CN106840384B - 校正装置和应用该校正装置的校正方法 - Google Patents

校正装置和应用该校正装置的校正方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106840384B
CN106840384B CN201611106106.5A CN201611106106A CN106840384B CN 106840384 B CN106840384 B CN 106840384B CN 201611106106 A CN201611106106 A CN 201611106106A CN 106840384 B CN106840384 B CN 106840384B
Authority
CN
China
Prior art keywords
sensor
data
interest
correction coefficient
processor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201611106106.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106840384A (zh
Inventor
周志贤
刘亚龙
张正华
宫兴致
武俊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Opple Lighting Co Ltd
Original Assignee
Opple Lighting Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Opple Lighting Co Ltd filed Critical Opple Lighting Co Ltd
Priority to CN201611106106.5A priority Critical patent/CN106840384B/zh
Publication of CN106840384A publication Critical patent/CN106840384A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106840384B publication Critical patent/CN106840384B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/0295Constructional arrangements for removing other types of optical noise or for performing calibration

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

本发明实施例公开了一种校正装置和应用该校正装置的校正方法,校正装置用于校正工具,其包括:基座,包括收容部,收容部用于收容参考传感器与所述工具内目标传感器;控制器,与位于收容部内的所述参考传感器和目标传感器以及工具内处理器均电性连接,控制器用于:将参考传感器和目标传感器所采集到光线的数据做比对的结果作为校正系数;将校正系数写入处理器,处理器通过校正系数来校正从目标传感器获取到的数据。通过上述方案,处理器能够基于校正系数来校正目标传感器所采集到数据,而使得目标传感器所采集到的数据更准确。实现仅从软件层面做校正,不会对工具内硬件带来变化,大幅降低了校正成本,具有很强的应用前景。

Description

校正装置和应用该校正装置的校正方法
技术领域
本发明涉及工具校正技术领域,特别涉及一种针对携带有传感器的工具的校正装置和应用该校正装置的校正方法。
背景技术
随着传感器技术的快速发展,利用传感器能够测量光色、照度等特性来制备诸如光色检测工具、照度检测工具或智能照明工具的需求越来越多。
然而,现有的传感器一般包括接收光线并识别出光线的光色或照度的传感器芯片、配合传感器芯片工作的处理器以及常规性的辅助电路,由于各个厂家所生成的传感器芯片的性能难以保持一致,并且辅助电路内例如电阻、三极管等电气元件的性能一致性也难以控制,使得各传感器的测量能力可能出现较大差异,这严重影响了携带有这些传感器的工具的正常使用。
因此,有必要提出一种针对携带有传感器的工具的校正装置和方法。
发明内容
本发明实施例的目的是提供一种校正装置和应用该校正装置的校正方法,用于校正携带有传感器的工具。
为解决上述技术问题,本发明实施例提供一种校正装置,用于校正工具,所述工具包括目标传感器以及与所述目标传感器电性连接的处理器,所述处理器用于获取并处理所述目标传感器所采集到的数据,校正装置包括:
基座,包括收容部,所述收容部用于收容参考传感器与所述工具内目标传感器;
控制器,与位于所述收容部内的所述参考传感器和目标传感器以及所述工具内处理器均电性连接,所述控制器用于:
将所述参考传感器和目标传感器所采集到光线的数据做比对,得到比对结果,作为校正系数;
将校正系数写入处理器,处理器通过校正系数来校正从目标传感器获取到的数据。
优选的,所述基座包括台面,所述收容部包括开设于所述台面的凹槽。
优选的,所述收容部的数量设置为两个,所述参考传感器和目标传感器分置于各收容部内。
优选的,所述校正装置还包括安装至所述基座上的发光组件,所述收容部位于所述发光组件下方,以使得位于所述收容部内的参考传感器与目标传感器均位于所述发光组件的照射下。
优选的,位于所述收容部内的参考传感器和目标传感器距离所述发光组件的距离相等。
优选的,所述发光组件包括至少三组发出不同光色和/或照度的光线的校正光源。
优选的,所述发光组件还包括连接所述至少三组校正光源的驱动电路,所述驱动电路被配置为依次点亮各组发光组件。
优选的,所述发光组件还包括覆盖于所述校正光源上的光学元件。
优选的,所述收容部内设置有与所述控制器电性连接的电连接器,所述电连接器用于与位于所述收容部内参考传感器和目标传感器电性连接,以将所述参考传感器和目标传感器与所述控制器电性连接。
为解决上述技术问题,本发明实施例提供一种基于前述发明内容所述的校正装置的校正方法,收容于校正装置内的参考传感器与目标传感器均位于发光组件的照射下,校正方法包括:
利用参考传感器采集发光组件所发出光线的数据,作为参考数据;
利用目标传感器采集发光组件所发出光线的数据,作为目标数据;
将参考数据与目标数据做比对,得到比对结果,作为校正系数;
将校正系数写入处理器,处理器通过校正系数来校正从目标传感器获取到的数据。
优选的,参考数据和目标数据均包括光色数据和照度数据中至少一种,参考数据和目标数据的类型相同;校正系数包括光色校正系数和照度校正系数中至少一种。
优选的,发光组件包括至少三组发出不同颜色和/或照度的光线的校正光源;
利用参考传感器采集发光组件所发出光线的数据之前,方法还包括:
依次点亮发光组件内各校正光源;
利用参考传感器采集发光组件所发出光线的数据,具体包括:
利用参考传感器依次采集发光组件内各校正光源所发出光线的数据;
利用目标传感器采集发光组件所发出光线的数据,具体包括:
利用目标传感器依次采集发光组件内各校正光源所发出光线的数据。
优选的,参考数据和目标数据均为矩阵形式。
优选的,参考传感器和目标传感器所采集的参考数据和目标数据均为光色数据,光色数据为RGB数值;
将参考数据与目标数据做比对,得到比对结果,作为校正系数,具体包括:
将参考传感器和目标传感器所采集的RGB数值做比对,得到比对结果,作为光色校正系数。
优选的,将参考数据与目标数据做比对,得到比对结果,作为校正系数,具体包括:
将参考传感器和目标传感器所采集的RGB数值转化为三刺激值XYZ三刺激值;
将参考传感器和目标传感器所采集的光色数据内Y刺激值做比对,得到比对结果,作为照度校正系数。
优选的,将校正系数写入处理器之前,校正方法还包括:
将标准颜色数值与预设标准光源的标准XYZ三刺激值做对比,得到光色转换系数,所述标准颜色数值为参考传感器采集预设标准光源所发出光线的RGB数值,所述预设标准光源具有已确定的标准XYZ三刺激值;
所述将校正系数写入处理器,处理器通过校正系数来校正从目标传感器获取到的数据,具体包括:
将光色校正系数与光色转换系数相乘后写入处理器,处理器通过光色校正系数与转换系数相乘后结果来校正从目标传感器获取到的数据。
优选的,将校正系数写入处理器之前,校正方法还包括:
将标准照度值与预设标准光源的标准XYZ三刺激值中的Y刺激值作比对,得到照度转换系数,所述标准照度值为参考传感器采集预设标准光源所发出光线的照度数值,所述预设标准光源具有已确定的标准XYZ三刺激值;
所述将校正系数写入处理器,处理器通过校正系数来校正从目标传感器获取到的数据,具体包括:
将照度校正系数与照度转换系数相乘后写入处理器,处理器通过照度校正系数与照度转换系数相乘后结果来校正从目标传感器获取到的数据。
由以上本发明实施例提供的技术方案可见,本发明实施例所提供的校正装置和应用该校正装置的校正方法,通过参考传感器的数据与工具内目标传感器的数据做比对得到校正系数,再将校正系数写入工具内处理器,使得处理器能够基于校正系数来校正目标传感器所采集到数据,而使得目标传感器所采集到的数据更准确。实现仅从软件层面做校正,不会对工具内硬件带来变化,大幅降低了校正成本,具有很强的应用前景。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例中校正装置与工具的组合示意图。
图2为本发明实施例中校正装置内发光组件、控制器、参考传感器与工具内目标传感器、处理器的模块示意图。
图3为本发明第一实施例中校正方法的流程图。
图4为本发明第二实施例中校正方法的流程图。
图5为本发明第三实施例中校正方法的流程图。
图6为本发明第四实施例中校正方法的流程图。
具体实施方式
本发明实施例提供一种校正装置和应用该校正装置的校正方法,用于校正携带有目标传感器的工具。
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。
参图1和图2所示,在本发明实施例中,校正装置100用于校正工具200,工具200可以是携带有目标传感器210的任何类型的工具,例如可以是光色检测工具、照度检测工具或具有光色检测或照度检测的智能灯具。
工具200还包括与目标传感器210电性连接的处理器220,处理器220用于从目标传感器210获取其所检测到的数据并加以处理,再针对处理器220搭配例如显示屏(未图示)等器件,从而可以得到前述光色检测工具或照度检测工具,而针对处理器220搭配例如光源之类器件,即可得到前述智能灯具。
当然,工具200还会包括常规的辅助电路以及壳体(未图示)等,在对工具200进行校正时,可以仅取出目标传感器210和处理器220放置于收容部12内,以备后续校正处理。待校正完成后,与辅助电路配接后重新组状至壳体内,使得工具200可以正常使用。
在本发明实施例中,校正装置100包括基座10以及控制器20,基座10可以被安装至例如工厂地面或操作台等区域。基座10的材质和形状可以根据工作环境进行设定,例如可以通过金属材料制备并设定成方形。
基座10包括位于其上方的台面11,台面11大致呈平整设置。台面11上设置有若干收容部12,收容部12用于收容并安装前述待校正的工具200以及用于实现校正功能的参考传感器30。在实际应用中,收容部12可以采用例如凹槽的形式。
参考传感器30可以采用已通过标准设备校正过的、数值准确的以实现相应校正功能的传感器,例如在待校正的工具200内目标传感器210为光色传感器时,可以选用具有光色检测功能的参考传感器。
工具200内目标传感器210设置于收容部12内,处理器220可以设置于收容部12内,也可以不设置于收容部12内。
在本发明实施例中,收容部12内设置有例如极片、插拔接口等电连接器(未图示),电连接器通过位于基座10内的线材(未图示)与控制器20电性连接。目标传感器210和参考传感器30在安装至收容部12内时,可以通过电连接器与控制器20电性连接,以将所采集到的数据传输至控制器20之中。
处理器220也与控制器20电性连接,在处理器220也位于收容部12内时,处理器220可以通过前述电连接器与控制器20电性连接;在处理器220不位于收容部12内时,处理器220可以通过其他线材与控制器20电性连接。仅需保证属于同一个工具200内的目标传感器210与处理器220在同一个校正流程中被处理即可。
在本发明实施例中,基座10还包括设置于台面11上的支撑臂13,支撑臂13自台面11向上延伸并弯折,进而形成朝向基座10的末端131。校正装置100还包括设置在末端131上的发光组件40,发光组件40所发出光线能够照射至台面11上。
发光组件40包括任意数量的校正光源41,校正光源41可以选用LED光源、高压气体放电灯、低压气体放电灯、卤素灯等多种类型。
发光组件40还包括与末端131相连接的底板42,底板42大致与台面11平行,校正光源41排布于底板42上。在实际应用中,发光组件40内常规的光源板、驱动电路、电源模组等元器件均可以设置于底板42上,可以将支撑臂13设置为中空,发光组件40内供电线路还可以通过支撑臂13内部延伸至基座10之中,进而与例如市电的外部供电源电性连接。
校正光源41排列于底板42上;在校正光源41的数量在本发明实施例中,发光组件40包括三个校正光源41,三个校正光源41能够发出不同光色和/或照度的光线。例如三个校正光源41可以分别发出红光、绿光和蓝光这三种光色的光线,这些光色的光线的照度可以相同,也可以不同。
当然,发光组件40还包括与校正光源41电性连接的驱动电路(未图示),在本发明实施例中,驱动电路可以控制各校正光源41依次被点亮。
校正装置100还包括位于发光组件40与收容部12之间的光学元件(未图示),具体的,光学元件可以覆盖于校正光源41上,使得各校正光源41所发出光线能够垂直照射至收容部12内参考也传感器30和目标传感器210。
在实际应用中,通过调整收容部12和支撑臂13在台面11上的位置,可以使得位于收容部11内的参考传感器30和目标传感器210均在发光组件40所发出光线的照射下,参考传感器30和目标传感器210距离发光组件40的距离大致相等,并且参考传感器30和目标传感器210的距离足够近,使得照射至参考传感器30和目标传感器210的光线也基本相同,为通过参考传感器30校正目标传感器210提供基础。
在本发明实施例中,发光组件40被点亮后,参考传感器30和目标传感器210均会采集发光组件40所发出光线并将采集到的数据发送至控制器20,控制器20将所述参考传感器30和目标传感器210所采集到光线的数据做比对,得到比对结果,作为校正系数;再将校正系数写入处理器220,处理器220通过校正系数来校正从目标传感器210获取到的数据,并将校正结果写入处理器220之中。后续工具200使用过程中,处理器220获取目标传感器210所采集的数据后,会与校正系数做乘积,从而使得目标传感器210所采集到的数据更准确。由于采用本发明实施例中的校正方法,仅从软件层面所调整,不会对工具200内硬件带来变化,大幅降低了校正成本,具有很强的应用前景。
本发明实施例中,还提供一种应用前述校正装置100的校正方法,通过该校正方法则可以实现对工具200的校正,以下结合附图详述该方法的具体流程。
参图3所示,在本发明第一实施例中,校正方法包括:
S20、利用参考传感器采集发光组件所发出光线的数据,作为参考数据。
S40、利用目标传感器采集发光组件所发出光线的数据,作为目标数据。
在本发明实施例中,通过调整安装部12的位置,使得参考传感器30和目标传感器210均位于发光组件40的下方。在发光组件40被点亮时,发光组件40所发出光线会照射至参考传感器30和目标传感器210上,从而可以利用参考传感器30和目标传感器210来采集发光组件40所发出光线的数据,并对应作为参考数据和目标数据。
在本发明实施例中,发光组件40可以包括三个校正光源41,这三个校正光源41能够发出不同光色和照度的光线。例如,这三个校正光源41可以分别发出红光、绿光和蓝光且照度不同的光线。
利用参考传感器30和目标传感器210所得到的参考数据和目标数据可以包括光色数据和强度数据中至少一个。光色数据用于描述发光组件40所发出光线的光色,例如可以是RGB数值;照度数据用于描述发光组件40所发出光线的照度。并且,前述参考数据和目标数据的类型可以是相同的,或者说,参考数据的类型可以比目标数据的类型多,以保证通过参考数据可以校正目标数据。
在实际应用中,由于利用传感器技术来获取光线的光色或照度为本领域普通技术人员所熟知的技术,其细节和原理在此不做赘述。
在实际应用中,在执行步骤S20和S40之前,校正方法还需执行如下步骤:依次点亮发光组件内各校正光源。
发光组件40同样可以与控制器20电性连接,进而通过控制器20来依次点亮各校正光源41,各校正光源41可以依照固定的频率被依次点亮。此时,参考传感器30和目标传感器210会被各校正光源41所发出光线依次照射到。
对应的步骤S20则调整为:利用参考传感器依次采集发光组件内各校正光源所发出光线的数据;对应的步骤S40则调整为:利用目标传感器依次采集发光组件内各校正光源所发出光线的数据。此时,参考数据和目标数据内均包括三组采集到的数据,这些数据可以通过矩阵的形式来体现。
S60、将参考数据与目标数据做比对,得到比对结果,作为校正系数。
由于参考数据和目标数据分别代表着参考传感器和目标传感器对于光线的性能,通过这两个数据进行比对,可以得出参考传感器30和目标传感器210的性能差距。校正系数是参考数据和目标数据的比对结果,可以用于描述参考传感器和目标传感器的性能差距。
根据参考数据和目标数据类型的不同,校正系数也可以分为两个类型。例如参考数据和目标数据均为RGB数值时,校正系数为光色校正系数;再例如参考数据和目标数据均为照度数据时,校正系数为照度校正系数。从而实现对目标传感器的光色和照度进行校正。
以光色校正系数为例,将作为参考数据和目标数据的两组RGB数值做比对,从而可以得到光色校正系数。以照度校正系数为例,则可以将作为参考数据和目标数据的两组照度数值做比对,则可以得到照度校正系数。
在实际应用中,还可以基于光色数据来得到照度数据,例如将作为光色数据的RGB数值转换为XYZ三刺激值,再将两组XYZ三刺激值中Y刺激值(即绿原色刺激值)对比,从而可以得到照度校正系数。
由于将RGB数值转换为XYZ三刺激值为本领域普通技术人员所熟知的技术,在此不做赘述。
S80、将校正系数写入处理器,处理器通过校正系数来校正从目标传感器获取到的数据。
处理器220获取校正系数后,可以通过校正系数来校正从目标传感器210获取到的数据,例如处理器220可以将校正系数与从目标传感器210获取到的数据相乘,得到校正后的数据。
后续,处理器220再将校正后的数据传输至工具200内配合使用的例如显示屏、光源等器件内,使得配合使用的器件可以直接基于校正后的数据工作。使得工具200能够基于校正后的数据进行工作,实现在软件层面对目标传感器210的性能进行校正,不会对工具200内硬件带来变化,大幅降低了校正成本,具有很强的应用前景。
参图4所示,在本发明的第二实施例中的校正方法与前述第一实施例相比,区别在于,校正方法还包括位于步骤S80之前的如下步骤:
S70a、将标准光色数值与预设标准光源的标准XYZ三刺激值做对比,得到光色转换系数,所述标准光色数值为参考传感器采集预设标准光源所发出光线的RGB数值,所述预设标准光源具有已确定的标准XYZ三刺激值。
预设标准光源可以理解为各方面参数均很确定的光源,其可以选用LED光源、高压气体放电灯、低压气体放电灯、卤素灯等多种类型。预设标准光源所发出光线照射至参考传感器后,将参考传感器所采集到的RGB数值作为标准光色数值。
步骤S80则适应性调整为:S80a、将光色校正系数与光色转换系数相乘后写入处理器,处理器通过光色校正系数与转换系数相乘后结果来校正从目标传感器获取到的数据。
由于光色转换系数的存在,处理器内经过校正的数据则为XYZ三刺激值维度。
参图5所示,在本发明的第三实施例中的校正方法与前述第一实施例相比,区别在于,校正方法还包括位于步骤S80之前的如下步骤:
S70b、将标准照度值与预设标准光源的标准XYZ三刺激值内Y刺激值(即绿原色刺激值)作比对,得到照度转换系数,所述标准照度值为参考传感器采集预设标准光源所发出光线的照度数值,所述预设标准光源具有已确定的标准XYZ三刺激值。
预设标准光源同样可以理解为各方面参数均很确定的光源,其可以选用LED光源、高压气体放电灯、低压气体放电灯、卤素灯等多种类型。预设标准光源所发出光线照射至参考传感器后,将参考传感器所采集到的RGB数值作为标准光色数值。
步骤S80则适应性调整为:S80b、将照度校正系数与照度转换系数相乘后写入处理器,处理器通过照度校正系数与照度转换系数相乘后结果来校正从目标传感器获取到的数据。
由于照度转换系数的存在,在参考传感器采集的到数据为RGB数数值时,可以直接通过照度校正系数和照度转换系数将由该RGB数值所转换而来的XYZ三刺激值中Y值转换为照度数据。
参图6所示,在本发明的第四实施例中的校正方法与前述第一实施例相比,区别在于,校正方法包括前述步骤S70a和S70b,步骤S80适应调整为S80a和S80b。其工作原理可参前述实施例中描述,在此不做赘述。
综上,本发明实施例所提供的校正装置和应用该校正装置的校正方法,通过参考传感器的数据与工具内目标传感器的数据做比对得到校正系数,再将校正系数写入工具内处理器,使得处理器能够基于校正系数来校正目标传感器所采集到数据,而使得目标传感器210所采集到的数据更准确。实现仅从软件层面做校正,不会对工具内硬件带来变化,大幅降低了校正成本,具有很强的应用前景。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于***实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
以上所述仅为本发明的实施例而已,并不用于限制本发明。对于本领域技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的权利要求范围之内。

Claims (16)

1.一种校正装置,用于校正工具,所述工具包括目标传感器以及与所述目标传感器电性连接的处理器,所述处理器用于获取并处理所述目标传感器所采集到的数据,其特征在于,所述校正装置包括:
基座,包括收容部,所述收容部用于收容参考传感器与所述工具内目标传感器;
控制器,与位于所述收容部内的所述参考传感器和目标传感器以及所述工具内处理器均电性连接,所述控制器用于:
将所述参考传感器和目标传感器所采集到光线的数据做比对,得到比对结果,作为校正系数;
将标准颜色数值与预设标准光源的标准XYZ三刺激值做对比,得到光色转换系数,所述标准颜色数值为参考传感器采集预设标准光源所发出光线的RGB数值,所述预设标准光源具有已确定的标准XYZ三刺激值;
将校正系数写入处理器,处理器通过校正系数来校正从目标传感器获取到的数据,具体包括:将光色校正系数与光色转换系数相乘后写入处理器,处理器通过光色校正系数与转换系数相乘后结果来校正从目标传感器获取到的数据。
2.如权利要求1所述的校正装置,其特征在于,所述基座包括台面,所述收容部包括开设于所述台面的凹槽。
3.如权利要求1所述的校正装置,其特征在于,所述收容部的数量设置为两个,所述参考传感器和目标传感器分置于各收容部内。
4.如权利要求1所述的校正装置,其特征在于,所述校正装置还包括安装至所述基座上的发光组件,所述收容部位于所述发光组件下方,以使得位于所述收容部内的参考传感器与目标传感器均位于所述发光组件的照射下。
5.如权利要求4所述的校正装置,其特征在于,位于所述收容部内的参考传感器和目标传感器距离所述发光组件的距离相等。
6.如权利要求4所述的校正装置,其特征在于,所述发光组件包括至少三组发出不同光色和/或照度的光线的校正光源。
7.如权利要求6所述的校正装置,其特征在于,所述发光组件还包括连接所述至少三组校正光源的驱动电路,所述驱动电路被配置为依次点亮各组发光组件。
8.如权利要求6所述的校正装置,其特征在于,所述发光组件还包括覆盖于所述校正光源上的光学元件。
9.如权利要求1所述的校正装置,其特征在于,所述收容部内设置有与所述控制器电性连接的电连接器,所述电连接器用于与位于所述收容部内参考传感器和目标传感器电性连接,以将所述参考传感器和目标传感器与所述控制器电性连接。
10.一种基于前述权利要求1的校正装置的校正方法,收容于校正装置内的参考传感器与目标传感器均位于发光组件的照射下,其特征在于,校正方法包括:
利用参考传感器采集发光组件所发出光线的数据,作为参考数据;
利用目标传感器采集发光组件所发出光线的数据,作为目标数据;
将参考数据与目标数据做比对,得到比对结果,作为校正系数;
将校正系数写入处理器,处理器通过校正系数来校正从目标传感器获取到的数据;
将校正系数写入处理器之前,校正方法还包括:
将标准颜色数值与预设标准光源的标准XYZ三刺激值做对比,得到光色转换系数,所述标准颜色数值为参考传感器采集预设标准光源所发出光线的RGB数值,所述预设标准光源具有已确定的标准XYZ三刺激值;
所述将校正系数写入处理器,处理器通过校正系数来校正从目标传感器获取到的数据,具体包括:
将光色校正系数与光色转换系数相乘后写入处理器,处理器通过光色校正系数与转换系数相乘后结果来校正从目标传感器获取到的数据。
11.如权利要求10的校正方法,其特征在于,参考数据和目标数据均包括光色数据和照度数据中至少一种,参考数据和目标数据的类型相同;校正系数包括光色校正系数和照度校正系数中至少一种。
12.如权利要求11的校正方法,其特征在于,发光组件包括至少三组发出不同颜色和/或照度的光线的校正光源;
利用参考传感器采集发光组件所发出光线的数据之前,方法还包括:
依次点亮发光组件内各校正光源;
利用参考传感器采集发光组件所发出光线的数据,具体包括:
利用参考传感器依次采集发光组件内各校正光源所发出光线的数据;
利用目标传感器采集发光组件所发出光线的数据,具体包括:
利用目标传感器依次采集发光组件内各校正光源所发出光线的数据。
13.如权利要求12的校正方法,其特征在于,参考数据和目标数据均为矩阵形式。
14.如权利要求12的校正方法,其特征在于,参考传感器和目标传感器所采集的参考数据和目标数据均为光色数据,光色数据为RGB数值;
将参考数据与目标数据做比对,得到比对结果,作为校正系数,具体包括:
将参考传感器和目标传感器所采集的RGB数值做比对,得到比对结果,作为光色校正系数。
15.如权利要求14的校正方法,其特征在于,将参考数据与目标数据做比对,得到比对结果,作为校正系数,具体包括:
将参考传感器和目标传感器所采集的RGB数值转化为三刺激值XYZ三刺激值;
将参考传感器和目标传感器所采集的光色数据内Y刺激量做比对,得到比对结果,作为照度校正系数。
16.如权利要求10的校正方法,其特征在于,将校正系数写入处理器之前,校正方法还包括:
将标准照度值与预设标准光源的标准XYZ三刺激值中的Y刺激值作比对,得到照度转换系数,所述标准照度值为参考传感器采集预设标准光源所发出光线的照度数值,所述预设标准光源具有已确定的标准XYZ三刺激值;
所述将校正系数写入处理器,处理器通过校正系数来校正从目标传感器获取到的数据,具体包括:
将照度校正系数与照度转换系数相乘后写入处理器,处理器通过照度校正系数与照度转换系数相乘后结果来校正从目标传感器获取到的数据。
CN201611106106.5A 2016-12-05 2016-12-05 校正装置和应用该校正装置的校正方法 Active CN106840384B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611106106.5A CN106840384B (zh) 2016-12-05 2016-12-05 校正装置和应用该校正装置的校正方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611106106.5A CN106840384B (zh) 2016-12-05 2016-12-05 校正装置和应用该校正装置的校正方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106840384A CN106840384A (zh) 2017-06-13
CN106840384B true CN106840384B (zh) 2019-04-26

Family

ID=59145568

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201611106106.5A Active CN106840384B (zh) 2016-12-05 2016-12-05 校正装置和应用该校正装置的校正方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106840384B (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108172175A (zh) * 2018-01-04 2018-06-15 广东小天才科技有限公司 一种用于光传感器的校正方法、装置、设备及存储介质
CN112710383B (zh) * 2019-10-24 2024-07-09 北京小米移动软件有限公司 光感传感器校准方法、装置及存储介质
CN111726552A (zh) * 2020-06-02 2020-09-29 深圳创维-Rgb电子有限公司 一种调整显示参数的方法和计算机设备

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201479427U (zh) * 2009-08-21 2010-05-19 深圳市长运通集成电路设计有限公司 一种校正发光二极管模组发光的装置
CN101827222A (zh) * 2009-03-06 2010-09-08 夏普株式会社 校正装置、校正方法及图像输入装置
CN103424185A (zh) * 2012-05-21 2013-12-04 敦南科技股份有限公司 自动校正误差的检测***及方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016053942A1 (en) * 2014-09-29 2016-04-07 Nonin Medical, Inc. Tissue site detection

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101827222A (zh) * 2009-03-06 2010-09-08 夏普株式会社 校正装置、校正方法及图像输入装置
CN201479427U (zh) * 2009-08-21 2010-05-19 深圳市长运通集成电路设计有限公司 一种校正发光二极管模组发光的装置
CN103424185A (zh) * 2012-05-21 2013-12-04 敦南科技股份有限公司 自动校正误差的检测***及方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN106840384A (zh) 2017-06-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106840384B (zh) 校正装置和应用该校正装置的校正方法
CN109658862B (zh) 一种led箱体亮色度校正方法及校正***
EP1866900A2 (en) An led assembly with a communication protocol for led light engines
TW200806047A (en) Adaptive auto white balance
CN106455224B (zh) 自适应辅助光源发光产生装置及辅助光源调节方法
US10021752B2 (en) Lighting method and lighting device
CN104756602A (zh) 发光装置
WO2016161486A1 (en) A controller for and a method for controlling a lighting system having at least one light source
CN105954893B (zh) 一种液晶光学模组的配置方法及检测装置
CN207407994U (zh) 校正装置
CN106303505A (zh) 摄像头模块色彩一致性检测装置及检测方法
CN111986613B (zh) 显示校正方法及装置、显示校正***以及计算机可读介质
KR101167010B1 (ko) Led 모듈 검사 장치 및 방법
WO2013037199A1 (zh) 一种基于光敏元件的自动照明装置
CN109076677B (zh) 用于在预定测量点处确定光源的贡献和取向的方法
CN106287443B (zh) 安装底座、连接基座、光源模组及照明设备
CN206072892U (zh) 安装底座、连接基座、光源模组及照明设备
CN106412543A (zh) 一种校准闪光灯色偏的方法及装置
CN112071257B (zh) 一种led屏校正方法、装置、存储介质及led屏
CN203104900U (zh) 照明控制设备及照明***
CN205157166U (zh) 一种led亮度检测校准装置
CN101515438B (zh) 一种逐点亮度调整的显示***及方法
CN216621463U (zh) 一种led发光颜色测试用数据采集装置
CN109982072A (zh) 一种摄像头模组校准用光源对正方法
CN106885217A (zh) Led灯的rgb全自动白平衡调节方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant