CN106053020A - 一种光学检测设备 - Google Patents

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李雷
陈博
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Abstract

本发明属于光学检测技术领域,涉及一种光学检测设备,包括箱体、位于箱体内的单点光学检测仪器和三维移动装置;所述箱体上设置有能够使被测光源照射进入的进光孔;其特征在于,所述单点光学检测仪器固定在三维移动装置上;所述三维移动装置包括X方向滑轨和第一滑动轮,Y方向滑轨和第三滑动轮,Z方向滑轨和第二滑动轮;所述X方向滑轨通过第一滑动轮与Y方向滑轨连接;所述Y方向滑轨通过第三滑动轮与Z方向滑轨连接;所述Z方向滑轨通过第二滑动轮与单点光学检测仪器连接。本发明中三维移动装置的设置使单点光学检测仪器能够移动位置;能够记录位置坐标,使光学检测设备的检测参数更全面。

Description

一种光学检测设备
技术领域
本发明属于光学检测技术领域,涉及一种光学检测设备。
背景技术
现有的光学检测设备大多为单点检测型,只能检测设备所在的具***置的色温、照度指标等光学参数,如果需要检测照射面上多个点的光学参数或整体情况时,现有的光学检测设备很难做到;单点检测型光学检测设备存在只能检测单点的光学参数、定位误差大、检测效率低等问题。
例如中国实用新型专利201420024644.X公开了一种LED灯管光学自动检测机台,所述检测台包括箱体、箱体内部的操作台、操作台下方的气缸、操作台上方的灯管夹具、控制显示***及检测设备;控制显示***包括显示器、电脑主机及电控箱,检测设备包括CL200光学检测仪器及暗箱,暗箱通过连接于箱体上的支架固定在操作台正上方,CL200光学检测仪器通过安装治具固定于暗箱上表面。该LED灯管光学自动检测机台配备有CL200精密仪器,准确高效,可对LED灯管进行批量全面检测,一次检测即可同时获取色温、照度、波长、色坐标、显色指数、功率等参数,少量人员即可获得很高的检测效率,成本低,使用方便,并可对每个产品的数据进行标记和跟踪。
虽然所公开的中国实用新型专利201420024644.X记载的LED灯管光学自动检测机台能够检测LED灯管的光学参数,但是仍然存在如下问题:
1.光学检测仪器与光源的相对位置确定,检测所得到的光学参数只是照射面上一个点的参数,无法得到照射面上多个点的光学参数,同时也不能对比不同空间位置中的光学参数。
2.所检测的光源形状单一,即只能作为灯管的光学检测设备,不能检测球形灯,筒形灯,螺旋形灯等灯具的光学参数;所检测的灯的种类单一,即只能检测LED灯管。
发明内容
本发明的目的是针对现有技术的不足,提供一种能够多点检测光源的光学参数;能够记录检测点的空间位置;能够检测不同种类,不同形状的光源的光学检测设备。
本发明解决问题的技术方案是:一种光学检测设备,包括箱体、位于箱体内的单点光学检测仪器和三维移动装置;所述箱体上设置有能够使被测光源照射进入的进光孔;所述单点光学检测仪器固定在三维移动装置上;所述三维移动装置包括X方向滑轨和第一滑动轮,Y方向滑轨和第三滑动轮,Z方向滑轨和第二滑动轮;所述X方向滑轨通过第一滑动轮与Y方向滑轨连接;所述Y方向滑轨通过第三滑动轮与Z方向滑轨连接;所述Z方向滑轨通过第二滑动轮与单点光学检测仪器连接。
所述第一滑动轮可移动的固定在X方向滑轨;所述第二滑动轮可移动的固定在Z方向滑轨上;所述第三滑动轮可移动的固定在Y方向滑轨上;所述单点光学检测仪器固定在第三滑动轮上;所述X方向滑轨固定在箱体上。
通过单点光学检测仪器在滑轨上的滑动,改变单点光学检测仪器在箱体内的空间位置和与光源的相对空间位置,检测收集光学参数信息。
作为本发明的另一种改进,所述箱体的内壁为亚光材质。
箱体内壁设置亚光材质,亚光材质对于光的反射主要为漫反射,漫反射相对于镜面反射对单点光学检测仪器的影响小。
作为本发明的另一种改进,所述箱体还包括一个盖体。
通过盖体的设置,能够随时打开箱体,记录参数,排除故障。
作为本发明的另一种改进,所述箱体上设置的进光孔与光源的形状相对应。
作为本发明的另一种改进,所述光学检测仪器还包括显示部,所述显示部与光学检测仪器数据连接。
显示部能够显示光学检测仪器采集到的光学参数信息和三维移动装置所记录的空间位置信息。
作为本发明的另一种改进,所述X方向滑轨、Z方向滑轨和Y方向滑轨上标记有尺寸刻度。
滑轨上标记有尺寸刻度用于记录单点光学检测仪器的空间位置。
作为本发明的另一种改进,所述X方向滑轨、Z方向滑轨、Y方向滑轨、第一滑动轮、第二滑动轮和第三滑动轮为亚光材质。
本发明所述的光学检测设备具有如下优越的技术效果:
1、所述光学检测设备设置有三维移动装置使单点光学检测仪器在箱体内任意调整位置;
2、所述光学检测设备设置有三维坐标的记录装置即标记有尺寸刻度的滑轨,能够记录单点光学检测仪器的三维坐标;
3、所述箱体上设置的与光源形状相对应的进光孔能够使光学检测设备检测不同种类、不同形状的光源。
附图说明
图1是本发明所述光学检测设备的结构示意图。
图2是本发明所述的X方向滑轨和Y方向滑轨通过滑动轮连接的示意图。
图3是本发明所述的Y方向滑轨和Z方向滑轨及Z方向滑轨和单点光学检测仪器通过第三滑动轮及第二滑动轮连接的示意图。
图4是本发明所述的三维移动装置的结构示意图。
图中:1-箱体,2-盖体,3-显示部,4-进光孔,5-X方向滑轨,51-第一滑动轮,6-Z方向滑轨,61-第二滑动轮,7-Y方向滑轨,71-第三滑动轮,8-单点光学检测仪器,9-三维移动装置。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式,对本发明所述模具作进一步的说明。
实施例一
如图1-图4所示,一种光学检测设备,包括箱体1、位于箱体1内的单点光学检测仪器8和三维移动装置9;所述箱体1上设置有能够使被测光源照射进入的进光孔4;所述单点光学检测仪器8固定在三维移动装置9上;所述三维移动装置9包括X方向滑轨5和第一滑动轮51,Y方向滑轨7和第三滑动轮71,Z方向滑轨6和第二滑动轮61;所述X方向滑轨5通过第一滑动轮51与Y方向滑轨7连接;所述Y方向滑轨7通过第三滑动轮71与Z方向滑轨6连接;所述Z方向滑轨6通过第二滑动轮61与单点光学检测仪器8连接。
所述箱体1的内壁为亚光材质。
所述箱体1还包括一个盖体2。
所述箱体1上设置的进光孔4与光源的形状相对应。
所述光学检测仪器8还包括显示部3,所述显示部3与光学检测仪器8数据连接。
所述X方向滑轨5、Z方向滑轨6和Y方向滑轨7上标记有尺寸刻度。
所述X方向滑轨5、Z方向滑轨6、Y方向滑轨7、第一滑动轮51、第二滑动轮61和第三滑动轮71为亚光材质。
本发明并不限于上述实施方式,在不背离本发明的实质内容的情况下,本领域技术人员可以想到的任何变形、改进、替换均落入本发明的保护范围。

Claims (7)

1.一种光学检测设备,包括箱体、位于箱体内的单点光学检测仪器和三维移动装置;所述箱体上设置有能够使被测光源照射进入的进光孔;其特征在于,所述单点光学检测仪器固定在三维移动装置上;所述三维移动装置包括X方向滑轨和第一滑动轮,Y方向滑轨和第三滑动轮,Z方向滑轨和第二滑动轮;所述X方向滑轨通过第一滑动轮与Y方向滑轨连接;所述Y方向滑轨通过第三滑动轮与Z方向滑轨连接;所述Z方向滑轨通过第二滑动轮与单点光学检测仪器连接。
2.根据权利要求1所述的光学检测设备,其特征在于,所述箱体的内壁为亚光材质。
3.根据权利要求1所述的光学检测设备,其特征在于,所述箱体还包括一个盖体。
4.根据权利要求1所述的光学检测设备,其特征在于,所述箱体上设置的进光孔与光源的形状相对应。
5.根据权利要求1所述的光学检测设备,其特征在于,所述光学检测仪器还包括显示部,所述显示部与光学检测仪器数据连接。
6.根据权利要求1所述的光学检测设备,其特征在于,所述X方向滑轨、Z方向滑轨和Y方向滑轨上标记有尺寸刻度。
7.根据权利要求1所述的光学检测设备,其特征在于,所述X方向滑轨、Z方向滑轨、Y方向滑轨、第一滑动轮、第二滑动轮和第三滑动轮为亚光材质。
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