CN106290417A - 一种多光路、跨尺度、高分辨率显微ct检测仪 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种多光路、跨尺度、高分辨率显微CT检测仪,所述检测仪包括底座、样品放置架、调整滑轨、闭管射线源、透射靶开管射线源、射线源切换滑台、探测器调整滑台、探测器切换滑台、平板探测器和高分辨率探测器组。本CT检测仪器使用时操作者可以沿水平方向和纵向来调整射线源与探测器的相对位置,透射靶开管射线源、闭管射线源均分别能够与平板探测器、高分辨率探测器组分别构成CT测量***,组合方式灵活方便,使得该检测仪可以适应更高分辨率的测量(仅限于显微CT领域),组成多条光路,以适应不同大小样品,不同分辨率的要求的测量,大大地增加了显微CT的测样范围,大大增强了显微CT的测量能力。
Description
技术领域
本发明属于检测设备技术领域,尤其是一种多光路、跨尺度、高分辨率显微CT检测仪。
背景技术
目前,现有技术中的显微CT检测仪器仅有一个射线源,当采用闭管射线源时,显微CT检测仪器容易维护,但是由于其焦点比较大、功率较高,因此适合测量高分辨率和较大的样品;当采用透射靶开管射线源时,显微CT检测仪器维护麻烦、源焦点小、功率不高,适合测量更高分辨率、尺寸较小的样品。由此可见,上述任何一种显微CT检测仪器都不能满足大样品和小样品的跨尺度测量要求,不能满足分辨率不同的需求。因此,亟需一种新的显微CT检测仪器。
通过检索,尚未发现与本专利申请相关的专利公开文献。
发明内容
本发明专利的目的在于克服现有技术的不足之处,提供一种多光路、跨尺度、高分辨率显微CT检测仪,该检测仪可以适应不同大小样品,不同分辨率的要求的测量,大大地增加了显微CT的测样范围,大大增强了显微CT的测量能力。
本发明解决技术问题所采取的技术方案是:
一种多光路、跨尺度、高分辨率显微CT检测仪,所述检测仪包括底座、样品放置架、调整滑轨、闭管射线源、透射靶开管射线源、射线源切换滑台、探测器调整滑台、探测器切换滑台、平板探测器和高分辨率探测器组,所述底座的上表面的中部位置设置样品放置架,该样品放置架的水平两侧的底座的上表面上沿水平方向对称设置沿水平方向设置的调整滑轨,一侧调整滑轨的上表面上滑动安装射线源切换滑台,该射线源切换滑台能够沿调整滑轨沿水平方向来回滑动,所述射线源切换滑台的上表面上滑动安装透射靶开管射线源、闭管射线源,该透射靶开管射线源和闭管射线源沿纵向并列设置,该透射靶开管射线源和闭管射线源均能沿射线源切换滑台的上表面上沿纵向来回滑动;
另一侧调整滑轨的上表面上滑动安装探测器调整滑台,该探测器调整滑台能够沿调整滑轨沿水平方向来回滑动,所述探测器调整滑台的上表面上安装探测器切换滑台,该探测器切换滑台的上表面上滑动安装平板探测器和高分辨率探测器组,该平板探测器和高分辨率探测器组沿纵向并列设置,该平板探测器和高分辨率探测器组均能沿探测器切换滑台的上表面上沿纵向来回滑动;
透射靶开管射线源、闭管射线源均分别能够与平板探测器、高分辨率探测器组分别构成CT测量***。
而且,所述调整滑轨沿纵向对称设置2条。
本发明的优点和积极效果是:
1、本CT检测仪器设置了底座、样品放置架、调整滑轨、闭管射线源、透射靶开管射线源、射线源切换滑台、探测器调整滑台、探测器切换滑台、平板探测器和高分辨率探测器组,使用时操作者可以沿水平方向和纵向来调整射线源与探测器的相对位置,透射靶开管射线源、闭管射线源均分别能够与平板探测器、高分辨率探测器组分别构成CT测量***,组合方式灵活方便,使得该检测仪可以适应更高分辨率的测量(仅限于显微CT领域),组成多条光路,以适应不同大小样品,不同分辨率的要求的测量,大大地增加了显微CT的测样范围,大大增强了显微CT的测量能力。
2、本CT检测仪采用双微焦点源双探测器的多光路***,兼顾了客户对高分辨率和大视野的要求(仅限于显微CT行列),是一种新型的显微CT测量仪,在使用时,当客户要求更高的高分辨时,使用透射靶开管射线源进行测量;当客户要求一般时,采用闭管射线源进行测量,组合灵活,使用方便。
附图说明
图1为本发明的结构连接示意图。
具体实施方式
为了能进一步说明本发明内容、特点及功效,兹例举以下实施例,并配合附图细说明如下。需要说明的是,本实施例是描述性的,不是限定性的,不能由此限定本发明的保护范围。
一种多光路、跨尺度、高分辨率显微CT检测仪,如图1所示,所述检测仪包括底座4、样品放置架9、调整滑轨10、闭管射线源1、透射靶开管射线源2、射线源切换滑台3、探测器调整滑台5、探测器切换滑台6、平板探测器7和高分辨率探测器组8,所述底座的上表面的中部位置设置样品放置架,该样品放置架的水平两侧的底座的上表面上沿水平方向对称设置沿水平方向设置的调整滑轨,一侧调整滑轨的上表面上滑动安装射线源切换滑台,该射线源切换滑台能够沿调整滑轨沿水平方向来回滑动,所述射线源切换滑台的上表面上滑动安装透射靶开管射线源、闭管射线源,该透射靶开管射线源和闭管射线源沿纵向并列设置,该透射靶开管射线源和闭管射线源均能沿射线源切换滑台的上表面上沿纵向来回滑动;
另一侧调整滑轨的上表面上滑动安装探测器调整滑台,该探测器调整滑台能够沿调整滑轨沿水平方向来回滑动,所述探测器调整滑台的上表面上安装探测器切换滑台,该探测器切换滑台的上表面上滑动安装平板探测器和高分辨率探测器组,该平板探测器和高分辨率探测器组沿纵向并列设置,该平板探测器和高分辨率探测器组均能沿探测器切换滑台的上表面上沿纵向来回滑动;
透射靶开管射线源、闭管射线源均分别能够与平板探测器、高分辨率探测器组分别构成CT测量***。
本CT检测仪器设置了底座、样品放置架、调整滑轨、闭管射线源、透射靶开管射线源、射线源切换滑台、探测器调整滑台、探测器切换滑台、平板探测器和高分辨率探测器组,使用时操作者可以沿水平方向和纵向来调整射线源与探测器的相对位置,透射靶开管射线源、闭管射线源均分别能够与平板探测器、高分辨率探测器组分别构成CT测量***,组合方式灵活方便,使得该检测仪可以适应更高分辨率的测量(仅限于显微CT领域),组成多条光路,以适应不同大小样品,不同分辨率的要求的测量,大大地增加了显微CT的测样范围,大大增强了显微CT的测量能力。
在本实施例中,所述调整滑轨沿纵向对称设置2条,使得射线源切换滑台、探测器调整滑台沿调整滑轨的调整更为方便、快捷,提高了工作效率。
Claims (2)
1.一种多光路、跨尺度、高分辨率显微CT检测仪,其特征在于:所述检测仪包括底座、样品放置架、调整滑轨、闭管射线源、透射靶开管射线源、射线源切换滑台、探测器调整滑台、探测器切换滑台、平板探测器和高分辨率探测器组,所述底座的上表面的中部位置设置样品放置架,该样品放置架的水平两侧的底座的上表面上沿水平方向对称设置沿水平方向设置的调整滑轨,一侧调整滑轨的上表面上滑动安装射线源切换滑台,该射线源切换滑台能够沿调整滑轨沿水平方向来回滑动,所述射线源切换滑台的上表面上滑动安装透射靶开管射线源、闭管射线源,该透射靶开管射线源和闭管射线源沿纵向并列设置,该透射靶开管射线源和闭管射线源均能沿射线源切换滑台的上表面上沿纵向来回滑动;
另一侧调整滑轨的上表面上滑动安装探测器调整滑台,该探测器调整滑台能够沿调整滑轨沿水平方向来回滑动,所述探测器调整滑台的上表面上安装探测器切换滑台,该探测器切换滑台的上表面上滑动安装平板探测器和高分辨率探测器组,该平板探测器和高分辨率探测器组沿纵向并列设置,该平板探测器和高分辨率探测器组均能沿探测器切换滑台的上表面上沿纵向来回滑动;
透射靶开管射线源、闭管射线源均分别能够与平板探测器、高分辨率探测器组分别构成CT测量***。
2.根据权利要求1所述的多光路、跨尺度、高分辨率显微CT检测仪,其特征在于:所述调整滑轨沿纵向对称设置2条。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN201610765562.4A CN106290417B (zh) | 2016-08-29 | 2016-08-29 | 一种多光路、跨尺度、高分辨率显微ct检测仪 |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN106290417A true CN106290417A (zh) | 2017-01-04 |
CN106290417B CN106290417B (zh) | 2023-06-13 |
Family
ID=57675522
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201610765562.4A Active CN106290417B (zh) | 2016-08-29 | 2016-08-29 | 一种多光路、跨尺度、高分辨率显微ct检测仪 |
Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN106290417B (zh) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107764844A (zh) * | 2017-09-21 | 2018-03-06 | 重庆真测科技股份有限公司 | 大型ct检测设备的位置调整***及其调整方法 |
CN108287128A (zh) * | 2018-01-29 | 2018-07-17 | 中国科学院武汉岩土力学研究所 | 一种岩土干湿循环渗透率测量***及其方法 |
CN108333196A (zh) * | 2018-01-29 | 2018-07-27 | 中国科学院武汉岩土力学研究所 | 一种岩土水敏感性分析***及其控制方法 |
CN109827979A (zh) * | 2019-01-21 | 2019-05-31 | 天津三英精密仪器股份有限公司 | 一种高效在线式ct扫描成像方法及*** |
CN114113168A (zh) * | 2021-09-30 | 2022-03-01 | 北京申士丰禾检测技术有限公司 | 适用于2d/2.5d/3d的dr/ct检测装置 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1392402A (zh) * | 2001-06-20 | 2003-01-22 | 株式会社日立工程服务 | X射线ct装置 |
JP2003202303A (ja) * | 2002-01-08 | 2003-07-18 | Sony Corp | X線ct装置、x線ct装置の調整方法及びx線ct装置の調整用冶具 |
CN102735700A (zh) * | 2012-06-18 | 2012-10-17 | 东营市三英精密工程研究中心 | X射线显微成像*** |
CN102768219A (zh) * | 2012-07-26 | 2012-11-07 | 清华大学 | 组合式射线无损检测方法及*** |
WO2014015490A1 (zh) * | 2012-07-26 | 2014-01-30 | 清华大学 | 组合式射线无损检测方法及*** |
CN104597062A (zh) * | 2015-02-02 | 2015-05-06 | 天津三英精密仪器有限公司 | 一种柱形束大视场x射线ct成像*** |
CN205982138U (zh) * | 2016-08-29 | 2017-02-22 | 天津三英精密仪器股份有限公司 | 多光路、跨尺度、高分辨率显微ct检测仪 |
-
2016
- 2016-08-29 CN CN201610765562.4A patent/CN106290417B/zh active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1392402A (zh) * | 2001-06-20 | 2003-01-22 | 株式会社日立工程服务 | X射线ct装置 |
JP2003202303A (ja) * | 2002-01-08 | 2003-07-18 | Sony Corp | X線ct装置、x線ct装置の調整方法及びx線ct装置の調整用冶具 |
CN102735700A (zh) * | 2012-06-18 | 2012-10-17 | 东营市三英精密工程研究中心 | X射线显微成像*** |
CN102768219A (zh) * | 2012-07-26 | 2012-11-07 | 清华大学 | 组合式射线无损检测方法及*** |
WO2014015490A1 (zh) * | 2012-07-26 | 2014-01-30 | 清华大学 | 组合式射线无损检测方法及*** |
CN104597062A (zh) * | 2015-02-02 | 2015-05-06 | 天津三英精密仪器有限公司 | 一种柱形束大视场x射线ct成像*** |
CN205982138U (zh) * | 2016-08-29 | 2017-02-22 | 天津三英精密仪器股份有限公司 | 多光路、跨尺度、高分辨率显微ct检测仪 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
孙翌;沈涛;吴华珍;李光;罗守华;顾宁: "细胞团成像与分析用高分辨显微CT***的研究" * |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107764844A (zh) * | 2017-09-21 | 2018-03-06 | 重庆真测科技股份有限公司 | 大型ct检测设备的位置调整***及其调整方法 |
CN107764844B (zh) * | 2017-09-21 | 2020-04-21 | 重庆真测科技股份有限公司 | 大型ct检测设备的位置调整***及其调整方法 |
CN108287128A (zh) * | 2018-01-29 | 2018-07-17 | 中国科学院武汉岩土力学研究所 | 一种岩土干湿循环渗透率测量***及其方法 |
CN108333196A (zh) * | 2018-01-29 | 2018-07-27 | 中国科学院武汉岩土力学研究所 | 一种岩土水敏感性分析***及其控制方法 |
CN109827979A (zh) * | 2019-01-21 | 2019-05-31 | 天津三英精密仪器股份有限公司 | 一种高效在线式ct扫描成像方法及*** |
CN114113168A (zh) * | 2021-09-30 | 2022-03-01 | 北京申士丰禾检测技术有限公司 | 适用于2d/2.5d/3d的dr/ct检测装置 |
CN114113168B (zh) * | 2021-09-30 | 2024-03-19 | 阿塔米智能装备(北京)有限公司 | 适用于2d/2.5d/3d的dr/ct检测装置 |
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