CN106226637A - 一种Short测试方法 - Google Patents

一种Short测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106226637A
CN106226637A CN201610632948.8A CN201610632948A CN106226637A CN 106226637 A CN106226637 A CN 106226637A CN 201610632948 A CN201610632948 A CN 201610632948A CN 106226637 A CN106226637 A CN 106226637A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
group
pin
circuit
short
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201610632948.8A
Other languages
English (en)
Inventor
康亚帅
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Yanmade Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen Yanmade Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Yanmade Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen Yanmade Technology Co Ltd
Priority to CN201610632948.8A priority Critical patent/CN106226637A/zh
Publication of CN106226637A publication Critical patent/CN106226637A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

本发明公开了一种Short测试方法，包括如下步骤：将产品所有的N个引脚分成M个群组，每个群组中均有N/M个引脚；分别测试M个群组各自内部是否存在短路；测试M个群组之间是否存在短路；若群组内部和群组之间均不存在短路，则产品合格，反之则不合格。由于根据产品的特性将引脚分成M个群组，再分两步进行测试，先测试群组内部的引脚是否短路，再测试群组之间的引脚是否短路，并通过开关矩阵连接测试电路，使得本Short测试方法全面测试所有引脚的步骤大幅减少，不需要更快速的器件或者复杂度的测试电路，就能够快速完成short测试，从而成本也低。

Description

一种Short测试方法
技术领域
本发明涉及电子产品的合格检测，具体涉及一种Short测试方法。
背景技术
随着电子产品功能越来越强大，其内部电路也越来越复杂，对生产工艺的要求也越来越高，通过生产制造过程中的环环检测，可及时发现不良品，避免其流入后续工序甚至流入市场，一旦流入市场，会造成重大的利益损失。因此如何快速高效的将不良品检测出来，是产品生产制造过程中的关键环节。
Short测试(即短路测试)主要用来测试产品引脚之间是否存在短路现象，用于判断元器件是否虚焊、漏焊、内部走线是否短路等，它是最常规也是最重要的测试项目。
如图1所示，现有技术中Short测试的基本原理为，short测试的方式之一是加电流测电压，通过在被测的x，y引脚施加电流，同时测试x，y两引脚之间的电压，然后再除以施加的电流，即可得到x，y两引脚之间的阻值。如果阻值约为0，说明x，y两引脚短路，被测品为不合格，如果阻值无穷大，说明x，y两引脚之间没有短路，产品为合格。其中，CUR+代表恒流电源正端，CUR-代表恒流电源负端，VO代表电压测量仪正端，COM代表电压测量仪负端，x代表VO和CUR+的被测端，y代表COM和CUR-的被测端。
当前的Short测试一般都采用逐点遍历的方法，但随着产品复杂度的提升，测试点位也在成倍增加，测试时间会随着引脚数量的增加呈指数型增长，因此如何提升Short测试速度是影响整个测试设备效率的关键。为解决这一问题，当前测试领域一般采用如下两种方法：
1、采用更快速的器件或者增加硬件电路的复杂度，来提升测试速度。缺点是成本增加，维护量增大，设备竞争力下降。
2、只测试相邻点位。缺点是无法全覆盖，产品内部交叉走线处无法测试，容易将不良品流出去。
发明内容
本申请提供一种成本低、测试效率高及能够全面覆盖测试的short测试方法。
一种实施例中提供一种Short测试方法，包括如下步骤：
将产品所有的N个引脚分成M个群组，每个群组中均有N/M个引脚；
分别测试M个群组各自内部是否存在短路；
测试M个群组之间是否存在短路；若群组内部和群组之间均不存在短路，则产品合格，反之则不合格。
进一步地，测试群组内部是否存在短路的具体步骤为：
将群组中第一引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，群组中第二引脚至第N/M引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试；
再将第二引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，群组中第三引脚至第N/M引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试；
依次类推，最终将第N/M-1引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，群组中第N/M引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试。
进一步地，测试M个群组之间是否存在短路的具体步骤为：
分别对M个群组两两进行测试，其中一个群组的所有引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，另一群组的所有引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试。
进一步地，将产品的所有引脚分为八组，开关矩阵是由八选一模拟开关搭建而成。
在其他实施例中，将产品的所有引脚分为四组，开关矩阵是由四选一模拟开关搭建而成。
依据上述实施例的Short测试方法，由于根据产品的特性将引脚分成M个群组，再分两步进行测试，先测试群组内部的引脚是否短路，再测试群组之间的引脚是否短路，并通过开关矩阵连接测试电路，使得本Short测试方法全面测试所有引脚的步骤大幅减少，不需要更快速的器件或者复杂度的测试电路，就能够快速完成short测试，从而成本也低。
附图说明
图1为现有技术中Short测试方法的原理图；
图2为一种实施例中开关矩阵的连接示意图；
图3为一种实施例中Short测试方法的流程图；
图4为一种实施例中Short测试方法的分组测试连接图；
图5为现有技术中Short测试方法的测试连接图。
具体实施方式
下面通过具体实施方式结合附图对本发明作进一步详细说明。
在本实施例中提供了一种Short测试方法，用于对产品的用于判断元器件是否虚焊、漏焊、内部走线是否短路等。本Short测试方法也可称为群组遍历Short测算法，根据产品电路特性，可将所有引脚分为不同的群组，本例以具有128个独立引脚的产品为例进行说明。
如图2所示，开关矩阵是由多选一模拟开关搭建而成，产品上每一个被测引脚都可以通过开关矩阵与VO，COM，CUR+，CUR-连接，而本实施例选择模拟开关为八选一模拟开关，故将128个引脚分为八组进行测试，每组中具有16个引脚。在其他实施例中，也可选择模拟开关为四选一模拟开关，将128个引脚分为四组进行测试。
如3所示，本例的Short测试方法主要包括如下三个步骤：
S101：分组；
如图3所示，本例的产品分为八组，第一行为第一群组，第一群组的产品引脚序号为除8余1的所有引脚的集合；第二行为第二群组，第二群组的产品引脚序号为除8余2的所有引脚的集合；依次类推，第八行为第八群组，第八群组的产品引脚需要为除8余0的集合。
S102：分别测试8组群组各种内部是否存在短路；
如图4所示，以第一群组测试为例进行说明，将引脚1通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，将引脚9、17、25至121通过开关矩阵全部连接到测试电路的y测试端进行测试，测试1次即可检测出引脚1与引脚9、17、25至121是否存在短路，如果存在短路则说明产品不合格，如果没有出现短路则继续测试下去，将引脚9通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，将引脚17、25至121通过开关矩阵全部连接到测试电路的y测试端进行测试，测试1次即可检测出引脚9与引脚17、25至121是否存在短路，如此依次类推，最后将引脚25通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，将引脚121通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试。第一群组内的所有引脚遍历一次，共需要测试16-1＝15次，八个群组总共需要测试15*8＝120次，即要确定产品是合格的没有短路的，要进行120次测试。
S103：测试8个群组之间是否存在短路。
如图4所示，逐次分别对8个群组两两进行测试，即8个群组中的一个分别对其他7个群组分别进行测试。两两测试过程中，一个群组的所有引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，另一个群组的所有引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试，故总共需进行8*(8-1)/2＝28次，若28次测试中都没有出现电路则8个群组之间都不存在短路现象，相反则出现短路，产品不合格。
通过上述两个步骤的测试，总共需要进行120+28＝148次测试，经过148次测试后产品的所有引脚得到全面的检验，若148次测试都没有发现短路现象，则产品是合格的，相反只有有一次出现短路，则产品不合格。
而现有技术的方法是进行逐点遍历Short测算法，即对128个引脚分别进行两两测试，如图5所示，全面测试完则需要进行128*(128-1)/2＝8128次测试，测试次数庞大，工作量大。而本例的方法只需要148次即可，本方法的测试效率为现有技术的8128/148≈54.9倍，故本例的Short测试方法具有明显的优势，效率得到大大提高。
依据本例可推知，若产品的具有N个引脚，N个引脚分为M个群组，每组群组有N/M个引脚。
本例的方法，步骤二共需测试(N/M-1)*M＝N-M次，步骤三共需测试M*(M-1)/2次，即总共需测试N-M+M*(M-1)/2＝N+M*(M-3)/2次。而采用现有技术的方法共需测试N*(N-1)/2次。
而本例采用的是八选一模拟开关，产品分为八个群组，故本例的方法测试总共有N个引脚的产品需要测试N+20次，本例效率的为现有技术的倍。
可知，若引脚的数量较大，本例的Short测试方法具有很大的优势，并且优势随着引脚的数量增加而更为明显。
本例提供的Short测试方法，由于根据产品的特性将引脚分成M个群组，再分两步进行测试，先测试群组内部的引脚是否短路，再测试群组之间的引脚是否短路，并通过开关矩阵连接测试电路，使得本Short测试方法全面测试所有引脚的步骤大幅减少，不需要更快速的器件或者复杂度的测试电路，就能够快速完成short测试，从而成本也低。
以上应用了具体个例对本发明进行阐述，只是用于帮助理解本发明，并不用以限制本发明。对于本发明所属技术领域的技术人员，依据本发明的思想，还可以做出若干简单推演、变形或替换。

Claims (5)

1.一种Short测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
将产品所有的N个引脚分成M个群组，每个群组中均有N/M个引脚；
分别测试M个群组各自内部是否存在短路；
测试M个群组之间是否存在短路；若群组内部和群组之间均不存在短路，则产品合格，反之则不合格。
2.如权利要求1所述的Short测试方法，其特征在于，测试群组内部是否存在短路的具体步骤为：
将群组中第一引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，群组中第二引脚至第N/M引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试；
再将第二引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，群组中第三引脚至第N/M引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试；
依次类推，最终将第N/M-1引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，群组中第N/M引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试。
3.如权利要求2所述的Short测试方法，其特征在于，测试M个群组之间是否存在短路的具体步骤为：
分别对M个群组两两进行测试，其中一个群组的所有引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端，另一群组的所有引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试。
4.如权利要求3所述的Short测试方法，其特征在于，将产品的所有引脚分为八组，所述开关矩阵是由八选一模拟开关搭建而成。
5.如权利要求3所述的Short测试方法，其特征在于，将产品的所有引脚分为四组，所述开关矩阵是由四选一模拟开关搭建而成。
CN201610632948.8A 2016-08-04 2016-08-04 一种Short测试方法 Pending CN106226637A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610632948.8A CN106226637A (zh) 2016-08-04 2016-08-04 一种Short测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610632948.8A CN106226637A (zh) 2016-08-04 2016-08-04 一种Short测试方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN106226637A true CN106226637A (zh) 2016-12-14

Family

ID=57547525

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610632948.8A Pending CN106226637A (zh) 2016-08-04 2016-08-04 一种Short测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106226637A (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108983019A (zh) * 2018-05-25 2018-12-11 中车青岛四方机车车辆股份有限公司 线缆导通测试方法、装置和测试设备
CN109164373A (zh) * 2018-09-12 2019-01-08 常州同惠电子股份有限公司 一种用于测试线材通断的方法
CN110361601A (zh) * 2019-08-02 2019-10-22 深圳市全洲自动化设备有限公司 一种lcd器件管脚电性指标快速测试方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5977776A (en) * 1997-01-09 1999-11-02 Atg Test Systems Gmbh Circuit board testing method
CN1409123A (zh) * 2001-09-19 2003-04-09 赛迪科技股份有限公司 阵列式电子接点可靠性的测试方法及其测试结构
CN101349726A (zh) * 2007-07-17 2009-01-21 大唐移动通信设备有限公司 一种通用输入输出接口的故障检测方法及装置
CN101718835A (zh) * 2009-11-23 2010-06-02 泰兴市航联电连接器有限公司 电连接器绝缘耐压综合测试装置
TW201040549A (en) * 2009-05-13 2010-11-16 Chunghwa Picture Tubes Ltd Method of measuring a short-circuit between electrodes with ACF bonding
CN103675575A (zh) * 2012-09-18 2014-03-26 英业达科技有限公司 使用单个短路点群组测试被测板卡的***及其方法
CN103954877A (zh) * 2014-04-15 2014-07-30 京东方科技集团股份有限公司 集成电路测试方法及测试装置
CN104062534A (zh) * 2013-03-22 2014-09-24 德克萨斯仪器股份有限公司 针对短路测试集成电路封装

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5977776A (en) * 1997-01-09 1999-11-02 Atg Test Systems Gmbh Circuit board testing method
CN1409123A (zh) * 2001-09-19 2003-04-09 赛迪科技股份有限公司 阵列式电子接点可靠性的测试方法及其测试结构
CN101349726A (zh) * 2007-07-17 2009-01-21 大唐移动通信设备有限公司 一种通用输入输出接口的故障检测方法及装置
TW201040549A (en) * 2009-05-13 2010-11-16 Chunghwa Picture Tubes Ltd Method of measuring a short-circuit between electrodes with ACF bonding
CN101718835A (zh) * 2009-11-23 2010-06-02 泰兴市航联电连接器有限公司 电连接器绝缘耐压综合测试装置
CN103675575A (zh) * 2012-09-18 2014-03-26 英业达科技有限公司 使用单个短路点群组测试被测板卡的***及其方法
CN104062534A (zh) * 2013-03-22 2014-09-24 德克萨斯仪器股份有限公司 针对短路测试集成电路封装
CN103954877A (zh) * 2014-04-15 2014-07-30 京东方科技集团股份有限公司 集成电路测试方法及测试装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108983019A (zh) * 2018-05-25 2018-12-11 中车青岛四方机车车辆股份有限公司 线缆导通测试方法、装置和测试设备
CN109164373A (zh) * 2018-09-12 2019-01-08 常州同惠电子股份有限公司 一种用于测试线材通断的方法
CN109164373B (zh) * 2018-09-12 2020-12-25 常州同惠电子股份有限公司 一种用于测试线材通断的方法
CN110361601A (zh) * 2019-08-02 2019-10-22 深圳市全洲自动化设备有限公司 一种lcd器件管脚电性指标快速测试方法
CN110361601B (zh) * 2019-08-02 2021-05-25 深圳市全洲自动化设备有限公司 一种lcd器件管脚电性指标快速测试方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8482310B2 (en) Test method for passive device embedded printed circuit board
US20120049857A1 (en) Programmable Gain Trans-Impedance Amplifier Overload Recovery Circuit
CN106226637A (zh) 一种Short测试方法
CN104991214B (zh) 数字集成电路直流参数标准复现方法及标准装置
CN103267940B (zh) 多模块平行测试***
CN106409817A (zh) Tddb测试结构以及tddb测试方法
CN110118911B (zh) Usbc电缆测试电路
CN104635113A (zh) 一种确定面板线路故障位置的方法及***
CN101872002B (zh) 探针检测装置及其方法
CN103837809B (zh) 测试mosfet匹配性的ic布局及测试方法
ITVI20150022U1 (it) Scheda di conversione da utilizzare con probe card
CN107329103A (zh) 集成电路测试***时间传递标准器组及其测试方法
CN107942166B (zh) 一种火工品测试***
CN108051737B (zh) 一种开关器件筛选***及方法
CN104682466B (zh) 充电控制电路的校准方法和校准电路
CN110660346A (zh) 一种Micro Led显示面板及其检测方法
JP2017040629A (ja) 電子部品試験装置、電子部品試験方法
CN110361601B (zh) 一种lcd器件管脚电性指标快速测试方法
CN103913678B (zh) 具图形化显示测量数据功能的安规测试仪
TWI647458B (zh) Capacitor insulation resistance measuring device
CN102375114B (zh) 校验dut板质量的方法
CN210427726U (zh) 一种基于ate测试机的芯片测试板
CN108254672B (zh) 一种改进的伪四线测试方法及其测试结构
CN104422876A (zh) 测试治具
CN103592471A (zh) 一种电容测试夹具

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20161214