CN106356314B - 一种测试凹槽可调式sot26测试夹及其操作方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种测试凹槽可调式SOT26测试夹及其操作方法，属于芯片测试技术领域。本发明的测试凹槽可调式SOT26测试夹，包括固定夹和活动夹；固定夹和活动夹通过相互配合的旋转装置连接，并通过活动夹相对于固定夹的旋转实现两者之间夹口的宽度调节，实现了测试夹夹口可根据SOT26的尺寸进行适应性调节。本发明测试夹的操作方法，通过SOT26的压入→测试→顶出的步骤，利用弹簧控制活动夹的开口及闭合，以弥补SOT26尺寸大小引起的左右偏移从而提高一次性测试的良率，同时加装了顶杆；活动夹和顶杆的协同作用，起到了测试时对SOT26的精确定位及防叠料和提高测试良率的目的，相当于提高了产能，达到了一举双得的效果。

Description

一种测试凹槽可调式SOT26测试夹及其操作方法

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种测试凹槽可调式SOT26测试夹及其操作方法。

背景技术

目前，在半导体集成电路制造工艺中，需要对切割封装后的成品芯片进行进一步测试，测试夹具更起到了关键作用。在芯片测试过程中，具体做法是通过芯片分选机的吸嘴将芯片转移至测试夹内，测试完毕后，芯片分选机的吸嘴再将芯片转移至下一工序。

SOT是英文Small-outlinetransistor的简称，指的是一种晶体管的封装形式，SOT26是SOT23-6的简称，SOT23-6是SOT23中的一种，尾数6表示6个引脚；原设备所设计的测试夹，如图2所示，夹口(3)的开口尺寸是固定的，而SOT26的长度由于制造工艺水平的局限性，导致其长度不一致，故原设备设计的测试夹是按SOT26长度最大尺寸设计的，这样就造成了SOT26产品的引脚在接触测试片时左右偏移，从而引起接触不良，导致一次测试率下降；而SOT26的引脚是左右对称设置，测试时如何保证两侧引脚和测试片的接触也是技术人员需要考虑的技术问题。

经检索，中国发明专利申请，公开号：CN105931979A，公开日：2016.09.07，公开了一种旋转下压型芯片测试夹具，包括支架，所述支架包括带有水平面的基台和竖直状的支撑杆；所述支撑杆上固定有内壁带有螺旋纹的空心柱状支撑架；还包括外壁带有螺旋纹的下压棒；所述支撑架内壁的螺旋纹和所述下压棒外壁的螺旋纹相互匹配；所述下压棒下部端头处设置有上部测试针，所述下压棒的上部端头处设置有手柄；所诉基台上固定有芯片放置台，所述芯片放置台的上表面设置有芯片定位杆，芯片放置台还设置有通孔，通孔中固定有下部测试针。该发明适用于未封装芯片的测试，可对芯片进行定位和快速测试，而无需将测试引脚焊接在芯片上，对芯片安装拆卸均快捷方便，适用于大批量的测试。但该发明申请的水平面的基台不能调整大小，只能测试固定规格的芯片，而且，只适用于未封装芯片的测试，通用性较差。

发明内容

1.发明要解决的技术问题

针对现有技术中存在的SOT26测试时SOT26引脚在接触测试片时左右偏移的问题，本发明提供了一种测试凹槽可调式SOT26测试夹及其操作方法。它可以实现测试夹夹口可根据SOT26的尺寸进行适应性调节，达到提高测试平均良率的目的。

2.技术方案

为达到上述目的，本发明提供的技术方案为：

一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，包括固定夹和活动夹；所述固定夹和活动夹通过相互配合的旋转装置连接，并通过活动夹相对于固定夹的旋转实现两者之间夹口的宽度调节，实现了测试夹夹口可根据SOT26的尺寸进行适应性调节，进而达到提高SOT26的测试平均良率的目的。

进一步的技术方案，旋转装置为固定夹、活动夹正对的各自侧面上分别设置并配合设置的凸半圆柱、凹半圆柱；所述活动夹通过凹半圆柱挂在固定夹的凸半圆柱上，凹半圆柱以凸半圆柱为轴旋转，由于SOT26的整体尺寸较小，无需实现大的宽度调节，只要固定夹和活动夹之间保留狭小的缝隙即可实现所需要的夹口的宽度调节，因此，凹半圆柱以凸半圆柱为轴旋转，即能实现夹口的宽度的微调节。

进一步的技术方案，所述固定夹呈倒“T”字形状；所述活动夹挂在固定夹的中部凸台的一侧，并和固定夹之间留有“L”形旋转间隙，间隙呈“L”形，实现了凹半圆柱以凸半圆柱为轴的小角度旋转。

进一步的技术方案，所述活动夹的下半部分，凹半圆柱的下部设置有水平方向的弹簧容腔，内置水平方向的夹口宽度调节弹簧。以实现SOT26测试完成后，夹口宽度的复位，并能够实现测试时夹口对SOT26的夹紧力，以保证SOT26测试时位置的稳定性。

进一步的技术方案，固定夹中部凸台内部设置竖直方向的顶杆容腔，由下至上内置互相连接的顶杆弹簧和顶杆；顶杆呈“凸”字形，顶端穿出固定夹的上表面，靠近夹口中间的位置，底部为连接顶杆弹簧的顶杆座，以确保SOT26产品测试完成后不会卡在测试夹内，进而减少了副盘的叠料报警几率。

进一步的技术方案，固定夹的上表面设置固定夹指，所述活动夹的上表面设置活动夹指，固定夹指槽和活动夹指槽相对设置，可有效避开某些特殊引线框所封装的SOT产品无引脚的两端露出的金属，防止产品与***短路，中间容纳SOT26封装体的夹口，使SOT26压入夹口后，沟槽和夹口协同作用，防止SOT26测试时左路偏移并能保证SOT26两侧引脚和测试片的平行，方便测试并提高测试的精准度。

进一步的技术方案，固定夹指和活动夹指相对的侧面均为上部向外开的两种不同角度的斜面，下端倾斜角度和SOT26封装体的形状一致，保证了SOT26压入夹口时缓冲式压入，避免SOT26封装体和夹口平面的过硬接触而相互损伤，并进一步保证了压入后的稳定性。

进一步的技术方案，所述凸半圆柱穿有中空的，水平方向的固定销孔；固定销呈“T”字形横***固定销孔，顶端固定连接有固定销帽，尾端穿出固定销孔后和垫圈紧配连接，以保证固定夹指槽和活动夹指槽的稳定性平行关系；所述凹半圆柱的旋转为顺时针转0～4°，根据SOT26的大小自动调整旋转角度，以适应不同尺寸的SOT26产品。

进一步的技术方案，所述固定销的尾端还穿有固定插孔，固定插孔内***挡杆，并粘上胶水，将挡杆固定。以避免垫圈紧配连接松动造成固定夹指槽和活动夹指槽的错位。

一种测试凹槽可调式SOT26测试夹的操作方法，步骤为：

步骤一、SOT26的压入：芯片分选机的吸嘴将SOT26中部的封装体吸附后压入夹口内，压入过程中，活动夹相对于固定夹顺时针旋转，夹口的宽度逐渐增大，夹口宽度调节弹簧被逐渐压缩，直至SOT26封装体完全压入测试夹的夹口内，芯片分选机对SOT26保持压入式固定；

步骤二、SOT26的测试：对SOT26的各个引脚接触测试片进行逐个测试；

步骤三、SOT26的顶出：测试完成后，分选机吸嘴上升，吸嘴上的SOT26产品在真空及顶杆的上顶作用下，将SOT26顶出，夹口宽度调节弹簧回位，夹口的宽度恢复初始宽度；芯片分选机将SOT26转移至下一工序；

步骤四、重复步骤一至三，测试另外的SOT26。

采用单边活动夹动作，利用弹簧控制活动夹的开口及闭合，以弥补SOT26尺寸大小引起的左右偏移从而提高一次性测试的良率，同时加装了顶杆，以防止产品卡在夹口内，达到自动防叠料的目的；活动夹和顶杆的协同作用，起到了测试时对SOT26双重保护和提高测试良率的目的，相当于提高了产能，同时基本消除了叠料的隐患，达到了一举双得的效果。

3.有益效果

采用本发明提供的技术方案，与现有技术相比，具有如下有益效果：

(1)本发明的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，通过活动夹相对于固定夹的旋转实现两者之间夹口的宽度调节，实现了测试夹夹口可根据SOT26的尺寸进行适应性调节，进而达到提高SOT26的测试平均良率的目的；

(2)本发明的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，由于SOT26的整体尺寸较小(个位数毫米级)，无需实现大的宽度调节，只要固定夹和活动夹之间保留狭小的缝隙即可实现所需要的夹口的宽度调节，因此，凹半圆柱以凸半圆柱为轴旋转，即能实现夹口的宽度的微调节；

(3)本发明的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，活动夹和固定夹之间间隙呈“L”形，实现了凹半圆柱以凸半圆柱为轴的小角度旋转；

(4)本发明的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，夹口宽度调节弹簧的设置，实现了SOT26测试完成后夹口宽度的复位，并能够实现测试时夹口对SOT26的夹紧力，以保证SOT26测试时位置的稳定性。；

(5)本发明的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，固定夹内置的顶杆，确保了SOT26产品测试完成后不会卡在测试夹内，进而减少了副盘的叠料报警几率；

(6)本发明的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，SOT26压入夹口后，沟槽和夹口协同作用，防止SOT26测试时左右偏移，以便提高测试的精准度；沟槽还能用来避开某些特殊的引线框架所封装的SOT26产品无引脚两端的露出的金属点，以便防止产品与测试夹短路；

(7)本发明的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，固定夹指和活动夹指侧面的倾斜角度和SOT26封装体的形状一致，保证了SOT26压入夹口时缓冲式压入，避免SOT26封装体和夹口平面的过硬接触而相互损伤，并进一步保证了压入后的稳定性；

(8)本发明的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，固定销的设置，能够保证固定夹指槽和活动夹指槽的稳定性平行关系；凹半圆柱的旋转为顺时针转0～4°，根据SOT26的大小调整旋转角度；以适应不同规格的SOT26；

(9)本发明的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，固定插孔和挡杆的配合设置，避免了垫圈紧配连接松动造成固定夹指槽和活动夹指槽的错位；

(10)本发明的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹的操作方法，采用单边活动夹动作，利用弹簧控制活动夹的开口及闭合，以弥补SOT26尺寸大小引起的左右偏移，从而提高一次性测试的良率，同时加装了顶杆，以防止产品卡在夹口内，达到自动防叠料的目的；活动夹和顶杆的协同作用，起到了测试时对SOT26双重保护和提高测试良率的目的，相当于提高了产能，同时基本消除了叠料的隐患，达到了一举双得的效果，经统计，至少可以提高10％的产能，对于SOT26的数以亿计的批量生产来说，是一种显著的进步。

附图说明

图1为本发明的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹结构示意图；

图2为现有技术的SOT26测试夹的结构示意图；

图3为SOT26产品的俯视图；

图4为SOT26产品的侧视图；

图5为本发明中的固定夹剖面图；

图6为本发明中的活动夹剖面图；

图7为本发明中的活动夹立体图；

图8为本发明中的固定销放大后结构示意图；

图9为本发明中的垫圈放大后结构示意图；

图10为本发明中的顶杆结构示意图。

示意图中的标号说明：1、固定夹；2、活动夹；3、夹口；4、顶杆；5、固定销；7、垫圈；8、SOT26；9、旋转间隙；11、固定夹指；12、凸半圆柱；14、固定夹指槽；15、顶杆容腔；16、固定销孔；21、活动夹指；22、凹半圆柱；23、夹口宽度调节弹簧；24、活动夹指槽；25、弹簧容腔；41、顶杆座；51、固定插孔；52、固定销帽；81、SOT26中间引脚；82、SOT26封装体。

具体实施方式

为进一步了解本发明的内容，结合附图对本发明作详细描述。

SOT26产品的形状如图3、4所示。

实施例1

本实施例的测试凹槽可调式SOT26测试夹，包括固定夹1和活动夹2；所述固定夹1和活动夹2通过相互配合的旋转装置连接，如图5、7所示，旋转装置为固定夹1、活动夹2正对的各自侧面上分别设置并配合设置的凸半圆柱12、凹半圆柱22；所述活动夹2通过凹半圆柱22挂在固定夹1的凸半圆柱12上，凹半圆柱22以凸半圆柱12为轴旋转。实现了测试夹夹口可根据SOT26的尺寸进行适应性调节，进而达到提高SOT26的测试平均良率的目的。由于SOT26的整体尺寸较小，无需实现大的宽度调节，只要固定夹1和活动夹2之间保留狭小的缝隙即可实现所需要的夹口3的宽度调节，因此，凹半圆柱22以凸半圆柱12为轴旋转，即能实现夹口3的宽度的微调节。

实施例2

本实施例的测试凹槽可调式SOT26测试夹，基本结构同实施例1，不同和改进之处在于：如图1所示，所述固定夹1呈倒“T”字形状；所述活动夹2挂在固定夹1的中部凸台的一侧，并和固定夹1之间留有“L”形旋转间隙9，间隙呈“L”形，实现了凹半圆柱22以凸半圆柱12为轴的小角度旋转。如图6所示，所述活动夹2的下半部分，凹半圆柱22的下部设置有水平方向的弹簧容腔25，内置水平方向的夹口宽度调节弹簧23。以实现SOT26测试完成后，夹口3宽度的复位，并能够实现测试时夹口3对SOT26的夹紧力，以保证SOT26测试时位置的稳定性。

实施例3

本实施例的测试凹槽可调式SOT26测试夹，基本结构同实施例2，不同和改进之处在于：如图5所示，固定夹1中部凸台内部设置竖直方向的顶杆容腔15，由下至上内置互相连接的顶杆弹簧和顶杆4；如图10所示，顶杆4呈“凸”字形，顶端穿出固定夹1的上表面，靠近夹口3中间的位置，底部为连接顶杆弹簧的顶杆座41，以确保SOT26产品测试完成后不会卡在测试夹内，进而减少了副盘的叠料报警几率。固定夹1的上表面设置固定夹指11，所述活动夹2的上表面设置活动夹指21，固定夹指槽14和活动夹指槽24相对设置，可有效避开某些特殊引线框所封装的SOT产品无引脚的两端露出的金属，防止产品与***短路，中间容纳SOT26封装体82的夹口3，使SOT26压入夹口后，沟槽和夹口协同作用，防止SOT26测试时左右偏移，方便测试并提高测试的精准度。“L”形旋转间隙的大小为0.33mm。

本实施例的测试凹槽可调式SOT26测试夹的操作方法，应用规格为3.0*1.6mm的SOT26，公差在±0.02～±0.2，引脚宽度为0.4mm，步骤为：

步骤一、SOT26的压入：芯片分选机的吸嘴将SOT26中部的封装体82吸附后压入夹口3内，压入过程中，活动夹2相对于固定夹1顺时针旋转，旋转角度为1.5～3.0°，夹口3的宽度逐渐增大，夹口宽度调节弹簧23被逐渐压缩，直至SOT26封装体82完全压入测试夹的夹口3内，芯片分选机对SOT26保持压入式固定；

步骤二、SOT26的测试：对SOT26的各个引脚接触测试片进行逐个测试；

步骤三、SOT26的顶出：测试完成后，分选机吸嘴上升，产品在真空及顶杆4的上顶作用下，将产品顶出，夹口宽度调节弹簧23回位，夹口3的宽度恢复初始宽度；芯片分选机将SOT26转移至下一工序；

步骤四、重复步骤一至三，测试另外的SOT26。

本实施例的测试凹槽可调式SOT26测试夹，采用单边活动夹动作，利用弹簧控制活动夹的开口及闭合，以弥补SOT26尺寸大小引起的左右偏移从而提高一次性测试的良率，同时加装了顶杆，以防止产品卡在夹口内，达到自动防叠料的目的；活动夹和顶杆的协同作用，起到了测试时对SOT26双重保护和提高测试良率的目的，相当于提高了产能，同时基本消除了叠料的隐患，达到了一举双得的效果。

经统计，本实施例的测试凹槽可调式SOT26测试夹，测试良率提高了13％，相当于至少可以提高13％的产能。

示例：2016/4/21统计：

实施例4

本实施例的测试凹槽可调式SOT26测试夹，基本结构同实施例3，不同和改进之处在于：固定夹指11和活动夹指21相对的侧面均为上部向外开的双斜面，下斜面为7度，上斜面为30度；倾斜角度和SOT26封装体82的形状一致，保证了SOT26压入夹口时缓冲式压入，避免SOT26封装体和夹口平面的过硬接触而相互损伤，并进一步保证了压入后的稳定性。所述凸半圆柱12穿有中空的，水平方向的固定销孔16，直径1mm；如图8、9所示，固定销5呈“T”字形横***固定销孔16，顶端固定连接有固定销帽52，尾端穿出固定销孔16后和垫圈7紧配连接，以保证固定夹指槽14和活动夹指槽24的稳定性平行关系。所述固定销5的尾端还穿有固定插孔51，固定插孔51内***挡杆，再用胶水粘住，以避免垫圈7紧配连接松动造成固定夹指槽14和活动夹指槽24的错位。“L”形旋转间隙的大小为0.23mm。

本实施例的测试凹槽可调式SOT26测试夹的操作方法，应用规格为3.0*1.6mm的SOT26，公差在±0.01～±0.1，步骤为：

步骤一、SOT26的压入：芯片分选机的吸嘴将SOT26的SOT26封装体82吸附后压入测试夹的夹口3内，压入过程中，活动夹2相对于固定夹1顺时针旋转，旋转角度为0～1.5°，夹口3的宽度逐渐增大，夹口宽度调节弹簧23被逐渐压缩，直至SOT26封装体82完全压入测试夹的夹口3内，芯片分选机对SOT26保持压入式固定；

步骤二、SOT26的测试：对SOT26的各个引脚接触测试片进行逐个测试；

步骤三、SOT26的顶出：测试完成后，分选机吸嘴上升，吸嘴上的SOT26产品在真空及顶杆4的上顶作用下，将SOT26顶出，夹口宽度调节弹簧23回位，夹口3的宽度恢复初始宽度；芯片分选机将SOT26转移至下一工序；

步骤四、重复步骤一至三，测试另外的SOT26。

经统计，本实施例的测试凹槽可调式SOT26测试夹，测试良率提高了15％，对于SOT26的数以亿计的批量生产来说，是一种显著的进步。

以上示意性的对本发明及其实施方式进行了描述，该描述没有限制性，附图中所示的也只是本发明的实施方式之一，实际的结构并不局限于此。所以，如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本发明创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，包括固定夹（1），其特征在于，还包括活动夹（2）；所述固定夹（1）和活动夹（2）通过相互配合的旋转装置连接；

所述旋转装置为固定夹（1）、活动夹（2）正对的各自侧面上分别设置并配合设置的凸半圆柱（12）、凹半圆柱（22）；所述活动夹（2）通过凹半圆柱（22）挂在固定夹（1）的凸半圆柱（12）上，凹半圆柱（22）以凸半圆柱（12）为轴旋转；所述固定夹（1）的上表面设置固定夹指（11），所述活动夹（2）的上表面设置活动夹指（21），固定夹指（11）和活动夹指（21）相对的侧面均为上部向外开的上、下双斜面。

2.根据权利要求1所述的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，其特征在于：所述固定夹（1）呈倒“T”字形状；所述活动夹（2）挂在固定夹（1）的中部凸台的一侧，并和固定夹（1）之间留有“L”形旋转间隙（9）。

3.根据权利要求2所述的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，其特征在于：所述活动夹（2）的下半部分，凹半圆柱（22）的下部设置有水平方向的弹簧容腔（25），内置水平方向的夹口宽度调节弹簧（23）。

4.根据权利要求3所述的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，其特征在于：所述固定夹（1）中间内部设置竖直方向的顶杆容腔（15），顶杆容腔（15）由下至上内置互相连接的顶杆弹簧和顶杆（4）；顶杆（4）呈“凸”字形，顶端穿出固定夹（1）的上表面，靠近夹口（3）中间的位置，底部为连接顶杆弹簧的顶杆座（41）。

5.根据权利要求4所述的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，其特征在于：固定夹指槽（14）和活动夹指槽（24）相对设置，形成中间容纳SOT26封装体（82）的夹口（3）。

6.根据权利要求5所述的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，其特征在于：固定夹指（11）和活动夹指（21）相对的侧面均为上部向外开斜面的倾斜角度和SOT26封装体（82）的形状一致。

7.根据权利要求6所述的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，其特征在于：所述凸半圆柱（12）中间为水平方向的固定销孔（16）；固定销（5）呈“T”字形横***固定销孔（16），顶端固定连接有固定销帽（52），尾端穿出固定销孔（16）后和垫圈（7）紧配连接，所述凹半圆柱（22）的旋转为顺时针转0～4°。

8.根据权利要求7所述的一种测试凹槽可调式SOT26测试夹，其特征在于：所述固定销（5）的尾端还穿有固定插孔（51），固定插孔（51）内***挡杆，再将挡杆固定。

9.一种测试凹槽可调式SOT26测试夹的操作方法，其特征在于：步骤为：

步骤一、SOT26的压入：芯片分选机的吸嘴将SOT26（8）中部的封装体（82）吸附后压入夹口（3）内，压入过程中，活动夹（2）相对于固定夹（1）顺时针旋转，夹口（3）的宽度逐渐增大，夹口宽度调节弹簧（23）被逐渐压缩，直至SOT26封装体（82）完全压入测试夹的夹口（3）内，芯片分选机对SOT26保持压入式固定；

步骤二、SOT26的测试：对SOT26（8）的各个引脚接触测试片进行逐个测试；

步骤三、SOT26的顶出：测试完成后，分选机吸嘴上升，吸嘴上的SOT26（8）产品在真空及顶杆（4）的上顶作用下，将SOT26（8）顶出，夹口宽度调节弹簧（23）回位，夹口（3）的宽度恢复初始宽度；芯片分选机将SOT26转移至下一工序；

步骤四、重复步骤一至三，测试另外的SOT26（8）。

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