CN106712862A - 一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及天馈线的技术领域,更具体地,涉及一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法。一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法,本发明参考信号及测量信号,经过混频器、陶瓷滤波器及硬件相位比较、功率比较,简单有效地实现并大大提高天馈线测试仪抗干扰性,降低软件的处理难度。将455KHz通用陶瓷滤波器,应用到天馈线测试仪,简单有效地提高天馈线测试仪的抗干扰能力。
Description
技术领域
本发明涉及天馈线的技术领域,更具体地,涉及一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法。
背景技术
利用天馈线测试仪,测试天馈线***时,外部噪声信号容易通过天线、馈线或其它方式耦合到被测***里。因此作为天馈线测试仪,要求对它测试的频点之外的噪声必须有一定的滤除能力,否则会严重影响测试效果。目前市面上的天馈线测试仪,通过多种方法实现抑制噪声干扰,都离不开软件的数字处理。
目前市面上天馈线测试仪,具有较好干扰能力的产品,基本上是通过加强信号源的功率掩盖干扰噪声功率;通过对参考RF信号、测试RF信号经过混频,低通,ADC采样,软件计算相位差和功率比等两个方式实现天馈线测试仪的抗干扰。
现有技术的缺点在于:基本型的天馈线测试方案,要求硬件的功率比较、相位差比较器要具有很宽的频率响应,功率比较和相位比较的硬件设计要求高。基本型的天馈线测试方案,对通过被测天馈线***耦合进来的噪声信号,没任何抑制能力,不具有现场应用的实用价值。参考中频信号和测试中频信号,经过低通滤波器,在进入ADC采样。由于低通滤波的频率带宽较大(通常在200KHz),对带外的干扰抑制能力有限,必须借助滤波算法实现窄带滤波,加大了软件的算法设计难度,增加数字处理器性能要求。市面上现有天馈线产品的方案,虽然对外部噪声具有比较好的噪声抑制效果,但是ADC采样后的软件算法设计很复杂,对算法设计要求很高,软件开发难度比较高。现有的方案,如果遇到比较强的干扰信号,抑制效果会下降。现有的方案,如果要做窄带的测量,对数字处理器要求比较高,间接提高了天馈线的产品的成本。
发明内容
本发明为克服上述现有技术所述的至少一种缺陷,提供一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法,提高现场应用抗干扰能力,降低前端软件的设计复杂程度,一定程度上降低天馈线测试仪的成本。
为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是:一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法,其中,包括以下步骤:
S1. 测试RF信号源经过功分器,分为参考RF信号、测试RF信号;
S2. 本振LO信号源经过功分器,分为参考LO信号、测试LO信号;
S3. 参考RF信号经过衰减器,进行功率调节,通过第一混频器与参考的LO信号混频,再经过第一滤波器,得到参考中频信号IF0;
S4. 测试RF信号,经过定向耦合器,接入天馈线测试***,并耦合出被测***的反射信号功率,反射信号再通过第二混频器与测试LO信号混频,经过第二滤波器,得到测试中频信号IF1;
S5. 参考中频信号IF0和测试中频信号IF1,通过硬件的功率比较器、相位比较器,得到IF0和IF1的功率比及相位差的直流信号Vmag和Vphase;
S6. 功率比和相位差直流信号Vmag和Vphase经过低速的ADC采样储存,简单的算法处理,即可得到被测天馈线***的驻波比、***损耗及故障点信息。
进一步的,所述的步骤S1、S2中,RF信号和LO信号的频率差为455KHz。
参考信号中频信号IF0和测试中频信号,是经过陶瓷滤波器之后得到的6KHz窄带中频信号,测试过程中对带外的噪声干扰抑制非常明显。
进一步的,所述的步骤S3、S4中,第一滤波器、第二滤波器均为窄带通用陶瓷滤波器。所述的步骤S3中,参考中频信号IF0带宽为6KHz,频率为455KHz。所述的步骤S4中,测试中频信号IF1带宽为6KHz,频率为455KHz。
而且第一滤波器、第二滤波器均为窄带(-6dB@6KHz)的通用陶瓷滤波器。
本发明中,测试中频信号选择455KHz,该频点的中频信号广泛应用在收音机、对讲机、无绳电话上面,455KHz陶瓷滤波器的应用广泛,容易选型,器件成本低廉。455KHz的中频频点,对硬件的功率比较器、相位比较器的频率响应要求不高,选型设计带来了极大的方便。
经过硬件的功率比较、相位差比较,等到直流信号,对ADC的采样速率要求降低。经过了陶瓷滤波器的窄带滤波,硬件功率比较,硬件相位差比较,大大降低了软件算法设计难度。对数字处理方面依赖程度降低。经过改进的天馈线测试仪,成本得到了一定的降低,而且现场应用抗干扰抑制效果明显。
与现有技术相比,有益效果是:本发明参考信号及测量信号,经过混频器、陶瓷滤波器及硬件相位比较、功率比较,简单有效地实现并大大提高天馈线测试仪抗干扰性,降低软件的处理难度。将455KHz通用陶瓷滤波器,应用到天馈线测试仪,简单有效地提高天馈线测试仪的抗干扰能力。
附图说明
图1是本发明整体示意图。
具体实施方式
附图仅用于示例性说明,不能理解为对本专利的限制;为了更好说明本实施例,附图某些部件会有省略、放大或缩小,并不代表实际产品的尺寸;对于本领域技术人员来说,附图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的。附图中描述位置关系仅用于示例性说明,不能理解为对本专利的限制。
如图1所示,一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法,其中,包括以下步骤:
S1. 测试RF信号源经过功分器,分为参考RF信号、测试RF信号;
S2. 本振LO信号源经过功分器,分为参考LO信号、测试LO信号;
S3. 参考RF信号经过衰减器,进行功率调节,通过第一混频器与参考的LO信号混频,再经过第一滤波器,得到参考中频信号IF0;
S4. 测试RF信号,经过定向耦合器,接入天馈线测试***,并耦合出被测***的反射信号功率,反射信号再通过第二混频器与测试LO信号混频,经过第二滤波器,得到测试中频信号IF1;
S5. 参考中频信号IF0和测试中频信号IF1,通过硬件的功率比较器、相位比较器,得到IF0和IF1的功率比及相位差的直流信号Vmag和Vphase;
S6. 功率比和相位差直流信号Vmag和Vphase经过低速的ADC采样储存,简单的算法处理,即可得到被测天馈线***的驻波比、***损耗及故障点信息。
本实施例中,利用混频原理,对测试信号和反射信号进行频谱搬移。频谱搬移的过程中,测试信号和反射信号的功率、相位等信息与原来信号一致。
而且本实施例中,在硬件电路上加入窄带陶瓷滤波、硬件功率比较、硬件相位比较,简便有效地实现了噪声干扰抑制,同时也大大降低了软件处理难度。该方法具有很高的实用性,拥有很大的创新性。
具体的,所述的步骤S1、S2中,RF信号和LO信号的频率差为455KHz。
参考信号中频信号IF0和测试中频信号,是经过陶瓷滤波器之后得到的6KHz窄带中频信号,测试过程中对带外的噪声干扰抑制非常明显。
进一步的,所述的步骤S3、S4中,第一滤波器、第二滤波器均为窄带通用陶瓷滤波器。所述的步骤S3中,参考中频信号IF0带宽为6KHz,频率为455KHz。所述的步骤S4中,测试中频信号IF1带宽为6KHz,频率为455KHz。
而且第一滤波器、第二滤波器均为窄带(-6dB@6KHz)的通用陶瓷滤波器。
本发明中,测试中频信号选择455KHz,该频点的中频信号广泛应用在收音机、对讲机、无绳电话上面,455KHz陶瓷滤波器的应用广泛,容易选型,器件成本低廉。455KHz的中频频点,对硬件的功率比较器、相位比较器的频率响应要求不高,选型设计带来了极大的方便。
经过硬件的功率比较、相位差比较,等到直流信号,对ADC的采样速率要求降低。经过了陶瓷滤波器的窄带滤波,硬件功率比较,硬件相位差比较,大大降低了软件算法设计难度。对数字处理方面依赖程度降低。经过改进的天馈线测试仪,成本得到了一定的降低,而且现场应用抗干扰抑制效果明显。
显然,本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例,而并非是对本发明的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明权利要求的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1. 测试RF信号源经过功分器,分为参考RF信号、测试RF信号;
S2. 本振LO信号源经过功分器,分为参考LO信号、测试LO信号;
S3. 参考RF信号经过衰减器,进行功率调节,通过第一混频器与参考的LO信号混频,再经过第一滤波器,得到参考中频信号IF0;
S4. 测试RF信号,经过定向耦合器,接入天馈线测试***,并耦合出被测***的反射信号功率,反射信号再通过第二混频器与测试LO信号混频,经过第二滤波器,得到测试中频信号IF1;
S5. 参考中频信号IF0和测试中频信号IF1,通过硬件的功率比较器、相位比较器,得到IF0和IF1的功率比及相位差的直流信号Vmag和Vphase;
S6. 功率比和相位差直流信号Vmag和Vphase经过低速的ADC采样储存,简单的算法处理,即可得到被测天馈线***的驻波比、***损耗及故障点信息。
2.根据权利要求1所述的一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法,其特征在于:所述的步骤S1、S2中,RF信号和LO信号的频率差为455KHz。
3.根据权利要求1所述的一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法,其特征在于:所述的步骤S3、S4中,第一滤波器、第二滤波器均为窄带通用陶瓷滤波器。
4.根据权利要求1所述的一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法,其特征在于:所述的步骤S3中,参考中频信号IF0带宽为6KHz,频率为455KHz。
5.根据权利要求1所述的一种高抗干扰性天馈线测试仪控制方法,其特征在于:所述的步骤S4中,测试中频信号IF1带宽为6KHz,频率为455KHz。
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