CN106020984B - 电子设备中进程的创建方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电子设备中进程的创建方法及装置,属于电子技术领域。所述方法包括:获取已完成调度参数初始化的待创建进程,检测该电子设备中每个处理单元的负载状态,该负载状态包括进程个数和负载率中的至少一种;将进程个数小于进程数阈值的处理单元确定为目标处理单元;或者,将负载率小于负载率阈值的处理单元确定为目标处理单元;或者,将进程个数小于进程数阈值且负载率小于负载率阈值的处理单元确定为目标处理单元,相比于相关技术中直接将父进程所在的处理单元作为目标处理单元,本发明所确定的目标处理单元的负载状态较好,能够保证待创建进程***至该目标处理单元的进程队列后,等待运行的时间较短。本发明用于进程的创建。
Description
技术领域
本发明涉及计算机技术领域,特别涉及一种电子设备中进程的创建方法及装置。
背景技术
操作***可以基于用户的请求创建进程,该进程的创建过程一般包括初始化待创建进程的栈地址和环境标识等基本信息,然后初始化待创建进程的调度参数,最后将该待创建进程分配到处理单元中,即可完成该待创建进程的创建。
相关技术中,***为待创建进程所分配的处理单元一般为该待创建进程的父进程所在的处理单元。但是,如果待创建进程的父进程所在的处理单元的负载已经较高,则将该待创建进程分配到该处理单元后,可能导致该处理单元过载,使得该待创建进程创建后,等待运行的时间较长。
发明内容
为了解决相关技术中,新进程创建后等待运行时间较长的问题,本发明提供了一种电子设备中进程的创建方法及装置。所述技术方案如下:
一方面,提供了一种电子设备中进程的创建方法,所述方法包括:
获取已完成调度参数初始化的待创建进程,所述待创建进程是基于电子设备中已创建进程创建的;
检测所述电子设备中每个处理单元的负载状态,所述负载状态包括进程个数和负载率中的至少一种,所述电子设备包括N个处理单元,所述N为大于等于2的整数;
将进程个数小于进程数阈值的处理单元确定为目标处理单元;或者,将负载率小于负载率阈值的处理单元确定为目标处理单元;或者,将进程个数小于进程数阈值且负载率小于负载率阈值的处理单元确定为目标处理单元;
将所述待创建进程***至所述目标处理单元的进程队列中。
另一方面,提供了一种电子设备中进程的创建装置,其特征在于,该装置包括:
获取单元,用于获取已完成调度参数初始化的待创建进程,所述待创建进程是基于电子设备中已创建进程创建的;
检测单元,用于检测所述电子设备中每个处理单元的负载状态,所述负载状态包括进程个数和负载率中的至少一种,所述电子设备包括N个处理单元,所述N为大于等于2的整数;
确定单元,用于将进程个数小于进程数阈值的处理单元确定为目标处理单元;或者,将负载率小于负载率阈值的处理单元确定为目标处理单元;或者,将进程个数小于进程数阈值且负载率小于负载率阈值的处理单元确定为目标处理单元;
创建单元,用于将所述待创建进程***至所述目标处理单元的进程队列中。
本发明提供的技术方案带来的有益效果是:
本发明提供了一种电子设备中进程的创建方法及装置,当电子设备获取到已完成调度参数初始化的待创建进程时,可以对每个处理单元的负载状态进行检测,并将进程个数小于进程数阈值的处理单元,或者负载率小于负载率阈值的处理单元,或者进程个数小于进程数阈值且负载率小于负载率阈值的处理单元确定为目标处理单元,因此相比于相关技术中直接将父进程所在的处理单元作为目标处理单元,本发明所确定的目标处理单元中的进程个数较少或负载率较低,能够保证待创建进程***至该目标处理单元的进程队列后,等待运行的时间较短。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种电子设备中进程的创建方法流程图;
图2是本发明实施例提供的另一种电子设备中进程的创建方法方法流程图;
图3是本发明实施例提供的一种电子设备中进程的创建装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
在本发明各实施例中的电子设备可以包括N个处理单元,当该电子设备中的中央处理器(英文:Central Processing Unit;简称CPU)为多核CPU时,每个处理单元可以为该多核CPU中的一个内核;当该电子设备中的CPU为CPU集群(英文:CPU Cluster)时,每个处理单元可以为该CPU Cluster中的一个单核CPU。
本发明实施例提供了一种电子设备中进程的创建方法,参见图1,该方法可以包括:
步骤101、获取已完成调度参数初始化的待创建进程,该待创建进程是基于电子设备中已创建进程创建的。
步骤102、检测该电子设备中每个处理单元的负载状态,该负载状态包括进程个数和负载率中的至少一种,该电子设备包括N个处理单元,该N为大于等于2的整数。
步骤103、将进程个数小于进程数阈值的处理单元确定为目标处理单元;或者,将负载率小于负载率阈值的处理单元确定为目标处理单元;或者,将进程个数小于进程数阈值且负载率小于负载率阈值的处理单元确定为目标处理单元。
步骤104、将该待创建进程***至该目标处理单元的进程队列中。
综上所述,本发明实施例提供了一种电子设备中进程的创建方法,当电子设备获取到已完成调度参数初始化的待创建进程时,可以对每个处理单元的负载状态进行检测,并将进程个数小于进程数阈值的处理单元,或负载率小于负载率阈值的处理单元,或进程个数小于进程数阈值且负载率小于负载率阈值的处理单元确定为目标处理单元,因此相比于相关技术中直接将父进程所在的处理单元作为目标处理单元,本发明所确定的目标处理单元中的进程个数较少或负载率较低,能够保证待创建进程***至该目标处理单元的进程队列后,等待运行的时间较短。
图2是本发明实施例提供的另一种电子设备中进程的创建方法方法流程图,参考图2,该方法可以包括:
步骤201、电子设备获取已完成调度参数初始化的待创建进程。执行步骤202。
在本发明实施例中,该待创建进程是基于电子设备中已创建进程(即父进程)创建的,当***中有新的进程需要创建时,***可以在该新进程所属的父进程中,拷贝该新进程的基本信息,例如栈地址、进程的各种环境标识、进程的文件信息等。之后,***可以对该新进程的调度参数进行初始化,当***将该新进程分配至合适的处理单元中后,即可完成该新进程的创建。
步骤202、检测每个处理单元是否为空闲状态。
当检测到空闲状态的处理单元时,执行步骤203;当没有检测到空闲状态的处理单元时,执行步骤204。
在本发明实施例中,电子设备的操作***可以周期性的对每个处理单中的进程个数以及该处理单元的负载率进行检测,并对每个处理单元的负载状态进行标记。例如当某个处理单元的进程队列中的进程个数为0或者该处理单元的负载率为0时,操作***可以将该处理单元的负载状态标记为空闲状态。为了保证将该待创建进程***至目标处理单元的进程队列后,该待创建进程能够及时运行,电子设备可以先依次检测每个处理单元是否为空闲状态,当检测到空闲状态的处理单元时,可以执行步骤203;当没有在该N个处理单元中检测到空闲状态的处理单元时,电子设备可以执行步骤204。
需要说明的是,在步骤202之前,即电子设备在对每个处理单元的负载状态进行检测之前,还需要判断该处理单元是否已经上电(即是否为online状态),当该处理单元为online状态时,电子设备可以确定该处理单元能够被调度器使用,因此可以执行步骤202;当该处理单元未上电(即没有处于online状态)时,电子设备可以继续对下一个处理单元的上电状态进行检测。
步骤203、将该空闲状态的处理单元确定为目标处理单元。执行步骤210。
当检测到空闲状态的处理单元时,电子设备可以直接将该空闲状态的处理单元确定为目标处理单元,并执行步骤210。由于电子设备确定的目标处理单元为空闲状态,即该目标处理单元当前的进程队列中没有进程,因此将待创建进程***至该目标处理单元的进程队列后,该目标处理单元能够及时运行该待创建进程,不仅减少了该待创建进程等待运行的时长,还能使得电子设备中各个处理单元的资源能够被合理利用。
步骤204、判断是否完成对N个处理单元的负载状态的检测。
当完成对N个处理单元的负载状态的检测时,执行步骤209;当未完成对N个处理单元的负载状态的检测时,执行步骤205。其中,该负载状态包括进程个数和负载频率中的至少一种。示例的,在本发明实施例中,该负载状态可以包括进程个数和负载频率。
当电子设备未在该N个处理单元中检测到空闲状态的处理单元时,该电子设备可以从第1个处理单元开始,依次对该N个处理单元的进程个数和负载频率进行检测,在对第i个处理单元检测之前,电子设备可以先判断该i是否小于或等于N,当该i小于或等于N时,电子设备可以确定还未完成对N个处理单元的负载状态的检测,并执行步骤205;当i不小于N时,电子设备可以确定已完成对所有N个处理单元的负载状态的检测,并执行步骤209。
步骤205、检测第i个处理单元中的进程个数是否小于进程数阈值。
当该第i个处理单元的进程个数小于进程数阈值时,执行步骤206;当该第i个处理单元中的进程个数不小于进程数阈值时,令i=i+1,并执行步骤204。
在本发明实施例中,电子设备中可以预先设置有进程数阈值的初始值,为了保证能够从N个处理单元中检测到满足条件的目标处理单元,该进程数阈值的初始值可以为进程个数所属数据类型的最大值。该电子设备可以从i=1开始,对该第i个处理单元中的进程个数进行检测,并判断该进程个数是否小于该进程数阈值。示例的,假设第1个处理单元:CPU1中的进程个数为3,该进程数阈值的初始值为1024,则由于CPU1中的进程个数3小于该进程数阈值的初始值1024,则电子设备可以执行步骤206;若电子设备检测到第2个处理单元:CPU2中的进程个数为4,且此时进程数阈值已更新为3,则由于该CPU2中的进程个数4大于该进程数阈值3,则电子设备可以令i=i+1,并执行步骤204,即可以令i=3,并判断此时的i是否小于等于N。
需要说明的是,由于每个处理单元中的进程可以包括实时进程和普通进程,其中实时进程的运行优先级较高,所需要占用的处理单元的资源也较多,因此为了准确的反映每个处理单元的负载状态,电子设置所检测的第i个处理单元中的进程个数可以为该第i个处理单元中实时进程的个数。
步骤206、检测该第i个处理单元的负载率是否小于负载率阈值。
当该第i个处理单元的负载率小于负载率阈值时,执行步骤207;当该第i个处理单元的负载率不小于负载率阈值时,令i=i+1,并执行步骤204。
其中,处理单元的负载率是指在预设的统计窗口时长中,处理单元的进程队列中所有进程在该处理单元最高性能下所需的运行时长与该预设的统计窗口时长的比值,其中,该统计窗口时长可以人为设定,例如可以设定为10毫秒(ms),则电子设备可以每隔10ms计算一次各个处理单元的负载率。在本发明实施例中,电子设备中可以预先设置有负载率阈值的初始值,为了保证能够从N个处理单元中检测到满足条件的目标处理单元,该负载率阈值的初始值可以为负载率所属数据类型的最大值。
当电子设备检测出第i个处理单元的进程个数小于进程数阈值时,该电子设备可以继续对该第i个处理单元的负载率进行检测。示例的,电子设备可以继续对该第1个处理单元:CPU1的负载率进行检测,若该CPU1的负载率为50%,该负载率阈值的初始值为256,则由于CPU1中的负载率50%小于该负载率阈值的初始值256,则电子设备可以执行步骤207;若电子设备检测到第3个处理单元:CPU3中的负载率为80%,且此时负载率阈值已更新为50%,则由于该CPU3中的负载率80%大于该负载率阈值50%,则电子设备可以令i=i+1,并执行步骤204,即可以令i=4,并判断此时的i是否小于等于N。
步骤207、将该第i个处理单元的负载率作为新的负载率阈值,将该第i个处理单元的进程个数作为新的进程数阈值。执行步骤208。
当电子设备检测出第i个处理单元的进程个数小于进程数阈值,且该第i个处理单元的负载率小于负载率阈值时,电子设备可以对该进程数阈值和负载率阈值进行更新,即将该第i个处理单元的负载率作为新的负载率阈值,并将该第i个处理单元的进程个数作为新的进程数阈值。示例的,电子设备可以将CPU1的进程个数3作为新的进程数阈值,并将该CPU1的负载率50%作为新的负载率阈值。因此,更新后的进程数阈值为3,更新后的负载率阈值为50%。
步骤208、将该第i个处理单元的标识记录为目标标识。令i=i+1,并执行步骤204。
为了从电子设备的N个处理单元中筛选出负载状态最好的处理单元,电子设备可以在检测的过程中,对进程个数小于进程数阈值且负载率小于负载率阈值的处理单元的标识进行记录和更新。示例的,电子设备可以将第1个处理单元CPU1的标识:CPU1记录为目标标识,然后令i=2,并再次执行步骤204。
假设电子设备中包括4个处理单元:CPU1至CPU4,且每个处理单元中的进程个数和负载率如表1所示。例如,其中CPU2的进程个数为4,负载率为20%,电子设备对每个处理单元的进程个数和负载率进行检测后,可以检测到CPU2的进程个数4大于进程数阈值3,CPU3的进程个数2虽然小于进程数阈值3,但该CPU3的负载率80%大于负载率阈值50%,因此电子设备可以确定该CPU2和CPU3均不满足更新该进程数阈值和负载率阈值的条件,当电子设备检测到第四个处理单元CPU4中的进程个数为1,小于该进程数阈值3,且该CPU4的负载率为30%,小于该负载率阈值50%时,电子设备可以将该CPU4的进程个数1作为新的进程数阈值,将该CPU4的负载率30%作为新的负载率阈值,并将该第四个处理单元CPU4的标识:CPU4更新为新的目标标识。
表1
处理单元 | CPU1 | CPU2 | CPU3 | CPU4 |
进程个数 | 3 | 4 | 2 | 1 |
负载率 | 50% | 20% | 80% | 30% |
步骤209、将目标标识对应的处理单元确定为目标处理单元。执行步骤210。
当电子设备确定已完成对所有N个处理单元的负载状态的检测后,可以将目标标识所对应的处理单元确定为目标处理单元。示例的,电子设备可以将目标标识:CPU4所对应的第四个处理单元确定为目标处理单元。由于该目标标识所对应的处理单元为该N个处理单元中,进程个数小于进程数阈值且负载率也小于负载率阈值的处理单元,因此,相比于将待创建进程***至其他处理单元的进程队列中,将待创建进程***至该目标处理单元的进程队列后,该待创建进程等待运行的时间最短。
步骤210、将该待创建进程***至该目标处理单元的进程队列中。
当电子设备将空闲状态的处理单元确定为目标处理单元,或者将目标标识对应的处理单元确定为目标处理单元之后,即可将该待创建进程***至该目标处理单元的进程队列中。由于该目标处理单元为空闲状态,或者,当电子设备中没有该空闲状态的处理单元时,该目标处理单元为进程个数和负载率均小于阈值的处理单元,因此将待创建进程***至该目标处理单元的进程队列后,可以保证该待创建进程等待运行的时间较短。
需要说明的是,上述步骤205和步骤206中的任一步骤可以根据情况进行删除,例如,电子设备可以仅对每个处理单元的进程个数进行检测,则经过上述步骤204、步骤205、步骤207至209之后,电子设备可以将N个处理单元中进程个数最少的处理单元确定为目标处理单元;或者,电子设备还可以仅对每个处理单元的负载率进行检测,则经过上述步骤204、步骤206至209之后,电子设备可以将N个处理单元中负载率最小的处理单元确定为目标处理单元。
还需说明的是,本发明实施例提供的电子设备中进程的创建方法的步骤的先后顺序可以进行适当调整,步骤也可以根据情况进行相应增减。例如,步骤205和步骤206的执行顺序可以互换,或者,步骤202还可以在步骤204和步骤205之间执行,即在执行步骤205之前,先判断该第i个处理单元是否为空闲状态。任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化的方法,都应涵盖在本发明的保护范围之内,因此不再赘述。
综上所述,本发明实施例提供了一种电子设备中进程的创建方法,当电子设备获取到已完成调度参数初始化的待创建进程时,可以将进程个数小于进程数阈值的处理单元,或者负载率小于负载率阈值的处理单元,或者进程个数小于进程数阈值且负载率小于负载率阈值的处理单元确定为目标处理单元,因此相比于相关技术中直接将父进程所在的处理单元作为目标处理单元,本发明所确定的目标处理单元中的进程个数较少或负载率较低,能够保证待创建进程***至该目标处理单元的进程队列后,等待运行的时间较短。
图3是本发明实施例提供的一种电子设备中进程的创建装置的结构示意图,参考图3,该装置包括:
获取单元301,用于获取已完成调度参数初始化的待创建进程,该待创建进程是基于电子设备中已创建进程创建的。
检测单元302,用于检测该电子设备中每个处理单元的负载状态,该负载状态包括进程个数和负载率中的至少一种,该电子设备包括N个处理单元,该N为大于等于2的整数。
确定单元303,用于将进程个数小于进程数阈值的处理单元确定为目标处理单元;或者,将负载率小于负载率阈值的处理单元确定为目标处理单元;或者,将进程个数小于进程数阈值且负载率小于负载率阈值的处理单元确定为目标处理单元。
创建单元304,用于将该待创建进程***至该目标处理单元的进程队列中。
综上所述,本发明实施例提供了一种电子设备中进程的创建装置,当电子设备获取到待创建进程时,可以将电子设备的N个处理单元中,负载状态满足预设条件的处理单元确定为目标处理单元,由于电子设备在确定该目标处理单元的过程中,综合对比了N个处理单元的负载状态,因此相比于相关技术中直接将父进程所在的处理单元作为目标处理单元,本发明所确定的目标处理单元中的进程个数较少或负载率较低,能够保证待创建进程***至该目标处理单元的进程队列后,等待运行的时间较短。
可选的,该检测单元302,还用于:检测每个该处理单元是否为空闲状态;当没有检测到空闲状态的处理单元时,检测该电子设备中每个处理单元的负载状态。
可选的,该负载状态包括进程个数和负载率,该检测单元302,还用于:检测该电子设备中每个处理单元的进程个数是否小于进程数阈值;当检测到第i个处理单元的进程个数小于进程数阈值时,检测该第i个处理单元的负载率是否小于负载率阈值,该i为大于等于1且小于等于N的整数。
可选的,该检测单元302,还用于:当该第i个处理单元的负载率小于负载率阈值时,将该第i个处理单元的负载率作为新的负载率阈值,将该第i个处理单元的进程个数作为新的进程数阈值。
可选的,负载状态包括进程个数,检测单元302,还用于:检测电子设备中每个处理单元的进程个数是否小于进程数阈值;当检测到第i个处理单元的进程个数小于进程数阈值时,将该第i个处理单元的进程个数作为新的进程数阈值。
可选的,该负载状态包括负载率,检测单元302,还用于:检测该电子设备中每个处理单元的负载率是否小于负载率阈值;当检测到第i个处理单元的负载率小于负载率阈值时,将该第i个处理单元的负载率作为新的负载率阈值。
综上所述,本发明实施例提供一种电子设备中进程的创建装置,当电子设备获取到已完成调度参数初始化的待创建进程时,可以对每个处理单元的负载状态进行检测,并将进程个数小于进程数阈值的处理单元,或者负载率小于负载率阈值的处理单元,或者进程个数小于进程数阈值且负载率小于负载率阈值的处理单元确定为目标处理单元,因此相比于相关技术中直接将父进程所在的处理单元作为目标处理单元,本发明所确定的目标处理单元中的进程个数较少或负载率较低,能够保证待创建进程***至该目标处理单元的进程队列后,等待运行的时间较短。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的装置和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种电子设备中进程的创建方法,其特征在于,所述方法包括:
获取已完成调度参数初始化的待创建进程,所述待创建进程是基于电子设备中已创建进程创建的;
检测所述电子设备中每个处理单元的负载状态,所述负载状态包括进程个数和负载率中的至少一种,所述电子设备包括N个处理单元,所述N为大于等于2的整数;
将所述N个处理单元中进程个数最少的处理单元确定为目标处理单元;或者,将所述N个处理单元中负载率最小的处理单元确定为目标处理单元;或者,将所述N个处理单元中进程个数最少且负载率最小的处理单元确定为目标处理单元;
将所述待创建进程***至所述目标处理单元的进程队列中;
其中,当所述负载状态包括进程个数时,所述检测所述电子设备中每个处理单元的负载状态包括:检测所述电子设备中每个处理单元的进程个数是否小于进程数阈值;当检测到第i个处理单元的进程个数小于进程数阈值时,将所述第i个处理单元的进程个数作为新的进程数阈值,所述i为大于等于1且小于等于N的整数;
当所述负载状态包括负载率时,所述检测所述电子设备中每个处理单元的负载状态包括:检测所述电子设备中每个处理单元的负载率是否小于负载率阈值;当检测到第i个处理单元的负载率小于负载率阈值时,将所述第i个处理单元的负载率作为新的负载率阈值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测所述电子设备中每个处理单元的负载状态,包括:
检测每个所述处理单元是否为空闲状态;
当没有检测到空闲状态的处理单元时,检测所述电子设备中每个处理单元的负载状态。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述负载状态包括进程个数和负载率,所述检测所述电子设备中每个处理单元的负载状态,包括:
检测所述电子设备中每个处理单元的进程个数是否小于进程数阈值;
当检测到第i个处理单元的进程个数小于进程数阈值时,检测所述第i个处理单元的负载率是否小于负载率阈值。
4.一种电子设备中进程的创建装置,其特征在于,所述装置包括:
获取单元,用于获取已完成调度参数初始化的待创建进程,所述待创建进程是基于电子设备中已创建进程创建的;
检测单元,用于检测所述电子设备中每个处理单元的负载状态,所述负载状态包括进程个数和负载率中的至少一种,所述电子设备包括N个处理单元,所述N为大于等于2的整数;
确定单元,用于将所述N个处理单元中进程个数最少的处理单元确定为目标处理单元;或者,将所述N个处理单元中负载率最小的处理单元确定为目标处理单元;或者,将所述N个处理单元中进程个数最少且负载率最小的处理单元确定为目标处理单元;
创建单元,用于将所述待创建进程***至所述目标处理单元的进程队列中;
其中,当所述负载状态包括进程个数时,所述检测所述电子设备中每个处理单元的负载状态包括:检测所述电子设备中每个处理单元的进程个数是否小于进程数阈值;当检测到第i个处理单元的进程个数小于进程数阈值时,将所述第i个处理单元的进程个数作为新的进程数阈值,所述i为大于等于1且小于等于N的整数;
当所述负载状态包括负载率时,所述检测所述电子设备中每个处理单元的负载状态包括:检测所述电子设备中每个处理单元的负载率是否小于负载率阈值;当检测到第i个处理单元的负载率小于负载率阈值时,将所述第i个处理单元的负载率作为新的负载率阈值。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述检测单元,还用于:
检测每个所述处理单元是否为空闲状态;
当没有检测到空闲状态的处理单元时,检测所述电子设备中每个处理单元的负载状态。
6.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述负载状态包括进程个数和负载率,所述检测单元,还用于:
检测所述电子设备中每个处理单元的进程个数是否小于进程数阈值;
当检测到第i个处理单元的进程个数小于进程数阈值时,检测所述第i个处理单元的负载率是否小于负载率阈值。
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