CN106528359A - 一种外部存储器校验位的可观测性方法 - Google Patents

一种外部存储器校验位的可观测性方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106528359A
CN106528359A CN201611073972.9A CN201611073972A CN106528359A CN 106528359 A CN106528359 A CN 106528359A CN 201611073972 A CN201611073972 A CN 201611073972A CN 106528359 A CN106528359 A CN 106528359A
Authority
CN
China
Prior art keywords
check bit
external memory
bit
storage
observation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201611073972.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106528359B (zh
Inventor
苏天红
文治平
陈雷
彭和平
于立新
庄伟�
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing Microelectronic Technology Institute
Mxtronics Corp
Original Assignee
Beijing Microelectronic Technology Institute
Mxtronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing Microelectronic Technology Institute, Mxtronics Corp filed Critical Beijing Microelectronic Technology Institute
Priority to CN201611073972.9A priority Critical patent/CN106528359B/zh
Publication of CN106528359A publication Critical patent/CN106528359A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106528359B publication Critical patent/CN106528359B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2273—Test methods
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

本发明公开了一种外部存储器校验位的可观测性方法，包括：从外部存储器中获取待观测存储对象对应的第一校验位；其中，所述待观测存储对象位于所述外部存储器的观测有效区域；将所述第一校验位保存在本地；调用观测程序，读取保存在本地的第一校验位，将所述第一校验位作为可观测校验位输出；其中，所述观测程序位于所述外部存储器内、所述观测有效区域之外。通过本发明避免了观测程序本身携带的校验位对待观测存储对象对应的第一校验位的覆盖，实现了对校验位的实时观测，降低了成本。

Description

一种外部存储器校验位的可观测性方法
技术领域
本发明属于计算机技术领域，尤其涉及一种外部存储器校验位的可观测性方法。
背景技术
空间计算机受辐射影响，可能导致半导体电路出现错误的逻辑状态，会导致存储体中存储内容在“0”、“1”之间突变，影响半导体器件的功能，通常称之为单粒子翻转(Single Event Upset，SEU)。为了抗单粒子翻转，在空间计算机处理器访问的外部存储器中，存放的数据要搭配与之对应的校验位，以满足在空间计算机处理器应用过程中对外部存储器的校验位的观测需求。
目前，通常采用调试模式实现对校验位的观测：通过调用设置在外部存储器外的调试单元模块来实现对外部存储器的访问及校验位的观测。然而，现有的调试模式方案存在诸多问题：调试单元模块只能在空间计算机处于非工作状态时，才能实现校验位的可观测性，在空间计算机处于工作状态时则无法实现校验位的可观测性，存在一定的局限性，无法实时的实现校验位的观测。其次，需要增加额外的第三方设备，成本较高。
发明内容
本发明的技术解决问题：克服现有技术的不足，提供一种外部存储器校验位的可观测性方法，旨在实现对校验位的实时观测，降低成本。
为了解决上述技术问题，本发明公开了一种外部存储器校验位的可观测性方法，所述方法包括：
从外部存储器中获取待观测存储对象对应的第一校验位；其中，所述待观测存储对象位于所述外部存储器的观测有效区域；
将所述第一校验位保存在本地；
调用观测程序，读取保存在本地的第一校验位，将所述第一校验位作为可观测校验位输出；其中，所述观测程序位于所述外部存储器内、所述观测有效区域之外。
在上述外部存储器校验位的可观测性方法中，将所述第一校验位保存在本地，包括：
将所述第一校验位保存在本地的校验位保存寄存器中。
在上述外部存储器校验位的可观测性方法中，所述方法还包括：
确定待观测存储对象在所述外部存储器中的第一存储位置；
将所述第一存储位置对应的区域配置为观测有效区域。
在上述外部存储器校验位的可观测性方法中，所述方法还包括：
将校验位保存配置位中的配置信息修改为第一配置信息；其中，所述第一配置信息用于指示：保存所述待观测存储对象对应的第一校验位。
在上述外部存储器校验位的可观测性方法中，所述方法还包括：
从外部存储器中读取当前存储对象；
确定所述校验位保存配置位中的配置信息是否为第一配置信息，以及，确定所述当前存储对象对应的访问地址是否与所述区域配置位所指示的访问地址匹配；
当所述校验位保存配置位中的配置信息为所述第一配置信息，且，所述当前存储对象对应的访问地址与所述区域配置位所指示的访问地址匹配时，确定所述当前存储对象为所述待观测存储对象，执行所述从外部存储器中获取待观测存储对象对应的第一校验位的步骤。
在上述外部存储器校验位的可观测性方法中，所述方法还包括：
在外部存储器控制器本地设置所述区域配置位和所述校验位保存配置位。
在上述外部存储器校验位的可观测性方法中，所述方法还包括：
从保存在所述外部存储器内、所述观测有效区域之外的至少一个程序中选择一个作为所述观测程序。
在上述外部存储器校验位的可观测性方法中，所述待观测存储对象包括：数据对象和/或程序对象。
本发明具有以下优点：
综上所述，由于观测程序位于所述外部存储器的观测有效区域之外的其他区域，而待观测存储对象位于所述外部存储器的观测有效区域内，因此，在通过运行观测程序的方式观测待观测存储对象对应的校验位时，避免了观测程序本身对应的校验位替代待观测存储对象对应的第一校验位的发生，实现了对待观测存储对象对应的第一校验位的实时观察。即便在工作状态下，也可实时对检验位进行观测。其次，本实施例所述的方法，无需增加额外的设备模块，简化了处理流程，提高了作业效率，节约了成本。此外，可以根据实际情况灵活设置观测有效区域，满足不同应用场景，本实施例所述的方法具有通用性。
(1)在本发明实施例所述的方案中，观测程序位于所述外部存储器的观测有效区域之外的其他区域，而待观测存储对象位于所述外部存储器的观测有效区域内，因此，在通过运行观测程序的方式观测待观测存储对象对应的校验位时，避免了观测程序本身对应的校验位替代待观测存储对象对应的第一校验位的发生，实现了对待观测存储对象对应的第一校验位的实时观察，即便在工作状态下，也可实时对检验位进行观测。
(2)本发明实施例所述的方案，无需增加额外的设备模块，简化了处理流程，提高了作业效率，节约了成本。
(3)本发明实施例所述的方案，可以根据实际情况灵活设置观测有效区域，满足不同应用场景，具有通用性。
附图说明
图1是本发明实施例中一种外部存储器校验位的可观测性方法的步骤流程图；
图2是本发明实施例中一种外部存储器控制器的电路结构示意图；
图3是本发明实施例中一种外部存储器的存储示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明公共的实施方式作进一步详细描述。
参照图1，示出了本发明实施例中一种外部存储器校验位的可观测性方法的步骤流程图。在本实施例中，所述外部存储器校验位的可观测性方法包括：
步骤101，从外部存储器中获取待观测存储对象对应的第一校验位。
在本实施例中，外部存储器控制器在从外部存储器中读取待观测存储对象时，可以获取所述待观测存储对象对应的第一校验位。其中，优选的，所述待观测存储对象包括：数据对象和/或程序对象。
需要说明的是，在本实施例中，可以将外部存储器划分为观测有效区域，以及，除所述观测有效区域之外的其他区域。优选的，在本实施例中，外部存储器中的所有待观测存储对象均位于所述外部存储器的观测有效区域。换而言之，位于观测有效区域内的存储对象为待观测存储对象；而位于观测有效区域外的存储对象则为一般存储对象，不作处理。
步骤102，将所述第一校验位保存在本地。
在本实施例中，可以将第一校验位保存在本地任意适当位置处，优选的，可以将所述第一校验位保存在外部存储器控制器中的校验位保存寄存器中。
步骤103，调用观测程序，读取保存在本地的第一校验位，将所述第一校验位作为可观测校验位输出。
在本实施例中，所述观测程序位于所述外部存储器内、所述观测有效区域之外。由于观测程序位于所述外部存储器的观测有效区域之外的其他区域，而待观测存储对象位于所述外部存储器的观测有效区域内，因此，在通过运行观测程序的方式观测待观测存储对象对应的校验位时，避免了观测程序本身对应的校验位替代待观测存储对象对应的第一校验位的发生，实现了对待观测存储对象对应的第一校验位的实时观察。
在本发明的一优选实施例中，所述方法还可以包括：
步骤104，确定待观测存储对象在所述外部存储器中的第一存储位置。
在实际应用中，当需要观测某一存储对象的校验位时，可以将该某一存储对象定义为待观测存储对象。如前所述，在本实施例中，待观测存储对象需要位于外部存储器的观测有效区域内，因此，需要确定待观测存储对象在所述外部存储器中的第一存储位置，将该第一存储位置配置为隶属于观测有效区域，如下步骤105。
步骤105，将所述第一存储位置对应的区域配置为观测有效区域。
进一步优选的，所述方法还包括：
步骤106，将校验位保存配置位中的配置信息修改为第一配置信息。
在本实施例中，校验位保存配置位中的配置信息可以用于指示是否需要对存储对象对应的校验位进行保存。例如，当配置信息具体为第一配置信息时，则说明需要对存储对象对应的校验位进行保存。例如，共有10个期望观测校验位的待观测存储对象，当验位保存配置位中的配置信息为第一配置信息时，则可以对所述10个期望观测校验位的待观测存储对象的校验位进行保存。
进一步优选的，在本实施例中，还可以对所述10个期望观测校验位的待观测存储对象对应的校验位进行选择性保存。例如，可以针对每一个存储对象，进一步设置一个子配置信息，该子配置信息可以用于指示是否保存其对应的存储对象的校验位。
在本发明的一优选实施例中，所述方法还可以包括：
步骤107，从外部存储器中读取当前存储对象。
步骤108，确定所述校验位保存配置位中的配置信息是否为第一配置信息，以及，确定所述当前存储对象对应的访问地址是否与所述区域配置位所指示的访问地址匹配。
在本实施例中，当所述校验位保存配置位中的配置信息为所述第一配置信息，且，所述当前存储对象对应的访问地址与所述区域配置位所指示的访问地址匹配时，确定所述当前存储对象为所述待观测存储对象，执行上述步骤101。当所述校验位保存配置位中的配置信息不为所述第一配置信息，或，所述当前存储对象对应的访问地址与所述区域配置位所指示的访问地址不匹配时，则当前存储对象并非待观测存储对象，可以返回执行步骤107。
在本发明的一优选实施例中，所述方法还可以包括：
步骤109，从保存在所述外部存储器内、所述观测有效区域之外的至少一个程序中选择一个作为所述观测程序。
在本实施例中，所述观测程序可以是位于所述外部存储器内，且不属于观测有效区域的任意一个适当的程序。
需要说明的是，在本实施例中，所述方法还可以包括如下预处理步骤：在外部存储器控制器本地设置所述区域配置位和所述校验位保存配置位。
在上述实施例的基础上，结合图2，示出了本发明实施例中一种外部存储器控制器的电路结构示意图。在本实施例中，所述外部存储器校验位的可观测性方法可以基于外部存储器控制器实现；其中，所述外部存储器控制器位于空间计算机的处理器的芯片上。如图2，所述外部存储器控制器包括：校验位选通模块、校验位保存寄存器和读寄存器模块，以及，校验位保存配置位和区域配置位。其中，所述校验位选通模块用于对所述校验位保存配置位和区域配置位进行管理。
其中，所述区域配置位可以用于设定观测有效区域:如果要观测外部存储器中某个存储对象对应的校验位，可以通过“区域配置位”来设定要观测的校验位对应的存储对象处于观测有效区域。所述校验位保存配置位可以用于指示是否需要对存储对象对应的校验位进行存储：如果要观测外部存储器中某个存储对象对应的校验位，可以设定“校验位保存配置位”中的置位为“1”。所述校验位选通模块可以用于从外部存储器中获取存储对象对应的校验位。所述校验位保存寄存器可以用于对需要进行校验位观测的待观测存储对象对应的校验位的保存。所述读寄存器模块可以用于调用观测程序，从所述校验位保存寄存器中读取保存的校验位，并作为可观测校验位输出。
参照图3，示出了本发明实施例中一种外部存储器的存储示意图。data_1、data_2、program_1和program_2为外部存储器中的存储对象。其中，data_1和data_2为数据对象，program_1和program_2为程序对象。进一步的，data_1和data_2在设定的观测有效区域中，program_1和program_2在设定的观测有效区域之外。data_1_c、data_2_c、program_1_c和program_2_c分别为data_1、data_2、program_1和program_2对应的校验位。
由于data_1和data_2在设定的观测有效区域中，故，data_1和data_2对应的校验位可以被保存观测。而，program_1和program_2不在设定的观测有效区域中，故，program_1和program_2对应的校验位不可以被保存观测。
其中，需要说明的是，可以根据实际情况动态的灵活设置观测有效区域，如，可以根据实际情况，通过区域配置位将program_1和program_2对应的所在位置设置为观测有效区域。所述校验位可以被保存观测是指：可以将校验位保存在外部存储器控制器的校验位保存寄存器中。
综上所述，由于观测程序位于所述外部存储器的观测有效区域之外的其他区域，而待观测存储对象位于所述外部存储器的观测有效区域内，因此，在通过运行观测程序的方式观测待观测存储对象对应的校验位时，避免了观测程序本身对应的校验位替代待观测存储对象对应的第一校验位的发生，实现了对待观测存储对象对应的第一校验位的实时观察，即便在工作状态下，也可实时对检验位进行观测。其次，本实施例所述的方法，无需增加额外的设备模块，简化了处理流程，提高了作业效率，节约了成本。此外，可以根据实际情况灵活设置观测有效区域，满足不同应用场景，本实施例所述的方法具有通用性。
以上所述，仅为本发明最佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
本发明说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员的公知技术。

Claims (8)

1.一种外部存储器校验位的可观测性方法，其特征在于，所述方法包括：
从外部存储器中获取待观测存储对象对应的第一校验位；其中，所述待观测存储对象位于所述外部存储器的观测有效区域；
将所述第一校验位保存在本地；
调用观测程序，读取保存在本地的第一校验位，将所述第一校验位作为可观测校验位输出；其中，所述观测程序位于所述外部存储器内、所述观测有效区域之外。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述第一校验位保存在本地，包括：
将所述第一校验位保存在本地的校验位保存寄存器中。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
确定待观测存储对象在所述外部存储器中的第一存储位置；
将所述第一存储位置对应的区域配置为观测有效区域。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
将校验位保存配置位中的配置信息修改为第一配置信息；其中，所述第一配置信息用于指示：保存所述待观测存储对象对应的第一校验位。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
从外部存储器中读取当前存储对象；
确定所述校验位保存配置位中的配置信息是否为第一配置信息，以及，确定所述当前存储对象对应的访问地址是否与所述区域配置位所指示的访问地址匹配；
当所述校验位保存配置位中的配置信息为所述第一配置信息，且，所述当前存储对象对应的访问地址与所述区域配置位所指示的访问地址匹配时，确定所述当前存储对象为所述待观测存储对象，执行所述从外部存储器中获取待观测存储对象对应的第一校验位的步骤。
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
在外部存储器控制器本地设置所述区域配置位和所述校验位保存配置位。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
从保存在所述外部存储器内、所述观测有效区域之外的至少一个程序中选择一个作为所述观测程序。
8.根据权利要求1-7任一项所述的方法，其特征在于，所述待观测存储对象包括：数据对象和/或程序对象。
CN201611073972.9A 2016-11-29 2016-11-29 一种外部存储器校验位的可观测性方法 Active CN106528359B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611073972.9A CN106528359B (zh) 2016-11-29 2016-11-29 一种外部存储器校验位的可观测性方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611073972.9A CN106528359B (zh) 2016-11-29 2016-11-29 一种外部存储器校验位的可观测性方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106528359A true CN106528359A (zh) 2017-03-22
CN106528359B CN106528359B (zh) 2019-07-23

Family

ID=58355145

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201611073972.9A Active CN106528359B (zh) 2016-11-29 2016-11-29 一种外部存储器校验位的可观测性方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106528359B (zh)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63753A (ja) * 1986-06-20 1988-01-05 Fujitsu Ltd メモリエラ−訂正・検出回路の試験方式
CN105373444A (zh) * 2015-11-24 2016-03-02 北京时代民芯科技有限公司 一种8位宽外部存储器控制器edac校验码的生成方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63753A (ja) * 1986-06-20 1988-01-05 Fujitsu Ltd メモリエラ−訂正・検出回路の試験方式
CN105373444A (zh) * 2015-11-24 2016-03-02 北京时代民芯科技有限公司 一种8位宽外部存储器控制器edac校验码的生成方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
丁朋程: "基于SRAM型FPGA的抗单粒子效应容错技术的研究", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库》 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN106528359B (zh) 2019-07-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108133732B (zh) 闪存芯片的性能测试方法、装置、设备及存储介质
TWI514145B (zh) 可儲存除錯資料的處理器、其快取及控制方法
US9223677B2 (en) Generation of trace data in a multi-processor system
US8286044B2 (en) Dynamic random access memory having internal built-in self-test with initialization
CN111324493B (zh) 针对处理器板级调试的开发***及方法
US9021311B2 (en) Method and apparatus for filtering trace information
US8423848B2 (en) Server and method for testing inter-integrated circuit devices
US10990510B2 (en) Associating attribute seeds of regression test cases with breakpoint value-based fingerprints
US8935577B2 (en) Method and apparatus for filtering trace information
CN104111870A (zh) 一种中断处理装置及中断处理方法
US10055366B2 (en) Method for data transmission and server for implementing the method
CN104679645A (zh) 一种栈空间余量实时检测方法
CN104572385A (zh) 存储器故障检测***及方法
US9176821B2 (en) Watchpoint support system for functional simulator
CN112445692B (zh) 一种用例测试方法及终端
US20160196083A1 (en) Method and device for monitoring data integrity in shared memory environment
CN109633415B (zh) 一种异常芯片的识别方法及设备
CN109101386B (zh) 一种支持ram测试的仿真器
US9940186B2 (en) Memory controller and method of operating a memory controller
US9589672B2 (en) Power-aware memory self-test unit
CN106528359A (zh) 一种外部存储器校验位的可观测性方法
CN108735267A (zh) 数据处理
CN107391036A (zh) 一种存储的vpd信息访问方法及***
CN108182169B (zh) 一种mtd滤波器中高效fft实现方法
US20200132766A1 (en) Procedure for reviewing an fpga-program

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant