
综上所述,本发明提供了一种测量治具。所述的测量治具通过第一连接端或第二连接端插设于主机板的第一插槽,测量治具的处理单元用以通过第一插槽传送控制信号至主机板的控制单元。藉此,在测量时可通过本发明所提供的测量治具控制主机板的控制单元,从而控制主机板上的各元件作动以提供对应的电压、电流或信号。进而能在不用启动主机板的情况下,对主机板进行测量。这样的做法,不但提升了测量的速度,缩短了人工检测的时间,还还降低了人为的误判所造成的损失,并提高了检测精准度而连带提升产品的品质,避免因为检测误判而造成成本的上升。
虽然本发明以前述的实施例公开如上,然其并非用以限定本发明。在不脱离本发明的精神和范围内,所为的更动与润饰,均属本发明的专利保护范围。关于本发明所界定的保护范围请参考所附的权利要求。

Claims (9)

1.一种测量治具,适于插设于一主机板的一第一插槽,所述测量治具包含:
一第一连接端,用以可插拔的插设于所述第一插槽;
一第二连接端,用以可插拔的插设于所述第一插槽;以及
一处理单元,电性连接所述第一连接端与所述第二连接端,当所述第一连接端或所述第二连接端插设于所述第一插槽时,所述处理单元用以通过所述第一插槽传送一控制信号至所述主机板的一控制单元,以指示所述控制单元控制所述主机板上的电子元件供电并提供对应的电压、电流或信号,从而在不启动所述主机板的情况下对所述主机板进行测量,并且所述处理单元进一步通过所述第一插槽接收来自所述主机板的一第二插槽的一回馈信号。
2.如权利要求1所述的测量治具,进一步包含一存储媒介,电性连接所述处理单元,用以存储所述回馈信号。
3.如权利要求1所述的测量治具,其中所述处理单元进一步依据所述控制信号与所述回馈信号,产生关于所述第二插槽的一测量结果。
4.如权利要求3所述的测量治具,进一步包含一存储媒介,电性连接所述处理单元,用以存储所述回馈信号或所述测量结果。
5.如权利要求1所述的测量治具,其中所述第一连接端的格式与所述第二连接端的格式不同。
6.如权利要求1所述的测量治具,进一步包含一控制连接端,电性连接所述处理单元,用以可插拔的连接于一电脑。
7.如权利要求6所述的测量治具,所述处理单元进一步通过所述控制连接端从所述电脑取得电能。
8.如权利要求1所述的测量治具,所述处理单元进一步通过所述第一插槽从所述主机板取得电能。
9.如权利要求1所述的测量治具,进一步包含一电源连接端,用以可插拔的连接于一电源供应器。
CN201510957705.7A 2015-12-18 2015-12-18 测量治具 Active CN106896311B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510957705.7A CN106896311B (zh) 2015-12-18 2015-12-18 测量治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510957705.7A CN106896311B (zh) 2015-12-18 2015-12-18 测量治具

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106896311A CN106896311A (zh) 2017-06-27
CN106896311B true CN106896311B (zh) 2020-01-10

Family

ID=59188833

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510957705.7A Active CN106896311B (zh) 2015-12-18 2015-12-18 测量治具

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106896311B (zh)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2560989Y (zh) * 2002-08-14 2003-07-16 技嘉科技股份有限公司 主机板测试治具
CN1829007A (zh) * 2005-03-02 2006-09-06 英业达股份有限公司 一种夹层卡
CN101276304A (zh) * 2007-03-30 2008-10-01 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 Pcie 测试卡
CN103019896A (zh) * 2011-09-21 2013-04-03 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 测试卡
CN203276261U (zh) * 2013-04-12 2013-11-06 技嘉科技股份有限公司 用以检测电子装置的扩充卡
JP5506895B1 (ja) * 2012-11-22 2014-05-28 技嘉科技股▲ふん▼有限公司 コンピュータ周辺装置及びその操作方法
CN104330606A (zh) * 2013-07-22 2015-02-04 技嘉科技股份有限公司 量测电源的电压及电流的治具及其量测方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8239693B2 (en) * 2008-08-06 2012-08-07 MSI Corporation (Shenzhen) Co., Ltd. Built-in system power management circuit and motherboard with thereof

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2560989Y (zh) * 2002-08-14 2003-07-16 技嘉科技股份有限公司 主机板测试治具
CN1829007A (zh) * 2005-03-02 2006-09-06 英业达股份有限公司 一种夹层卡
CN101276304A (zh) * 2007-03-30 2008-10-01 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 Pcie 测试卡
CN103019896A (zh) * 2011-09-21 2013-04-03 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 测试卡
JP5506895B1 (ja) * 2012-11-22 2014-05-28 技嘉科技股▲ふん▼有限公司 コンピュータ周辺装置及びその操作方法
CN203276261U (zh) * 2013-04-12 2013-11-06 技嘉科技股份有限公司 用以检测电子装置的扩充卡
CN104330606A (zh) * 2013-07-22 2015-02-04 技嘉科技股份有限公司 量测电源的电压及电流的治具及其量测方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN106896311A (zh) 2017-06-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10318394B2 (en) USB TYPE-C to legacy USB cable detection
US10983152B2 (en) USB data pin impedance detection
JP5717005B2 (ja) Usbインタフェースのステータスに従って内部回路を選択するための方法および端末
US9483093B2 (en) Electronic device and method for controlling a setting of a maximum consumption current
US9153984B2 (en) Charging device
EP2710482B1 (en) Method, apparatus, and computer program product for cable detection and power negotiation
JP6714469B2 (ja) 電子機器およびその制御方法
CN108228509B (zh) 一种usb接口切换装置和电子设备
CN106445858B (zh) 一种信息处理方法、信息处理模组和电子设备
RU2676866C2 (ru) Способ и устройство для управления режимом устройства
TW201329731A (zh) 用於識別通用串列匯流排(usb)和移動高解析度鏈接(mhl)設備的一種裝置和其方法
CN110851387A (zh) 一种接口功能配置方法和电子设备
US20170005495A1 (en) Method and apparatus for charging electronic device with usb connection
CN109298266B (zh) 测试***、测试方法、测试装置及存储介质
KR20160030261A (ko) 전류 제한을 변경하는 장치 및 방법
CN105071484B (zh) 一种具有数据交换功能的终端的充电方法和装置
US20130283028A1 (en) Adapter identification system and method for computer
CN109254210B (zh) 电子设备端口类型检测方法、装置、检测电路及电子设备
CN106226708B (zh) 电力输入检测装置
CN106896311B (zh) 测量治具
KR102496919B1 (ko) 선택가능한 충전 전압을 제공하기 위한 장치 및 방법들
CN110927583A (zh) 电池功率的检测装置以及电池功率的测试方法
CN113220617B (zh) 一种即插即用设备的检测电路、检测方法及终端
WO2022217018A1 (en) Multiprotocol usb adaptive charging
KR20140092547A (ko) 유에스비 오티지 자동 변경 장치

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant